深入剖析FQD13N10L/FQU13N10L N - 通道QFET? MOSFET
一、引言
在電子工程領(lǐng)域,MOSFET作為重要的功率器件,廣泛應(yīng)用于各種電路設(shè)計(jì)中。今天我們要詳細(xì)探討的FQD13N10L/FQU13N10L N - 通道QFET? MOSFET,是Fairchild Semiconductor(現(xiàn)已并入ON Semiconductor)推出的一款性能卓越的產(chǎn)品。它在開關(guān)電源、音頻放大器、直流電機(jī)控制等眾多領(lǐng)域都有著出色的表現(xiàn)。
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二、產(chǎn)品概述
2.1 基本信息
FQD13N10L/FQU13N10L是N - 通道增強(qiáng)型功率MOSFET,采用了Fairchild Semiconductor專有的平面條紋和DMOS技術(shù)。這種先進(jìn)的MOSFET技術(shù)經(jīng)過(guò)特別設(shè)計(jì),旨在降低導(dǎo)通電阻,提供卓越的開關(guān)性能和高雪崩能量強(qiáng)度。
2.2 關(guān)鍵參數(shù)
- 電壓與電流:耐壓100V,連續(xù)電流在(T{C}=25^{circ}C)時(shí)為10A,(T{C}=100^{circ}C)時(shí)為6.3A,脈沖電流可達(dá)40A。
- 導(dǎo)通電阻:在(V{GS}=10V),(I{D}=5.0A)時(shí),(R_{DS(on)}=180mΩ)(最大值)。
- 其他特性:低柵極電荷(典型值8.7nC)、低Crss(典型值20pF),并且經(jīng)過(guò)100%雪崩測(cè)試。
三、絕對(duì)最大額定值
| Symbol | Parameter | FQD13N10LTM / FQU13N10LTU | Unit |
|---|---|---|---|
| (V_{DSS}) | 漏源電壓 | 100 | V |
| (I_{D}) | 漏極電流 - 連續(xù) ((T_{C}=25^{circ}C)) | 10 | A |
| (I_{D}) | 漏極電流 - 連續(xù) ((T_{C}=100^{circ}C)) | 6.3 | A |
| (I_{DM}) | 漏極電流 - 脈沖(注1) | 40 | A |
| (V_{GSS}) | 柵源電壓 | ± 20 | V |
| (E_{AS}) | 單脈沖雪崩能量(注2) | 95 | mJ |
| (I_{AR}) | 雪崩電流(注1) | 10 | A |
| (E_{AR}) | 重復(fù)雪崩能量(注1) | 4.0 | mJ |
| (dv/dt) | 峰值二極管恢復(fù)(dv/dt)(注3) | 6.0 | V/ns |
| (P_{D}) | 功率耗散 ((T_{A}=25^{circ}C)) | 2.5 | W |
| (P_{D}) | 功率耗散 ((T_{C}=25^{circ}C)) | 40 | W |
| (P_{D}) | 25°C以上降額 | 0.32 | W/°C |
| (T{J}, T{STG}) | 工作和存儲(chǔ)溫度范圍 | -55 to +150 | °C |
| (T_{L}) | 距離管殼1/8 ” 處5秒的最大焊接引線溫度 | 300 | °C |
注:
- 250μs脈沖測(cè)試
- (T_{C}=25^{circ}C)
- 具體測(cè)試條件需參考文檔
這些參數(shù)為工程師在設(shè)計(jì)電路時(shí)提供了重要的參考,確保器件在安全的范圍內(nèi)工作。例如,在設(shè)計(jì)電源電路時(shí),需要根據(jù)(V{DSS})和(I{D})等參數(shù)來(lái)選擇合適的負(fù)載和工作條件,避免器件因過(guò)壓或過(guò)流而損壞。
四、電氣特性
4.1 關(guān)斷特性
- (BV_{DSS}):漏源擊穿電壓,在(V{GS}=0V),(I{D}=250μA)時(shí)為100V。
- (Delta BV{DSS} / Delta T{J}):擊穿電壓溫度系數(shù),在(I_{D}=250μA),參考溫度25°C時(shí)為0.09V/°C。
