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電子發(fā)燒友網(wǎng)>測量儀表>泰克推出帶KTE V7.1軟件的S530參數(shù)測試系統(tǒng),加速半導體芯片生產(chǎn)

泰克推出帶KTE V7.1軟件的S530參數(shù)測試系統(tǒng),加速半導體芯片生產(chǎn)

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2012-03-28 09:20:201206

吉時利儀器增強了S530參數(shù)測試系統(tǒng)的測量功能

吉時利儀器公司不斷增強半導體行業(yè)性價比最高的高速生產(chǎn)參數(shù)測試方案——S530參數(shù)測試系統(tǒng)的功能。由于有吉時利測試環(huán)境軟件KTE V5.4)的支持,S530目前配置為48引腳全Kelvin開關以
2012-03-30 11:05:191177

公司推出市面上性能最高的DDR3協(xié)議測試解決方案

公司推出用于邏輯調(diào)試和協(xié)議驗證的下一代DDR3探測解決方案,采用了TLA7000系列邏輯分析儀支持DDR3-2133 MT/s和DDR3-2400 MT/s。這是目前市面上性能最高的DDR3協(xié)議測試解決方案。
2012-05-04 14:19:171618

解決CMSIS-DAP調(diào)試器在IAR v7.1中問題(Probe not Found)修復

心里作用的可能,覺著新的總是好的,呵呵。今天偶然打算在IAR v7.1環(huán)境下第一次使用CMSIS-DAP接口測試個片子,ARM Cortex-M0+的MTB指令跟蹤功能在CMSIS-DAP下支持的很好,結果
2017-12-12 18:20:1819

南牛異步電機設計軟件V7.1免費版應用程序免費下載

本文檔的主要內(nèi)容詳細介紹的是南牛異步電機設計軟件V7.1免費版應用程序免費下載。
2018-09-04 08:00:000

科技發(fā)布兩款新軟件包可實現(xiàn)簡化汽車以太網(wǎng)測試

科技公司日前發(fā)布了兩款新軟件包,適用于5和6系列混合信號示波器(MSO),大大簡化了汽車以太網(wǎng)測試、調(diào)試和協(xié)議解碼。使用最新推出的信號分離軟件,汽車工程師現(xiàn)在可以在不中斷的ECU系統(tǒng)或不切
2019-09-16 10:18:004213

利用?NI?半導體?測試?系統(tǒng)?(STS)?軟件?的?增強?功能,?加速?測試?程序?開發(fā),?提高?運營?

國家儀器該公司于今日推出了STS軟件的最新增強功能,這些功能可顯著提升NI半導體測試系統(tǒng)的編程和調(diào)試體驗,并大大提高測試執(zhí)行速度、并行測試效率和整體設備效率。
2019-10-14 14:30:521599

為第三代寬禁制造工藝提供支持,新推S530系列參數(shù)測試系統(tǒng)

基于新興GaN和SiC寬禁技術的新型半導體產(chǎn)品,有望實現(xiàn)更快的開關速度,更寬的溫度范圍,更好的功率效率,以及其他更多增強功能。
2020-10-23 11:03:261297

半導體測試—優(yōu)質(zhì)好文推薦

半導體測試貫穿設計、生產(chǎn)過程的核心環(huán)節(jié)。半導體測試就是通過測量半導體的輸出響應和預期輸出并進行比較以確定或評估集成電路功能和性能的過程,其測試內(nèi)容主要為電學參數(shù)測試。一般來說,每個芯片都要經(jīng)過兩類
2020-10-30 04:08:071859

深圳國際半導體展會:光電

,專業(yè)從事半導體自動化,半導體及LED檢測儀器,半導體芯片點測機,LED封裝測試機的研發(fā),生產(chǎn),銷售一體的公司,公司主要致力于自主研發(fā),打造國內(nèi)半導體智能裝備優(yōu)秀企業(yè)形象,擁有20余項軟件著作權及專利,成為中國半導體裝備行業(yè)的重要組成是企業(yè)的愿景。工廠
2020-11-20 12:04:452290

Cree Wolfspeed攜手,共迎寬禁半導體器件發(fā)展契機與挑戰(zhàn)

Cree Wolfspeed與共同應對寬禁半導體器件的挑戰(zhàn),共同促進寬禁半導體行業(yè)的發(fā)展。
2020-12-21 15:48:571258

解鎖SiC功率器件動態(tài)測試系統(tǒng),華南首臺在深圳美浦森半導體正式交付

在華南地區(qū)首臺DPT1000A在深圳美浦森半導體正式交付。DPT1000A功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)科技領先研發(fā),一經(jīng)推出就受到廣大科研和企業(yè)用戶的強烈關注。
2021-08-19 10:15:162476

駕馭狼的速度,與忱芯強強聯(lián)手解決寬禁半導體測試難題

科技與忱芯科技達成了全范圍的戰(zhàn)略合作聯(lián)盟,雙方將深度整合資源,優(yōu)勢互補,圍繞寬禁功率半導體測試領域開展全產(chǎn)業(yè)鏈的產(chǎn)品合作,為客戶解決寬禁半導體測試挑戰(zhàn)。
2021-11-08 17:20:314217

