電子發(fā)燒友網(wǎng)>測(cè)量?jī)x表>半導(dǎo)體測(cè)試>
半導(dǎo)體測(cè)試
電子發(fā)燒友網(wǎng)半導(dǎo)體測(cè)試內(nèi)容涉及半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備、半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)、半導(dǎo)體封裝測(cè)試、半導(dǎo)體測(cè)試儀器以及半導(dǎo)體分裝測(cè)試，專為半導(dǎo)體測(cè)試工程師提供技術(shù)知識(shí)的優(yōu)秀平臺(tái)。
大容量存儲(chǔ)器集成電路測(cè)試
大容量存儲(chǔ)器集成電路的測(cè)試系統(tǒng)是科技型中小企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新基金項(xiàng)目,是根據(jù)大容量存儲(chǔ)器集成電路SDRAM、DDR SDRAM和：flash RAM的發(fā)展趨勢(shì)而研究開發(fā)的測(cè)試系統(tǒng)。方案的主要內(nèi)容為測(cè)試...
2012-04-26 標(biāo)簽：存儲(chǔ)器存儲(chǔ)器集成電路測(cè)試 2251
功率半導(dǎo)體結(jié)溫的仿真估計(jì)
設(shè)計(jì)師在減輕熱問題時(shí)常常需要做出很多折衷，包括電源變換拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的選擇、開關(guān)頻率的選擇、半導(dǎo)體封裝形式的選擇，還有半導(dǎo)體類型、散熱方式、變換電路的具體位置、電路板材...
2012-04-26 標(biāo)簽：仿真功率半導(dǎo)體結(jié)溫 4956
利用測(cè)試排序儀器降低測(cè)試成本
越來越小的利潤(rùn)空間正驅(qū)使元器件制造商降低生產(chǎn)成本，包括測(cè)試成本在內(nèi)。采用具有嵌入式測(cè)試排序器的儀器會(huì)起到作用。為了采取更有效的測(cè)試手段來提高利潤(rùn)空間，制造商要考慮...
瞬間變化電流檢測(cè)儀設(shè)計(jì)方案
本設(shè)計(jì)利用短路電流放大器的原理對(duì)檢測(cè)電流進(jìn)行1：1放大后，可結(jié)合附屬電路借助發(fā)光二極管定性地檢測(cè)瞬變電流的大小和變化方向。...
2012-04-26 標(biāo)簽：電流檢測(cè)儀 2581
加快Li+電池充電器測(cè)試
鋰離子(Li+)電池比其它化學(xué)類型的電池更脆弱，對(duì)于違規(guī)操作具有非常小的容限。對(duì) Li+ 電池充電器設(shè)計(jì)進(jìn)行完全測(cè)試并在整個(gè)工作范圍內(nèi)進(jìn)行分段測(cè)試非常重要。然而，采用常規(guī)負(fù)載...
2012-04-26 標(biāo)簽：充電器 1488
進(jìn)行電平測(cè)量時(shí)需要考慮的速度問題
理解穩(wěn)態(tài)直流信號(hào)加到電壓表上的情況在概念上沒有什么困難。然而，如果該信號(hào)具有時(shí)變的分量，例如在直流信號(hào)上疊加了交流信號(hào)，儀表就將跟隨該變化的信號(hào)，并表示出該輸入信...
2012-04-26 標(biāo)簽：電平測(cè)量 1095
半導(dǎo)體激光器可靠性評(píng)估系統(tǒng)設(shè)計(jì)
半導(dǎo)體激光器可靠性評(píng)估系統(tǒng)是高效能激光器研制過程中必不可少的測(cè)試設(shè)備之一。本文設(shè)計(jì)的半導(dǎo)體激光器可靠性評(píng)估系統(tǒng)以單片機(jī)為主控部件....
