(3) 邊界測試結(jié)果

測試步驟 4 對應(yīng)波形如圖 1所示， 寄存器最大值為 64’hFFFFFFFFFFFFFFFF，到達最大值后一個時鐘周期后翻轉(zhuǎn)回 0， 在隨機時刻使用 force 將寄存器賦值臨近最大值， 當寄存器達到最大值后， 翻轉(zhuǎn)回到 0， 讀取數(shù)值為 0， 仿真行為符合設(shè)計預(yù)期。

圖1 寄存器邊界測試仿真波形圖

(4) 功能測試結(jié)果

測試步驟 5 對應(yīng)打印信息如圖 2 所示， 由于此步驟波形跨度較大因此使用打

印信息展示。 在 24618ns 時刻讀取寄存器值為 64’h1F， 在 79434ns 時刻讀取寄存器值

為 64’h35A7， 計算時間差值除以 4 等于寄存器兩次讀取差值， 仿真行為符合設(shè)計預(yù)

期， 測試通過。

圖2 寄存器功能測試打印信息圖

版權(quán)聲明：本文為博主原創(chuàng)文章，遵循 CC 4.0 BY-SA 版權(quán)協(xié)議，轉(zhuǎn)載請附上原文出處鏈接和本聲明。

原文鏈接：https://blog.csdn.net/tiantianuser/article/details/151548984