chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

在EV-CLUE芯片上進(jìn)行測試結(jié)果的關(guān)鍵

lhl545545 ? 來源:MEMS ? 作者:MEMS ? 2020-06-17 15:41 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

據(jù)麥姆斯咨詢介紹,來自美國堪薩斯大學(xué)的科學(xué)家近日研發(fā)出一種基于噴墨打印方法的可擴(kuò)展“芯片實(shí)驗(yàn)室”技術(shù)。利用這種技術(shù),人們可以以超過90%的準(zhǔn)確率檢測出患者血漿樣本中的乳腺癌。

研究顯示,在對來自100個人的血漿進(jìn)行測試時,這些新型芯片可發(fā)現(xiàn)早期和轉(zhuǎn)移性腫瘤。

在EV-CLUE芯片上進(jìn)行測試

發(fā)現(xiàn)早期癌癥是取得最佳臨床結(jié)果的關(guān)鍵,然而目前使用的癌癥檢測技術(shù)的缺點(diǎn)很多:組織活檢具有創(chuàng)傷性且無法重復(fù)進(jìn)行;成像技術(shù)無法捕捉到腫瘤生長過程中的重要變化。

液體活檢(一種通過簡單抽取血液或血漿來檢測癌癥的測試)雖然可以克服以上諸多問題,但盡管經(jīng)過多年研究,仍沒有一種液體活檢測試進(jìn)入廣泛的臨床應(yīng)用階段。

Peng Zhang和同事如今用EV-CLUE芯片向液體活檢邁出了一步。這是他們用膠體噴墨打印法制造的一種裝置,其工作原理是捕獲細(xì)胞外囊泡(在細(xì)胞間進(jìn)行分子轉(zhuǎn)運(yùn)的細(xì)微結(jié)構(gòu)),并對MMP14(一種與腫瘤進(jìn)展和轉(zhuǎn)移關(guān)聯(lián)的酶)的存在和活性進(jìn)行掃描搜尋。

與現(xiàn)有的微流控技術(shù)相比,這項(xiàng)工作提出了設(shè)備工程和EV標(biāo)記研究方面的獨(dú)特創(chuàng)新,重點(diǎn)是提高臨床應(yīng)用的可轉(zhuǎn)化性。首先,與基于CSA的策略不同,該研究開發(fā)了一種通用的高分辨率膠體噴墨打印方法,該方法無需進(jìn)行表面預(yù)處理,更適合大規(guī)模生產(chǎn)3D納米工程芯片用于大規(guī)模臨床研究。其次,盡管在EVs的分子分析中已得到充分證明的應(yīng)用,但尚未開發(fā)出微流控技術(shù)來評估EVs作為癌癥特征的功能活動。該研究設(shè)計(jì)了一種納米工程芯片實(shí)驗(yàn)室系統(tǒng),以超高靈敏度對循環(huán)中的EV濃度、亞型和酶解活性(EV-CLUE)進(jìn)行多參數(shù)分析,只需少量的樣品輸入,即可縱向監(jiān)測小鼠體內(nèi)腫瘤的生長。第三,盡管EV介導(dǎo)的MMP14轉(zhuǎn)運(yùn)涉及腫瘤的侵襲和轉(zhuǎn)移,但MMP14作為EV標(biāo)志物的臨床價值仍未得到充分探索。

EV-CLUE成功地將對照組和早期或轉(zhuǎn)移性乳腺癌患者進(jìn)行了區(qū)分;在最初一組的30個人中,其準(zhǔn)確率為96.7%;在第二組的70人中,其準(zhǔn)確率達(dá)92.9%。如果經(jīng)過大規(guī)模臨床研究的驗(yàn)證,該技術(shù)可能會提供有用的液體活檢工具,以縱向監(jiān)測患者的腫瘤進(jìn)展,從而改善癌癥管理和精準(zhǔn)醫(yī)學(xué)。
責(zé)任編輯:pj

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • CSA
    CSA
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    62

    瀏覽量

    21099
  • Ev
    Ev
    +關(guān)注

    關(guān)注

    2

    文章

    217

    瀏覽量

    37142
  • 分子
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    24

    瀏覽量

    12705
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    解決半導(dǎo)體測試與ATE電源設(shè)計(jì)中的四大關(guān)鍵挑戰(zhàn)

