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onsemi FCPF067N65S3 MOSFET:高效電源解決方案的理想之選

lhl545545 ? 2026-03-29 10:20 ? 次閱讀
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onsemi FCPF067N65S3 MOSFET:高效電源解決方案的理想之選

電子工程師的日常設(shè)計工作中,MOSFET 是電源電路設(shè)計里常用的關(guān)鍵元件。今天,我們就來深入了解 onsemi 推出的 FCPF067N65S3 這款 N 溝道功率 MOSFET,看看它有哪些獨特之處,能為我們的設(shè)計帶來怎樣的優(yōu)勢。

文件下載:FCPF067N65S3-D.PDF

產(chǎn)品概述

FCPF067N65S3 屬于 onsemi 的 SUPERFET III 系列 MOSFET,這是全新的高壓超結(jié)(SJ)MOSFET 家族。它運用了電荷平衡技術(shù),具備出色的低導(dǎo)通電阻和較低的柵極電荷性能。這種先進技術(shù)不僅能有效降低傳導(dǎo)損耗,還能提供卓越的開關(guān)性能,并且能夠承受極高的 dv/dt 速率。此外,SUPERFET III MOSFET 易驅(qū)動系列有助于解決 EMI 問題,讓設(shè)計的實現(xiàn)更加輕松。

產(chǎn)品特性

電氣性能優(yōu)越

  • 耐壓與電流能力:在 (T{J}=150^{circ}C) 時,耐壓可達 700V;連續(xù)漏極電流在 (T{C}=25^{circ}C) 時為 44A,(T_{C}=100^{circ}C) 時為 28A,脈沖漏極電流可達 110A。
  • 低導(dǎo)通電阻:典型的 (R_{DS(on)}) 為 59mΩ,最大為 67mΩ(@10V),能有效降低導(dǎo)通損耗。
  • 低柵極電荷:典型的 (Qg_{g}=78nC),有助于減少開關(guān)損耗,提高開關(guān)速度。
  • 低輸出電容:典型的 (C_{oss(eff.)}=715pF),可降低開關(guān)過程中的能量損耗。

可靠性高

  • 雪崩測試:經(jīng)過 100% 雪崩測試,確保在惡劣環(huán)境下也能穩(wěn)定工作。
  • 環(huán)保合規(guī):這些器件無鉛且符合 RoHS 標準,滿足環(huán)保要求。

應(yīng)用領(lǐng)域

FCPF067N65S3 的應(yīng)用范圍廣泛,適用于多種電源電路:

  • 計算/顯示電源:為計算機和顯示器的電源提供高效穩(wěn)定的功率轉(zhuǎn)換。
  • 電信/服務(wù)器電源:滿足電信設(shè)備和服務(wù)器對電源的高要求。
  • 工業(yè)電源:在工業(yè)領(lǐng)域的電源系統(tǒng)中發(fā)揮重要作用。
  • 照明/充電器/適配器:為照明設(shè)備、充電器和適配器提供可靠的電源解決方案。

關(guān)鍵參數(shù)解讀

絕對最大額定值

參數(shù) 數(shù)值 單位
漏源電壓 (V_{DSS}) 650 ± 30 V
柵源電壓 (V_{GSS})(DC ± 30 V
柵源電壓 (V_{GSS})(AC,f > 1Hz) ± 30 V
連續(xù)漏極電流 (I{D})((T{C}=25^{circ}C)) 44* A
連續(xù)漏極電流 (I{D})((T{C}=100^{circ}C)) 28* A
脈沖漏極電流 (I_{DM}) 110* A
單脈沖雪崩能量 (E_{AS}) 214 mJ
雪崩電流 (I_{AS}) 4.8 A
重復(fù)雪崩能量 (E_{AR}) 0.46 mJ
MOSFET dv/dt 峰值二極管恢復(fù) dv/dt 100 V/ns
功率耗散 (P{D})((T{C}=25^{circ}C)) 46 W
25°C 以上降額系數(shù) 0.37 W/°C
工作和儲存溫度范圍 (T{J}, T{STG}) ?55 至 +150 °C
焊接時最大引腳溫度(距外殼 1/8″,5 秒)(T_{L}) 300 °C

電氣特性

截止特性

  • 漏源擊穿電壓 (BV_{DSS}):在 (V{GS}=0V),(I{D}=1mA),(T = 25^{circ}C) 時為 650V;(T = 150^{circ}C) 時為 700V。
  • 擊穿電壓溫度系數(shù) (Delta BV_{DSS}/Delta T):典型值為 0.72V/°C。
  • 零柵壓漏極電流 (I_{DSS}):在 (V{DS}=650V),(V{GS}=0V) 時最大為 1μA;在 (V{DS}=520V),(T{C}=125^{circ}C) 時典型值為 2.2μA。
  • 柵體泄漏電流 (I_{GSS}):在 (V{GS}= +30V),(V{DS}=0V) 時最大為 +100nA。