2012-04-23 標(biāo)簽：可靠性半導(dǎo)體激光器可靠性評(píng)估系統(tǒng) 3109
LED大屏幕顯示屏灰度等級(jí)檢測(cè)技術(shù)研究
摘 要： 在當(dāng)今以數(shù)字化為主要特征的L ED 顯示領(lǐng)域，顯示灰度控制技術(shù)已經(jīng)日臻成熟，沿用的亮度和灰度等級(jí)鑒別方法已經(jīng)相對(duì)落后。文章通過分析L ED 顯示器的顯示特性和灰度復(fù)...
2012-04-23 標(biāo)簽：顯示屏檢測(cè)技術(shù)LED大屏幕顯示屏檢測(cè)技術(shù) 7453
提高電路檢測(cè)質(zhì)量的一種方法
觸發(fā)決定了示波器何時(shí)開始采集數(shù)據(jù)和顯示波形。一旦觸發(fā)被正確設(shè)定，它就可以將不穩(wěn)定的顯示轉(zhuǎn)換成有意義的波形。 在實(shí)際工作中，很多工程師通常把示波器的觸發(fā)功能視為一定的...
2012-04-20 標(biāo)簽：電路檢測(cè) 1282
提高DFT測(cè)試覆蓋率的方法
現(xiàn)今流行的可測(cè)試性設(shè)計(jì)(DFT：Design For Testability)為保證芯片的良品率擔(dān)任著越來越重要的角色。...
單片機(jī)在自動(dòng)血壓監(jiān)控系統(tǒng)中的應(yīng)用
目前醫(yī)院使用的自動(dòng)血壓監(jiān)控系統(tǒng)大多為進(jìn)口設(shè)備，價(jià)格昂貴，就醫(yī)成本高。本文所討論的系統(tǒng)價(jià)格低廉，測(cè)量準(zhǔn)確，有其獨(dú)特之處，具有很高的實(shí)用價(jià)值。 ...
2012-03-28 標(biāo)簽：單片機(jī)單片機(jī)自動(dòng)血壓監(jiān)控 3813
判別端子的晶體管測(cè)試儀
圖1中的簡(jiǎn)單晶體管測(cè)試儀可以判斷出晶體管的類型，并且能幫助檢測(cè)出晶體管的發(fā)射極、集電極和基極。其方法是檢查被測(cè)晶體管三個(gè)端子T1、T2和T3之間流過的各種可能電流方向的...
2012-03-28 標(biāo)簽：測(cè)試儀晶體管晶體管晶體管測(cè)試儀測(cè)試儀 2323
基于脈沖計(jì)數(shù)法的多量程電阻電容測(cè)試儀的設(shè)計(jì)
引言常用的測(cè)量電阻和電容的方法主要有純模擬電路法、PLC法。采用純模擬電路法設(shè)計(jì)電阻電容測(cè)試儀，可以避免編程的麻煩，但是電路復(fù)雜、靈活性差、測(cè)量精度低；采用PLC法設(shè)計(jì)的...
2012-03-28 標(biāo)簽：測(cè)試儀測(cè)試儀脈沖計(jì)數(shù) 4819
基于GP-IB總線的加速度計(jì)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
加速度計(jì)是慣性導(dǎo)航系統(tǒng)中的重要敏感元件，在高精度定位定向系統(tǒng)中，其性能的好壞起著關(guān)鍵作用，為此需對(duì)加速度計(jì)進(jìn)行嚴(yán)格的測(cè)試。到目前為止，許多加速度計(jì)的檢測(cè)仍然采用人...
2012-03-28 標(biāo)簽：測(cè)試系統(tǒng)加速度計(jì)GP-IB總線加速度計(jì)測(cè)試系統(tǒng) 5290
基于MAX1452的應(yīng)變測(cè)試系統(tǒng)前端模塊的設(shè)計(jì)
在飛行試驗(yàn)中，對(duì)飛機(jī)應(yīng)變量進(jìn)行測(cè)試是十分普遍而且重要的，也是鑒定飛機(jī)本身的性能和安全的重要依據(jù)。隨著飛機(jī)飛行試驗(yàn)中需要測(cè)試的應(yīng)變參數(shù)數(shù)量的大量增加和機(jī)載測(cè)試技術(shù)的...
