TS3USB30E:高速USB 2.0信號切換的理想之選
在電子設(shè)備設(shè)計(jì)中,高速信號的切換與傳輸一直是工程師們關(guān)注的重點(diǎn)。尤其是在USB接口日益普及的今天,如何確保高速USB 2.0信號的穩(wěn)定傳輸成為了一個(gè)關(guān)鍵問題。德州儀器(TI)的TS3USB30E就是一款專門為解決這一問題而設(shè)計(jì)的高性能開關(guān)芯片。今天,我們就來深入了解一下這款芯片。
文件下載:ts3usb30e.pdf
一、TS3USB30E的特性亮點(diǎn)
1. 寬電壓工作范圍
TS3USB30E的(V_{CC})工作電壓范圍為2.7V至4.3V,這使得它能夠適應(yīng)不同的電源環(huán)境。同時(shí),D+/D–引腳能夠承受高達(dá)5.25V的電壓,增強(qiáng)了芯片在復(fù)雜電路中的穩(wěn)定性。其1.8V兼容的控制引腳輸入,方便與其他低電壓設(shè)備進(jìn)行接口。
2. 低電阻與低電容特性
該芯片的導(dǎo)通電阻(R{ON})最大為10Ω,典型值下(Delta R{ON})僅為0.35Ω,這意味著在信號傳輸過程中的損耗非常小。而典型的(C_{io(ON)})為7.5pF,低電容特性有助于減少信號的延遲和失真,保證高速信號的完整性。
3. 低功耗與高帶寬
TS3USB30E的功耗極低,最大僅為70nA。同時(shí),它具有高達(dá)1400MHz的典型–3dB帶寬,能夠滿足高速USB 2.0(480Mbps)信號的傳輸要求,確保信號在通過芯片時(shí)能夠保持最小的邊緣和相位失真。
4. 出色的ESD保護(hù)能力
在靜電放電(ESD)保護(hù)方面,TS3USB30E表現(xiàn)出色。所有引腳都經(jīng)過了嚴(yán)格的ESD測試,符合JESD 22標(biāo)準(zhǔn)。其中,人體模型(HBM)測試可達(dá)8000V(Class II),充電設(shè)備模型(CDM)測試為1000V,I/O端口到GND的HBM測試更是高達(dá)15000V,有效保護(hù)芯片免受靜電損壞。
5. 小巧封裝
芯片提供10引腳的UQFN(1.8mm × 1.4mm)封裝,這種小巧的封裝形式非常適合用于空間有限的便攜式電子設(shè)備。
二、應(yīng)用領(lǐng)域廣泛
1. USB信號路由
TS3USB30E可以用于USB 1.0、1.1和2.0信號的路由,在USB集線器或控制器的USB I/O數(shù)量有限的情況下,它能夠通過在多個(gè)USB總線之間進(jìn)行切換,有效地?cái)U(kuò)展有限的USB I/O接口。例如,在一些筆記本電腦、智能手機(jī)和數(shù)字相機(jī)等設(shè)備中,都可以使用該芯片來實(shí)現(xiàn)USB信號的靈活切換。
2. 多功能信號切換
除了USB信號,它還可用于其他多用途信號的切換,為電子設(shè)備的設(shè)計(jì)提供了更多的靈活性。
3. 便攜式電子設(shè)備
由于其低功耗、小封裝的特點(diǎn),TS3USB30E非常適合應(yīng)用于便攜式電子設(shè)備,如平板電腦、手持游戲機(jī)等,能夠在不占用過多空間的情況下,實(shí)現(xiàn)高速信號的穩(wěn)定傳輸。
4. 工業(yè)與消費(fèi)產(chǎn)品
在工業(yè)和消費(fèi)產(chǎn)品領(lǐng)域,該芯片也有廣泛的應(yīng)用前景。例如,在工業(yè)自動化設(shè)備、智能家居設(shè)備等中,都可以使用它來實(shí)現(xiàn)信號的切換和傳輸。
三、芯片詳細(xì)解讀
1. 引腳配置與功能
TS3USB30E有兩種封裝形式,分別是10引腳的UQFN(RSW)和10引腳的VSSOP(DGS)。其引腳功能豐富,包括D+、D–等通用USB信號路徑引腳,D1+、D1–、D2+、D2–等USB信號路徑端口引腳,以及OE(總線開關(guān)使能)、S(選擇輸入)、VCC(電壓供應(yīng))和GND(接地)等控制和電源引腳。通過合理配置這些引腳,可以實(shí)現(xiàn)不同的功能模式。
2. 規(guī)格參數(shù)
- 絕對最大額定值:規(guī)定了芯片在正常工作時(shí)所能承受的最大電壓、電流和溫度等參數(shù),如(V_{CC})供應(yīng)電壓范圍為–0.5V至一定值,控制輸入電壓和信號路徑I/O電壓也有相應(yīng)的限制,超出這些范圍可能會導(dǎo)致芯片永久性損壞。
- ESD額定值:體現(xiàn)了芯片的ESD保護(hù)能力,如前文所述,其在HBM和CDM測試中都有出色的表現(xiàn)。
- 推薦工作條件:給出了芯片正常工作時(shí)的最佳電壓、溫度等條件,如(V_{CC})供應(yīng)電壓推薦范圍為3V至4.3V,工作溫度范圍為–40°C至85°C。
