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推拉力測試儀:金絲球鍵合工藝優(yōu)化的“神器”

科準測控 ? 來源:科準測控 ? 作者:科準測控 ? 2025-02-22 10:09 ? 次閱讀
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金絲球鍵合技術(shù)是微電子封裝領(lǐng)域中實現(xiàn)芯片與外部電路連接的關(guān)鍵工藝之一。其可靠性直接影響到電子器件的性能和壽命。第二焊點作為金絲鍵合的重要組成部分,其可靠性尤為重要。本文科準測控小編將通過使用Beta S100推拉力測試儀對金絲球鍵合第二焊點進行可靠性分析,探討影響其可靠性的因素,并提出優(yōu)化建議。

一、金絲球鍵合第二焊點的可靠性影響因素

1、材料特性

第二焊點的可靠性受鍵合區(qū)材料的粗糙度、缺陷尺寸及硬度等因素的影響。例如,厚膜電路中的金絲球鍵合第二焊點通常由厚膜金層、鋁過渡片和鍍鎳引線組成,這些材料的差異對鍵合設(shè)備的輸出精度和鍵合參數(shù)提出了更高要求。

焊接界面的平整度較差時,楔形魚尾狀根部容易受傷或粘接不牢固,導致鍵合拉力強度過低。

2、工藝參數(shù)

鍵合過程中的工藝參數(shù)(如溫度、壓力、超聲功率等)對第二焊點的可靠性有顯著影響。例如,鍵合參數(shù)過大可能導致金絲焊點變形,而鍵合參數(shù)過小則可能導致焊點壓焊不牢。

補球工藝(如在第二焊點魚尾上種植安全球)可以顯著提高鍵合引線的拉力強度。研究表明,當安全球覆蓋第二焊點魚尾面積達到90%~100%時,鍵合效果最佳。

二、檢測原理

推拉力測試儀通過施加精確控制的拉力或推力,測量焊點在受力過程中的力值變化和失效模式。測試過程中,設(shè)備會實時記錄力值和位移的變化,最終通過分析失效時的最大力值來評估焊點的可靠性。

三、常用檢測設(shè)備

1、Beta S100推拉力測試儀
image.png

a、設(shè)備介紹

多功能焊接強度測試儀,適用于微電子引線鍵合后引線焊接強度測試、焊點與基板表面粘接力測試及其失效分析。該儀器能夠執(zhí)行多種測試,如晶片推力測試、金球推力測試和金線拉力測試,配備有高速力值采集系統(tǒng),以確保測試的精確性。

b、設(shè)備特點
image.png

四、測試流程

步驟一、測試準備

1、設(shè)備校準

按照設(shè)備操作手冊對Beta S100推拉力測試儀進行校準,確保測量精度。

檢查設(shè)備的夾具是否完好,確保能夠牢固夾持金絲。

2、樣品準備

選取待測試的金絲球鍵合樣品,確保樣品表面清潔、無污染。

使用顯微鏡觀察第二焊點的外觀,記錄焊點的形態(tài)、尺寸和表面狀況。

3、參數(shù)設(shè)置

根據(jù)測試標準或工藝要求,設(shè)置測試速度(通常為100 mm/min)和最大拉力(根據(jù)焊點強度預估)。

設(shè)置數(shù)據(jù)采集頻率,確保能夠記錄完整的力值和位移變化曲線。

4、記錄表格準備

準備測試記錄表格,包括樣品編號、測試參數(shù)、拉力值、失效模式、測試日期等信息。

步驟二、測試方法

1、樣品安裝

將金絲球鍵合樣品安裝到測試夾具中,確保金絲與夾具之間的接觸良好且無滑動。

調(diào)整樣品位置,使拉力方向與金絲鍵合方向一致,避免測試過程中出現(xiàn)偏斜。

2、測試啟動

打開Beta S100推拉力測試儀,輸入樣品編號和測試參數(shù)。

啟動測試,設(shè)備將自動施加拉力,同時記錄力值和位移變化。

3、數(shù)據(jù)記錄

在測試過程中,實時觀察設(shè)備顯示屏上的力值和位移曲線。

記錄焊點失效時的最大拉力值、失效模式(如焊點斷裂、金絲拉伸等)以及失效位置(第一焊點、第二焊點或其他位置)。

4、重復測試

為確保測試結(jié)果的可靠性,對每種樣品至少進行5次重復測試。

每次測試后,更換新的樣品并重新安裝,確保測試條件一致。

5、測試結(jié)束

測試完成后,關(guān)閉設(shè)備,卸下樣品夾具。

使用顯微鏡觀察失效后的焊點,記錄失效特征(如斷裂位置、裂紋形態(tài)等)。

步驟三、數(shù)據(jù)分析

1、拉力值統(tǒng)計

計算每種樣品的平均拉力值、標準差和變異系數(shù),評估焊點強度的穩(wěn)定性和一致性。

比較不同工藝參數(shù)(如補球工藝、鍵合參數(shù)等)對拉力值的影響。

2、失效模式分析

根據(jù)失效模式(如焊點斷裂、金絲拉伸等)分析焊點的可靠性。

對于第二焊點的失效,重點關(guān)注焊點的粘接強度和金絲的結(jié)合情況。

3、數(shù)據(jù)總結(jié)

將測試結(jié)果整理成報告,包括拉力值統(tǒng)計、失效模式分析和工藝優(yōu)化建議。

提出改進措施,如優(yōu)化鍵合參數(shù)、改進補球工藝等。

五、注意事項

1、樣品安裝

確保金絲與夾具之間的接觸良好,避免滑動或松動。

安裝時應輕拿輕放,避免對焊點造成額外損傷。

2、測試過程

測試過程中避免人為干擾,確保測試環(huán)境穩(wěn)定。

注意觀察設(shè)備的運行狀態(tài),如有異常應及時停機檢查。

3、數(shù)據(jù)記錄

記錄數(shù)據(jù)時應詳細、準確,避免遺漏關(guān)鍵信息。

對于失效后的焊點,應拍照或繪圖記錄失效特征,便于后續(xù)分析。

4、設(shè)備維護

測試結(jié)束后,及時清理設(shè)備和夾具,保持設(shè)備的清潔和良好狀態(tài)。

定期對設(shè)備進行維護和校準,確保測試結(jié)果的準確性。

5、鍵合設(shè)備與工具

鍵合設(shè)備的輸出精度和劈刀的形貌對第二焊點的可靠性至關(guān)重要。例如,使用顆粒粗化的劈刀可以增加魚尾的接觸面積,從而提高鍵合的可靠性。

推拉力測試儀的高精度測量和多樣化夾具設(shè)計,能夠有效評估焊點的拉力強度和失效模式。

以上就是小編介紹的有關(guān)于金絲球鍵合第二焊點的可靠性分析的相關(guān)內(nèi)容了,希望可以給大家?guī)韼椭∪绻€想了解更多關(guān)于推拉力測試儀杠桿如何校準、怎么使用、原理和使用方法視頻,Beta S100推拉力測試儀怎么使用視頻和圖解,使用步驟及注意事項、作業(yè)指導書,原理、怎么校準和使用方法視頻,焊接強度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題,歡迎您關(guān)注我們,也可以給我們私信和留言,【科準測控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測試儀在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導體、BGA元件焊點、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領(lǐng)域應用中可能遇到的問題及解決方案。

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