    由于人工智能 (AI)、5G、物聯(lián)網(wǎng) (IoT) 和電動汽車 (EV) 的快速發(fā)展,近年來對半導(dǎo)體測試儀和自動測試設(shè)備(ATE) 的需求持續(xù)增長。這些行業(yè)的芯片越來越復(fù)雜,因此需要更強(qiáng)
    的頭像 發(fā)表于 04-20 11:38 ?764次閱讀
    解決半導(dǎo)體<b class='flag-5'>測試</b>與ATE電源設(shè)計(jì)中的四大<b class='flag-5'>關(guān)鍵</b>挑戰(zhàn)

    Sony FCB-EV9520L 極細(xì)同軸線彎折壽命測試分析

    極細(xì)同軸線束作為高清圖像傳輸系統(tǒng)中的關(guān)鍵組成部分,其彎折壽命直接影響設(shè)備的長期穩(wěn)定運(yùn)行。通過科學(xué)的測試方法與合理的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),可以顯著提升線束復(fù)雜環(huán)境下的可靠性表現(xiàn),為Sony FCB-EV
    的頭像 發(fā)表于 04-08 18:50 ?121次閱讀
    Sony FCB-<b class='flag-5'>EV</b>9520L 極細(xì)同軸線彎折壽命<b class='flag-5'>測試</b>分析

    如何使用AT32 EdgeAI Sensor EV Board

    AT32 EdgeAI Sensor EV Board隨著邊緣人工智能(EdgeAI)的興起,為了便于用戶AT32系列芯片上進(jìn)行 EdgeAI開發(fā),Artery 提供了一塊包含多種
    發(fā)表于 01-30 13:44

    風(fēng)噪測試電動汽車時代的關(guān)鍵作用

    關(guān)鍵環(huán)節(jié),但測試標(biāo)準(zhǔn)已逐步升級,以確保電動汽車(及其他車輛)不僅符合各國及國際法規(guī)規(guī)定的最大噪聲限值,還需滿足新增的最低噪聲要求。風(fēng)噪測試電動汽車中的重要性日益凸顯
    的頭像 發(fā)表于 12-22 09:03 ?307次閱讀
    風(fēng)噪<b class='flag-5'>測試</b><b class='flag-5'>在</b>電動汽車時代的<b class='flag-5'>關(guān)鍵</b>作用

    如何在模型環(huán)測試中高效進(jìn)行故障注入測試

    汽車測試領(lǐng)域,模型測試階段進(jìn)行故障注入,是保障汽車安全性、可靠性的關(guān)鍵手段。如何提高故障注入測試
    的頭像 發(fā)表于 12-10 13:51 ?1354次閱讀
    如何在模型<b class='flag-5'>在</b>環(huán)<b class='flag-5'>測試</b>中高效<b class='flag-5'>進(jìn)行</b>故障注入<b class='flag-5'>測試</b>

    為什么要進(jìn)行芯片測試以及分別在什么階段進(jìn)行

    為什么要進(jìn)行芯片測試? 芯片測試是一個比較大的問題,直接貫穿整個芯片設(shè)計(jì)與量產(chǎn)的過程中。首先
    的頭像 發(fā)表于 11-14 11:18 ?507次閱讀
    為什么要<b class='flag-5'>進(jìn)行</b><b class='flag-5'>芯片</b><b class='flag-5'>測試</b>以及分別在什么階段<b class='flag-5'>進(jìn)行</b>

    蜂鳥處理器上進(jìn)行RT-Thread+ESP8266 wifi模塊開發(fā)

    本隊(duì)伍編號CICC3042,本文介紹蜂鳥處理器上運(yùn)行RT-Thread實(shí)時操作系統(tǒng),并進(jìn)行ESP8266wifi模塊開發(fā)。 蜂鳥配套的sdk中提供了RT-Thread的移植 https
    發(fā)表于 10-31 09:02

    霍爾芯片鹽霧試驗(yàn)測試流程

    霍爾芯片鹽霧試驗(yàn)的測試流程涵蓋預(yù)處理、試驗(yàn)箱配置、樣品放置、參數(shù)控制、周期測試、結(jié)果評估及報告生成等關(guān)鍵環(huán)節(jié),具體流程如下: 1、樣品準(zhǔn)備與
    的頭像 發(fā)表于 09-12 16:52 ?970次閱讀

