在VR，AR眼鏡等高端光學(xué)器件（如偏振片、反射片、Pancake分光鏡）的生產(chǎn)中，涂布厚度均勻性、模切后的整體厚度與角度輪廓是決定產(chǎn)品最終光學(xué)性能與良率的核心質(zhì)控點(diǎn)。

偏振片/反射片在生產(chǎn)過(guò)程中，其厚度均勻性直接影響產(chǎn)品光學(xué)性能。當(dāng)前主要痛點(diǎn)集中在：

接觸損傷風(fēng)險(xiǎn)：傳統(tǒng)接觸式測(cè)量易劃傷光學(xué)膜層

數(shù)據(jù)可靠性不足：高反光與透明層疊結(jié)構(gòu)使傳統(tǒng)光學(xué)測(cè)量受干擾

多層測(cè)量挑戰(zhàn)：偏振片的多層復(fù)合結(jié)構(gòu)使單層厚度測(cè)量困難

生產(chǎn)效率瓶頸：離線抽樣檢測(cè)無(wú)法滿(mǎn)足高速產(chǎn)線100%質(zhì)量監(jiān)控需求

為解決這一痛點(diǎn)，光子精密專(zhuān)為VR，AR眼鏡等高端光學(xué)器件推出了高精度檢測(cè)方案，能非接觸、高精度地解決當(dāng)前偏振片、反射片、Pancake分光鏡厚度檢測(cè)面臨的多種難題。

該傳感器采用光譜共焦原理。它通過(guò)分析反射光的波長(zhǎng)來(lái)?yè)Q算距離，從根本上擺脫了傳統(tǒng)方法受光強(qiáng)變化影響的弊端，尤其擅長(zhǎng)處理鏡面、透明體等復(fù)雜材質(zhì)。

亞微米級(jí)精度：厚度測(cè)量分辨率達(dá)0.025μm，精準(zhǔn)捕捉偏振片微小厚度變化

多層穿透測(cè)量：?jiǎn)未螔呙杓纯勺R(shí)別最多5層透明介質(zhì)，完美適配復(fù)合光學(xué)薄膜結(jié)構(gòu)

純光學(xué)探頭：完全免疫電磁干擾，適應(yīng)車(chē)間復(fù)雜電磁環(huán)境

溫度穩(wěn)定性：無(wú)熱源設(shè)計(jì)與低熱膨脹材料確保長(zhǎng)期測(cè)量穩(wěn)定性

高速測(cè)量：260kHz采樣頻率滿(mǎn)足高速產(chǎn)線實(shí)時(shí)監(jiān)控需求

多探頭集成：?jiǎn)?a target="_blank">控制器支持多傳感器，降低系統(tǒng)成本

小巧探頭：微型化設(shè)計(jì)適應(yīng)狹窄空間安裝需求

具體應(yīng)用體現(xiàn)在以下三個(gè)方面：

在光學(xué)涂布工序：
在涂布過(guò)程中，通過(guò)上下對(duì)射形式的CD-5000系列光譜共焦位移傳感器能夠單次掃描即穿透涂層表面，同步捕捉基材與涂層上下界面的位置信號(hào)。無(wú)需雙面校準(zhǔn)，即可實(shí)時(shí)計(jì)算出涂布厚度。其厚度測(cè)量下限達(dá)5μm的高分辨率，足以監(jiān)控精密的涂層變化。這將使我們從依賴(lài)離線、抽樣檢測(cè)的傳統(tǒng)模式，升級(jí)為在線、全檢的100%質(zhì)量監(jiān)控，從源頭保障每一片產(chǎn)品的涂布均勻性，杜絕批量性涂層不良。

在模切與成型工序：

整體厚度測(cè)量：對(duì)于模切后的偏光片成品，其亞微米級(jí)的超高精度能夠準(zhǔn)確測(cè)量產(chǎn)品的總厚度，確保其符合設(shè)計(jì)公差，對(duì)于控制產(chǎn)品整體形態(tài)與裝配間隙至關(guān)重要。

角度與輪廓測(cè)量：Pancake方案分光鏡等產(chǎn)品對(duì)角度工藝要求極高。CD-5000系列具備高達(dá)260kHz的采樣頻率，可對(duì)產(chǎn)品表面進(jìn)行高速掃描，形成海量的高度數(shù)據(jù)，分析其傾斜、翹曲、平面度等關(guān)鍵角度參數(shù)。其最大可測(cè)傾角達(dá)60°的強(qiáng)大能力，確保即使在有翹曲的薄膜上，測(cè)量點(diǎn)也不會(huì)丟失，數(shù)據(jù)真實(shí)可靠。

3.環(huán)境適應(yīng)性：
生產(chǎn)車(chē)間存在不可避免的電磁干擾、溫度波動(dòng)與機(jī)械震動(dòng)。CD-5000系列的純光學(xué)探頭能徹底免疫電磁干擾；其無(wú)熱源設(shè)計(jì)與低熱膨脹系數(shù)材料確保了在車(chē)間環(huán)境下極低的溫漂和優(yōu)異的抗震動(dòng)性能，保證測(cè)量數(shù)據(jù)的長(zhǎng)期穩(wěn)定與可靠，杜絕因設(shè)備本身不穩(wěn)定導(dǎo)致的誤判。