STMicroelectronics STGWA30M65DF2AG汽車級IGBT設(shè)計采用獲得專利的先進溝槽式柵極場終止型結(jié)構(gòu)。STMicroelectronics STGWA30M65DF2AG為逆變器提供最佳系統(tǒng)性能和效率平衡,具有低損耗和必要的短路功能。該器件符合AEC-Q101標準,最高結(jié)溫為+175°C,短路耐受時間為6μs,30A時VCE(sat) 低至1.7V,參數(shù)分布緊密。該器件還包括軟、快速恢復(fù)反向并聯(lián)二極管和低熱阻,采用TO-247長引線封裝。
數(shù)據(jù)手冊:*附件:STMicroelectronics STGWA30M65DF2AG汽車級IGBT數(shù)據(jù)手冊.pdf
特性
- 符合 AEC-Q101
- 最高結(jié)溫:T
J= +175°C - 最短短路耐受時間:6μs
- 低V
CE(sat)= 1.7V(典型值,IC= 30A時) - 參數(shù)分布緊密
- 低熱阻
- 快速軟恢復(fù)反向并聯(lián)二極管
電路圖

STGWA30M65DF2AG汽車級IGBT深度解析與應(yīng)用指南
一、產(chǎn)品核心特性與定位
STGWA30M65DF2AG是意法半導(dǎo)體(ST)推出的汽車級溝槽柵場截止型IGBT,采用TO-247長引腳封裝,具有650V耐壓和30A額定電流能力。作為M系列IGBT的代表,其在逆變系統(tǒng)性能與效率間實現(xiàn)了優(yōu)化平衡,特別適合對低損耗和短路耐受能力要求嚴苛的應(yīng)用場景。
?關(guān)鍵特性亮點?:
- ?AEC-Q101認證?:滿足汽車電子可靠性標準
- ?超低導(dǎo)通損耗?:VCE(sat)典型值僅1.7V@30A
- ?強健的短路保護?:最小6μs短路耐受時間
- ?集成高效二極管?:軟恢復(fù)特性的反并聯(lián)二極管
- ?寬溫度范圍?:工作結(jié)溫-55至175°C
二、關(guān)鍵參數(shù)工程解讀
1. 極限電氣參數(shù)
| 參數(shù) | 數(shù)值 | 測試條件 |
|---|---|---|
| VCES(集射極耐壓) | 650V | VGE=0V |
| IC(連續(xù)集電極電流) | 87A | TC=25°C |
| 57A | TC=100°C | |
| ICP(脈沖電流) | 120A | tp≤1μs, TJ<175°C |
| PTOT(總功耗) | 441W | TC=25°C |
注:實際應(yīng)用需考慮熱阻限制,建議工作電流不超過標稱值的80%
2. 開關(guān)特性分析
在VCE=400V, IC=30A, RG=10Ω標準測試條件下:
- ?導(dǎo)通特性?:延遲時間td(on)=21.6ns,電流上升時間tr=24.5ns
- ?關(guān)斷特性?:延遲時間td(off)=138ns,電流下降時間tf=154ns
- ?開關(guān)損耗?:Eon=756μJ,Eoff=1057μJ(含二極管反向恢復(fù))
?熱設(shè)計要點?:
- 結(jié)殼熱阻RθJC=0.34°C/W(IGBT)
- 結(jié)殼熱阻RθJC=0.86°C/W(二極管)
- 推薦工作結(jié)溫≤150°C以保證可靠性
三、可靠性驗證與測試方法
1. 動態(tài)參數(shù)測試
采用標準電感負載測試電路(手冊圖25):
- 測試電壓VCE=400V
- 電感值L=100μH
- 柵極驅(qū)動電壓VGE=15V
- 電流探頭帶寬≥100MHz
2. 熱性能評估
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