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電子發(fā)燒友網(wǎng)>模擬技術(shù)>MOSFET關(guān)斷條件是什么 mosfet管關(guān)斷過程的分析

MOSFET關(guān)斷條件是什么 mosfet管關(guān)斷過程的分析

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2016-09-26 15:28:01

理解功率MOSFET的開關(guān)過程

盡管MOSFET在開關(guān)電源、電機(jī)控制等一些電子系統(tǒng)中得到廣泛的應(yīng)用,但是許多電子工程師對于MOSFET開關(guān)過程仍然有一些疑惑,本文先簡單介紹常規(guī)的基于柵極電荷的特性,理解MOSFET的開通和關(guān)斷
2016-11-29 14:36:06

用兩個NPN三極搭建一個MOSFET驅(qū)動電路,1000字講解清楚原理和選型

今天分析一下下面的這個電路,一個基于NPN三極MOSFET柵極自偏置關(guān)斷電路。電路很簡單,里面可是藏著不少門道,既有設(shè)計亮點(diǎn),也有效率與延遲問題。咱們一邊分析,一邊看看器件選型和計算的門道,爭取
2025-03-19 13:48:08

討論一下IGBT的關(guān)斷過程

理想,然而事實(shí)確實(shí)如此,那就沒有解決方法了嗎?方法肯定是有的,先賣個關(guān)子,等后面再說。今天我們先簡單聊聊IGBT的關(guān)斷過程,從根源上分析一下導(dǎo)致上述現(xiàn)象的原因。要想了解IGBT的關(guān)斷過程,有必要
2023-02-13 16:11:34

請問雙極性晶體MOSFET對比分析哪個好?

雙極性晶體MOSFET對比分析哪個好?
2021-04-20 06:36:55

請問造成MOSFET損壞有哪些原因?

小弟是電子初學(xué)者,經(jīng)常在設(shè)計電路時MOSFET出現(xiàn)損壞,請問造成MOSFET損壞有哪些原因?
2019-02-19 10:15:25

超級結(jié)MOSFET

從本篇開始,介紹近年來MOSFET中的高耐壓MOSFET的代表超級結(jié)MOSFET。功率晶體的特征與定位首先來看近年來的主要功率晶體Si-MOSFET、IGBT、SiC-MOSFET的功率與頻率
2018-11-28 14:28:53

這28個MOSFET應(yīng)用問答,工程師隨時可以用得上!

大于額定值的情況?回復(fù):是的。但是在高溫條件下,一些大電流的關(guān)斷,可能在關(guān)斷過程中,發(fā)生寄生三極導(dǎo)通而損壞,雖然看不到過壓的情況,但是作者仍然將其定義為雪崩 UIS 損壞。 4、關(guān)于(2)中兩種情況
2020-03-24 07:00:00

降低高壓MOSFET導(dǎo)通電阻的原理與方法

幾乎為零,但在開通和關(guān)斷動態(tài)過程中,仍需要一定的驅(qū)動電流。假定開關(guān)管飽和導(dǎo)通需要的柵極電壓值為VGS,開關(guān)的 開通時間TON包括開通延遲時間TD和上升時間TR兩部分?! ¢_關(guān)關(guān)斷過程中,CISS
2023-02-27 11:52:38

關(guān)斷過電壓鉗位電路

關(guān)斷過電壓鉗位電路
2008-08-22 10:15:212437

具有能量恢復(fù)能力的關(guān)斷過電壓鉗位電路

具有能量恢復(fù)能力的關(guān)斷過電壓鉗位電路
2008-08-22 10:16:39985

功率場效應(yīng)晶體(MOSFET)原理

功率場效應(yīng)晶體(MOSFET)原理 功率場效應(yīng)(Power MOSFET)也叫電力場效應(yīng)晶體,是一種單極型的電壓控制器件,不但有自關(guān)斷能力,而且有驅(qū)動功率小
2009-04-25 16:05:1010824

MOSFET開關(guān)過程理解

本文先介紹了基于功率MOSFET的柵極電荷特性的開關(guān)過程;然后介紹了一種更直觀明析的理解功率MOSFET開關(guān)過程的方法:基于功率MOSFET的導(dǎo)通區(qū)特性的開關(guān)過程,并詳細(xì)闡述了其開關(guān)過程。開關(guān)過程中,功率MOSFET動態(tài)的經(jīng)過是關(guān)斷區(qū)、恒流區(qū)和可變電阻區(qū)的過程。在
2011-03-15 15:19:17566

