二極管作為電子電路中常用的非線性元件，其伏安特性（IV曲線）是評估其性能的關鍵指標。本文將詳細介紹如何利用Keithley 6517B靜電計/高阻表（以下簡稱“6517B”）準確測量二極管的正向導通電壓、反向漏電流及擊穿特性，并探討如何通過優(yōu)化測量參數降低誤差。
一、測量原理與儀器概述
1. 二極管IV特性測量原理
正向特性：通過施加正向電壓，測量二極管導通后的電流-電壓關系，通常表現為指數型曲線。
反向特性：施加反向電壓時，二極管處于截止狀態(tài)，需測量微弱的反向漏電流（pA-nA級別），評估其絕緣性能。
擊穿特性：當反向電壓超過臨界值（擊穿電壓）時，漏電流急劇增加，需確定擊穿電壓及雪崩特性。
2. 6517B儀器特點
高精度：電流測量范圍10fA-20mA，電壓范圍0-1000V。
低噪聲：內置Guard保護電路，可抑制電纜及樣品漏電流。
自動化：支持IV曲線掃描、數據存儲及遠程控制功能。

二、測量前的準備工作
1. 環(huán)境控制
電磁屏蔽：將樣品置于金屬屏蔽箱內，接地線連接至儀器接地端，避免電磁干擾。
溫濕度穩(wěn)定：建議溫度控制在23±1℃，濕度<50%RH，防止表面漏電。
靜電消除：使用離子風機或靜電消除器對樣品及測試臺放電。
2. 樣品與電極處理
清潔表面：用異丙醇擦拭二極管引腳，去除氧化層或污染物。
電極選擇：選用鍍金或鉑電極，避免與被測材料發(fā)生化學反應。
接觸壓力：使用彈簧探針或夾具固定，確保接觸電阻<1Ω。
3. 儀器校準
短路校準：連接短路電纜，執(zhí)行“Zero”校準以消除內部噪聲。
電阻校準：使用標準電阻（如1GΩ）驗證儀器精度。
三、正向IV曲線測量步驟
1. 連接電路
采用四線法（4PT）連接：電壓測量線（Hi/Lo）與電流測量線（Sense/Source）分開，消除引線電阻影響。
將二極管陽極接Hi/Source端，陰極接Lo/Sense端，Guard端連接屏蔽層。
2. 參數設置
測量模式：選擇“IV Sweep”。
電壓范圍：正向掃描從0V開始，逐步增加至二極管額定正向電壓（如2V）。
掃描速率：設置0.1V/s-1V/s，避免過快導致熱效應。
積分時間：選擇“Auto”或10ms-100ms（根據信號穩(wěn)定性調整）。
3. 啟動測量
點擊“Start”按鈕，儀器將自動記錄電壓-電流數據點。
觀察實時曲線，若電流突變或數據不穩(wěn)定，需停止測量并檢查連接。
四、反向IV曲線與擊穿電壓測量
1. 反向掃描設置
電壓極性反轉：將Hi/Lo端對調，使二極管承受反向電壓。
電壓上限：設置略高于預期擊穿電壓（如50V-100V），并啟用“Limit”保護功能。
電流量程：選擇pA或nA檔，啟用Guard模式抑制漏電流。
2. 數據記錄與分析
記錄反向漏電流隨電壓的變化曲線，觀察是否存在異常峰值或拐點。
確定擊穿電壓：當電流急劇增加時的電壓值（需結合樣品規(guī)格判斷）。
3. 注意事項
避免過壓：若樣品擊穿不可逆，需設置電壓上限保護二極管。
溫度監(jiān)控：反向測試可能產生熱量，必要時使用熱沉或縮短測試時間。
五、高級測量技術（可選）
1. 變換極性法（Polarity Reversal）
適用于背景電流較大的情況：通過周期性切換電壓極性（如+10V→-10V→+10V），計算多次測量平均值以消除寄生電流。
2. 時間常數分析
監(jiān)測電流隨時間的變化：設置固定電壓（如10V），記錄電流隨時間的變化曲線，評估二極管充放電特性。
六、數據處理與誤差分析
1. 數據平滑與擬合
使用Origin、Excel等軟件對原始數據進行平滑處理（如Savitzky-Golay濾波），并擬合IV曲線方程（如肖克利方程）。
2. 誤差來源識別
接觸電阻：更換電極后電流變化明顯，提示接觸不良。
溫度漂移：反向電流隨溫度變化顯著，需加強溫控。
電纜噪聲：更換屏蔽電纜后數據改善，說明原電纜存在漏電。
七、常見問題與解決方案
1. 測量值不穩(wěn)定
檢查屏蔽箱接地是否良好，電纜接頭是否松動。
確認二極管是否充分放電，避免殘余電荷影響。
2. 反向漏電流過大
清潔二極管表面，避免污染導致的表面漏電。
確認測試電壓是否過高，導致二極管接近擊穿。
3. Guard模式無效
檢查Guard線連接是否正確，避免與電壓線短路。
確認樣品屏蔽層是否覆蓋完整，消除邊緣漏電。

通過合理的參數配置、環(huán)境控制及數據處理，6517B可實現二極管IV特性的高精度測量。關鍵優(yōu)化措施包括：
使用四線法連接和Guard保護電路；
控制掃描速率與積分時間，平衡精度與效率；
定期校準儀器，確保測量基準準確。
對于特殊應用場景（如低溫或高頻特性測試），可結合專用夾具或溫控設備進一步擴展測量能力。

審核編輯 黃宇