研究人員開發(fā)了一種新的納米粒子成像系統(tǒng)。該系統(tǒng)由一種高精度、短波紅外成像技術組成，能夠捕捉微毫秒范圍內稀土摻雜納米粒子的光致發(fā)光壽命。

這一發(fā)現以“使用全光學條紋成像的稀土摻雜納米顆粒的短波紅外光致發(fā)光壽命測繪”為標題，發(fā)表在《先進科學》雜志上，為有前景的應用鋪平了道路，特別是在生物醫(yī)學和信息安全領域。

稀土元素是具有獨特發(fā)光特性的戰(zhàn)略金屬，使其成為尖端科學中非常有吸引力的研究工具。此外，摻雜這些離子的納米粒子的光致發(fā)光壽命具有受外部條件影響最小的優(yōu)點。因此，通過成像測量可以提供準確和高度可靠的信息。雖然該領域取得了顯著進展，但用于這種測量的現有光學系統(tǒng)并不理想。

研究人員由法國國家科學研究院 (INRS) 能源材料與電信研究中心的Jin Yang Liang和Fiorenzo Vetron 教授領導。

超快成像和生物光子學專家Jinyang Liang解釋道：“到目前為止，由于光子檢測效率低、成像速度有限和靈敏度低，現有的光學系統(tǒng)提供了有限的可能性”。

迄今為止，測量稀土摻雜納米顆粒的光致發(fā)光壽命的最常用技術涉及計算時間相關的單光子。

該研究的第一作者Miao Liu說：“這種方法需要在同一位置進行大量重復的激發(fā)，因為探測器每次只能處理有限數量的光子”，他是一名能源和材料科學專業(yè)的博士生，由梁教授和維特羅尼教授指導。

然而，稀土摻雜納米粒子在紅外光譜中的長光致發(fā)光壽命(從數百微秒到數毫秒)限制了激發(fā)的重復率。因此，構建光致發(fā)光強度衰減曲線所需的像素駐留時間要長得多。

挑戰(zhàn)極限

為了克服這一挑戰(zhàn)，Liang 和 Vetrone的團隊將條紋光學與高靈敏度相機相結合。由此產生的設備稱為SWIR-PLIMASC(SWIR為短波紅外，PLIMASC為使用全光條紋相機的光致發(fā)光壽命成像顯微鏡)。它極大地改善了短波紅外光致發(fā)光壽命的光學特性測繪。它是光學領域第一個高靈敏度、高速的SWIR成像系統(tǒng)。

Liu表示：“它有幾個優(yōu)點。例如，它對從900納米到1700納米的寬光譜范圍有反應，允許在不同波長和/或光譜帶檢測光致發(fā)光?！?/p>

這位博士生補充說，借助這種設備，紅外光譜中的光致發(fā)光壽命，從微秒到毫秒，可以直接在一幅快照中捕獲，其1D成像速度可以從10.3 kHz調諧到138.9 kHz。

最后，將光致發(fā)光的時間信息分配到不同空間位置的操作確保了可以在一次快照中記錄1D光致發(fā)光強度衰減的整個過程，而不需要重復激發(fā)。Liu說：“這節(jié)省了時間，但仍然具有高靈敏度。”

生物醫(yī)學和安全應用

作為這項研究的一部分所開展的工作將產生非常實際的影響。Vetrone說，在生物醫(yī)學領域，SWIR-PLIMASC所取得的進展可以用于對抗癌癥，他的專業(yè)知識在于納米醫(yī)學。

Vetrone說：“由于我們的系統(tǒng)適用于稀土離子基于溫度的光致發(fā)光壽命成像，我們相信，例如，所獲得的數據有助于更早、更準確地檢測癌細胞。這些細胞的代謝會提高周圍組織的溫度?！?。

該創(chuàng)新系統(tǒng)還可以用于以更高的安全級別存儲信息，更具體地說，是防止文件和數據被偽造。最后，在基礎科學中，這些前所未有的結果將使科學家能夠合成具有更有趣的光學性質的稀土納米粒子。

審核編輯 黃宇