影像測量儀可以測高度尺寸嗎？
CH系列影像測量儀針對接觸式測量無法實現接觸的特征，它可以通過光學放大及光強調節(jié)進行測量，如微型特征，深槽內特征及接觸易變形材料或薄件等，具有測量手段多、靈活性強、非接觸等特點。在卡尺、角度尺難以測到的部位，都可以通過光學放大及光強調節(jié)進行測量。
影像測量儀可以測高度尺寸嗎？當然可以。
CH系列影像測量儀是非接觸式測高，可以選擇Z軸自動的機型，使用Z軸自動對焦來測高，既方便又能減少人為操作的誤差，保證任何人測量的結果一致。以非接觸式的光學測量為主，接觸式測量為輔，各傳感器的快速切換，可以進行全且準的測量任務。光學測量針對接觸式測量無法實現接觸的特征，可通過光學放大及光強調節(jié)進行測量，如微型特征，深槽內特征及接觸易變形材料或薄件等。
CH系列影像測量儀6.5X電動變倍高分辨率鏡頭和大視野鏡頭組合測量，表面光、透射光、同軸光分段編程控制，鑄就強大的毛邊、弱邊抓取功能，清晰呈現工件真實邊緣，實現精準測量。
光學測頭平面度測量測量實例
電路板測量
手提電腦鍵盤測量
陶瓷元件平面度測量
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