1.什么是過(guò)采樣

過(guò)采樣技術(shù)是一種以犧牲采樣速度來(lái)提高ADC分辨率的技術(shù)。部分STM32單片機(jī)是支持硬件過(guò)采樣的，如STM32G0系列。通過(guò)過(guò)采樣，可以將12位的ADC提升到16位，非常實(shí)用。

根據(jù)過(guò)采樣技術(shù)，每提高1位ADC分辨率，需要增加4倍的采樣率。也就是說(shuō)1次采樣是12Bit,4次是13Bit,16次是14Bit,64次是15Bit,256次是16Bit,如果要更高分辨率,那么STM32的硬件過(guò)采樣就無(wú)能為力了。

過(guò)采樣主要通過(guò)配置ADC_SMPR寄存器的下面幾位即可實(shí)現(xiàn)，配置移位位數(shù)、過(guò)采樣倍數(shù)以及使能位。如下：

最大可配置為256倍過(guò)采樣，實(shí)現(xiàn)16位分辨率。當(dāng)采用256倍過(guò)采樣時(shí)，得到的結(jié)果是20位的，但ADC_DR寄存器是16位的，所以此時(shí)必須右移4位才行。如下圖：

2.STM32CubeMX配置

ADC配置如下，使能了一個(gè)通道，打開(kāi)DMA和連續(xù)采樣。使能過(guò)采樣，右移4位，256倍過(guò)采樣。這樣就可以直接當(dāng)作16位ADC來(lái)用了。

生成代碼后，輸入2.5V的電壓，進(jìn)行采樣測(cè)試，程序如下：

HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc1);
HAL_Delay(200);
HAL_ADC_Start_DMA(&hadc1,(uint32_t*)ADC_Buf,100);

采樣結(jié)果如下，可以看到，有最大4個(gè)字的跳動(dòng)。當(dāng)然這也跟硬件的布局布線等設(shè)計(jì)有關(guān)系。測(cè)試使用的開(kāi)發(fā)板，效果不是特別好，但過(guò)采樣對(duì)于提升分辨率還是有用的。

如果再對(duì)結(jié)果進(jìn)去求平均值，可以進(jìn)一步提升分辨率，結(jié)果如下，基本上只有1個(gè)字的跳動(dòng)。