    芯片硬件測試用例

    SOC回片,第一步就進(jìn)行核心功能點(diǎn)亮,接著都是在做驗(yàn)證測試工作,所以對于硬件AE,有很多測試要做,bringup階段和芯片功能驗(yàn)收都是
    的頭像 發(fā)表于 09-05 10:04 ?1158次閱讀
    <b class='flag-5'>芯片</b>硬件<b class='flag-5'>測試</b>用例

    探秘芯片焊點(diǎn)強(qiáng)度:詳解推拉力測試機(jī)的工作原理、關(guān)鍵參數(shù)與結(jié)果解讀

    ”,可能在運(yùn)輸震動、日常使用或極端環(huán)境中發(fā)生斷裂,導(dǎo)致整個產(chǎn)品失效。 因此,如何科學(xué)、準(zhǔn)確地評估焊點(diǎn)機(jī)械強(qiáng)度,是確保電子產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。本文科準(zhǔn)測控小編將深入探討芯片元件焊點(diǎn)強(qiáng)度的測試標(biāo)準(zhǔn)、原理、方法及應(yīng)用,并介紹如何
    的頭像 發(fā)表于 09-01 11:49 ?1566次閱讀
    探秘<b class='flag-5'>芯片</b>焊點(diǎn)強(qiáng)度:詳解推拉力<b class='flag-5'>測試</b>機(jī)的工作原理、<b class='flag-5'>關(guān)鍵</b>參數(shù)與<b class='flag-5'>結(jié)果</b>解讀

    如何在樹莓派 AI HAT+上進(jìn)行YOLO姿態(tài)估計(jì)?

    大家好,接下來會為大家開一個樹莓派5和YOLO的連載專題。內(nèi)容包括四個部分:樹莓派5上使用YOLO進(jìn)行物體和動物識別-入門指南樹莓派5上開啟YOLO姿態(tài)估計(jì)識別之旅!如何在樹莓派AIHAT+
    的頭像 發(fā)表于 07-20 20:34 ?1168次閱讀
    如何在樹莓派 AI HAT+<b class='flag-5'>上進(jìn)行</b>YOLO姿態(tài)估計(jì)?

    如何在樹莓派 AI HAT+上進(jìn)行YOLO目標(biāo)檢測?

    大家好,接下來會為大家開一個樹莓派5和YOLO的連載專題。內(nèi)容包括四個部分:樹莓派5上使用YOLO進(jìn)行物體和動物識別-入門指南樹莓派5上開啟YOLO姿態(tài)估計(jì)識別之旅!如何在樹莓派AIHAT+
    的頭像 發(fā)表于 07-19 08:34 ?1944次閱讀
    如何在樹莓派 AI HAT+<b class='flag-5'>上進(jìn)行</b>YOLO目標(biāo)檢測?

    普源示波器DHO800系列電源噪聲測試的5個關(guān)鍵步驟

    實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)和設(shè)備特性,詳細(xì)闡述使用DHO800系列進(jìn)行電源噪聲測試的五個關(guān)鍵步驟,幫助用戶規(guī)范操作流程,提升測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。 ? 一
    的頭像 發(fā)表于 06-24 12:08 ?869次閱讀
    普源示波器DHO800系列電源噪聲<b class='flag-5'>測試</b>的5個<b class='flag-5'>關(guān)鍵</b>步驟

    炭紙雙極板電阻儀燃料電池測試中的關(guān)鍵操作技巧

    燃料電池技術(shù)飛速發(fā)展的當(dāng)下,炭紙雙極板電阻儀操作的準(zhǔn)確性直接影響測試結(jié)果。掌握其關(guān)鍵操作技巧,是獲取精準(zhǔn)數(shù)據(jù)的前提。以下從測試前、中、后三
    的頭像 發(fā)表于 06-20 08:51 ?575次閱讀

    流量傳感器半導(dǎo)體芯片測試的分選機(jī)中應(yīng)用

    Test):對封裝完成后的每顆芯片進(jìn)行功能和電參數(shù)測試,分出芯片好壞或分等級。國內(nèi)分選機(jī)的重任工作還是用于芯片成品
    的頭像 發(fā)表于 04-23 09:13 ?1304次閱讀
    流量傳感器<b class='flag-5'>在</b>半導(dǎo)體<b class='flag-5'>芯片</b><b class='flag-5'>測試</b>的分選機(jī)中應(yīng)用