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高速BGA封裝與PCB差分互連結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計(jì)與優(yōu)化

iIeQ_mwrfnet ? 來(lái)源:微波射頻網(wǎng) ? 2020-09-02 13:40 ? 次閱讀
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摘要:隨著電子系統(tǒng)通信速率的不斷提升,BGA封裝與PCB互連區(qū)域的信號(hào)完整性問(wèn)題越來(lái)越突出。

針對(duì)高速BGA封裝與PCB差分互連結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計(jì)與優(yōu)化,著重分析封裝與PCB互連區(qū)域差分布線(xiàn)方式,信號(hào)布局方式,信號(hào)孔/地孔比,布線(xiàn)層與過(guò)孔殘樁這四個(gè)方面對(duì)高速差分信號(hào)傳輸性能和串?dāng)_的具體影響。

利用全波電磁場(chǎng)仿真軟件CST建立3D仿真模型,時(shí)頻域仿真驗(yàn)證了所述的優(yōu)化方法能夠有效改善高速差分信號(hào)傳輸性能,減小信號(hào)間串?dāng)_,實(shí)現(xiàn)更好的信號(hào)隔離。

近年來(lái),球柵陣列(BGA)封裝因體積小,引腳多,信號(hào)完整性和散熱性能佳等優(yōu)點(diǎn)而成為高速I(mǎi)C廣泛采用的封裝類(lèi)型。

為了適應(yīng)高速信號(hào)傳輸,芯片多采用差分信號(hào)傳輸方式。隨著芯片I/O 引腳數(shù)量越來(lái)越多,BGA焊點(diǎn)間距越來(lái)越小,由焊點(diǎn)、過(guò)孔以及印制線(xiàn)構(gòu)成的差分互連結(jié)構(gòu)所產(chǎn)生的寄生效應(yīng)將導(dǎo)致衰減、串?dāng)_等一系列信號(hào)完整性問(wèn)題,這對(duì)高速互連設(shè)計(jì)提出了嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。

目前國(guó)內(nèi)外學(xué)者對(duì)于板級(jí)信號(hào)完整性問(wèn)題的研究仍多集中于水平傳輸線(xiàn)或者單個(gè)過(guò)孔的建模與仿真,頻率大多在20 GHz以?xún)?nèi)。對(duì)于包括過(guò)孔、傳輸線(xiàn)的差分互連結(jié)構(gòu)的傳輸性能以及耦合問(wèn)題研究較少。并沒(méi)有多少技術(shù)去減少封裝與PCB互連區(qū)域垂直過(guò)孔間的串?dāng)_。

文章針對(duì)高速BGA封裝與PCB差分互連結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計(jì)與優(yōu)化。著重分析改進(jìn)差分布線(xiàn)方式,信號(hào)布局方式,信號(hào)孔/地孔比,布線(xiàn)層與背鉆這四個(gè)方面對(duì)改善高速差分信號(hào)傳輸性能和串?dāng)_的具體影響。利用全波電磁場(chǎng)仿真軟件CST微波工作室建立3D仿真模型。仿真頻率達(dá)到40 GHz,在時(shí)域和頻域同時(shí)驗(yàn)證了所述優(yōu)化方法的有效性。

1、物理模型

1.1 差分互連結(jié)構(gòu)

在高速信號(hào)傳輸中,差分信號(hào)因具有減小軌道塌陷和電磁干擾、提高增益、消除共模噪聲和開(kāi)關(guān)噪聲干擾等優(yōu)點(diǎn)而被廣泛使用。高速差分信號(hào)通過(guò)IC封裝到達(dá)PCB板各層進(jìn)行傳播,為了實(shí)現(xiàn)BGA封裝基板與PCB各層的電氣連接,由水平差分線(xiàn)和垂直差分過(guò)孔共同構(gòu)成了差分互連結(jié)構(gòu),如圖1所示。

圖1 BGA封裝與PCB板垂直互連結(jié)構(gòu)

1.2 仿真環(huán)境及參數(shù)設(shè)置

本文采用的仿真環(huán)境為全波電磁場(chǎng)仿真軟件CST微波工作室,集時(shí)頻域算法為一體,含多個(gè)全波及高頻算法,可仿真任意結(jié)構(gòu)、任意材料下的S 參數(shù),并可以與電路設(shè)計(jì)軟件聯(lián)合仿真。

