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東芝WD聯(lián)盟3D NAND采用三星技術(shù)進(jìn)行量產(chǎn)

jf_1689824270.4192 ? 來源:電子發(fā)燒友網(wǎng) ? 作者:jf_1689824270.4192 ? 2019-12-13 10:46 ? 次閱讀
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Kioxia(原東芝存儲),西部數(shù)據(jù)(WD)聯(lián)盟3D NAND閃存使用三星電子技術(shù)進(jìn)行批量生產(chǎn)。

東芝開發(fā)的3D NAND技術(shù)“ BiCS”

很早之前,原東芝存儲就在國際會議VLSI研討會上首次分享了3D NAND閃存的單元技術(shù),該技術(shù)“ BiCS被稱為3D NAND閃存”。

BiCS技術(shù)有兩個功能。一種是稱為“插拔”。沖孔對應(yīng)于通道的大量長而窄的孔的過程,以及成為記憶孔內(nèi)部通道的多晶它由塊狀形成硅膜的過程。

另一種是稱為“門優(yōu)先”的過程。通過交替堆疊柵極薄膜(字線)和絕緣膜(單元之間的元件隔離膜)來形成3D NAND存儲單元。例如,當(dāng)垂直地堆疊64個閃存單元時,形成至少64對柵極薄膜(多晶硅膜)和絕緣膜。在“先柵”工藝中,將形成的柵薄膜(多晶硅膜)直接用于柵電極(字線)。

在3D NAND技術(shù)問世之前,東芝和WD(最初是SanDisk,但被WD收購)一直與NAND閃存聯(lián)合開發(fā)和批量生產(chǎn)合作。它仍然維持聯(lián)盟。兩家公司聯(lián)合生產(chǎn)具有相同結(jié)構(gòu)的閃存。

三星開發(fā)的3D NAND技術(shù)“ TCAT”

由三星電子開發(fā)并在學(xué)術(shù)會議上介紹的3D NAND技術(shù)稱為“ TCAT(Terabit單元陣列晶體管)”。TCAT還使用“打孔和即插即用”技術(shù),其基本概念與BiCS相同。區(qū)別在于柵電極的制造過程。TCAT獨(dú)立開發(fā)了一個稱為“門更換”或“最后門”的流程。

TCAT技術(shù)的“柵極替換”工藝使用氮化硅膜代替多晶硅膜作為柵極層。因此,首先,形成將膜間絕緣膜(材料為二氧化硅膜(以下稱為“氧化膜”)和氮化硅膜(以下稱為“氮化膜”)交替層疊的多層膜。內(nèi)存孔是通過堵塞形成的,通道中填充了多晶硅,這與到目前為止的BiCS技術(shù)相似。

這是與BiCS技術(shù)的主要區(qū)別。通過蝕刻在存儲孔之間的多層膜中形成切口(狹縫)。通過穿過縫隙進(jìn)行蝕刻來去除氮化物膜。然后,在側(cè)壁上形成將成為電荷陷阱(電荷陷阱)層,隧道層和阻擋層的柵極絕緣膜,并且在設(shè)置有氮化膜的部分的孔中填充金屬(鎢)。然后,通過蝕刻去除過量的鎢。

三星將其3D NAND閃存技術(shù)稱為“ V-NAND”。V-NAND技術(shù)基于TCAT技術(shù)。盡管與BiCS技術(shù)相比,該過程比較復(fù)雜,但它具有字線(柵電極)的電阻低的巨大優(yōu)勢。低字線電阻極大地有助于提高閃存的性能。

選擇三星技術(shù)以降低字線電阻

盡管存在上述情況,但東芝&WD聯(lián)盟仍采用了類似于TCAT的3D NAND閃存產(chǎn)品存儲單元結(jié)構(gòu)。

圖1:Western Digital(WD)就3D NAND閃存技術(shù)進(jìn)行了演講,幻燈片顯示了類似于三星TCAT技術(shù)的存儲單元結(jié)構(gòu),而不是東芝此前在國際會議上發(fā)布的BiCS技術(shù)的結(jié)構(gòu)。類似于TCAT技術(shù)的“門更換”過程。去除氮化物膜以形成柵極絕緣膜,并且掩埋鎢金屬(字線)。

圖2:Western Digital(WD)于2019年12月8日在IEDM的短期課程中發(fā)布了有關(guān)3D NAND閃存制造工藝的幻燈片。該過程從左到右進(jìn)行。從左邊開始的第三步是去除氮化膜(犧牲層)。接下來是嵌入鎢等的過程。

從東芝和WD看到的存儲單元結(jié)構(gòu)差異

實際上,在閃存行業(yè)中曾傳出謠言稱,東芝&WD聯(lián)盟在其產(chǎn)品中使用了三星的“柵極替換”工藝和鎢金屬柵極。東芝似乎有意將其隱藏了。

在查詢東芝相關(guān)存儲技術(shù)資料時,可知“ BiCS”技術(shù)和“打孔即插即用”技術(shù)得到了推進(jìn),而“門更換”過程并未受到影響。與之前不同的是,據(jù)說存儲單元結(jié)構(gòu)圖使用BiCS技術(shù)的多晶硅柵極(即先柵極工藝)。

然而,在2018年12月東芝存儲器發(fā)布的相關(guān)資料中,該門被描述為“金屬”,而被遮蓋為“控制門(CG)”從描述到現(xiàn)在,它已經(jīng)邁出了一步。但是,結(jié)構(gòu)圖本身仍然與常規(guī)BiCS相同。東芝已經(jīng)在學(xué)術(shù)會議上宣布了一種使用硅化物技術(shù)來降低字線電阻的技術(shù),因此這種“金屬”可能指的是硅化物技術(shù)。

另一方面,WD宣布3D NAND單元的結(jié)構(gòu)圖在2016年之前與東芝相似,但自2017年以來已更改,以反映“門更換”過程。

根據(jù)獲取和分析半導(dǎo)體芯片的服務(wù)公司TechInsights的說法,三星,SK hynix,東芝(WD)&WD聯(lián)盟在3D NAND閃存產(chǎn)品中采用了與TCAT類似的存儲單元技術(shù)。目前尚無法確定SK hynix是否已正式宣布這一點。

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