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onsemi FDMC007N08LC N溝道MOSFET深度解析

lhl545545 ? 2026-04-17 10:40 ? 次閱讀
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onsemi FDMC007N08LC N溝道MOSFET深度解析

作為一名電子工程師,在硬件設(shè)計(jì)開發(fā)中,MOSFET是常用的電子元件之一,下面深度剖析onsemi的FDMC007N08LC這款N溝道MOSFET。

文件下載:FDMC007N08LC-D.pdf

一、產(chǎn)品概述

這款N溝道MV MOSFET采用了onsemi先進(jìn)的POWERTRENCH工藝,融入了屏蔽柵極技術(shù)。該工藝經(jīng)過優(yōu)化,既能夠最小化導(dǎo)通電阻,又能保持出色的開關(guān)性能,同時(shí)擁有一流的軟體二極管特性。它可以用于初級DC - DC MOSFET、DC - DC和AC - DC中的同步整流器、電機(jī)驅(qū)動以及太陽能等領(lǐng)域。

二、產(chǎn)品特性

2.1 低導(dǎo)通電阻

屏蔽柵極MOSFET技術(shù)使得該產(chǎn)品在不同條件下具有較低的導(dǎo)通電阻。在(V{GS}=10V),(I{D}=21A)時(shí),最大(R{DS(on)} = 7.0mOmega);在(V{GS}=4.5V),(I{D}=17A)時(shí),最大(R{DS(on)} = 10.4mOmega)。低導(dǎo)通電阻意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下,MOSFET的功率損耗更小,效率更高,這在很多對功耗要求較高的應(yīng)用場景中非常關(guān)鍵。大家可以思考一下,在一個(gè)對功耗敏感的便攜式設(shè)備中,低導(dǎo)通電阻能為設(shè)備帶來怎樣的性能提升呢?

2.2 5V驅(qū)動能力

具備5V驅(qū)動能力,并且其反向恢復(fù)電荷(Q_{rr})比其他MOSFET供應(yīng)商的產(chǎn)品低50%,這有助于降低開關(guān)噪聲和電磁干擾(EMI)。在一些對電磁兼容性要求較高的設(shè)計(jì)中,這一特性可以減少額外的濾波電路設(shè)計(jì),簡化電路結(jié)構(gòu)。

2.3 穩(wěn)健的封裝設(shè)計(jì)

采用MSL1穩(wěn)健封裝設(shè)計(jì),并且經(jīng)過100% UIL測試。這種封裝設(shè)計(jì)能夠提供更好的機(jī)械穩(wěn)定性和電氣性能,保證產(chǎn)品在不同環(huán)境下的可靠性。同時(shí),該器件符合無鉛、無鹵和RoHS標(biāo)準(zhǔn),滿足環(huán)保要求。

三、絕對最大額定值

Symbol Parameter Value Unit
(V_{DS}) 漏源電壓 80 V
(V_{GS}) 柵源電壓 ± 20 V
(I_{D}) 連續(xù)電流(注1a)、脈沖電流(注4) (T_{A}=25^{circ}C)時(shí),連續(xù)14A,脈沖33A A
(E_{AS}) 單脈沖雪崩能量(注3) 150 mJ
(P_{D}) 功率耗散(注1a) (T{C}=25^{circ}C)時(shí)57W,(T{A}=25^{circ}C)時(shí)2.4W W
(T{J}, T{STG}) 工作和存儲結(jié)溫范圍 –55 to +150 °C

需要注意的是,超過最大額定值表中列出的應(yīng)力可能會損壞器件。如果超過這些限制,不能保證器件的功能,可能會發(fā)生損壞并影響可靠性。

四、熱特性

熱阻是衡量MOSFET散熱性能的重要指標(biāo)。該產(chǎn)品的熱阻(R_{theta JA})(結(jié)到環(huán)境的熱阻)在安裝在(1in^{2})的2oz銅焊盤上時(shí)為(53^{circ}C/W) 。在實(shí)際設(shè)計(jì)中,熱阻會影響MOSFET的工作溫度,進(jìn)而影響其性能和可靠性。工程師們在設(shè)計(jì)散熱方案時(shí),需要根據(jù)實(shí)際的應(yīng)用場景和功率需求,合理選擇散熱方式,如散熱片、風(fēng)扇等。大家在以往的設(shè)計(jì)中,是如何考慮MOSFET的散熱問題的呢?