功率MOSFET的開通和關(guān)斷原理

開通過程[ t0 ~ t4 ]: -- 在 t0 前,MOSFET 工作于截止?fàn)顟B(tài),t0 時,MOSFET 被驅(qū)動開通; -- [t0-t1]區(qū)間,MOSFET 的GS 電壓經(jīng)Vgg 對Cgs 充電而上升,在t1 時刻,到達(dá)維持電壓Vth,MOSFET 開始導(dǎo)電;
2012-03-14 14:22:46288

理解MOSFET開關(guān)損耗和主導(dǎo)參數(shù)

為了使MOSFET整個開關(guān)周期都工作于ZVS,必須利用外部的條件和電路特性,實(shí)現(xiàn)其在開通過程的ZVS。如同步BUCK電路下側(cè)續(xù)流管,由于其寄生的二極或并聯(lián)的肖特基二極先導(dǎo)通,然后續(xù)流的同步
2012-04-12 11:04:2363739

開關(guān)電源中功率MOSFET損壞模式及分析

結(jié)合功率MOSFET不同的失效形態(tài),論述了功率MOSFET分別在過電流和過電壓條件下?lián)p壞的模式,并說明了產(chǎn)生這樣的損壞形態(tài)的原因,也分析了功率MOSFET關(guān)斷及開通過程中發(fā)生失效
2013-09-26 14:54:2392

四種比較實(shí)用的MOSFET關(guān)斷電路# MOSFET# MOS

MOSFET
微碧半導(dǎo)體VBsemi發(fā)布于 2024-07-22 11:27:10

開關(guān)電源之MOSFET關(guān)斷緩沖電路的設(shè)計詳解

在帶變壓器的開關(guān)電源拓?fù)渲?,開關(guān)關(guān)斷時,電壓和電流的重疊引起的損耗是開關(guān)電源損耗的主要部分,同時,由于電路中存在雜散電感和雜散電容,在功率開關(guān)關(guān)斷時,電路中也會出現(xiàn)過電壓并且產(chǎn)生振蕩。如果尖峰
2017-12-07 09:41:0113380

低柵極關(guān)斷阻抗的驅(qū)動電路

和開爾文結(jié)構(gòu)封裝的串?dāng)_問題分別進(jìn)行分析,柵漏極結(jié)電容的充放電電流和共源寄生電感電壓均會引起處于關(guān)斷狀態(tài)開關(guān)的柵源極電壓變化。提出一種用于抑制串?dāng)_問題的驅(qū)動電路,該驅(qū)動電路具有柵極關(guān)斷阻抗低、結(jié)構(gòu)簡單、易于控制的特點(diǎn)。分析該驅(qū)動電路的工作原理,提供主
2018-01-10 15:41:223

IGBT關(guān)斷過程分析

, MOSFET 的門極電壓Vgs減小至Miller平臺電壓Vmr, 漏源電壓Vds增大至Vds(max), 而漏源電流Ids保持不變. 由于Ib=Ids, BJT的集射極電流Ice受Ib控制, 所以,在IGBT關(guān)斷td(off)和Δt過程中, Ice電流仍然保持不變,
2018-12-22 12:41:5541292

LTC4352 - MOSFET 理想二極控制器在低壓應(yīng)用中為堅固的電源“或”提供快速接通和關(guān)斷

LTC4352 - MOSFET 理想二極控制器在低壓應(yīng)用中為堅固的電源“或”提供快速接通和關(guān)斷
2021-03-19 01:23:139

功率MOSFET關(guān)斷過程和和關(guān)斷損耗資料下載

電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供功率MOSFET關(guān)斷過程和和關(guān)斷損耗資料下載的電子資料下載,更有其他相關(guān)的電路圖、源代碼、課件教程、中文資料、英文資料、參考設(shè)計、用戶指南、解決方案等資料,希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2021-04-05 08:53:1113

雙脈沖開關(guān)的特性是什么,IGBT開通和關(guān)斷過程描述

在IGBT開關(guān)過程中通常用開通延遲td(on)、關(guān)斷延遲td(off)、上升時間tr和下降時間tf來進(jìn)行描述。
2021-05-06 10:06:019694

matlab中mos開通損耗和關(guān)斷損耗,終于明白了!開關(guān)電源中MOS開關(guān)損耗的推導(dǎo)過程和計算方法...

