昊衡科技|高性能OFDR--OCI1500--國產(chǎn)高端儀器助力國產(chǎn)化芯片制造
昊衡科技自主研發(fā)以O(shè)FDR為核心的高分辨光學鏈路診斷儀OCI，具有超高空間分辨率，能精確測量回損、插損和光譜等參數(shù)，其事件點定位精度高達0.1mm，廣泛應用于光器件、光模塊、硅光芯片等內(nèi)部鏈路反射情況測量，以下為一組硅發(fā)射芯片測量。
硅發(fā)射芯片主要組件有一維光柵耦合器，可變光衰減器，強度調(diào)制器和偏振調(diào)制器。將芯片和OCI1500連接，進行反射率分布測量。
圖1. 硅發(fā)射芯片鏈路示意圖
在10μm空間分辨率下獲得測試結(jié)果，其中存在多個反射峰，且與芯片內(nèi)部器件一一對應。為確定反射峰位置，在調(diào)制器上施加信號，對反射峰的變化情況進行觀察和分析，得到最終分析結(jié)果。
圖2.硅發(fā)射芯片10μm測試結(jié)果從上述結(jié)果可以看出，高分辨光學鏈路診斷儀（OCI）可實現(xiàn)對芯片內(nèi)各器件的識別、定位及回損測量。OCI設(shè)備在芯片前期研發(fā)以及后期產(chǎn)線產(chǎn)品批量合格檢測中，可起到關(guān)鍵性作用。昊衡由衷希望，國產(chǎn)OFDR技術(shù)助力國產(chǎn)化芯片制造，加速硅光芯片項目開發(fā)、測試與生產(chǎn)。
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