2012-03-28 標(biāo)簽：MAX1452前端模塊應(yīng)變測(cè)試 11559
基于MSP430F169的多路電阻測(cè)量系統(tǒng)設(shè)計(jì)
在實(shí)際工作中，對(duì)于多路電阻進(jìn)行測(cè)量，一般采用直接測(cè)量法人工操作進(jìn)行，雖然這種方法很成熟，但所用的配套設(shè)備較多，測(cè)量數(shù)據(jù)手工紀(jì)錄、人工計(jì)算，操作繁瑣、效率較低，事后...
2012-03-28 標(biāo)簽：測(cè)量系統(tǒng)MSP430F169測(cè)量系統(tǒng)電阻測(cè)量 3332
如何在集成系統(tǒng)中測(cè)量溫度
隨著處理器速度提高并消耗更多功耗，熱管理成為所有使用微控制器的器件中的日益重要的問題。由于熱管理變得日益重要，所使用的技術(shù)變得更復(fù)雜和有條件限制。然而，歸其根...
2012-03-28 標(biāo)簽：集成電路測(cè)試溫度測(cè)量集成電路測(cè)試 2013
噴墨打印機(jī)在單片機(jī)測(cè)控系統(tǒng)中的應(yīng)用
通常情況下，并口噴墨打印機(jī)（以下簡(jiǎn)稱打印機(jī)）是由普通PC機(jī)來驅(qū)動(dòng)的。PC機(jī)中的并行端口有三種工作模式，分別是SPP（標(biāo)準(zhǔn)并行接口），EPP（增強(qiáng)型并行接口），ECP（擴(kuò)展型并行...
2012-03-28 標(biāo)簽：單片機(jī)測(cè)控系統(tǒng)單片機(jī)噴墨打印機(jī)測(cè)控系統(tǒng)測(cè)量技術(shù) 4189
ZC-8接地電阻測(cè)試儀表的使用
ZC-8接地電阻測(cè)試儀表的使用,1、將儀表放置水平位置，檢查檢流計(jì)的指針是否在中心線上，否則應(yīng)用零位調(diào)整器將其調(diào)整于中心線上。...
半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試的關(guān)鍵問題之一：探針的接觸電阻
通常，參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測(cè)器件（DUT），然后測(cè)量該器件對(duì)于此輸入信號(hào)的響應(yīng)。這些信號(hào)的路徑為：從測(cè)試儀通過電纜束至測(cè)試頭，再通過測(cè)試頭至探針卡，然后...
2012-03-28 標(biāo)簽：半導(dǎo)體測(cè)試半導(dǎo)體測(cè)試探針接觸電阻 9224
ICT在線測(cè)試基本原理
在線測(cè)試，ICT，In-Circuit Test，是通過對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段。...
2012-03-26 標(biāo)簽：ICT在線測(cè)試在線測(cè)試 5653
半導(dǎo)體特性分析儀和脈沖產(chǎn)生器測(cè)量電荷泵
電荷泵測(cè)量方法廣泛應(yīng)用于MOSFET元件的介面態(tài)密度測(cè)量。隨著高介電常數(shù)(高)閘極材料的發(fā)展，已證明電荷泵對(duì)高薄閘極薄膜中電荷陷阱現(xiàn)象的測(cè)量極為有效。...
2011-09-30 標(biāo)簽：半導(dǎo)體電荷泵半導(dǎo)體特性分析儀電荷泵脈沖產(chǎn)生器 2543
EPM7128在光柵位移測(cè)量?jī)x中的應(yīng)用
基于EPM 7128SLC84-15構(gòu)成的位移測(cè)量系統(tǒng)具有分辨率高、誤差小、電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本低等優(yōu)點(diǎn)，完全能夠滿足實(shí)際測(cè)量的需要。由于采用的是CPLD設(shè)計(jì)，系統(tǒng)易于升級(jí)。 ...
2011-09-01 標(biāo)簽：光柵EPM7128位移測(cè)量?jī)x光柵 2677
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