和計算開關(guān)損耗,并討論功率MOSFET導(dǎo)通過程和自然零電壓關(guān)斷過程的實(shí)際過程,以便電子工程師了解哪個參數(shù)起主導(dǎo)作用并了解MOSFET. 更深入地MOSFET開關(guān)損耗1,通過過程中的MOSFET開關(guān)損耗功率M...
2021-10-22 17:35:5954

詳解實(shí)現(xiàn)MOS快速關(guān)斷的電路方案

當(dāng)我們使用MOS進(jìn)行一些PWM輸出控制時,由于此時開關(guān)頻率比較高,此時就要求我們能更快速的開關(guān)MOS,從理論上說,MOSFET關(guān)斷速度只取決于柵極驅(qū)動電路。當(dāng)然電流更高的關(guān)斷電路可以更快
2022-04-11 08:03:0128970

關(guān)斷電路

升壓型 DC/DC 轉(zhuǎn)換器具有從輸入到輸出的直接路徑(通過電感器和肖特基二極),這使得完全關(guān)斷變得困難。本電路通過在輸入和輸出之間插入一個外部MOSFET,由RS-17112收發(fā)器(MAX232)控制,實(shí)現(xiàn)MAX3384轉(zhuǎn)換器的完全關(guān)斷
2023-02-10 11:06:451980

功率MOSFETRds負(fù)溫度系數(shù)對負(fù)載開關(guān)設(shè)計有什么影響

本文論述了功率MOSFET導(dǎo)通電阻的正溫度系數(shù)和負(fù)溫度系數(shù)的雙重特性以及相對應(yīng)的VGS的轉(zhuǎn)折電壓,功率MOSFET在開通和關(guān)斷時要跨越這兩個區(qū)域的工作過程
2023-02-16 11:22:592164

功率MOSFET的穩(wěn)態(tài)特性總結(jié) 功率MOSFET的開通和關(guān)斷過程原理

實(shí)際的功率MOSFET 可用三個結(jié)電容,三個溝道電阻,和一個內(nèi)部二極管及一個理想MOSFET 來等效。三個結(jié)電容均與結(jié)電壓的大小有關(guān),而門極的溝道電阻一般很小,漏極和源極的兩個溝道電阻之和即為MOSFET 飽和時的通態(tài)電阻。
2023-02-17 18:11:013331

關(guān)于對IGBT關(guān)斷過程分析

上一篇,我們寫了基于感性負(fù)載下,IGBT的開通過程,今天,我們就IGBT的關(guān)斷過程進(jìn)行一個敘述。對于IGBT關(guān)斷的可以基于很對方面進(jìn)行分析,而今 天我們從電壓電流對IGBT的關(guān)斷過程進(jìn)行分析。
2023-02-22 15:21:3314

IGBT關(guān)斷時的電流和電壓

, 同時還具有MOSFET柵極輸入阻抗高、開關(guān)速度快的特點(diǎn)。很多情況,由 于對IGBT關(guān)斷機(jī)理認(rèn)識不清, 對關(guān)斷時間隨電壓和電流的變化規(guī)律認(rèn)識不清, 導(dǎo)致無法解釋在使用過程中出現(xiàn)的電流拖尾長、 死區(qū)時間長等現(xiàn)象, 不能充分發(fā)揮IGBT的性能; 導(dǎo)致IGBT因使用不當(dāng), 燒毀。今天我們就IGBT關(guān)斷時的
2023-02-22 14:57:546

MOS的導(dǎo)通和關(guān)斷過程

最近一直在說MOS的知識,就有朋友留言說能具體說一下MOS的導(dǎo)通和關(guān)斷過程嗎,那我們今天來說一下MOS的導(dǎo)通和關(guān)斷具體過程。
2023-03-26 16:15:438583

電源基礎(chǔ)知識 功率MOSFET工作特性

再次可以看到在關(guān)斷過程中也有類似的四個明顯不同的區(qū)間,但是它們都很大程度上受到柵極驅(qū)動器電路特性的影響。在通常的應(yīng)用中,柵極驅(qū)動電壓相對于柵極閾值會提高到較高水平,以便讓 MOSFET 充分導(dǎo)通得到最低的RDs(ON)。
2023-05-11 09:05:561054

