分享高壓大流High Power 探針卡特性
一 , High Power 高壓大電流探針卡的介紹
1)High Power Device 有:
IGBTs
PMICs
2)高壓等級可以達(dá)到; High Voltage/Current:30KV/15KA
二 , 該種高壓大流探針卡使用特性有:
1)當(dāng)晶圓測試時(shí),需要單DIE均勻加載電壓或電流,并保持高壓強(qiáng)度和大流能力.
?2)為了更好質(zhì)量,會(huì)模塊前Full DIE 測試.
參數(shù)特性
| Items | Specification |
| Devices | IGBTs、 MOSFETs PMICs 、 SiC&GaN Chips et… |
| Rated Voltage | 30KV |
| Rated Current | 200A ， (bespoke products TBD) |
| Cres | Normal < 2 Ohm,? (bespoke products TBD) |
| Leakage | < 5nA /5V? (bespoke products TBD) |
| MAX Temperature | 180℃, (bespoke products TBD) |
關(guān)于盛華(www.sinowintech.com)
盛華探針卡是從事晶圓測試探針卡的研發(fā)、設(shè)計(jì)、制造和銷售的技術(shù)企業(yè). 自成立以來，盛華始終專注于高端、高速 、高同測晶圓探針卡的創(chuàng)新與研發(fā)，憑借技術(shù)優(yōu)勢得到了眾多客戶的認(rèn)可和青睞。公司產(chǎn)品已覆蓋了CIS、SOC、Memory、TDDI/DDIC等多品類中高階晶圓測試領(lǐng)域的全性能需求。盛華秉持以客戶需求為導(dǎo)向，持續(xù)推動(dòng)創(chuàng)新,不斷提供客戶最佳性價(jià)比的產(chǎn)品和服務(wù).
審核編輯 黃宇
聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題，請聯(lián)系本站處理。
舉報(bào)投訴
-
探針卡
+關(guān)注
關(guān)注
6文章
44瀏覽量
9729
發(fā)布評論請先 登錄
相關(guān)推薦
熱點(diǎn)推薦
二探針與四探針電阻測量法的區(qū)別
中，二探針法和四探針法是兩種常用且具有代表性的技術(shù)。本文Xfilm埃利將系統(tǒng)梳理并比較這兩種方法的原理、特點(diǎn)與應(yīng)用差異。二探針法/Xfilm（a）兩探針法測試示意
基于四探針測量的 BiFeO?疇壁歐姆響應(yīng)研究
導(dǎo)電疇壁（DWs）是新型電子器件的關(guān)鍵候選結(jié)構(gòu)，但其納米尺度與宿主材料高電阻特性導(dǎo)致電學(xué)表征困難。Xfilm埃利四探針方阻儀可助力其電阻精確測量，本文以四探針測量技術(shù)為核心，采用亞微米級多點(diǎn)探
Power Integrations高壓PowiGaN技術(shù)助力新興800VDC數(shù)據(jù)中心總線架構(gòu)發(fā)展
Power Integrations正利用其高壓PowiGaN技術(shù)，助力新興800VDC數(shù)據(jù)中心總線架構(gòu)的發(fā)展。作為已實(shí)現(xiàn)量產(chǎn)1250V和1700V高壓GaN開關(guān)的重點(diǎn)供應(yīng)商，PI正與NVIDIA合作，加速推動(dòng)向800VDC供電
非局域四探針法：超導(dǎo)薄膜顆粒度對電阻特性的影響機(jī)制解析
技術(shù)支持：4009926602超導(dǎo)薄膜的微觀不均勻性（顆粒度）是影響其宏觀性能的關(guān)鍵因素。在接近臨界溫度（T??）時(shí)，傳統(tǒng)四探針法常觀測到異常電阻峰，這一現(xiàn)象長期被誤認(rèn)為材料本征特性。然而，研究表明
助力南方科技大學(xué)搭建閉循環(huán)高低溫探針臺#南方科技大學(xué) #閉循環(huán)高低溫探針臺 #探針臺 #集成系統(tǒng)
探針
jf_90915507
發(fā)布于 :2025年08月08日 09:57:46
探針臺的應(yīng)用領(lǐng)域#探針臺 #探針 #半導(dǎo)體領(lǐng)域 #集成系統(tǒng) #科普
探針
jf_90915507
發(fā)布于 :2025年08月08日 09:46:33
壓電納米定位技術(shù)在探針臺應(yīng)用中有多關(guān)鍵？
在半導(dǎo)體芯片的制造流程中，探針可以對芯片進(jìn)行性能檢驗(yàn)；在新材料研發(fā)的實(shí)驗(yàn)室中，探針與樣品表面的納米級接觸，解鎖材料的電學(xué)、光學(xué)特性；在生物研究室中，探針正在以極快且細(xì)微的運(yùn)動(dòng)對細(xì)胞進(jìn)行
季豐電子推出經(jīng)濟(jì)型精密探針座 MP-05探針座
小電流量測及電容量測、高壓量測、R/F量測I/O點(diǎn)量測，適用于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)及光電產(chǎn)業(yè)或?qū)W術(shù)單位等。 MP-05經(jīng)濟(jì)型探針座，以超高性價(jià)比為核心，兼顧精準(zhǔn)度與耐用性。 核心優(yōu)勢 ● 高精度，性價(jià)比高； ● 采用進(jìn)口精密絲杠（73TPI，Threads Per Inch，每
告別手動(dòng)時(shí)代：揭秘蔡司探針清潔的智能革命
您是否正面臨以下測量挑戰(zhàn)？ 手動(dòng)清潔三坐標(biāo)探針耗時(shí)耗力，影響生產(chǎn)進(jìn)度？ 微小探針清潔困難，容易造成損壞，損失慘重？ 探針因積塵或靜電干擾測量結(jié)果，缺乏有效解決方案？ 蔡司探針自動(dòng)清潔裝
發(fā)表于 03-05 14:59
?454次閱讀
工商網(wǎng)監(jiān)
評論