幾種優(yōu)化方案均由CST微波工作室建立三維物理模型,PCB 的層疊結(jié)構(gòu)如圖2 所示,PCB板共12層,第1,3,5,8,10,12層為信號(hào)層(走線(xiàn)層),第2,4,6,7,9,11 層為電源或地層。板厚為97.6 mil,板材介電常數(shù)3.8,損耗正切0.012。

0.8 mm間距BGA扇出過(guò)孔間距為31.4 mil,過(guò)孔孔徑8 mil,線(xiàn)寬/線(xiàn)距5 mil,差分走線(xiàn)在第10層。

圖2 PCB板層疊結(jié)構(gòu)剖面圖

2、優(yōu)化與設(shè)計(jì)

從四個(gè)方面進(jìn)行設(shè)計(jì)優(yōu)化,以改善高速差分信號(hào)的傳輸性能及信號(hào)間串?dāng)_。分別為差分布線(xiàn)方式,信號(hào)分布方式,信號(hào)孔/地孔比,布線(xiàn)層選擇與過(guò)孔殘樁。CST仿真的結(jié)果以S 參數(shù)的形式體現(xiàn),仿真頻率達(dá)40 GHz,在時(shí)域和頻域同時(shí)驗(yàn)證所述優(yōu)化方法的有效性。

2.1 布線(xiàn)方式

差分信號(hào)從過(guò)孔引出時(shí),不同的布線(xiàn)方式會(huì)對(duì)差分信號(hào)的傳輸特性有很大的影響,如果傳輸線(xiàn)不能等長(zhǎng)等距,就會(huì)引起信號(hào)失真,產(chǎn)生共模噪聲。

如圖3所示,信號(hào)從過(guò)孔引出時(shí)分別采取三種布線(xiàn)方式,0°,90°轉(zhuǎn)角,45°轉(zhuǎn)角,每對(duì)差分過(guò)孔周?chē)袃蓚€(gè)隔離地孔。布線(xiàn)在PCB板第10層。

圖3 三種差分線(xiàn)引出方式

圖4是以上三種不同布線(xiàn)方式的插入損耗。顯然,種水平對(duì)稱(chēng)的方式傳輸性能。差分信號(hào)重要的就是等長(zhǎng)等距,等長(zhǎng)的目的是要確保時(shí)序的準(zhǔn)確與對(duì)稱(chēng)性,兩條傳輸線(xiàn)上的任何時(shí)延差或錯(cuò)位,都會(huì)導(dǎo)致差分信號(hào)失真,并使部分差分信號(hào)變成共模信號(hào),產(chǎn)生電磁干擾。

等距的目的是保持差分阻抗的一致性。45°和90°轉(zhuǎn)角在布線(xiàn)時(shí)都無(wú)法做到的等長(zhǎng)等距,產(chǎn)生相位差和共模噪聲。

圖4 不同布線(xiàn)方式下差分對(duì)的插入損耗

圖5和圖6分別從頻域和時(shí)域展示了三種布線(xiàn)方式所產(chǎn)生的共模噪聲。不論是45°轉(zhuǎn)角還是90°轉(zhuǎn)角,產(chǎn)生的共模噪聲都比0°高得多,而45°轉(zhuǎn)角布線(xiàn)要略?xún)?yōu)于90°轉(zhuǎn)角。

圖5 不同布線(xiàn)方式下共模噪聲頻域比較

圖6 不同布線(xiàn)方式下共模噪聲時(shí)域比較

根據(jù)經(jīng)驗(yàn)法則,為了把錯(cuò)位維持在信號(hào)上升邊10%以?xún)?nèi),要求兩線(xiàn)長(zhǎng)度匹配至上升邊空間延伸的10%以?xún)?nèi)。這種情況下,對(duì)走線(xiàn)總長(zhǎng)度的匹配要求如下:

