半導體推力測試儀是微電子和電子制造領域的重要儀器設備，它在測試精度、重復性、可靠性、操控性和外觀設計等方面，均達到高的水平。主要是用于微電子封裝和PCBA電子組裝制造及其失效分析領域的專用動態(tài)測試儀器。
半導體推力測試儀具有如下特點： 1、測試傳感器模塊大的優(yōu)化了測試模塊適應各種不同類型的測試環(huán)境的能力，確保同一測試模塊工作在不同主機上測試數(shù)據(jù)的可靠一致性； 2、設備所有測試傳感器均采用自動量程設計，全量程范圍一致的分辨率，客戶在測試前無需在軟件端做繁雜而且耗時的檔位設定； 3、確保精準可靠的測試狀態(tài)和精密快速的定位動作； 4、自主研發(fā)制造的高頻響、高精度動態(tài)傳感器； 5、堅固機身設計，機身測試負荷能力高達500KG； 6、優(yōu)異的設備操控性能，多方位保護措施，可自由擺放的左右搖桿控制器，操作手感舒適的搖桿控制器。 適用領域： 儀器測試迅速、準確、適用面廣、測試精度高，適用于半導體IC封裝測試、LED封裝測試、光電子器件封裝測試、PCBA電子組裝測試、汽車電子、航空航天、軍工等等。亦可用于各種電子分析及研究單位失效分析以及各類院校教學和研究領域。 綜上所述，半導體推力測試儀是一種重要的設備，用于測試小型衛(wèi)星的推力系統(tǒng)。其技術特點包括高精度、大測量范圍、高可靠性和易于使用。通過使用該測試儀，工程師可以更好地了解發(fā)動機的推力特征和衛(wèi)星系統(tǒng)的性能，從而提高衛(wèi)星發(fā)射的成功率。

審核編輯 黃宇