空載電壓是指在不接任何負(fù)載的情況下所測(cè)量的電壓值，一般情況下空載電壓應(yīng)該接近額定電壓，空載電壓偏差較大會(huì)影響到設(shè)備的質(zhì)量和穩(wěn)定性?？蛰d電壓測(cè)試是確保開(kāi)關(guān)電源輸出穩(wěn)定性的重要方式，以免輸出變化大影響設(shè)備及整個(gè)電路的效率和穩(wěn)定。那么開(kāi)關(guān)電源的空載電壓怎么用納米軟件測(cè)試系統(tǒng)測(cè)開(kāi)關(guān)電源ate測(cè)試系統(tǒng)測(cè)量呢？

ATECLOUD-POWER開(kāi)關(guān)電源ate測(cè)試系統(tǒng)是納米軟件開(kāi)發(fā)的一款ate自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，專注于器件、模塊、混合集成電路等領(lǐng)域的測(cè)試。該系統(tǒng)測(cè)試開(kāi)關(guān)電源的空載電壓很簡(jiǎn)單，可以快速測(cè)試，具體步驟如下：

1. 連接測(cè)試設(shè)備

測(cè)試之前準(zhǔn)備好測(cè)試需要的設(shè)備，如被測(cè)開(kāi)關(guān)電源、測(cè)量電壓的萬(wàn)用表、邊緣存儲(chǔ)計(jì)算設(shè)備ATEBOX等，并正確連接，確保電路連接通暢，信號(hào)互通完好。用該系統(tǒng)測(cè)試會(huì)定制一個(gè)測(cè)試機(jī)柜，測(cè)試儀器設(shè)備以及測(cè)試PC會(huì)集成到機(jī)柜中，方便測(cè)試。

2. 創(chuàng)建測(cè)試方案

在測(cè)試PC中打開(kāi)并登錄開(kāi)關(guān)電源ate測(cè)試系統(tǒng)，根據(jù)開(kāi)關(guān)電源空載電壓的測(cè)試流程創(chuàng)建項(xiàng)目和方案。該系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單，封裝儀器指令，拖拽文字指令便可快速搭建項(xiàng)目。

3. 開(kāi)始測(cè)試

方案創(chuàng)建完成后即可一鍵運(yùn)行測(cè)試，系統(tǒng)會(huì)實(shí)時(shí)采集數(shù)據(jù)，并且會(huì)展示空載電壓值，以及Pass、Fail指標(biāo)會(huì)判斷電源的空載電壓是否合格。

4. 分析測(cè)試數(shù)據(jù)

測(cè)試結(jié)束后，數(shù)據(jù)洞察功能會(huì)及時(shí)地從多方位、多維度分析數(shù)據(jù)，精益可視化看板助力分析，數(shù)據(jù)變化波動(dòng)直觀可見(jiàn)。

5. 數(shù)據(jù)報(bào)告生成與導(dǎo)出

ATECLOUD-POWER支持?jǐn)?shù)據(jù)報(bào)告導(dǎo)出，可以選擇需要導(dǎo)出地?cái)?shù)據(jù)，以word格式導(dǎo)出。用戶可以自定義報(bào)告模板，具有靈活性。

綜上所述，空載電壓影響著開(kāi)關(guān)電源的性能和穩(wěn)定性，開(kāi)關(guān)電源空載電壓測(cè)試有助于檢測(cè)電源并對(duì)其進(jìn)行維護(hù)。ATECLOUD-POWER開(kāi)關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試空載電源靈活性高，用戶無(wú)需學(xué)習(xí)代碼編程就可以完成測(cè)試；也不用捆綁儀器，可以任意更換測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試。如果測(cè)試產(chǎn)品量大，可以在該系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)批量測(cè)試，提高測(cè)試效率。

審核編輯 黃宇