PCB銅厚不達(dá)標(biāo)，首先要把“測準(zhǔn)”與“判明責(zé)任邊界”做好，然后再追溯工藝成因、給出糾偏方案。下面Bamtone班通小編按“測量 → 成因 → 對策”給你梳一套工程化思路。建議收藏！

一般常用外層/內(nèi)層銅厚測量方法大致有三類：

1，截面法（微切片）：按 IPC-TM-650 做金相截面，在金相顯微鏡下直接量銅箔、孔銅厚度，較為權(quán)威，主要用于判定是否滿足 IPC?6012 的方法，但為破壞性測量。

2，XRF（X 射線熒光）：適合測外層銅及表面鍍層，快速、非破壞，對 1 oz 左右銅厚精度可到 ±0.05 mil，前提是點(diǎn)位、基體、標(biāo)樣校準(zhǔn)要匹配 PCB。

3，電渦流、磁感應(yīng)類儀表：適合結(jié)構(gòu)板，受基材、覆銅率和校準(zhǔn)樣塊影響，需要建立專用標(biāo)定曲線。例如國內(nèi)領(lǐng)先PCB測量儀器、智能檢測設(shè)備等專業(yè)解決方案供應(yīng)商，Bamtone班通自研推出的國內(nèi)首款手持式孔/面銅厚測試儀Bamtone T60系列（另有臺(tái)式T70、自動(dòng)化T90和多通道MCT銅厚測試系列等），測量精度高，誤差小。

銅厚偏薄的典型工藝成因

1. 設(shè)計(jì)與疊層問題

覆銅/圖形不平衡導(dǎo)致電鍍電流分布不均，稀疏區(qū)銅厚偏薄，密集區(qū)偏厚，形成邊厚中薄或局部不達(dá)標(biāo)?；旌香~厚設(shè)計(jì)（如 3 oz 外層 + 1 oz 內(nèi)層）若疊層和蝕刻策略不合理，會(huì)造成側(cè)蝕過大、線銅“減肉”過多。

2. 電鍍工藝問題

前處理（除油、微蝕、活化）不良，局部孔壁或面銅親水性差，導(dǎo)致電流“爬不上去”，局部鍍層偏薄。電流密度設(shè)定偏低、掛具/銅導(dǎo)電條布置不合理，中心區(qū)電流密度不足，整體鍍銅偏薄。電解液成分、溫度、攪拌不在工藝窗口內(nèi)，導(dǎo)致沉積速率降低或分布系數(shù)變差。

3. 蝕刻/減銅問題

蝕刻液濃度、溫度、速度控制不當(dāng)，過蝕嚴(yán)重，線邊被“啃”掉，整體等效銅厚降低。多次返工（重做阻焊、重蝕刻）累積減銅，最終成品銅厚低于最小要求，卻未在過程卡控。

4. 廠內(nèi)來料與計(jì)量問題

來料銅箔實(shí)際厚度處于標(biāo)準(zhǔn)下限，再疊加后續(xù)電鍍不足或蝕刻損耗，成品厚度就更容易踩線。廠家或你方測量方法不同（如不同 XRF 標(biāo)樣、不同校準(zhǔn)基體、不同截面位置），導(dǎo)致“看起來”不達(dá)標(biāo)，實(shí)則在公差內(nèi)。

實(shí)務(wù)中的應(yīng)對策略：

1. 針對當(dāng)前不達(dá)標(biāo)批次立刻抽樣，按批號、板位（邊/中）、關(guān)鍵功能區(qū)位做截面，確認(rèn)最薄點(diǎn)厚度及分布情況。若只是略低于目標(biāo)值但仍滿足 IPC?6012 對應(yīng) Class 最小值，可與客戶溝通通過偏差放行；若低于 IPC 最小值或關(guān)鍵電流/阻抗區(qū)顯著偏薄，建議鎖定批次，轉(zhuǎn)作可靠性試驗(yàn)樣或報(bào)廢。

2. 過程控制與設(shè)計(jì)側(cè)預(yù)防

設(shè)計(jì)階段： 保證各層銅覆蓋率盡量均衡（如目標(biāo) 70% 左右），對稀疏區(qū)加仿真銅/網(wǎng)格銅平衡電鍍；高低銅厚混合時(shí)采用“厚在外、薄在內(nèi)”的疊層策略，減少側(cè)蝕和線寬失控。[9]

制程階段： 建立電鍍均勻性監(jiān)控：每批板在邊緣和中心布置測試 coupon，用截面定期確認(rèn)孔銅與面銅厚度分布。給出明確工藝窗口：如電鍍電流密度范圍、蝕刻液溫度/比重/線速范圍，并按 SPC 管控制程能力。對返工流程設(shè)限：限定可接受的返工次數(shù)與總減銅量，并對返工批做額外銅厚復(fù)檢。

3. 計(jì)量與驗(yàn)收規(guī)范

把“用什么方法、測哪里、算幾何平均值還是最小值、按哪條 IPC 條款判定”寫進(jìn)來料驗(yàn)收規(guī)范，避免純口頭約定。如果有 Bamtone T60/T70/T90、CMI700 或 XRF 專業(yè)銅厚測量儀器，可建立與微切片的定期比對計(jì)劃（如季度一次），保持量值可追溯。