- (I_{DSS}):零柵壓漏極電流,(V{DS}=100V),(V{GS}=0V)時(shí)最大值為1μA;(V{DS}=80V),(T{C}=125°C)時(shí)最大值為10μA。
- (I{GSSF})和(I{GSSR}):分別為正向和反向柵體泄漏電流,最大值為±100nA。
4.2 導(dǎo)通特性
- (V_{GS(th)}):柵極閾值電壓,在(V{DS}=V{GS}),(I_{D}=250μA)時(shí),范圍為1.0 - 2.0V。
- (R_{DS(on)}):靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻,(V{GS}=10V),(I{D}=5.0A)時(shí),典型值為0.142Ω,最大值為0.18Ω;(V{GS}=5V),(I{D}=5.0A)時(shí),典型值為0.158Ω,最大值為0.2Ω。
- (g_{FS}):正向跨導(dǎo),在(V{DS}=30V),(I{D}=5.0A)時(shí),典型值為8.7S。
4.3 動(dòng)態(tài)特性
- 輸入電容(C_{iss}):在(V{DS}=25V),(V{GS}=0V),(f = 1.0MHz)時(shí),范圍為400 - 520pF。
- 輸出電容(C_{oss}):范圍為95 - 125pF。
- 反向傳輸電容(C_{rss}):典型值為20pF,最大值為25pF。
4.4 開關(guān)特性
- (t_{d(on)}):開啟延遲時(shí)間,在(V{DD}=50V),(I{D}=12.8A),(R_{G}=25Ω)時(shí),最大值為25ns。
- (t_{r}):開啟上升時(shí)間,范圍為220 - 450ns。
- (t_{d(off)}):關(guān)斷延遲時(shí)間,范圍為22 - 55ns。
- (t_{f}):關(guān)斷下降時(shí)間,范圍為72 - 150ns。
- (Q_{g}):總柵極電荷,在(V{DS}=80V),(I{D}=12.8A)時(shí),范圍為8.7 - 12nC。
- (Q_{gs}):柵源電荷,典型值為2.0nC。
- (Q_{gd}):柵漏電荷,典型值為5.3nC。
4.5 漏源二極管特性和最大額定值
- (I_{S}):最大連續(xù)漏源二極管正向電流為10A。
- (I_{SM}):最大脈沖漏源二極管正向電流為40A。
- (V_{SD}):漏源二極管正向電壓,(V{GS}=0V),(I{S}=10A)時(shí)為1.5V。
- (t_{rr}):反向恢復(fù)時(shí)間,在(V{GS}=0V),(I{S}=12.8A),(dI_{F} / dt = 100A/μs)時(shí),典型值為75ns。
- (Q_{rr}):反向恢復(fù)電荷,典型值為0.17μC。
這些電氣特性對(duì)于工程師來(lái)說(shuō)至關(guān)重要,它們直接影響著MOSFET在電路中的性能表現(xiàn)。例如,低的導(dǎo)通電阻可以降低功率損耗,提高電路效率;快速的開關(guān)時(shí)間可以減少開關(guān)損耗,提高電路的工作頻率。
五、典型特性曲線
文檔中給出了一系列典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源電流和溫度的變化、電容特性、柵極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、最大安全工作區(qū)域、最大漏極電流隨管殼溫度的變化以及瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線等。這些曲線直觀地展示了MOSFET在不同工作條件下的性能變化,工程師可以根據(jù)這些曲線來(lái)優(yōu)化電路設(shè)計(jì),確保器件在各種工況下都能穩(wěn)定工作。
例如,從導(dǎo)通電阻隨溫度的變化曲線可以看出,隨著溫度的升高,導(dǎo)通電阻會(huì)逐漸增大。在設(shè)計(jì)高溫環(huán)境下工作的電路時(shí),就需要考慮這一因素,適當(dāng)降低器件的負(fù)載電流,以避免因?qū)娮柙龃蠖鴮?dǎo)致功率損耗過(guò)大。
