01｜產(chǎn)品介紹

先進(jìn)測試裝備教學(xué)系統(tǒng)是一款可覆蓋各類IC的高端SoC測試機(jī)，同時配套相關(guān)教材、教學(xué)計劃、實訓(xùn)指導(dǎo)書及實訓(xùn)案例等教學(xué)資源，打造集成電路測試覆蓋更全面、測試教學(xué)更深入、人才發(fā)展更多元的教學(xué)系統(tǒng)。

02｜產(chǎn)品功能

全面的RF、數(shù)字和直流測量板卡組合

可自定義的先進(jìn)測試機(jī)系統(tǒng)，可根據(jù)需要選擇不同的資源板卡，同時保持測試程序的移植性。

系統(tǒng)校準(zhǔn)

可以對系統(tǒng)級數(shù)字和直流資源（比如彈簧探針接口、RF盲插等）進(jìn)行現(xiàn)場校準(zhǔn)。

Test Cell集成

標(biāo)準(zhǔn)Docking（對接口）和連接設(shè)施可與Manipulator（機(jī)械臂）以及Handler（芯片分選機(jī)）無縫集成來進(jìn)行封裝測試，也可與晶圓探針臺集成進(jìn)行晶圓測試。

統(tǒng)一的軟件體驗

借助OneTest軟件來開發(fā)、調(diào)試和部署測試程序，包含測試集成開發(fā)環(huán)境IDE+數(shù)字測試向量轉(zhuǎn)換+數(shù)據(jù)分析工具功能。

03｜產(chǎn)品優(yōu)勢

當(dāng)前，院校教學(xué)所使用的集成電路測試平臺存在產(chǎn)教有縫、無法借力產(chǎn)業(yè)生態(tài)、配套軟件相對匱乏、層次覆蓋不全面等不足，難以滿足新時期集成電路人才培養(yǎng)的需求。

先進(jìn)測試裝備教學(xué)系統(tǒng)，立足于集成電路測試產(chǎn)業(yè)背景，貫徹崗課賽證融通，可實現(xiàn)在學(xué)校中盡可能地還原實際測試情境，幫助學(xué)校從零開始完成集成電路測試專業(yè)的學(xué)科建設(shè)，輸出產(chǎn)業(yè)需求的各類人才，便于學(xué)生就業(yè)，逐步完成集成電路測試低、中、高層次的教學(xué)全覆蓋。

貼近工業(yè)生產(chǎn)實際

◆ 可用于工業(yè)生產(chǎn)的教育測試設(shè)備，測試性能優(yōu)異，采用Direct Docking方式，貼近工業(yè)生產(chǎn)實際情況

◆ 覆蓋模擬、SoC、ADDA、RFIC、Flash、光學(xué)傳感器等業(yè)界主流芯片

◆可以配合P&P或Bowl Feeder Handler實現(xiàn)自動化測試和演示

開放式測試培訓(xùn)平臺

◆ 可與高校共建測試培訓(xùn)平臺，復(fù)用已有的臺式、模塊化測試儀表或板卡

◆ 豐富的PXIe儀器資源，自主可控，架構(gòu)通用，配置靈活，可支持各類芯片的測試開發(fā)和培訓(xùn)

◆ 支持桌面、機(jī)柜、Manipulator機(jī)械手等多種形式，靈活適配實際應(yīng)用環(huán)境

功能全面的軟件

◆基于C++/C#的IDE軟件開發(fā)環(huán)境，緊貼學(xué)校編程語言課程

◆支持各類DFT Pattern的向量轉(zhuǎn)換工具

◆數(shù)據(jù)分析軟件，支持?jǐn)?shù)據(jù)可視化、數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析、良率統(tǒng)計分析等功能

◆功能齊全的Debug Tool

豐富的測試培訓(xùn)教材和實訓(xùn)案例

◆覆蓋集成電路測試開發(fā)全流程，包括芯片測試原理、ATE機(jī)臺、軟件、硬件及工程活動

◆覆蓋模擬、DC、Digital、Mix-Signal、RF、HighSpeed等基礎(chǔ)和進(jìn)階芯片測試原理和實訓(xùn)，覆蓋Trim、Efuse、TTR等

道阻且長，行則將至。作為集成電路產(chǎn)教融合領(lǐng)軍企業(yè)和國家級“專精特新”小巨人企業(yè)，朗迅科技將以打造集成電路產(chǎn)業(yè)綜合服務(wù)大平臺為目標(biāo)，打造高能級的產(chǎn)教創(chuàng)新平臺，充分利用產(chǎn)業(yè)積累資源和優(yōu)勢，持續(xù)釋放自身產(chǎn)教資源的“引力場”作用，關(guān)注集成電路產(chǎn)教融合的連貫性、閉環(huán)性和持續(xù)性，助力實現(xiàn)集成電路產(chǎn)業(yè)和教育的“雙向奔赴”，早日實現(xiàn)安全有效、自主可控的中國芯。