IEEE 1687標準（即Internal JTAG，或簡稱為IJTAG）正在改變企業(yè)對互操作性的思維方式。例如，IJTAG互操作性在芯片級和電路板級都極具價值，因為可重復利用嵌入式儀器知識產權（IP）。而且，當芯片級和板級IJTAG工具具有雙向或正反互操作性時，流程中的所有工具都會變得比自身更強大。這稱之為協(xié)同作用的力量。
　　將板級和芯片級IJTAG工具交互應用到復雜的系統(tǒng)設計意味著借助高級診斷來驗證設計，從而使設計師可以快速地在芯片或電路板上找出問題的根源。
　　IJTAG的儀器網絡
　　IJTAG標準的開發(fā)始于數(shù)年前，因為工程師需要一種更好的方法來接入、管理和控制嵌入硅中的儀器。那時，越來越多的儀器被集成到復雜的片上系統(tǒng)（SoC）和其他不太復雜的設備。這些嵌入式儀器過去是現(xiàn)在仍然是用來表征和驗證芯片功能性的最有效方法。
　　遺憾的是，許多這樣的儀器不能相互通信。根據(jù)IP來源地，每臺儀器可能具有自己的接入方法。此外，最缺失的是可移植性。如果沒有為新的芯片重新設計IP，則無法輕松地在其他芯片設計中重新部署儀器IP.換言之，嵌入式儀器難以供工程師使用。
　　通過指定片上網絡，IJTAG標準可解決上述問題和其他問題，該標準的儀器連接語言（ICL）對此作了說明。此外，IJTAG還為儀器IP和操作儀器語言（即程序描述語言（PDL））定義了標準化接口。IJTAG的上述方面簡化并改進了工程師應用嵌入式儀器的方式，并確保儀器本身以及與每個IJTAG儀器相關的操作矢量的可移植性，因此又為工程師節(jié)省了寶貴的時間。
　　為什么互操作性如此重要
　　芯片級IJTAG工具之間的互操作性（例如Mentor Tessent IJTAG解決方案提供的工具以及應用于ASSET ScanWorks啟用的電路板的工具）遠不止提供一種便利的方式在工具之間傳輸數(shù)據(jù)。雙級雙向互操作性對芯片和電路板工程師而言是強大的優(yōu)勢，原因如下。第一，確?？稍陔娐钒逶O計中重新利用為驗證或測試芯片設計而開發(fā)的儀器IP，從而降低成本并加快產品上市時間。第二，芯片和電路板工具之間的雙向反饋回路意味著整個工具流程現(xiàn)在具有高級診斷能力，從而隔離芯片或電路板設計問題的根源。換句話說，該IJTAG工具流程可避免基于猜測來確定是芯片還是電路板存在問題。
　　
　　圖1. IJTAG工具流程從在芯片插入儀器擴展到電路板裝配，并包括用于啟用高級診斷的反饋路徑。
　　該流程始于可插入和驗證芯片IJTAG和JTAG資源的可測試性設計（DFT）自動化工具。JTAG是必要的，因為芯片的JTAG測試接入端口（TAP）將用于接入IJTAG儀器片上網絡。IJTAG并不只限定于作為其接入方法的JTAG，但目前JTAG是唯一受批準的IJTAG標準支持的機制。未來，IJTAG標準還會增加其他接入方法。
　　DFT自動化流程支持自動插入設計的RTL或門級網表。插入的IJTAG資源包括嵌入式儀器和分層接入網絡（支持從通用芯片級接入點接入任何儀器）。DFT工具還支持重定向以及合并多個IP塊的PDL命令。重定向到芯片引腳的命令可轉換為自動測試設備（ATE）測試向量格式或Verilog進行仿真驗證。還可通過交互式調試工具（例如Tessent SiliconInsight）接入芯片級PDL測試向量。
　　在完成插入和仿真驗證之后，通常在現(xiàn)場可編程門陣列（FPGA）上部署芯片設計，以便在硬件中仿真和測試硅。再次應用在模擬階段之前生成的測試來驗證將變成片上IJTAG網絡（如ICL中所述）以及儀器特定操作流程（如PDL中所述）的內容的完整性。之后，在ATE系統(tǒng)中進行典型的硅測試和驗證。