RTTLIT（實時瞬態(tài)鎖相熱分析系統(tǒng)），是基于鎖相熱成像（LIT）技術(shù)內(nèi)核。以“光與熱”突破性的檢測性能和多場景適配能力為電子半導(dǎo)體領(lǐng)域提供失效檢測的“卡脖子問題”。

RTTLIT 鎖相熱分析技術(shù)是通過創(chuàng)新周期性激勵源向目標物體施加特定頻率的電信號，促使物體產(chǎn)生同步的熱響應(yīng)。在此過程中，環(huán)境噪聲易對檢測信號造成干擾，而致晟光電擁有鎖相解調(diào)單元與專屬算法，能夠精準篩選出與激勵頻率相關(guān)的熱信號，有效過濾背景噪聲，實現(xiàn)對微弱熱信號的高效提取。

從此次優(yōu)化后從系統(tǒng)設(shè)計構(gòu)成來看，RTTLIT 鎖相熱分析由四大核心部件協(xié)同發(fā)力：周期性激勵源為檢測提供穩(wěn)定可控的能量基礎(chǔ)；高靈敏度紅外探測器負責(zé)捕捉物體的熱輻射信號，是實現(xiàn)高精度檢測的關(guān)鍵；鎖相解調(diào)單元承擔(dān)信號篩選與提純的核心職能；專業(yè)圖像處理軟件則將原始信號轉(zhuǎn)化為清晰直觀的缺陷圖像，為后續(xù)分析提供可視化支撐。這套高度集成的系統(tǒng)設(shè)計，確保了從信號激勵、捕捉到分析的全流程精準可控。

實時瞬態(tài)鎖相熱分析系統(tǒng)作為致晟光電的核心技術(shù)，RTTLIT 在性能指標上實現(xiàn)了行業(yè)領(lǐng)先的突破。其溫度靈敏度高達 0.0001°C，顯微分辨率低至 2μW，能夠捕捉到傳統(tǒng)設(shè)備難以察覺的微弱熱信號，即使是半導(dǎo)體器件內(nèi)部極其細微的缺陷所產(chǎn)生的熱輻射，也能被精準識別。更值得關(guān)注的是，RTTLIT 具備無損檢測的顯著優(yōu)勢，可在不破壞樣品結(jié)構(gòu)與性能的前提下，對各類封裝狀態(tài)的半導(dǎo)體器件進行全面檢測。這一特性不僅降低了企業(yè)的檢測成本，避免了因樣品損壞造成的研發(fā)延誤，更適用于批量生產(chǎn)中的質(zhì)量抽檢與成品驗證，大幅提升了檢測流程的效率與經(jīng)濟性。

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審核編輯 黃宇