導(dǎo)通特性

  • 柵極閾值電壓 (V_{GS(th)}):在 (V{GS}=V{DS}),(I_{D}=0.99mA) 時,范圍為 2.5 - 4.5V。
  • 靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻 (R_{DS(on)}):在 (V{GS}=10V),(I{D}=22A) 時,典型值為 59mΩ,最大為 67mΩ。
  • 正向跨導(dǎo) (g_{FS}):在 (V{DS}=20V),(I{D}=22A) 時為 29S。

動態(tài)特性

  • 輸入電容 (C_{iss}):在 (V{DS}=400V),(V{GS}=0V),(f = 1MHz) 時為 3090pF。
  • 輸出電容 (C_{oss}):典型值為 68pF。
  • 有效輸出電容 (C_{oss(eff.)}):在 (V{DS}=0V) 至 400V,(V{G}=0V) 時為 715pF。
  • 能量相關(guān)輸出電容 (C_{oss(er.)}):在 (V{DS}=0V) 至 400V,(V{GS}=0V) 時為 104pF。
  • 總柵極電荷 (Q_{g(tot)}):在 (V{DS}=400V),(I{D}=22A),(V_{GS}=10V) 時為 78nC。
  • 柵源柵極電荷 (Q_{gs}):為 18nC。
  • 柵漏“米勒”電荷 (Q_{gd}):為 30nC。
  • 等效串聯(lián)電阻 (ESR):在 (f = 1MHz) 時為 0.6Ω。

開關(guān)特性

  • 導(dǎo)通延遲時間 (t_{d(on)}):在 (V{DD}=400V),(I{D}=22A),(V{GS}=10V),(R{g}=4.7Ω) 時為 26ns。
  • 導(dǎo)通上升時間 (t_{r}):為 52ns。
  • 關(guān)斷延遲時間 (t_{d(off)}):為 89ns。
  • 關(guān)斷下降時間 (t_{f}):為 16ns。

源漏二極管特性

  • 最大連續(xù)源漏二極管正向電流 (I_{S}):為 44A。
  • 最大脈沖源漏二極管正向電流 (I_{SM}):為 110A。
  • 源漏二極管正向電壓 (V_{SD}):在 (V{GS}=0V),(I{SD}=22A) 時為 1.2V。
  • 反向恢復(fù)時間 (t_{rr}):在 (V{GS}=0V),(I{SD}=22A),(dI_{F}/dt = 100A/μs) 時為 435ns。
  • 反向恢復(fù)電荷 (Q_{rr}):為 9.2μC。

典型性能曲線

文檔中給出了一系列典型性能曲線,直觀地展示了該 MOSFET 在不同條件下的性能表現(xiàn),例如:

  • 導(dǎo)通區(qū)域特性:展示了不同柵源電壓下,漏極電流與漏源電壓的關(guān)系。
  • 傳輸特性:體現(xiàn)了漏極電流與柵源電壓的關(guān)系,以及溫度對其的影響。
  • 導(dǎo)通電阻變化:顯示了導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵源電壓的變化情況。
  • 體二極管正向電壓變化:反映了體二極管正向電壓隨源電流和溫度的變化。
  • 電容特性:呈現(xiàn)了輸入、輸出和反饋電容隨漏源電壓的變化。
  • 柵極電荷特性:展示了總柵極電荷與柵源電壓的關(guān)系。
  • 擊穿電壓變化:體現(xiàn)了擊穿電壓隨結(jié)溫的變化。
  • 導(dǎo)通電阻變化:顯示了導(dǎo)通電阻隨結(jié)溫的變化。
  • 最大安全工作區(qū):明確了在不同脈沖寬度和漏源電壓下,器件的安全工作范圍。
  • (E_{OSS}) 與漏源電壓關(guān)系:展示了 (E_{OSS}) 隨漏源電壓的變化。
  • 最大漏極電流與殼溫關(guān)系:體現(xiàn)了最大漏極電流隨殼溫的變化。
  • 瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線:反映了不同占空比下,歸一化有效瞬態(tài)熱阻隨脈沖持續(xù)時間的變化。

封裝與訂購信息

FCPF067N65S3 采用 TO - 220F 封裝,包裝方式為管裝,每管 1000 個。其封裝尺寸有詳細的規(guī)格說明,并且給出了相關(guān)的注意事項,如尺寸公差遵循 ASME Y14.5 - 2009 標準,尺寸不包括毛刺、模具飛邊和連接條突出部分等。

總結(jié)

onsemi 的 FCPF067N65S3 MOSFET 憑借其出色的電氣性能、高可靠性和廣泛的應(yīng)用范圍,為電子工程師在電源設(shè)計中提供了一個優(yōu)秀的選擇。在實際設(shè)計中,我們可以根據(jù)具體的應(yīng)用需求,結(jié)合這些參數(shù)和特性,充分發(fā)揮該 MOSFET 的優(yōu)勢,設(shè)計出高效、穩(wěn)定的電源電路。你在使用類似 MOSFET 進行設(shè)計時,遇到過哪些挑戰(zhàn)呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗。

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