ΔL =0.1×RT×v

式中:ΔL 表示為錯(cuò)位維持在上升邊的10%以?xún)?nèi),兩條走線(xiàn)之間的長(zhǎng)度偏差;RT表示信號(hào)的上升邊;v 表示差分信號(hào)的傳播速度。如果信號(hào)的傳播速度大致為6 in/ns,上升邊為100 ps,那么兩條走線(xiàn)的長(zhǎng)度應(yīng)匹配至其偏差小于60 mil。

由于高速信號(hào)上升時(shí)間越來(lái)越短,留給緣于走線(xiàn)長(zhǎng)度偏差的錯(cuò)位預(yù)算在不斷變小,使得走線(xiàn)長(zhǎng)度之間的匹配顯得愈加重要。

因此在實(shí)際應(yīng)用中,應(yīng)盡量采用0°這樣水平對(duì)稱(chēng)的方式布線(xiàn),來(lái)達(dá)到等長(zhǎng)等距的目的。

2.2 信號(hào)分布方式

BGA封裝管腳在扇出時(shí)通過(guò)過(guò)孔連接至PCB板其他各層,幾十對(duì)差分對(duì)同時(shí)高密度、長(zhǎng)線(xiàn)并行,相鄰的傳輸線(xiàn)由于電場(chǎng)和磁場(chǎng)的作用(耦合電容/耦合電感),一對(duì)差分線(xiàn)傳輸?shù)男盘?hào)會(huì)對(duì)相鄰的傳輸線(xiàn)產(chǎn)生串?dāng)_[9]。

由于BGA焊點(diǎn)的排列是固定的,因此焊盤(pán)和過(guò)孔的位置取決于焊點(diǎn)的分布,合理的BGA管腳信號(hào)布局可以改善差分對(duì)之間的串?dāng)_。不同信號(hào)分布方式見(jiàn)圖7。

圖7 不同信號(hào)分布方式

如圖7所示的兩種布局方式:3對(duì)信號(hào)橫向水平布置;3對(duì)信號(hào)正交布置。

每對(duì)信號(hào)周?chē)饔袃蓚€(gè)隔離地孔。中間為受擾線(xiàn),兩邊為干擾線(xiàn),根據(jù)走線(xiàn)將3對(duì)差分對(duì)定義成6個(gè)差分端口,D1~D3為BGA扇出端,通過(guò)觀察D4,D6端口對(duì)D2端口的遠(yuǎn)端串?dāng)_來(lái)分析相鄰?fù)ǖ赖拇當(dāng)_情況,由于兩邊對(duì)稱(chēng),只需觀察D4端口對(duì)D2端口的串?dāng)_。差分對(duì)遠(yuǎn)端串?dāng)_比較如圖8所示。

圖8 不同信號(hào)分布方式下差分對(duì)遠(yuǎn)端串?dāng)_比較

由圖8所示的結(jié)果可以看到,信號(hào)正交布局時(shí),由于孔?孔之間距離增大,孔?孔耦合減小,從端口D4到端口D2的遠(yuǎn)端串?dāng)_低于水平布局時(shí)的遠(yuǎn)端串?dāng)_。

由表1可知,優(yōu)化后的遠(yuǎn)端串?dāng)_比原設(shè)計(jì)在大于5 GHz頻帶內(nèi)有5~15 dB的改善。圖9從時(shí)域也驗(yàn)證了正交布局的優(yōu)越性。優(yōu)化后的設(shè)計(jì)瞬態(tài)峰值噪聲比原設(shè)計(jì)降低了10 mV,如表1所示。

圖9 不同信號(hào)分布方式下差分對(duì)遠(yuǎn)端串?dāng)_時(shí)域響應(yīng)比較

表1 遠(yuǎn)端串?dāng)_比較

2.3 信號(hào)孔/地孔數(shù)量比

由于在設(shè)計(jì)中BGA焊點(diǎn)的間距是固定的,一味增加信號(hào)之間的距離來(lái)降低串?dāng)_不太可能,簡(jiǎn)單的方法就是在重要信號(hào)孔周?chē)黾拥乜赘綦x。

以下四種方案信號(hào)孔/地孔(S G) 比分別為1∶1,1∶2,1∶3,1∶4,信號(hào)布局方式采取第2.2節(jié)中正交布局方式,如圖10所示。

