模擬開(kāi)關(guān)和多路復(fù)用器是信號(hào)通道的核心元件，在工業(yè)、儀器儀表、醫(yī)療、消費(fèi)電子、通信和汽車系統(tǒng)等多個(gè)領(lǐng)域都有應(yīng)用。雖然模擬開(kāi)關(guān)和多路復(fù)用器實(shí)現(xiàn)的功能簡(jiǎn)單，但是想要真正的用好用精，必須要對(duì)其參數(shù)規(guī)格以及結(jié)構(gòu)原理有足夠的了解。為此，ADI特推出《ADI精密模擬開(kāi)關(guān)和多路復(fù)用器技術(shù)介紹視頻課程》，從以下三大方面助您設(shè)計(jì)出性能更佳的電路！

01基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)

CMOS開(kāi)關(guān)組成

以及相關(guān)參數(shù)

02導(dǎo)通電阻關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)

03開(kāi)關(guān)電容與泄露電容與漏電流相關(guān)

主講內(nèi)容

1StudyCMOS開(kāi)關(guān)的基本結(jié)構(gòu)

對(duì)于一個(gè)理想的開(kāi)關(guān)器件而言，它的導(dǎo)通電阻應(yīng)該為零，關(guān)斷電阻無(wú)限大，輸入泄漏為零，延時(shí)為零，可以輕松處理大信號(hào)和高共模電壓，但是如果使用CMOS技術(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)開(kāi)關(guān)的話，則會(huì)存在一些影響達(dá)到理想開(kāi)關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的限制，因此，我們需要詳細(xì)了解CMOS中的關(guān)鍵技術(shù)規(guī)格，以更好的克服這些影響。本節(jié)課程將就CMOS開(kāi)關(guān)的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)，性能曲線等多個(gè)方面展開(kāi)闡述，幫您更好的在設(shè)計(jì)中選用CMOS開(kāi)關(guān)。

2StudyRon開(kāi)關(guān)導(dǎo)通電阻

Ron開(kāi)關(guān)導(dǎo)通電阻對(duì)于開(kāi)關(guān)性能的影響較大，對(duì)Ron進(jìn)行影響的因素也較多，比如電源電壓、溫度、輸入信號(hào)電壓等等，這些影響都會(huì)導(dǎo)致開(kāi)關(guān)的直流精度出現(xiàn)誤差，甚至導(dǎo)致交流失真。同樣的，在多路復(fù)用器中，Ron匹配度/Ron平坦度也是一個(gè)需要考慮的重要規(guī)格，本節(jié)視頻將就以上參數(shù)做詳細(xì)解讀，幫您更好的在設(shè)計(jì)中選用CMOS開(kāi)關(guān)。

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