六、測(cè)試電路與波形
文檔還提供了多種測(cè)試電路和波形,如柵極電荷測(cè)試電路、電阻性開關(guān)測(cè)試電路、非鉗位電感開關(guān)測(cè)試電路和峰值二極管恢復(fù)(dv/dt)測(cè)試電路等。這些測(cè)試電路和波形有助于工程師理解MOSFET在不同測(cè)試條件下的工作狀態(tài),同時(shí)也為實(shí)際電路設(shè)計(jì)提供了參考。
例如,在設(shè)計(jì)開關(guān)電源時(shí),可以參考電阻性開關(guān)測(cè)試電路和波形,優(yōu)化開關(guān)頻率和驅(qū)動(dòng)電路,以提高電源的效率和穩(wěn)定性。
七、機(jī)械尺寸
文檔給出了TO252(D - PAK)和TO251(I - PAK)兩種封裝的機(jī)械尺寸圖,并提醒用戶注意圖紙可能會(huì)隨時(shí)更改,建議訪問(wèn)Fairchild Semiconductor的在線包裝區(qū)域獲取最新的封裝圖紙。在進(jìn)行電路板設(shè)計(jì)時(shí),工程師需要根據(jù)這些機(jī)械尺寸來(lái)合理布局MOSFET,確保其與其他元件之間的間距和安裝方式符合要求。
八、注意事項(xiàng)
8.1 命名更改
由于Fairchild Semiconductor并入ON Semiconductor,部分Fairchild可訂購(gòu)的零件編號(hào)需要更改以滿足ON Semiconductor的系統(tǒng)要求。Fairchild零件編號(hào)中的下劃線(_)將改為破折號(hào)(-),用戶可通過(guò)ON Semiconductor網(wǎng)站驗(yàn)證更新后的器件編號(hào)。
8.2 產(chǎn)品使用限制
ON Semiconductor產(chǎn)品不設(shè)計(jì)、不打算也未獲授權(quán)用于生命支持系統(tǒng)、FDA Class 3醫(yī)療設(shè)備或具有相同或類似分類的外國(guó)醫(yī)療設(shè)備,以及任何打算植入人體的設(shè)備。如果買方將產(chǎn)品用于此類非預(yù)期或未授權(quán)的應(yīng)用,需承擔(dān)相應(yīng)責(zé)任。
8.3 技術(shù)支持與訂購(gòu)信息
用戶可以通過(guò)以下方式獲取技術(shù)支持和訂購(gòu)文獻(xiàn):
- 文獻(xiàn)分發(fā)中心:19521 E. 32nd Pkwy, Aurora, Colorado 80011 USA
- 電話:303 - 675 - 2175或800 - 344 - 3860(美國(guó)/加拿大免費(fèi))
- 傳真:303 - 675 - 2176或800 - 344 - 3867(美國(guó)/加拿大免費(fèi))
- 郵箱:orderlit@onsemi.com
- 北美技術(shù)支持:800 - 282 - 9855(美國(guó)/加拿大免費(fèi))
- 歐洲、中東和非洲技術(shù)支持:電話421 33 790 2910
- 日本客戶服務(wù)中心:電話81 - 3 - 5817 - 1050
- ON Semiconductor網(wǎng)站:www.onsemi.com
- 訂購(gòu)文獻(xiàn):http://www.onsemi.com/orderlit
九、總結(jié)
FQD13N10L/FQU13N10L N - 通道QFET? MOSFET以其優(yōu)異的性能和廣泛的應(yīng)用場(chǎng)景,成為電子工程師在設(shè)計(jì)電路時(shí)的理想選擇。通過(guò)深入了解其各項(xiàng)參數(shù)、特性和注意事項(xiàng),工程師可以更好地發(fā)揮該器件的優(yōu)勢(shì),設(shè)計(jì)出高效、穩(wěn)定的電路。在實(shí)際應(yīng)用中,大家不妨思考如何根據(jù)具體的電路需求,合理選擇和使用這款MOSFET,以達(dá)到最佳的設(shè)計(jì)效果。
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