圖10 不同S G 比信號(hào)布局

四種方案遠(yuǎn)端串?dāng)_比較如圖11所示,S G 比為1∶2時(shí),差分信號(hào)的遠(yuǎn)端串?dāng)_要比1∶1時(shí)有很大改善。由表2可知,在5~30 GHz頻段,S G 比1∶2比1∶1遠(yuǎn)端串?dāng)_降低了8~17 dB。

在重要信號(hào)孔周?chē)黾拥乜赘綦x,能夠縮短地回流路徑、降低信號(hào)過(guò)孔的電感不連續(xù)性,因此可以在一定程度上改善串?dāng)_,但是很快就會(huì)飽和,S G 比1∶4與1∶3時(shí)差別已然不大,遠(yuǎn)端串?dāng)_的改善很有限。

4種方案遠(yuǎn)端串?dāng)_的時(shí)域仿真結(jié)果如圖12所示,可以得到與頻域同樣的分析結(jié)果。從時(shí)域結(jié)果可得到4種方案的瞬態(tài)峰值噪聲,S G 比1∶1時(shí)高達(dá)22 mV,1∶2時(shí)則很快降低到6 mV,1∶3和1∶4時(shí)均在1.6 mV左右,相差不到0.03 mV,如表2所示。

圖11 四種方案遠(yuǎn)端串?dāng)_比較

圖12 四種方案遠(yuǎn)端串?dāng)_時(shí)域響應(yīng)比較

表2 遠(yuǎn)端串?dāng)_比較

由于BGA封裝引腳數(shù)量有限,并不能無(wú)上限地增加地孔數(shù)量。在串?dāng)_影響和引腳數(shù)量的權(quán)衡之下,20 GHz以?xún)?nèi)S G 比1∶2與1∶3區(qū)別不大,選擇1∶2即可。20 GHz以上時(shí),S G 比1∶3要明顯優(yōu)于1∶2。

2.4 布線(xiàn)層選擇與過(guò)孔Stub的影響

在重要信號(hào)孔周?chē)黾拥乜赘綦x是降低串?dāng)_簡(jiǎn)單的方法,但是很快就飽和了,而且這樣很難達(dá)到一個(gè)理想的屏蔽。

在封裝與PCB互連區(qū)域,高速差分對(duì)之間除了孔的耦合,線(xiàn)耦合也都是引起串?dāng)_的重要因素。此刻,除了考慮之前的三個(gè)方面影響,還應(yīng)分析和研究布線(xiàn)層以及過(guò)孔殘樁對(duì)串?dāng)_的影響。

圖13的情況,三個(gè)差分對(duì)分別布在不同層且具有不同過(guò)孔Stub長(zhǎng)度,信號(hào)正交布局,每對(duì)差分過(guò)孔周?chē)O(shè)置6個(gè)隔離地孔。圖13(a)中3個(gè)差分對(duì)都布在PCB第10層,靠近底層。圖13(b)中兩側(cè)的干擾線(xiàn)從第10層移到第3層,且將長(zhǎng)Stub背鉆59.1 mil。

這樣兩邊干擾信號(hào)與中間受擾信號(hào)之間孔耦合的垂直長(zhǎng)度顯著減少。圖13(c)與圖13(b)恰好相反,中間的受擾線(xiàn)布在第3層并且背鉆,兩邊干擾線(xiàn)布在第10 層。圖13(d)中間受擾線(xiàn)布在第10層,兩邊干擾線(xiàn)布在第3層且保留長(zhǎng)Stub。

遠(yuǎn)端串?dāng)_的頻域比較如圖14 所示,與方案(a)相比,方案(b)減小了兩邊干擾信號(hào)過(guò)孔的垂直長(zhǎng)度,孔耦合減少,而且3對(duì)差分線(xiàn)不在同一層,線(xiàn)?線(xiàn)之間耦合也減小了,串?dāng)_會(huì)有很大改善。

由表3 可知,在5~30 GHz頻帶內(nèi),方案(b)比方案(a)遠(yuǎn)端串?dāng)_改善了4~12 dB。方案(c)與(b)的區(qū)別在于(c)有多余的孔線(xiàn)耦合,(c)中受擾線(xiàn)放在第3層且背鉆,干擾線(xiàn)放在第10層,雖然孔耦合也可以減小,但是兩邊長(zhǎng)長(zhǎng)的干擾信號(hào)孔會(huì)對(duì)中間差分線(xiàn)產(chǎn)生線(xiàn)干擾。

