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貼片電阻銀遷移失效分析

方齊煒 ? 來(lái)源:jf_48691434 ? 作者:jf_48691434 ? 2024-10-27 10:33 ? 次閱讀
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問(wèn)題描述:

客戶(hù)反饋我司提供的排阻型號(hào)CAV 8P4R(0603) 5% 330Ω在上機(jī)后出現(xiàn)電阻異常,導(dǎo)致整機(jī)燈不亮??蛻?hù)已提供若干解焊品供我司進(jìn)行詳細(xì)分析;

外觀檢查:

對(duì)客戶(hù)提供的解焊品進(jìn)行了外觀目檢,未發(fā)現(xiàn)明顯異常。

wKgZoWcdpcKACr37ABFe89zJIhQ932.png

阻值測(cè)量:

對(duì)解焊品進(jìn)行了阻值測(cè)試,發(fā)現(xiàn)所有樣品的端頭阻值均超出了規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)。特別是解焊品3#的3&C點(diǎn)位、4&D點(diǎn)位和解焊品4#的1&A點(diǎn)位阻值呈開(kāi)路狀態(tài)。

wKgZomcdpeGAakvUAAB_pF_0vPk044.pngwKgZomcdpeqAYcf5AAsriQO8khA458.png

內(nèi)部目檢:

通過(guò)藥水腐蝕剝膜后對(duì)解焊品內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行目檢,發(fā)現(xiàn)阻抗層周?chē)嬖谛鯛罨蛑β麪顢U(kuò)展的銀,且特定點(diǎn)位的內(nèi)電極存在腐蝕丟失現(xiàn)象,導(dǎo)致開(kāi)路狀態(tài)。這些現(xiàn)象均為銀遷移所致。

wKgaomcdpgWALhRgAAgITVf6QqI120.pngwKgaomcdpgyALmHXAAfi6YEeYu4101.pngwKgaomcdphmAcjZRAAgtqmhvccA489.png

總結(jié):

綜合分析,客戶(hù)反饋的排阻異常問(wèn)題是由于電阻內(nèi)電極銀遷移導(dǎo)致。建議客戶(hù)排查產(chǎn)品在生產(chǎn)或使用過(guò)程中是否受到潮濕環(huán)境的影響。

電阻銀遷移原理:

銀遷移是由于金屬銀在電位差和表面存在從環(huán)境中吸附的電解液(大多數(shù)情況是水)的作用下發(fā)生電離,形成Ag+離子。這些離子在電場(chǎng)作用下遷移并在陽(yáng)極形成Ag2O,導(dǎo)致電阻層結(jié)構(gòu)破壞,最終導(dǎo)致電阻值變化或開(kāi)路。

根據(jù)以上過(guò)程,我們可以知道陰離子遷移的必要條件為:存在電解液(通常為水),存在電勢(shì)差以及遷移路徑。 我們根據(jù)其發(fā)生的必要條件,可以做出一些防護(hù)措施:

①盡量做好氣密性,密封前烘烤等措施來(lái)避免電解液的引入;

②進(jìn)行合理的布線,保證足夠的間距,合理地控制點(diǎn)膠、貼片、焊接等操作以減小電勢(shì)差;

③在表面涂布高分子薄膜層等措施來(lái)阻斷銀遷移地路徑。

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