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選擇性高通量TiN蝕刻方法的研究

華林科納半導體設備制造 ? 來源:華林科納半導體設備制造 ? 作者:華林科納半導體設 ? 2022-05-30 16:39 ? 次閱讀
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本研究的目的是我們?nèi)A林科納開發(fā)足夠快的氮化鈦蝕刻配方,可用于單晶片工具(SWT),但對電介質(zhì)和金屬具有高選擇性。大多數(shù)蝕刻實驗是在分子間Tempus F-20TM工具上進行的,該工具能夠在一個基板上同時測試多達32個液體樣品,氮化鈦薄膜本質(zhì)上是化學計量的(通過XPS);大多數(shù)是從商業(yè)來源獲得,但當使用客戶膠片時,它們的蝕刻率與商業(yè)膠片相關。采用橢偏振法(氮化鈦、介電介質(zhì))和XRF(Cu、W)測量薄膜厚度,更有趣的解決方案在多次和多個溫度下進行了測試,多次測試有助于檢測表面薄膜的影響,如金屬氧化物。我們確定了非氧化溶液不能達到預期的氮化鈦蝕刻速率,顯然需要一種氧化劑,并嘗試了兩類含氧化劑的配方:高pH值(~6-10)和低pH值(主要為1-3)。

在高pH值領域的配方中,篩選了12種氧化劑和42種金屬(銅、鎢)緩蝕劑,在許多情況下實現(xiàn)了高蝕刻速率,同時對銅和ILD具有高選擇性,然而對鎢的選擇性很低,顯然在鈦配位劑存在下,高pH值下容易形成可溶性鎢酸鹽,這阻止了鎢鈍化,得出的結論是,當W存在時,這種類型的配方可以用于更高的金屬化水平,但不能用于M1(至少不能用于完全除錫),選擇的結果顯示在表1中。

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在低pH值領域的配方中,篩選了55種氧化劑、10種蝕刻劑、95種金屬(銅、鎢)緩蝕劑和6種ILD鈍化劑,在這種情況下,很難達到所需的高蝕刻速率,但防紫外線腐蝕是可行的。一些酸性配方確實產(chǎn)生了在60℃下接近200/分鐘或在50℃下> 100/分鐘的錫蝕刻速率,并且具有良好的選擇性,選擇的結果顯示在表II中。

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實現(xiàn)快速選擇性蝕刻氮化鈦的部分原因是表面氧化物/氫氧化物薄膜的存在,它比氮化物本身更難溶解,因此,需要一個較強的Ti(4+)絡合物才能快速開始溶解,SC1(氨-過氧化物混合物)和SPM(硫酸-過氧化物混合物)對氮化鈦具有非常強的影響。在清洗Si/SiOx/SiN表面時需要保護氮化鈦時,這將導致困難,當這種混合物中的過氧化物被其他強氧化劑取代時,氮化鈦的蝕刻率通常較低,這種差異可以解釋為過氧化氫作為強Ti(4+)絡合物的活性,以及其氧化能力。

在一個相關的現(xiàn)象中,有時存在氧化劑濃度,氮化鈦蝕刻率顯示最大,當然較低濃度的活性較低,而較高濃度的蝕刻速率較低,這可能是因為表面氧化物的生成速度更快,并抑制了氮化鈦反應,在表二中列出的一些酸性溶液中觀察到了這種行為,這些溶液的中等酸度本身并不足以溶解二氧化鈦。

已經(jīng)開發(fā)了兩組具有快速錫蝕刻速率的配方,適用于swt中的錫去除,低pH配方對銅、鎢和ILD顯示出非常好的蝕刻選擇性,高pH值的更快,并且對銅和ILD具有極好的選擇性,但是對鎢沒有選擇性。

審核編輯:符乾江

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