而方案(b)中,由于干擾信號(hào)孔背鉆,受擾信號(hào)在經(jīng)過(guò)時(shí),并沒(méi)有長(zhǎng)Stub對(duì)差分線(xiàn)的干擾。由此,方案(b)的串?dāng)_是的。如果沒(méi)有背鉆,如方案(d),雖然三對(duì)信號(hào)差分線(xiàn)不在同一層,但長(zhǎng)長(zhǎng)的Stub不僅會(huì)影響阻抗的連續(xù)性,使自身差分信號(hào)產(chǎn)生諧振,還會(huì)增大相鄰差分信號(hào)之間的串?dāng)_,甚至都不如方案(a)將信號(hào)都布置在靠近底層。

圖14 四種方案遠(yuǎn)端串?dāng)_比較

從時(shí)域仿真結(jié)果中可以得到與頻域同樣的分析結(jié)果,如圖15所示。由表3可知,四種方案的瞬態(tài)峰值噪聲,方案(b),方案(d)。因此,在今后的設(shè)計(jì)中,為避免過(guò)孔長(zhǎng)Stub對(duì)信號(hào)的干擾,差分線(xiàn)應(yīng)盡量靠近PCB板底層布線(xiàn),多走內(nèi)部帶狀線(xiàn)。

幾對(duì)并行的差分信號(hào)可分別布置在不同信號(hào)層以降低串?dāng)_,但要注意布在淺層的信號(hào)過(guò)孔一定要背鉆。

圖15 四種方案遠(yuǎn)端串?dāng)_時(shí)域響應(yīng)比較

表3 遠(yuǎn)端串?dāng)_比較

3、實(shí)驗(yàn)結(jié)果比較與分析

通過(guò)對(duì)以上仿真結(jié)果進(jìn)行比較與分析,可以得到如下設(shè)計(jì)和優(yōu)化建議:

(1)差分信號(hào)從過(guò)孔引出時(shí),為滿(mǎn)足等長(zhǎng)等距的要求,應(yīng)盡量采用水平對(duì)稱(chēng)的布線(xiàn)方式,以達(dá)到的傳輸性能和的共模噪聲。如果布線(xiàn)時(shí)無(wú)法做到的水平對(duì)稱(chēng),45°轉(zhuǎn)角布線(xiàn)要優(yōu)于90°轉(zhuǎn)角布線(xiàn)。

(2)BGA封裝信號(hào)引腳布局采用正交方式,可充分降低差分對(duì)之間串?dāng)_的影響。與水平布局相比,正交布局在5~30 GHz頻帶內(nèi)串?dāng)_有5~15 dB的改善。

(3)在重要信號(hào)孔周?chē)黾拥乜赘綦x,可以在一定程度上改善串?dāng)_,但是很快就會(huì)飽和,由仿真結(jié)果可知:20 GHz以?xún)?nèi)給每一對(duì)信號(hào)孔周?chē)贾?個(gè)地孔,就可以很好的降低差分信號(hào)間的串?dāng)_,滿(mǎn)足信號(hào)完整性要求。20 GHz以上時(shí),可在某些高速信號(hào)周?chē)贾?個(gè)隔離地孔,以改善信號(hào)之間的串?dāng)_。

(4)在選擇布線(xiàn)層時(shí),為避免過(guò)孔長(zhǎng)Stub對(duì)信號(hào)的干擾,差分線(xiàn)應(yīng)盡量靠近PCB板底層布線(xiàn),走內(nèi)部帶狀線(xiàn)。如果很多對(duì)差分對(duì)并行傳輸,幾對(duì)差分信號(hào)可分別布置在不同信號(hào)層以降低串?dāng)_,但要注意布在淺層的差分信號(hào)過(guò)孔一定要背鉆。

4、結(jié)論

本文通過(guò)對(duì)高速BGA封裝與PCB差分互連結(jié)構(gòu)的優(yōu)化設(shè)計(jì),利用CST全波電磁場(chǎng)仿真軟件進(jìn)行3D建模,分別研究了差分布線(xiàn)方式、信號(hào)布局方式、信號(hào)孔/地孔比、布線(xiàn)層與過(guò)孔殘樁這四個(gè)方面對(duì)高速差分信號(hào)傳輸性能和串?dāng)_的具體影響。