先進半導體開放實驗室在北京盛情開幕,提供一站式、全方位測試服務 這是全國首個企業(yè)級第三代半導體

企業(yè)級第三代半導體功率器件測試服務實驗室。開放實驗室以測試設備為核心,結合在全球三代半導體產(chǎn)業(yè)積累的豐富經(jīng)驗,與國內(nèi)一線方案合作伙伴共同打造,致力于加速中國第三代半導體行業(yè)創(chuàng)新發(fā)展、工藝優(yōu)化、良率提升,讓工程師的工作更高效更有信心。 應對易變性未來,支持本
2022-09-26 09:48:54809

先進半導體開放實驗室正式啟動

科技在北京成立【先進半導體開放實驗室】(TEK Advance Semiconductor Open Lab),并邀請嘉賓一起見證啟動開幕,這是全國首個企業(yè)級第三代半導體功率器件測試服務實驗室。
2022-09-26 14:30:341591

矽電-晶圓級探針測試測量聯(lián)合實驗室正式成立

科技(中國)有限公司和矽電半導體設備(深圳)股份有限公司戰(zhàn)略合作發(fā)布會在深圳創(chuàng)投大廈矽電總部召開,同一時間,(中國)和矽電半導體宣布測試測量聯(lián)合實驗室正式成立。
2023-06-16 10:09:383242

半導體芯片測試/半導體可靠性測試

為什么要進行半導體芯片測試?芯片測試的目的是在找出沒問題的芯片的同時盡量節(jié)約成本。芯片復雜度越來越高,為了保證出廠的芯片質(zhì)量不出任何問題,需要在出廠前進行測試以確保功能完整性等。而芯片作為一個大
2022-12-29 16:33:294586

半導體測試系統(tǒng) 芯片自動化測試軟件 可定制測試方案ATECLOUD-IC

測試產(chǎn)品:芯片半導體器件。納米軟件ATECLOUD-IC芯片自動化測試系統(tǒng)適用于二極管、三極管、絕緣柵型場效應管、結型場效應管、單向和雙向可控硅、普通和高速光耦、整流橋、共陰共陽二極管及多陣列器件等各類半導體分立器件綜合性能自動化測試。
2023-06-20 16:55:172399

助力SiC功率半導體國產(chǎn)化替代,美浦森和攜手產(chǎn)業(yè)鏈合作共贏

。面對新材料、新器件和新特性在設計、生產(chǎn)和使用中的全新挑戰(zhàn), 結合多年在第三代半導體產(chǎn)業(yè)的豐富經(jīng)驗和領先的功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)為客戶提供支持服務 ,同時在北京成立第三代半導體測試實驗室,幫助行業(yè)內(nèi)客戶、合作
2023-09-04 12:20:011008

芯片測試大講堂——半導體參數(shù)測試與避坑指南

芯片測試大講堂系列 又和大家見面了 本期我們來聊聊 半導體參數(shù)測試 內(nèi)容涉及半導體參數(shù)測試原理, 參數(shù)測試面臨的挑戰(zhàn)與實測避坑指南。 前言 ● 半導體元器件是構成現(xiàn)代電子設備和系統(tǒng)的基礎,其性能
2023-09-13 07:45:025532

半導體靜態(tài)測試參數(shù)是什么?納米軟件半導體參數(shù)分析系統(tǒng)能否滿足測試指標?

半導體靜態(tài)測試參數(shù)是指在直流條件下對其進行測試,目的是為了判斷半導體分立器件在直流條件下的性能,主要是測試半導體器件在工作過程中的電流特性和電壓特性。ATECLOUD半導體測試系統(tǒng)采用軟硬件架構為測試工程師提供整體解決方案,此系統(tǒng)可程控,可以實現(xiàn)隨時隨地測試,移動端也可實時監(jiān)控測試數(shù)據(jù)情況。
2023-10-10 15:05:301926

納米軟件半導體測試廠家助力半導體分立器件動態(tài)參數(shù)測試

半導體動態(tài)測試參數(shù)是指在交流條件下對器件進行測試,是確保半導體性能、穩(wěn)定性和可靠性的重要依據(jù)。動態(tài)測試參數(shù)主要有開關時間、開關損耗、反向恢復電流、開關電流、耗散功率等。
2023-10-10 15:23:381135

如何用納米軟件半導體老化測試系統(tǒng)測試芯片老化?

