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芯片功耗和性能驗證解決方案

YCqV_FPGA_EETre ? 來源:FPGA開發(fā)圈 ? 作者:FPGA開發(fā)圈 ? 2021-01-14 10:31 ? 次閱讀
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“市面上沒有其他產(chǎn)品能夠做到與我們同水平的高精度測量。如果 NI 沒有提供這些工具,那么我們就得自行開發(fā)這些工具,而這需要多耗費數(shù)年的時間。NI 讓我們能夠?qū)W⒂谧钪匾氖虑??!薄愁I(lǐng)先半導(dǎo)體公司的硬件工程師

芯片功耗和性能驗證解決方案

如今,人們對電子產(chǎn)品的功耗的要求不斷提高,半導(dǎo)體公司正在爭相設(shè)計低功耗、高能效的產(chǎn)品。為了在緊迫的市場周期內(nèi)推出更有競爭力的產(chǎn)品,工程師需要快速測量、分析并正確地處理功耗數(shù)據(jù)。傳統(tǒng)臺式示波器和數(shù)字萬用表(DMM)等價格過于昂貴,而且很難根據(jù) Pin 腳或產(chǎn)品線進(jìn)行擴(kuò)展,而低成本數(shù)據(jù)采集解決方案往往精度不足,無法檢測到很多像芯片睡眠模式狀態(tài)下的微小電信號。面對這一進(jìn)退兩難的困境,一些企業(yè)選擇僅僅對芯片部分功效進(jìn)行分析,這將導(dǎo)致芯片高功耗、低品質(zhì)等問題,最終引起市場機(jī)會的大量流失。

NI 芯片功耗和性能驗證解決方案具有高準(zhǔn)確度和高通道數(shù),有助于加快產(chǎn)品上市時間,您可以使用專用儀器和基于配置的軟件來快速設(shè)置、測量、記錄和可視化功耗測量數(shù)據(jù)。

解決方案的優(yōu)勢

獲取可靠且一致的功耗測量結(jié)果,為設(shè)計提供準(zhǔn)確的反饋,幫助客戶解決問題以及提高競爭力

體積小巧,具有高可擴(kuò)展性,可從幾個通道擴(kuò)展到數(shù)百個通道

獲取針對目標(biāo)細(xì)分市場的洞察,優(yōu)化功率效率和性能

快速查看有意義的功耗數(shù)據(jù),讓設(shè)計公司應(yīng)用工程部門甚至客戶更早參與進(jìn)來為系統(tǒng)級驗證提供幫助

通過完整的功率測量解決方案,最大限度提升設(shè)計和驗證團(tuán)隊的效率

責(zé)任編輯:lq

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原文標(biāo)題:NI芯片功耗和性能優(yōu)化秘籍,現(xiàn)在可以下載了!

文章出處:【微信號:FPGA-EETrend,微信公眾號:FPGA開發(fā)圈】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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