時(shí)頻域仿真結(jié)果表明,所述優(yōu)化方法能夠有效改善高速差分信號(hào)傳輸性能,減小差分信號(hào)間串?dāng)_,實(shí)現(xiàn)更好的信號(hào)隔離。

為保證高速信號(hào)傳輸系統(tǒng)的信號(hào)完整性提供了重要依據(jù),對(duì)于高速PCB設(shè)計(jì)具有一定的指導(dǎo)意義。

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原文標(biāo)題:深度分析:BGA封裝與PCB差分互連結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)與優(yōu)化

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    技術(shù),其核心結(jié)構(gòu)是在封裝基板背面,以矩陣形式排列的微小錫球作為與外部電路連接的媒介。 二、 BGA封裝的優(yōu)勢(shì) 相比傳統(tǒng)的QFP(四邊引腳扁平封裝
    的頭像 發(fā)表于 03-26 09:48 ?118次閱讀
    一文掌握<b class='flag-5'>BGA</b><b class='flag-5'>封裝</b>技術(shù):從基礎(chǔ)到可靠性測(cè)試,推拉力測(cè)試機(jī)如何保障品質(zhì)?

    探索DS36C200:高速雙向收發(fā)器的卓越性能與應(yīng)用

    探索DS36C200:高速雙向收發(fā)器的卓越性能與應(yīng)用 在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,高速數(shù)據(jù)傳輸和低功耗是永恒的追求。德州儀器(TI)的DS36C200雙高速
    的頭像 發(fā)表于 03-25 14:45 ?143次閱讀

    LVDS高速傳輸設(shè)計(jì):全鏈路濾波與防護(hù)實(shí)戰(zhàn)方案

    、LVDS 鏈路核心設(shè)計(jì)要點(diǎn) LVDS采用低壓驅(qū)動(dòng),具備低EMI、低功耗、高傳輸速率的特點(diǎn),可輕松支持?jǐn)?shù)百M(fèi)bps 至Gbps級(jí)帶寬,滿(mǎn)足1080P/4K視頻實(shí)時(shí)傳輸。 高速分信
    發(fā)表于 03-24 14:59

    GT-BGA-2003高性能BGA插座

    。適用于 BGA1369C 封裝代碼的器件,兼容 37.5 mm 方形 IC,37×37 球陣列,1.0 mm間距。應(yīng)用場(chǎng)景5G基站測(cè)試:滿(mǎn)足5G基站對(duì)高頻、高速信號(hào)傳輸?shù)男枨?,確保芯片在復(fù)雜電磁環(huán)境下
    發(fā)表于 02-10 08:41

    從內(nèi)存接口到PCIe/CXL、以太網(wǎng)及光互連,高速互連芯片市場(chǎng)分析

    通信協(xié)議,通過(guò)信號(hào)處理、架構(gòu)優(yōu)化等方式,保障數(shù)據(jù)在各系統(tǒng)間高效、可靠傳輸。 高速互聯(lián)芯片 按技術(shù)類(lèi)別區(qū)分,高速互連芯片主要分為三大類(lèi):內(nèi)存互連
    的頭像 發(fā)表于 01-20 13:37 ?1780次閱讀
    從內(nèi)存接口到PCIe/CXL、以太網(wǎng)及光<b class='flag-5'>互連</b>,<b class='flag-5'>高速</b><b class='flag-5'>互連</b>芯片市場(chǎng)分析

    高速接收器SN55LVDS33 - SP的特性與應(yīng)用解析

    高速接收器SN55LVDS33-SP的特性與應(yīng)用解析 在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,高速接收器的性能對(duì)
    的頭像 發(fā)表于 12-26 09:25 ?929次閱讀

    高速接收器SN65LVDS349的特性與應(yīng)用解析

    高速接收器SN65LVDS349的特性與應(yīng)用解析 在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,高速、可靠的數(shù)據(jù)傳輸一直是工程師們追求的目標(biāo)。SN65LVDS349作為一款高性能的
    的頭像 發(fā)表于 12-24 15:15 ?406次閱讀