從電壓電流對IGBT的關(guān)斷過程進(jìn)行分析

絕緣柵雙極型晶體(IGBT) 是雙極型晶體(BJT) 和場效應(yīng)晶體(MOSFET) 的復(fù)合器件,IGBT將BJT的電導(dǎo)調(diào)制效應(yīng)引入到VDMOS 的高阻漂移區(qū), 大大改善了器件的導(dǎo)通特性
2023-05-25 17:11:506445

8.2.12.5-8 關(guān)斷過程∈《碳化硅技術(shù)基本原理——生長、表征、器件和應(yīng)用》

8.2.12.5關(guān)斷過程,0
2022-03-10 10:26:03717

探究快速開關(guān)應(yīng)用中SiC MOSFET體二極關(guān)斷特性

SiC MOSFET體二極關(guān)斷特性與IGBT電路中硅基PN二極不同,這是因為SiC MOSFET體二極具有獨(dú)特的特性。對于1200V SiC MOSFET來說,輸出電容的影響較大,而PN
2023-01-04 10:02:073634

探究快速開關(guān)應(yīng)用中SiC MOSFET體二極關(guān)斷特性

探究快速開關(guān)應(yīng)用中SiC MOSFET體二極關(guān)斷特性
2023-01-12 14:33:033281

寄生電容對MOS快速關(guān)斷的影響

寄生電容對MOS快速關(guān)斷的影響 MOS(Metal Oxide Semiconductor)是一種晶體,它以其高性能和可靠性而廣泛應(yīng)用于許多電子設(shè)備,如功率放大器和開關(guān)電源。盡管MOS具有
2023-09-17 10:46:585125

igbt怎樣導(dǎo)通和關(guān)斷?igbt的導(dǎo)通和關(guān)斷條件

和門極組成。因其高電壓和高電流開關(guān)能力,廣泛應(yīng)用于電力和電能控制器的控制中。 IGBT的導(dǎo)通和關(guān)斷是通過控制門極電壓來實(shí)現(xiàn)的。下文詳細(xì)介紹IGBT的導(dǎo)通和關(guān)斷條件,以及具體的導(dǎo)通和關(guān)斷過程。 IGBT導(dǎo)
2023-10-19 17:08:0226499

第二代SiC碳化硅MOSFET關(guān)斷損耗Eoff

第二代SiC碳化硅MOSFET關(guān)斷損耗Eoff
2024-06-20 09:53:401447

IGBT關(guān)斷過程分析

絕緣柵雙極型晶體(IGBT)作為電力電子領(lǐng)域中至關(guān)重要的元件,其關(guān)斷過程分析對于理解其性能和應(yīng)用至關(guān)重要。IGBT結(jié)合了雙極型晶體(BJT)和場效應(yīng)晶體MOSFET)的優(yōu)勢,具有導(dǎo)通特性好
2024-07-26 18:03:566876

功率MOSFET的開通和關(guān)斷過程原理

功率MOSFET(金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體)作為現(xiàn)代電力電子領(lǐng)域中的核心器件,其開通和關(guān)斷過程原理對于理解其工作特性、設(shè)計高效電路以及確保系統(tǒng)穩(wěn)定性至關(guān)重要。以下將對功率MOSFET的開通和關(guān)斷過程原理進(jìn)行詳細(xì)闡述,內(nèi)容涵蓋MOSFET的基本結(jié)構(gòu)、工作原理、開通和關(guān)斷過程的具體分析以及影響因素等。
2024-10-10 09:54:405059

基本半導(dǎo)體碳化硅(SiC)MOSFET關(guān)斷損耗(Eoff)特性的應(yīng)用優(yōu)勢

BASiC基本股份半導(dǎo)體的碳化硅(SiC)MOSFET憑借其低關(guān)斷損耗(Eoff)特性,在以下應(yīng)用中展現(xiàn)出顯著優(yōu)勢: 傾佳電子(Changer Tech)-專業(yè)汽車連接器及功率半導(dǎo)體(SiC碳化硅
2025-05-04 09:42:31741

SiC碳化硅MOSFET短路過流兩級關(guān)斷(2LTO)保護(hù)成為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的研究報告

SiC碳化硅MOSFET短路過流耐受時間較短的根本性物理分析與兩級關(guān)斷(2LTO)保護(hù)成為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的研究報告:兩級關(guān)斷(Two-Level Turn-Off, 2LTO)技術(shù)逐漸確立為平衡SiC
2026-01-01 13:48:1024

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