【前言】
　　在高端MOS的柵極驅(qū)動(dòng)電路中，自舉電路因技術(shù)簡(jiǎn)單、成本低廉得到了廣泛的應(yīng)用。然而在實(shí)際應(yīng)用中，MOS常莫名其妙的失效，有時(shí)還伴隨著驅(qū)動(dòng)IC的損壞。如何破？一個(gè)合適的電阻就可搞定問(wèn)題。
　　【問(wèn)題分析】
　　
　　上圖為典型的半橋自舉驅(qū)動(dòng)電路，由于寄生電感的存在，在高端MOS關(guān)閉后，低端MOS的體二極管鉗位之前，寄生電感通過(guò)低端二極管進(jìn)行續(xù)流，導(dǎo)致VS端產(chǎn)生負(fù)壓，且負(fù)壓的大小與寄生電感與成正比關(guān)系。該負(fù)壓會(huì)把驅(qū)動(dòng)的電位拉到負(fù)電位，導(dǎo)致驅(qū)動(dòng)電路異常，還可能讓自舉電容過(guò)充電導(dǎo)致驅(qū)動(dòng)電路或者柵極損壞。由于IC的驅(qū)動(dòng)端通常都有寄生二極管，當(dāng)瞬間的大電流流過(guò)驅(qū)動(dòng)口的二極管時(shí)，很可能引發(fā)寄生SCR閉鎖效應(yīng)，導(dǎo)致驅(qū)動(dòng)電路徹底損壞。
　　【解決方法】
　　
　　如上圖所示，在自舉驅(qū)動(dòng)芯片VS端與Q1的源極之間增加一個(gè)電阻Rvs，該電阻不僅是自舉限流電阻，同時(shí)還是導(dǎo)通電阻和關(guān)斷電阻。由于占空比受自舉電容影響，該電阻值一般不能取得較大，推薦值為3~10Ω較為適宜。電阻和自舉電容的容值與其充電時(shí)間可以由以下公式得出：
　　
　　其中C是自舉電容容值，D為最大占空比。
　　致遠(yuǎn)電子的PV系列光伏電源，內(nèi)部的MOS驅(qū)動(dòng)技術(shù)就幫助此款產(chǎn)品解決了很多高端MOS的疑難怪癥，最終成就了產(chǎn)品的高可靠性。200~1200VDC超寬輸入電壓范圍，長(zhǎng)壽命、高效率、低紋波噪聲、高可靠性等特點(diǎn)。