五、電氣特性

5.1 關(guān)斷特性

擊穿電壓(B_{V DSS})最小值為80V,表明該MOSFET能夠承受較高的漏源電壓,保證在高壓環(huán)境下的正常工作。

5.2 導(dǎo)通特性

柵源閾值電壓(V{GS(th)})在(V{GS}=V{DS}),(I{D}=120mu A)時(shí),最小值為1.5V,典型值為2.5V。導(dǎo)通電阻(R{DS(on)})在不同的(V{GS})和(I{D})條件下有不同的值,如在(V{GS}=10V),(I{D}=21A),(T{J}=25^{circ}C)時(shí),最大值為7.0mΩ 。這些參數(shù)對于設(shè)計(jì)電路的導(dǎo)通性能至關(guān)重要。

5.3 動態(tài)特性

輸入電容(C{iss})在(V{DS}=40V),(V_{GS}=0V),(f = 1MHz)時(shí),典型值為2100pF。電容特性會影響MOSFET的開關(guān)速度和驅(qū)動能力,在高速開關(guān)應(yīng)用中需要重點(diǎn)考慮。

5.4 開關(guān)特性

包括開啟延遲時(shí)間(t{d(on)})、上升時(shí)間(t{r})、關(guān)斷延遲時(shí)間(t{d(off)})和下降時(shí)間(t{f})等。這些時(shí)間參數(shù)決定了MOSFET的開關(guān)速度,對于高頻開關(guān)電路的設(shè)計(jì)非常關(guān)鍵。

5.5 漏源二極管特性

源漏二極管正向電壓(V{SD})在不同的電流條件下有不同的值,反向恢復(fù)時(shí)間(t{rr})和反向恢復(fù)電荷(Q_{rr})也會隨著電流和(di/dt)的變化而變化。這些特性對于同步整流等應(yīng)用非常重要。

六、典型特性曲線

文檔中給出了多個(gè)典型特性曲線,如導(dǎo)通區(qū)域特性曲線、歸一化導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓的關(guān)系曲線、歸一化導(dǎo)通電阻與結(jié)溫的關(guān)系曲線等。這些曲線可以幫助工程師更好地了解MOSFET在不同工作條件下的性能,從而進(jìn)行更合理的電路設(shè)計(jì)。例如,通過導(dǎo)通電阻與結(jié)溫的關(guān)系曲線,可以預(yù)測在不同溫度下MOSFET的功率損耗,進(jìn)而優(yōu)化散熱設(shè)計(jì)。

七、封裝和訂購信息

該產(chǎn)品采用WDFN8 3.3x3.3,0.65P(Power 33)封裝,標(biāo)記為FDMC007N08LC。封裝信息對于PCB設(shè)計(jì)非常重要,需要根據(jù)封裝尺寸和引腳定義來進(jìn)行布局。訂購信息方面,可參考數(shù)據(jù)手冊第6頁的詳細(xì)訂購和運(yùn)輸信息。

八、總結(jié)

onsemi的FDMC007N08LC N溝道MOSFET憑借其先進(jìn)的工藝、優(yōu)秀的特性和可靠的封裝,在DC - DC轉(zhuǎn)換、電機(jī)驅(qū)動等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景。電子工程師在設(shè)計(jì)過程中,需要充分考慮其各項(xiàng)參數(shù)和特性,結(jié)合實(shí)際應(yīng)用需求,進(jìn)行合理的電路設(shè)計(jì)和散熱設(shè)計(jì),以確保產(chǎn)品的性能和可靠性。大家在使用類似MOSFET時(shí),遇到過哪些問題,又是如何解決的呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。

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