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    輸變電系統(tǒng)中的容性設(shè)備的介質(zhì)損耗測(cè)量是整個(gè)輸變電系統(tǒng)絕緣監(jiān)測(cè)的一個(gè)重要組成部分，其相關(guān)技術(shù)也在飛速發(fā)展，檢測(cè)方法和原理有多種，比如過(guò)零時(shí)差比較、過(guò)零電壓比較、利用FFT（快速傅利葉變換）進(jìn)行信號(hào)分析、小波形信號(hào)分析等等。由于FFT和小波形信號(hào)分析在介損測(cè)量中的應(yīng)用技術(shù)還不成熟，現(xiàn)場(chǎng)的實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)也不理想。過(guò)零時(shí)差比較的方法是最早應(yīng)用在介損測(cè)量中的，在前端信號(hào)濾波效果很好的情況下，可以達(dá)到很高的精度和很高的分辨率。但由于電網(wǎng)中高次諧波、器件的溫漂等因素的影響，實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)的誤差有時(shí)相當(dāng)大，目前過(guò)零時(shí)差比較的相位檢測(cè)精度一般只能達(dá)到2ˊ。實(shí)驗(yàn)表明，實(shí)測(cè)的過(guò)零時(shí)差原始數(shù)據(jù)和容性設(shè)備介損的tgδ值并不嚴(yán)格成線性關(guān)系。

    能不能通過(guò)改進(jìn)軟件算法提高過(guò)零時(shí)差比較的相位檢測(cè)精度呢？實(shí)踐證明，合理的算法確實(shí)對(duì)提高過(guò)零時(shí)差比較的相位檢測(cè)精度有很大的幫助，實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)接近西林電橋的檢測(cè)精度。對(duì)前端模擬信號(hào)利用模擬加數(shù)字相結(jié)合進(jìn)行濾波，加之合理的軟件算法，在實(shí)際應(yīng)用中收到了良好的效果。

    整個(gè)系統(tǒng)的前端信號(hào)采樣部分如下：

    向量圖如下

    電力系統(tǒng)的容性設(shè)備在正常工作時(shí)會(huì)產(chǎn)生一定的泄露電流， 泄露電流中包含容性分量Ic和阻性分量Ir，容性分量對(duì)設(shè)備的安全運(yùn)行不會(huì)產(chǎn)生危害，阻性分量產(chǎn)生有功功率，表現(xiàn)為設(shè)備發(fā)熱，達(dá)到一定程度將危害設(shè)備的安全運(yùn)行。Ir的大小是由容性設(shè)備的介質(zhì)損耗即tgδ決定的，因此動(dòng)態(tài)地監(jiān)測(cè)介質(zhì)損耗的變化是保障電力系統(tǒng)安全運(yùn)行的一項(xiàng)重要措施。    

    由于過(guò)零時(shí)差比較檢測(cè)的原始數(shù)據(jù)和設(shè)備的實(shí)際介損值不成線性，可以嘗試用線性化近似代替，線性近似算法依據(jù)以下原理：

    用CPLD器件EPM7160構(gòu)建24位計(jì)數(shù)器，以下VHDL代碼從略，外部時(shí)鐘選10M，最大計(jì)時(shí)間T=167.8ms，一個(gè)工頻周期為20ms，有充足的余量保證在一個(gè)工頻周期內(nèi)完成采樣而計(jì)數(shù)器不回零，這樣可以減少MCU的軟件開銷，相位分辨率接近0.1`，完全可滿足要求。一個(gè)完整的采樣周期是這樣的：CT信號(hào)經(jīng)由負(fù)變正過(guò)零觸發(fā)，此時(shí)的上升沿將時(shí)間捕捉，接著PT信號(hào)經(jīng)由負(fù)變正過(guò)零觸發(fā)，此時(shí)的上升沿將時(shí)間捕捉，然后停止計(jì)數(shù)器并發(fā)出中斷請(qǐng)求信號(hào)，MCU讀取時(shí)間值并計(jì)算時(shí)間差，連續(xù)采樣50次，取平均值。

    假定介損處于上圖中n1點(diǎn)時(shí)的相位時(shí)差為90000（δ=10度），n2點(diǎn)時(shí)的相位時(shí)差為60000（δ=50度），n3點(diǎn)時(shí)的相位時(shí)差為30000（δ=80度），理想情況下電流超前電壓90度時(shí)相位時(shí)差為100000，即δ=0。在角度很小的情況下，介損tgδ值約等于弧度值。n1點(diǎn)的實(shí)際介損tgδ*100（%）=17.63。n2點(diǎn)的實(shí)際介損tgδ*100（%）=119.18，n3點(diǎn)的實(shí)際介損tgδ*100（%）=567.13。以下給出此功能函數(shù)的C51源程序：

extern unsigned long int  phase_data;  file://相位時(shí)差采樣原始數(shù)據(jù)
extern float  true_value;    file://實(shí)際介損值
extern bit  over_flag;      file://過(guò)量程標(biāo)志
void  data_split()
{
 if(phase_data>90000)
 true_value =((100000- phase_data)/10000)*17.63;                      
 else if(60000true_value =17.63+((90000- phase_data)/30000)*(119.18-17.63);  
 else if(30000 true_value =119.18+((60000- phase_data)/30000)*(567.13-119.18);  
 else
 over_flag=1;      file://置過(guò)量程標(biāo)志
}

    為了便于說(shuō)明，以上只是給出了一個(gè)簡(jiǎn)單的模型，實(shí)際從0`到5400`的分割點(diǎn)要多得多。因容性設(shè)備的介質(zhì)損耗角（δ）達(dá)到60`時(shí)，此設(shè)備的介損已嚴(yán)重超標(biāo)，必須更換，所以介質(zhì)損耗角在10度以上時(shí)檢測(cè)已無(wú)必要。以上所列出的一些數(shù)據(jù)和算法模型有條件的讀者可以自行驗(yàn)證。