射頻芯片的研發(fā)是國內外研發(fā)團隊的前沿選題，其優(yōu)秀的性能特點，如高速、低功耗、高集成度等，使得射頻芯片在通信、雷達、電子對抗等領域具有廣泛的應用前景。面對射頻芯片日益增長的功能需求，針對射頻芯片的測試要求也逐漸提升，如何準確快速的完成射頻芯片的批量測試則成了眾多射頻芯片企業(yè)面臨的難題。

射頻晶圓芯片測試

為了滿足射頻芯片的大批量快速測試，采用自動化平臺配合矢量網(wǎng)絡分析和探針臺是大多數(shù)射頻芯片企業(yè)的選擇方案。那么這套方案是如何實現(xiàn)射頻芯片的測試呢？

以ATECLOUD自動化測試平臺為例，平臺在測試射頻芯片時可以直接控制矢量網(wǎng)絡分析儀和探針臺，通過探針臺定位被測晶圓芯片的坐標，通過網(wǎng)絡分析儀的采集測試數(shù)據(jù)，生成map圖，測試完成之后再將數(shù)據(jù)傳回平臺，測試結果也會實時展示在測試面板中，pass、fail指標自動判別測試結果，這樣即可完成一顆射頻芯片的自動化測試。而平臺中可以直接使用批量測試，直接通過平臺不斷重復上述操作即可實現(xiàn)快速批量測試。

射頻芯片測試項目

測試完成后，可以在平臺的記錄報告中查看所有產(chǎn)品的測試指標數(shù)據(jù)，包括測試時配置的參數(shù)、產(chǎn)品合格信息、測試項目參數(shù)等重要信息均可直接顯示。想要對數(shù)據(jù)進行對比分析則可以在數(shù)據(jù)洞察界面，查看對應方案的數(shù)據(jù)分析圖表，包括產(chǎn)品合格率、人員能效比、產(chǎn)品效率曲線對比、指標參數(shù)分布圖等各維度分析。

射頻芯片測試指標判斷

采用上述流程測試射頻芯片不僅可以實現(xiàn)射頻芯片的自動化批量測試，數(shù)據(jù)報告和數(shù)據(jù)分析的步驟也可以采用自動化的方式導出，大幅度提升測試的效率。

審核編輯 黃宇