    GT-BGA-2002高性能BGA測(cè)試插座

    中等規(guī)模 BGA 封裝,依托彈性體互連技術(shù)實(shí)現(xiàn)94GHz+超高頻低損耗傳輸,具備高精度定位、極端環(huán)境耐久性及快速定制能力,可顯著縮短研發(fā)驗(yàn)證到量產(chǎn)周期,是5G、航空航天等領(lǐng)域理想的測(cè)試解決方案。關(guān)鍵規(guī)格
    發(fā)表于 12-18 10:00

    極細(xì)同軸線(xiàn)束在高速傳輸中的阻抗與特性解析

    極細(xì)同軸線(xiàn)束的阻抗與特性是高速信號(hào)傳輸能否穩(wěn)定的基石。只有在結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、材料選型和工藝控制中綜合考慮,才能在有限空間內(nèi)實(shí)現(xiàn)高速、低損耗、低
    的頭像 發(fā)表于 09-19 15:05 ?1742次閱讀
    極細(xì)同軸線(xiàn)束在<b class='flag-5'>高速</b>傳輸中的阻抗與<b class='flag-5'>差</b><b class='flag-5'>分</b>特性解析

    GT-BGA-2000高速BGA測(cè)試插座

    、全面功能測(cè)試以及長(zhǎng)時(shí)間老舊化實(shí)驗(yàn)等核心應(yīng)用領(lǐng)域。主要特征- 封裝/尺寸:直接焊接到目標(biāo) PCB(需預(yù)開(kāi)連接孔),無(wú)鉛無(wú)焊料安裝使用,適用 BGA 封裝。- 高頻性能:選用GT Ela
    發(fā)表于 08-01 09:10

    基于硅基異構(gòu)集成的BGA互連可靠性研究

    Grid Array, BGA)焊點(diǎn)的高度、球徑和節(jié)距較大,對(duì)組件層級(jí)互連結(jié)構(gòu)的可靠性風(fēng)險(xiǎn)認(rèn)識(shí)不足,同時(shí)難以實(shí)現(xiàn)高密度BGA 失效預(yù)測(cè)。
    的頭像 發(fā)表于 07-18 11:56 ?2696次閱讀
    基于硅基異構(gòu)集成的<b class='flag-5'>BGA</b><b class='flag-5'>互連</b>可靠性研究

    晶振在高速 FPGA 上的應(yīng)用

    晶振在高速 FPGA 設(shè)計(jì)中具有非常重要的應(yīng)用,尤其是在對(duì)時(shí)鐘精度、抗干擾能力、信號(hào)完整性要求高的系統(tǒng)中
    的頭像 發(fā)表于 07-11 14:24 ?1080次閱讀
    <b class='flag-5'>差</b><b class='flag-5'>分</b>晶振在<b class='flag-5'>高速</b> FPGA 上的應(yīng)用

    如何優(yōu)化層疊結(jié)構(gòu)以提高PCB線(xiàn)路板整體性能簡(jiǎn)述

    ? ?優(yōu)化高多層PCB線(xiàn)路板的層疊結(jié)構(gòu)是提升其整體性能的關(guān)鍵步驟,以下從信號(hào)完整性、電源完整性、電磁兼容性、散熱性能四大核心目標(biāo)出發(fā),結(jié)合具體優(yōu)化策略和案例
    的頭像 發(fā)表于 07-10 14:56 ?638次閱讀

    BGA失效分析原因-PCB機(jī)械應(yīng)力是罪魁禍?zhǔn)?/a>

    一、關(guān)于BGA簡(jiǎn)介 首先,我們需要明白什么是BGA。BGA是一種表面貼裝封裝技術(shù),它的主要特點(diǎn)是在芯片底部形成一個(gè)球形矩陣。通過(guò)這個(gè)矩陣,芯片可以與電路板
    的頭像 發(fā)表于 06-14 11:27 ?1342次閱讀
    <b class='flag-5'>BGA</b>失效分析原因-<b class='flag-5'>PCB</b>機(jī)械應(yīng)力是罪魁禍?zhǔn)? />    </a>
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