應(yīng)力篩選規(guī)范：

MIL-202C-106、107 電子及電器部件試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)
MIL-781 可靠性試驗(yàn)方法手冊(cè)
HB/Z213 機(jī)載電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選指南
HB6206 機(jī)載電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法
JESD22-A109-A 器密試驗(yàn)方法
TE000-AB-GTP-020 環(huán)境應(yīng)力篩選要求與海軍電子設(shè)備應(yīng)用
CFR-Title47-ChapterI-68.302 美國聯(lián)邦通訊委員會(huì)環(huán)境模擬
GJB/Z34 電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南
HB/Z213 組件級(jí)環(huán)境應(yīng)力篩選

溫度循環(huán)：
EC68-2-14 溫度變化
MIL-STD-2164 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法=GJB1032-1990
GJB1032-1990 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法
DOD-HDBK-344 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選=GJB/Z34-1993
NABMAT-9492 美軍海軍製造篩選
JISC5030 熱循環(huán)試驗(yàn)

零件預(yù)燒試驗(yàn)：
MIL-STD-883,Method1008 預(yù)燒
MIL-STD-883,Method1015(IC類預(yù)燒)
MIL-STD-750,Method1038(二極體類預(yù)燒)
MIL-STD-750,Method1039 電晶體類預(yù)燒)
MIL-STD-883,Method1010 溫度循環(huán)
MIL-M-38510 軍用微型電路的一般規(guī)格
MIL-S-19500 半導(dǎo)體器件要求和特點(diǎn)

系統(tǒng)預(yù)燒：
MIL-781 可靠性設(shè)計(jì)鑒定與生產(chǎn)接收試驗(yàn)
MIL-810 美國軍標(biāo)環(huán)境工程考慮和實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)

高低溫試驗(yàn)箱_快速溫變?cè)囼?yàn)箱_溫度循環(huán)試驗(yàn)箱_冷熱沖擊試驗(yàn)箱