手機多攝、家庭安防、高清監(jiān)控、汽車電子、機器視覺……圖像類應用進入到了越來越多的領域。智能、互聯(lián)和自主消費產(chǎn)品的強勁需求推動領先的圖像傳感器設計公司進行技術創(chuàng)新，CMOS圖像傳感器處理像素越來越高，圖像傳感器芯片的復雜度越來越高，芯片的測試時間和投入也越來越大。為了保證CIS芯片量產(chǎn)品質(zhì)，加速科技與思特威進行了緊密合作，以高性價比CIS解決方案賦能思特威，為CMOS圖像傳感器芯片測試的發(fā)展樹立了行業(yè)典范。

國產(chǎn)CMOS圖像傳感器龍頭企業(yè)的測試需求

思特威作為CMOS圖像傳感器芯片領域的龍頭企業(yè)，自成立以來，始終專注于高端成像技術的創(chuàng)新與研發(fā)，憑借自身性能優(yōu)勢得到了眾多客戶的認可和青睞。

在安防監(jiān)控領域，思特威連續(xù)五年出貨量位居全球第一?，F(xiàn)有6大自主研發(fā)的產(chǎn)品線，目前，產(chǎn)品已覆蓋了安防監(jiān)控、機器視覺、智能車載電子、智能手機等多場景應用領域的全性能需求。

眾所周知，CMOS芯片測試既要進行常規(guī)的DC&Function項測試，又需要進行圖像采集及測試，對測試設備的專業(yè)性要求較高，相應的整體測試設備也比較復雜。怎樣能更好、更快的進行圖像傳感芯片測試？最大程度減少測試成本？作為連續(xù)五年安防領域出貨量TOP1企業(yè)，思特威對測試系統(tǒng)的選擇非常慎重。

定制化CIS芯片測試解決方案

實現(xiàn)更高性能的實時測試和數(shù)據(jù)傳輸

加速科技作為半導體測試設備領軍企業(yè)，多年來已服務行業(yè)眾多IC設計公司、知名封測企業(yè)、測試大廠，持續(xù)提供高性價比的測試設備和全系列解決方案，幫助提高生產(chǎn)效率，降低生產(chǎn)成本，確保產(chǎn)品良率。憑借專業(yè)領先的實力，加速科技贏得了思特威的青睞。

針對思特威提出的高速圖像采集測試需求，尤其在CMOS圖像傳感器不斷朝著高幀率化與高像素化的發(fā)展趨勢下，攝像頭傳輸影像的數(shù)據(jù)量在持續(xù)躍升，對測試設備的專業(yè)性提出了更高的要求。

加速科技運用自主研發(fā)的國內(nèi)第一臺250Mbps以上高性能數(shù)?；旌?a target="_blank">信號測試機，利用多年積累的高速分布式通信技術和高性能算法加速技術，深度定制了一整套高性能低成本的CIS測試解決方案。該解決方案單個工控機支持4組40Gbps高速通信級聯(lián)接口，實現(xiàn)高性能的實時測試和數(shù)據(jù)傳輸；另外，CIS高速圖像采集測試系統(tǒng)支持雙通道2.5Gsps ~3.5Gsps C PHY （定制板卡）采集接口和20~80Gbps數(shù)據(jù)上報接口，滿足了思特威日益增長的高分辨率圖像傳感器測試需求。運用行業(yè)領先的FPGA加速技術，實現(xiàn)更強大算力、實時調(diào)度和全并行測試，此外，通過高性能圖像加速算法，大大降低整體測試時間，同時也可以滿足思特威實現(xiàn)定制化算法的要求，提高整體測試效率

目前，思特威的昆山測試廠中已配備加速科技ATE Tester(ST2532)并實現(xiàn)大規(guī)模量產(chǎn)，產(chǎn)能可達9kk/月。思特威副總經(jīng)理歐陽堅先生曾表示，很高興能夠與加速科技達成深度合作，期待雙方更深層次的攜手能夠?qū)崿F(xiàn)資源的有效共享及共贏發(fā)展。

加速科技自主研發(fā)的ST2500系列產(chǎn)品擁有高達40Gbps的通信帶寬，實現(xiàn)更高性能的實時測試和數(shù)據(jù)傳輸。精心設計的模擬電路，確保測試參數(shù)誤差＜0.1%。支持大Pattern測試應用，最大Vector Deepth達192M Vectors，加載速率滿配置只需幾分鐘。基于先進的FPGA加速技術，全硬件實現(xiàn)Pattern下發(fā)和系統(tǒng)調(diào)度，將會極大提升數(shù)據(jù)測試的穩(wěn)定性、精準度以及測試效率，用戶友好的一體化操作界面。也更便于用戶進行批量測試和管理。

以CMOS圖像傳感器為代表的測試場景中，圖像采集及測試永遠是核心要素，要讓測試技術真正落到實處，讓技術與需求融合創(chuàng)新，提升效益助力產(chǎn)品升級迭代的同時，也讓圖傳視覺領域創(chuàng)新凸顯出更多的價值。作為國內(nèi)首家將高速通信、實時數(shù)字信號處理、高精度模擬等先進技術嫁接到集成電路測試領域并運用到CIS芯片測試的科技公司，加速科技也將通過不斷精研技術，實現(xiàn)更多算法突破，助力半導體測試產(chǎn)業(yè)升級和持續(xù)健康發(fā)展。

審核編輯：湯梓紅