芯片老化測試的目的是為了評估芯片長期在各種環(huán)境下工作的壽命、性能及可靠性,以確保芯片系統(tǒng)的工作穩(wěn)定性。往期我們分享了芯片老化測試的內(nèi)容及注意事項,今天我們將分享如何用納米軟件半導體老化測試系統(tǒng)測試芯片老化。
2023-10-16 15:49:321515

直播回顧 | 寬禁半導體材料及功率半導體器件測試

點擊上方 “科技” 關注我們! 寬禁材料是指禁帶寬度大于 2.3eV 的半導體材料,以Ⅲ-Ⅴ族材料等最為常見,典型代表有碳化硅 (SiC) 和氮化鎵 (GaN),這些半導體材料也稱為第三代
2023-11-03 12:10:021785

聯(lián)訊儀器WAT半導體參數(shù)測試系統(tǒng)簡介

聯(lián)訊儀器WAT 半導體參數(shù)測試系統(tǒng)基于自主研發(fā)pA/亞pA高精度源表,半導體矩陣開關,高電壓半導體脈沖源,3500V高壓源表等基礎儀表,掌握核心技術,通過優(yōu)化整機軟硬件設計,進一步提高系統(tǒng)精度,提升
2023-11-06 16:27:573508

芯微功率器件超薄芯片背道加工線項目投產(chǎn)

12月27日,浙江芯微半導體有限公司(以下簡稱“芯微”)功率器件超薄芯片背道加工線項目正式通線投產(chǎn)。
2023-12-29 10:20:371581

推出全新CAN XL協(xié)議解碼軟件

近日,知名測試測量設備供應商宣布,針對新一代CAN通信技術,特別推出了CAN XL協(xié)議解碼軟件。這一創(chuàng)新產(chǎn)品旨在幫助工程師輕松整合最新的CAN XL技術,確??蛻粼诳焖僮兓募夹g環(huán)境中保持領先地位,獲取競爭優(yōu)勢。
2024-03-25 11:47:091401

先進半導體開放實驗室再升級,開啟功率器件測試新篇章

創(chuàng)新實驗室V2.0設備再更新、能力再升級; 助力產(chǎn)業(yè)升級,主打 開放性,先進性,本地化 協(xié)作共贏; 線上線下多元化互動,直擊測試痛點。 先進半導體開放實驗室,作為北京先進半導體測試領域的領軍者
2024-05-16 17:14:30591

半導體分立器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

半導體分立器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)產(chǎn)品介紹 HUSTEC-DC-2010晶體管直流參數(shù)測試系統(tǒng)是由我公司技術團隊結合半導體功率器件測試的多年經(jīng)驗,以及眾多國內(nèi)外測試系統(tǒng)產(chǎn)品的熟悉了解后,自主開發(fā)
2024-05-21 10:37:570

先進半導體開放實驗室再升級, 開啟功率器件測試新篇章

創(chuàng)新實驗室V2.0設備再更新、能力再升級; 助力產(chǎn)業(yè)升級,主打開放性,先進性,本地化協(xié)作共贏; 線上線下多元化互動,直擊測試痛點。 2024年5月16日,中國北京?—— 先進半導體開放實驗室
2024-05-22 17:52:111133

信號發(fā)生器的半導體測試應用

隨著半導體技術的飛速發(fā)展,半導體測試變得越來越復雜和具有挑戰(zhàn)性。在這種情況下,信號發(fā)生器作為測試設備的一個組成部分,扮演了越來越重要的角色。信號發(fā)生器是一種高性能的信號發(fā)生器,廣泛應用于半導體
2024-10-22 16:58:44852

與遠山半導體合作推進1700V GaN器件

近日,科技與遠山半導體的合作再次取得了突破性進展,雙方共同對遠山半導體最新推出的1700V GaN(氮化鎵)器件進行了全面深入的測試與評估,取得了令人矚目的成果。 此次合作不僅驗證了遠山半導體
2025-01-20 11:07:33962

如何測試半導體參數(shù)?

半導體參數(shù)測試需結合器件類型及應用場景選擇相應方法,核心測試技術及流程如下: ? 一、基礎電學參數(shù)測試 ? ? 電流-電壓(IV)測試 ? ? 設備 ?:源測量單元(SMU)或?qū)S肐V測試儀,支持
2025-06-27 13:27:231152

半導體可靠性測試恒溫箱模擬嚴苛溫度環(huán)境加速驗證進程

,加速驗證半導體可靠性測試恒溫箱具備強大的環(huán)境模擬能力,可準確控制溫度、濕度等參數(shù),模擬出高溫、低溫、高溫高濕、低溫低濕等復雜自然環(huán)境。通過這種模擬,能加速芯片
2025-08-04 15:15:301126

科技攜手東方中科亮相PCIM Asia 2025

9月24日,PCIM Asia 2025在上海新國際博覽中心盛大開幕。(Tektronix)攜手合作伙伴東方中科,重磅亮相N5館F08展位,聚焦模擬半導體與寬禁半導體應用場景,全面展示全棧
2025-09-30 17:50:164640

示波器如何精準測量半導體SiC的動態(tài)特性

隨著第三代半導體材料SiC在新能源汽車、5G通信和工業(yè)控制等領域的廣泛應用,其動態(tài)特性的精準測量成為保障系統(tǒng)可靠性的關鍵。示波器憑借高帶寬、高速采樣率和專業(yè)的分析功能,為SiC器件的動態(tài)參數(shù)測試
2025-10-17 11:42:14231

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