下圖為某手機(jī)的電池接口原理圖，一共有4個(gè)觸點(diǎn)，分別叫：VBATT、VBATT-、BATT_TS、BATT_ID，我們分別來詳細(xì)追述一下。

VBATT：這是充電部分的正極。

由充電芯片BQ24192直接輸出到電池的正極。圖紙上寫著：

ChargeManagement：充電管理

ChargeCurrent1A：充電電流為1A。

VBATT-：這是充電部分的負(fù)極。

并串聯(lián)有0.01歐姆的電流檢測(cè)電阻，以檢測(cè)充電電流。

回路：充電芯片的充電電壓，經(jīng)過VBATT觸點(diǎn)，再經(jīng)過電池內(nèi)部、再經(jīng)過VBATT-觸點(diǎn)，再經(jīng)過0.01歐的電流檢測(cè)電阻，到達(dá)地線，形成完整的充電回路。

ISENSEP、ISENSEN直接從電流檢測(cè)電阻的二端引出，以檢測(cè)充電電流。電流越大，則在此電阻上產(chǎn)生的電壓越高，再送給PMU芯片HI6551，進(jìn)行進(jìn)一步的控制處理。如下圖：

BATT_TS：電池溫度檢測(cè)。TS是ThermalSense的檢寫，即熱度檢測(cè)的意思。

如下圖，BATT_TS電池溫度檢測(cè)信號(hào)，電池內(nèi)部還有內(nèi)保護(hù)板。在內(nèi)保護(hù)板上，有普通電阻與熱敏電阻進(jìn)行串聯(lián)分壓，溫度的變化，會(huì)引起熱敏電阻阻值的變化，從而使分壓點(diǎn)的電壓變化。該電壓又送給了PMU芯片HI6551，以進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測(cè)與控制處理。

鋰電池的溫度檢測(cè)是一件很嚴(yán)肅的事情，如果電池溫度過高，會(huì)影響電池壽命，嚴(yán)重的會(huì)鼓包、爆炸！

環(huán)境溫度過高時(shí)，以及手機(jī)系統(tǒng)或APP異常時(shí)，長時(shí)間玩大型游戲而手機(jī)散熱不佳等情況，都可能引發(fā)充電電流過大時(shí)或電池長期大電流放電，從而引起電池過熱。在檢測(cè)到電池過熱時(shí)，會(huì)控制充電電路減小充電電流，嚴(yán)重時(shí)關(guān)閉充電電路，甚至?xí)l(fā)CPU降頻、強(qiáng)制關(guān)機(jī)等。

這就是為什么手機(jī)發(fā)熱嚴(yán)重時(shí)，手機(jī)會(huì)變得很卡的原因！

不僅手機(jī)如此，筆記本電腦、平板電腦，也是如此。它們的原理是一樣的！

BATT_ID：ID可以理解為身份信息的意思，電池的內(nèi)保護(hù)板上，有專用的芯片，記錄著電池的廠商、出廠日期、電壓信息等。

如下圖，2.5V的基準(zhǔn)電壓，經(jīng)200KBATT_ID提供上拉電壓，以便輸出串行的BATT_ID信號(hào)，該信號(hào)再經(jīng)10K電阻限流，送給PMU芯片HI6551，以便在手機(jī)系統(tǒng)中調(diào)用并進(jìn)行相關(guān)顯示。