為了檢測(cè)和確保電源模塊在不同溫度和惡劣環(huán)境下的工作性能，高低溫老化測(cè)試是不可或缺的測(cè)試步驟。高低溫老化測(cè)試是電子產(chǎn)品制造過(guò)程中的重要一環(huán)，電源模塊高低溫老化測(cè)試就是為了檢測(cè)電源模塊在高溫和低溫下是否可以正常工作。

電源模塊高溫老化測(cè)試方法

高溫老化測(cè)試的目的是檢測(cè)電源模塊在高溫環(huán)境下的工作性能，從而判斷其在高溫條件下是否可以正常工作。具體測(cè)試步驟如下：

1. 對(duì)待測(cè)電源模塊進(jìn)行外觀檢查，并檢測(cè)其在正常條件下的輸出電壓。

2. 正確連接待測(cè)產(chǎn)品與測(cè)試設(shè)備，并將待測(cè)電源模塊放入試驗(yàn)箱內(nèi)，溫度達(dá)到高溫要求時(shí)，開(kāi)始測(cè)試。

3. 首先在額定負(fù)載條件下，在輸入電壓為額定電壓、最大電壓、最小電壓條件下分別對(duì)電源模塊進(jìn)行開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試，測(cè)試時(shí)長(zhǎng)各為2小時(shí)，電源模塊開(kāi)關(guān)機(jī)應(yīng)正常。

4. 調(diào)整負(fù)載為最小負(fù)載，輸入電壓為額定電壓，對(duì)電源模塊反復(fù)開(kāi)關(guān)機(jī)，時(shí)長(zhǎng)2小時(shí)，電源模塊開(kāi)關(guān)機(jī)應(yīng)正常。

5. 測(cè)試結(jié)束，取出待測(cè)品并放置2小時(shí)，檢測(cè)待測(cè)電源模塊的外觀，并進(jìn)行輸出電壓和紋波測(cè)試。

電源模塊低溫老化測(cè)試方法

低溫老化測(cè)試的是檢測(cè)電源模塊在低溫條件下是否可以正常工作，測(cè)試方法如下：

1. 檢查待測(cè)電源模塊的外觀及其在正常條件下的輸出電壓。

2. 正確連接測(cè)試電路后，將待測(cè)電源放入試驗(yàn)箱內(nèi)，溫度達(dá)到低溫要求時(shí)，開(kāi)始測(cè)試。

3. 調(diào)整負(fù)載為額定負(fù)載，在輸入電壓為額定電壓、最大電壓、最小電壓條件下分別對(duì)電源模塊進(jìn)行開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試，測(cè)試時(shí)長(zhǎng)各為2小時(shí)，電源模塊開(kāi)關(guān)機(jī)應(yīng)正常。

4. 調(diào)整負(fù)載為最小負(fù)載，輸入電壓為額定電壓，對(duì)電源模塊反復(fù)開(kāi)關(guān)機(jī)，時(shí)長(zhǎng)2小時(shí)，電源模塊開(kāi)關(guān)機(jī)應(yīng)正常。

5. 測(cè)試結(jié)束，取出待測(cè)品并放置2小時(shí)，檢測(cè)待測(cè)電源模塊的外觀，并進(jìn)行輸出電壓和紋波測(cè)試。

在測(cè)試過(guò)程中及測(cè)試結(jié)束后，電源模塊開(kāi)關(guān)機(jī)正常，并且電源輸出電壓和紋波在規(guī)定范圍內(nèi)，說(shuō)明電源模塊在高低溫條件下可以正常工作。納米軟件ATECLOUD-POWER電源模塊測(cè)試系統(tǒng)專(zhuān)門(mén)為廣大用戶提供一體化電源模塊測(cè)試解決方案，滿足客戶需求，全方位分析數(shù)據(jù)，支持功能擴(kuò)展，推動(dòng)自動(dòng)化測(cè)試行業(yè)的發(fā)展！

審核編輯 黃宇