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集成電路電磁兼容性及應(yīng)對(duì)措施相關(guān)分析(一) — 電子系統(tǒng)性能要求與ESD問(wèn)題

廖竹君 ? 來(lái)源:上海雷卯電子科技有限公 ? 作者:上海雷卯電子科技 ? 2024-12-17 09:24 ? 次閱讀
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此專(zhuān)題將從三個(gè)方面來(lái)分享:

一、電子系統(tǒng)性能要求與ESD問(wèn)題

二、集成電路ESD問(wèn)題應(yīng)對(duì)措施

三、集成電路ESD 測(cè)試與分析

工業(yè)、消費(fèi)及汽車(chē)電子模塊開(kāi)發(fā)的 EMC 問(wèn)題會(huì)導(dǎo)致極高的開(kāi)發(fā)成本和時(shí)間浪費(fèi)。在開(kāi)發(fā)過(guò)程中,為了解決 EMC 問(wèn)題,需要投入大量的人力、物力和時(shí)間進(jìn)行測(cè)試、改進(jìn)和優(yōu)化,這增加了開(kāi)發(fā)的復(fù)雜性和成本,同時(shí)也可能導(dǎo)致項(xiàng)目延期。

一、電子系統(tǒng)性能要求與ESD問(wèn)題

l 電子模塊開(kāi)發(fā)中的EMC問(wèn)題:工業(yè)、消費(fèi)及汽車(chē)電子系統(tǒng)必須滿(mǎn)足不斷提高的性能要求。隨著智能化、電動(dòng)化的發(fā)展,這些電子系統(tǒng)需要處理更多的數(shù)據(jù)、實(shí)現(xiàn)更復(fù)雜的功能。這就要求電子模塊具有更高的集成度、更快的處理速度和更低的功耗,從而增加了EMC問(wèn)題的復(fù)雜性。

l 高性能需求下的IC應(yīng)用:由于電子系統(tǒng)對(duì)性能的要求不斷提高,越來(lái)越多的高度集成、ESD 敏感的集成電路(IC)被應(yīng)用于該領(lǐng)域。這些 IC 能夠提供更高的性能和更多的功能,但同時(shí)也更容易受到靜電放電(ESD)的影響。當(dāng) ESD發(fā)生時(shí),可能會(huì)在IC內(nèi)部產(chǎn)生瞬間的高電壓和大電流,從而損壞 IC 的內(nèi)部結(jié)構(gòu),導(dǎo)致其功能失效或出現(xiàn)異常。這些故障不僅會(huì)影響汽車(chē)電子系統(tǒng)的正常運(yùn)行,還可能會(huì)導(dǎo)致安全隱患。

l ESD 對(duì)高度集成微控制器的影響:主要影響高度集成的微控制器敏感區(qū)域,其中振蕩器單元和鎖相環(huán)(PLL)單元對(duì)ESD過(guò)程非常敏感。振蕩器單元是微控制器的時(shí)鐘源,負(fù)責(zé)產(chǎn)生穩(wěn)定的時(shí)鐘信號(hào),而 PLL 單元?jiǎng)t用于對(duì)時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行倍頻、分頻和相位調(diào)整等操作。如果這些單元受到 ESD 的影響,可能會(huì)導(dǎo)致時(shí)鐘信號(hào)的不穩(wěn)定或錯(cuò)誤,從而影響整個(gè)微控制器的正常運(yùn)行。目前的電子應(yīng)用在最壞情況下甚至無(wú)法達(dá)到 2kV 的ESD 抗擾度。這意味著在實(shí)際應(yīng)用中,即使是相對(duì)較小的 ESD 事件也可能會(huì)導(dǎo)致電子設(shè)備出現(xiàn)故障。特別是對(duì)于那些帶有散熱器的微控制器應(yīng)用,經(jīng)驗(yàn)表明它們特別敏感,因?yàn)樯崞骺赡軙?huì)增加 ESD 的耦合路徑,從而使 ESD 更容易影響到微控制器內(nèi)部的電路。

l

散熱片對(duì) ESD 敏感性的影響:經(jīng)驗(yàn)表明,帶有散熱片的微控制器應(yīng)用對(duì) ESD 特別敏感(圖1)。圖 1顯示了 ESD 干擾的工作原理。這是因?yàn)?ESD 發(fā)生器會(huì)將干擾脈沖耦合到散熱片中,從而在散熱片和電子模塊之間產(chǎn)生電壓差,進(jìn)而在兩者之間產(chǎn)生電場(chǎng)干擾。由于散熱片與 IC 距離較近,在 0.2 至 1 毫米的范圍內(nèi),這種高電場(chǎng)強(qiáng)度可能會(huì)導(dǎo)致 IC 失效。

wKgZO2dgFJ2AO6_XAAFyefx48f4837.png

圖 1 ESD 干擾的工作原理

wKgZPGdgFJ6ANI5qAAHz3mecZN8606.png

圖2用場(chǎng)源檢測(cè)到的微控制器敏感區(qū)域

手動(dòng)對(duì)電場(chǎng)源集成電路(IC)進(jìn)行檢測(cè)將會(huì)發(fā)現(xiàn),鎖相環(huán)(PLL)和振蕩器區(qū)域特別敏感。對(duì)IC故障進(jìn)行的相應(yīng)分析證實(shí)了鎖相環(huán)和振蕩器存在故障。

根據(jù)圖 1 中的示例,以將靜電放電(ESD)抗擾度定位到相應(yīng)的故障部分:

l 振蕩器單元的 2 KV ESD

l PLL 電池單元的 3 KV ESD

下一篇將接著分享《ESD問(wèn)題應(yīng)對(duì)措施》。

Leiditech雷卯電子致力于成為電磁兼容解決方案和元器件供應(yīng)領(lǐng)導(dǎo)品牌,供應(yīng)ESD,TVS,TSS,GDT,MOV,MOSFET,Zener,電感等產(chǎn)品。雷卯擁有一支經(jīng)驗(yàn)豐富的研發(fā)團(tuán)隊(duì),能夠根據(jù)客戶(hù)需求提供個(gè)性化定制服務(wù),為客戶(hù)提供最優(yōu)質(zhì)的解決方案。

審核編輯 黃宇

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