資料介紹
本測試設備可對大功率IGBT器件進行功率循環(huán)耐久性試驗,以確認IGBT器件承受結(jié)溫波動的能力,通過試驗前后各種電參數(shù)變化判斷IGBT器件內(nèi)部制造工藝可靠性及器件的使用壽命,用于研究電力電子 變流裝置中大功率IGBT的疲勞失效及壽命預測方法,模擬器件工作時芯片和封裝材料承受的溫度梯度沖擊影響,為評估器件壽命提供依據(jù)。是IGBT檢測必不可少的測試設備。 測試標準符合GB/T17573-1998以及IEC60747-9相關標準要求。本設備采用計算機自動控制系統(tǒng),后臺軟件實時監(jiān)控、自動處理目標數(shù)據(jù),具有測試精度高、操作方便、高效等優(yōu)點。
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