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深度解析電源轉(zhuǎn)換器和測(cè)試

電子設(shè)計(jì) ? 來源:powerelectronicsnews ? 作者:Rotach Thomas ? 2021-05-18 16:43 ? 次閱讀
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在最近幾年中,我們見證了電力電子的重要性迅速增長??梢酝ㄟ^查看當(dāng)前趨勢(shì)來解釋。在全球變暖和環(huán)境污染等社會(huì)挑戰(zhàn)的推動(dòng)下,綠色能源和替代能源等技術(shù)主題備受關(guān)注。高效,可靠的電源轉(zhuǎn)換器是這兩個(gè)主題的中心。此外,移動(dòng)性的不斷提高和無線物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備的數(shù)量不斷增長導(dǎo)致電池供電的設(shè)備越來越多,因此對(duì)高效電源管理的需求也隨之增加。最后,不斷增長的數(shù)據(jù)流量是導(dǎo)致數(shù)據(jù)中心數(shù)量增加的原因。數(shù)據(jù)中心消耗大量電能。一部分是為所有服務(wù)器組供電,但也有大量資金用于制冷和空調(diào)。因此,功率轉(zhuǎn)換器的效率越高,散熱量就越低,所需的冷卻量也就越少。上述所有的發(fā)展和變化都對(duì)優(yōu)化的功率轉(zhuǎn)換器提出了很高的要求。主要要求是最高的效率和較低的成本,以及小尺寸和輕重量。

電源轉(zhuǎn)換器和測(cè)試

要回答有關(guān)如何滿足所有這些要求的問題,我們首先需要討論電源轉(zhuǎn)換器的技術(shù)基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)。圖1顯示了下變頻器的典型核心電路。高端和低端半導(dǎo)體“開關(guān)”(此處為MOSFET)成行連接。該控制由門控制電路或集成芯片完成。時(shí)序圖顯示兩個(gè)開關(guān)的開/關(guān)周期彼此相反。結(jié)果,電橋電壓在零和電源電壓之間切換。通過電感得到的電流是通過輸出電容的充電/放電電流。通過改變開/關(guān)周期的占空比,可以控制充電和放電電流以及隨后在輸出電容上的相應(yīng)輸出電壓。

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圖1:下變頻器的典型核心電路

從這里開始,可以討論滿足效率,尺寸,重量和成本要求所需的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)。那么,怎樣才能達(dá)到更高的效率呢?第一種選擇是選擇最合適的拓?fù)洹8鶕?jù)應(yīng)用程序的類型,有更好或更壞的解決方案。第二種選擇是使用現(xiàn)有最好的半導(dǎo)體。新的半導(dǎo)體材料已經(jīng)進(jìn)入市場。最著名的是寬帶隙材料(WBG),例如碳化硅(SiC)或亞硝酸鎵(GaN)。兩者都具有較低的損耗(開關(guān)/導(dǎo)通),較高的耐??壓性并支持更快的開關(guān)頻率。但是,隨著它的不斷發(fā)生,沒有什么是免費(fèi)的。顯然,新的和現(xiàn)代的半導(dǎo)體可能與降低成本的要求相抵觸。但是從第二種觀點(diǎn)看,那里沒有真正的沖突。與成熟的硅基MOSFET相比,SiC / GaN器件確實(shí)更昂貴,但是節(jié)省成本的潛力在于它們?cè)试S使用越來越少的組件或散熱器。另一個(gè)挑戰(zhàn)是缺乏使用SiC和GaN的經(jīng)驗(yàn),這可能會(huì)導(dǎo)致設(shè)計(jì)周期中的問題(例如,不穩(wěn)定性)。同樣,較高的開關(guān)頻率是產(chǎn)生EMC輻射的絕佳來源,這至關(guān)重要,因?yàn)樽罱K存在產(chǎn)品必須遵守的標(biāo)準(zhǔn)。另一個(gè)挑戰(zhàn)是缺乏使用SiC和GaN的經(jīng)驗(yàn),這可能會(huì)導(dǎo)致設(shè)計(jì)周期中的問題(例如,不穩(wěn)定性)。同樣,較高的開關(guān)頻率是產(chǎn)生EMC輻射的絕佳來源,這至關(guān)重要,因?yàn)樽罱K存在產(chǎn)品必須遵守的標(biāo)準(zhǔn)。另一個(gè)挑戰(zhàn)是缺乏使用SiC和GaN的經(jīng)驗(yàn),這可能會(huì)導(dǎo)致設(shè)計(jì)周期中的問題(例如,不穩(wěn)定性)。同樣,較高的開關(guān)頻率是產(chǎn)生EMC輻射的絕佳來源,這至關(guān)重要,因?yàn)樽罱K存在產(chǎn)品必須遵守的標(biāo)準(zhǔn)。