- 熱信息:提供了芯片在不同封裝形式下的熱阻等參數(shù),如DGS(VSSOP)封裝和RSW(UQFN)封裝的結(jié)到環(huán)境、結(jié)到外殼、結(jié)到電路板的熱阻等,這些參數(shù)對于芯片的散熱設(shè)計(jì)非常重要。
- 電氣特性:包括控制輸入鉗位電壓、輸入電流、關(guān)態(tài)泄漏電流、電源電流等參數(shù),反映了芯片在不同工作狀態(tài)下的電氣性能。
- 動態(tài)電氣特性:如串?dāng)_(XTALK)、關(guān)態(tài)隔離(OISO)和帶寬(BW)等參數(shù),這些參數(shù)對于評估芯片在高速信號傳輸中的性能至關(guān)重要。
- 開關(guān)特性:包括傳播延遲、線路使能時(shí)間、線路禁用時(shí)間、輸出偏斜和總抖動等參數(shù),這些參數(shù)決定了芯片在信號切換過程中的速度和穩(wěn)定性。
3. 參數(shù)測量信息
文檔中詳細(xì)介紹了各項(xiàng)參數(shù)的測量電路和測試條件,為工程師進(jìn)行芯片性能測試提供了指導(dǎo)。例如,通過特定的網(wǎng)絡(luò)分析儀設(shè)置和測試信號源,可以測量芯片的串?dāng)_、關(guān)態(tài)隔離和帶寬等參數(shù)。
4. 功能模式
TS3USB30E具有不同的功能模式,通過控制引腳S和OE的電平狀態(tài)可以實(shí)現(xiàn)。當(dāng)OE為高電平時(shí),信號路徑處于高阻抗?fàn)顟B(tài),可實(shí)現(xiàn)總線隔離,降低功耗;當(dāng)OE為低電平時(shí),根據(jù)S引腳的電平狀態(tài),可選擇將D連接到D1或D2。
四、應(yīng)用與實(shí)現(xiàn)要點(diǎn)
1. 設(shè)計(jì)要求
在應(yīng)用TS3USB30E時(shí),需要遵循USB 1.0、1.1和2.0標(biāo)準(zhǔn)。同時(shí),為了避免因引腳浮空而導(dǎo)致開關(guān)位置異常,建議將數(shù)字控制引腳S和OE上拉到(V_{CC})或下拉到GND。
2. 詳細(xì)設(shè)計(jì)步驟
雖然該芯片可以在沒有任何外部組件的情況下正常工作,但為了防止信號反射,建議將任何未使用的引腳通過一個(gè)50Ω電阻連接到地。
3. 電源供應(yīng)建議
芯片的電源通過(V{CC})引腳供應(yīng),必須遵循USB標(biāo)準(zhǔn)。為了平滑低頻噪聲,提供更好的負(fù)載調(diào)節(jié)能力,建議在(V{CC})引腳附近盡可能靠近地放置一個(gè)旁路電容。
4. 布局指南
- 電容放置:供應(yīng)旁路電容應(yīng)盡可能靠近(V_{CC})引腳,避免放置在D+和D–走線附近。
- 走線長度與阻抗匹配:高速D+和D–走線必須長度相等,且不超過4英寸,同時(shí)要確保走線的阻抗與電纜的特性差分阻抗匹配,以保證眼圖性能。
- 減少信號反射:高速USB信號的布線應(yīng)盡量減少過孔和拐角的使用,當(dāng)必須使用過孔時(shí),要增加過孔周圍的間隙尺寸,以減少電容。避免在高速USB信號上出現(xiàn)短截線,若無法避免,短截線長度應(yīng)小于200mm。
- 避免干擾源:不要在晶體、振蕩器、時(shí)鐘信號發(fā)生器、開關(guān)穩(wěn)壓器、安裝孔、磁性設(shè)備或使用時(shí)鐘信號的IC附近布線USB走線。
- 多層板設(shè)計(jì):由于USB信號頻率較高,建議使用至少四層的印刷電路板,將大部分信號走線布置在單層上,并確保與連續(xù)的接地層相鄰,以減少電磁干擾。
五、文檔與支持資源
德州儀器提供了豐富的文檔支持,包括相關(guān)的應(yīng)用筆記和布局指南等。工程師可以通過ti.com上的設(shè)備產(chǎn)品文件夾獲取文檔更新通知,并在TI E2E?支持論壇上獲取快速、準(zhǔn)確的設(shè)計(jì)幫助。同時(shí),需要注意的是,該集成電路容易受到ESD損壞,在處理和安裝時(shí)必須采取適當(dāng)?shù)念A(yù)防措施。
TS3USB30E以其出色的性能和豐富的功能,為高速USB 2.0信號的切換和傳輸提供了一個(gè)可靠的解決方案。在實(shí)際應(yīng)用中,工程師們需要根據(jù)具體的設(shè)計(jì)要求,合理選擇芯片的封裝形式,嚴(yán)格遵循設(shè)計(jì)和布局指南,以充分發(fā)揮芯片的優(yōu)勢。你在實(shí)際設(shè)計(jì)中是否遇到過類似芯片的應(yīng)用問題呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)和見解。
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