測量膜厚是現(xiàn)代工業(yè)和科研中的一項關(guān)鍵質(zhì)量控制手段，它通過精確監(jiān)控涂層或薄膜的厚度，直接確保產(chǎn)品在光學(xué)、電學(xué)、機械防護等方面的預(yù)期性能（如手機屏幕透光性、芯片運行穩(wěn)定性、汽車漆面防腐性），同時能有效控制生產(chǎn)成本、節(jié)約原材料，并保證大規(guī)模生產(chǎn)的產(chǎn)品一致性與可靠性，是從研發(fā)到制造過程中不可或缺的重要環(huán)節(jié)。理論說得再透徹，不如讓我們看一個海伯森點光譜在實際測厚應(yīng)用的案例。

檢測需求

根據(jù)客戶提供的測試需求，利用我們的點光譜進行樣品鍍膜厚度的測量。

檢測原理

測試傳感器選型

測試方案

圓形樣品測試過程

圓形樣品測試結(jié)果

長形樣品測試過程

同理選擇多組不同位置進行實測

長形樣品測試結(jié)果

測試總結(jié)

1. 經(jīng)過測量，圓形樣品的鍍膜厚度為0.0156mm，長形樣品的寬邊鍍膜厚度為0.018mm，窄邊鍍膜厚度為0.0248mm

2.在實際測量中建議使用伺服控制載物移動平臺，可以減小因測量軌跡變化和樣品本身的翹曲度帶來的測量誤差