如果產(chǎn)品是為可穿戴設(shè)備市場設(shè)計(jì)的,則必須滿足更小尺寸和更輕重量的要求,無論是無人機(jī)還是汽車,更輕的重量也是運(yùn)輸電氣化的重要規(guī)范。新的WBG交換機(jī)也可以在此處提供解決方案,但是如上所述,這帶來了EMC。確??煽啃院头€(wěn)定性,EMC合規(guī)性,滿足成本和空間以及連接T&M設(shè)備的能力是最相關(guān)的挑戰(zhàn)。

另一個(gè)有趣的問題是:我們?nèi)匀恍枰M(jìn)行測(cè)量還是模擬可以使測(cè)試過時(shí)?的確,不能忽視仿真軟件和模型的最新發(fā)展和改進(jìn)以及計(jì)算機(jī)性能的提高,但最終,每次仿真都只能與模型和所提供的數(shù)據(jù)一樣好。無源組件就是一個(gè)例子。通常,無源組件的規(guī)格會(huì)隨用例而變化。例如,陶瓷電容器在不同的偏置電壓下具有不同的容量,或者線圈的電感隨電流而變化。多數(shù)時(shí)候,組件數(shù)據(jù)表并不代表這一點(diǎn)。實(shí)際使用情況的頻率未提供ESR,ESL或AC電阻。因此,有必要在實(shí)際條件下測(cè)量組件,然后才能將其輸入到仿真工具中。此外,還有必備測(cè)試,例如EMC合規(guī)性和可靠性測(cè)試。另外,最終產(chǎn)品的性能規(guī)格(如功耗,動(dòng)態(tài)響應(yīng))需要通過測(cè)量來證明。

最后,讓我們看一下最常見和最重要的度量。出于教學(xué)上的原因,我們可能從動(dòng)態(tài)響應(yīng)的測(cè)量開始,這通常是在開發(fā)過程的稍后階段完成的,但是它清楚地表明了如果設(shè)計(jì)不正確會(huì)發(fā)生什么情況。在測(cè)量負(fù)載階躍響應(yīng)期間,負(fù)載電流會(huì)在最大電流的10%到90%之間變化。與電流平行,將測(cè)量輸出電壓。圖2的頂部顯示了密集振鈴。在進(jìn)行EMC測(cè)試時(shí),這可能是個(gè)問題。如圖所示,振蕩表明設(shè)計(jì)的穩(wěn)定性不足,并在反饋回路出現(xiàn)問題。為了獲得更多的見解,下一步應(yīng)該是在Bode圖的幫助下測(cè)量環(huán)路響應(yīng)并確定相位和增益裕度。所有Siglent X系列示波器都具有此功能,并且使測(cè)試變得容易且負(fù)擔(dān)得起。優(yōu)化設(shè)計(jì)并增加相位裕度后,負(fù)載階躍響應(yīng)的結(jié)果看起來就像圖片的底部一樣(圖2)。

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圖2:階躍響應(yīng)

為了實(shí)現(xiàn)優(yōu)化設(shè)計(jì)并在給定時(shí)間內(nèi)完成所有操作,建議盡早開始測(cè)量。理想情況下,第一個(gè)任務(wù)應(yīng)該是優(yōu)化內(nèi)部“核心”,即切換階段。在這里,正確的布局對(duì)于避免由LC諧振(CDS / Ltrace)引起的高頻振鈴至關(guān)重要。此外,高端和低端切換之間的停滯時(shí)間必須適當(dāng)。如果過緊,則會(huì)發(fā)生短路;如果過長,則會(huì)降低效率。

結(jié)論

電力電子技術(shù)的復(fù)興是當(dāng)前市場趨勢(shì)的結(jié)果。高效,可靠的電源轉(zhuǎn)換器已成為許多設(shè)計(jì)中的關(guān)鍵部分。新的半導(dǎo)體材料做出了貢獻(xiàn),為設(shè)計(jì)工程師帶來了新的可能性,但同時(shí)也帶來了新的挑戰(zhàn)。為了獲得見解并能夠從設(shè)計(jì)中獲得最大收益,仍然有必要進(jìn)行大量測(cè)量。Siglent在過去的幾年中擴(kuò)展了其測(cè)量設(shè)備,現(xiàn)在可以提供廣泛的產(chǎn)品來幫助工程師解決任務(wù)。

編輯:hfy

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