onsemi NTMT045N065SC1碳化硅MOSFET深度解析
在電源管理和功率轉(zhuǎn)換領(lǐng)域,碳化硅(SiC)MOSFET以其卓越的性能逐漸成為電子工程師的首選。今天,我們就來(lái)深入探討一下安森美(onsemi)的NTMT045N065SC1碳化硅MOSFET。
文件下載:onsemi NTMT045N065SC1碳化硅 (SiC) MOSFET.pdf
1. 產(chǎn)品概述
NTMT045N065SC1是一款650V的碳化硅MOSFET,采用TDFN4 8x8 2P封裝。它具有低導(dǎo)通電阻、超低柵極電荷和低有效輸出電容等特性,適用于多種電源應(yīng)用。

主要參數(shù)
| 參數(shù) | 數(shù)值 |
|---|---|
| 最大漏源導(dǎo)通電阻($R_{DS(ON)}$) | 50mΩ @ 18V |
| 最大連續(xù)漏極電流($I_D$) | 55A |
| 總柵極電荷($Q_{G(tot)}$) | 105nC |
| 有效輸出電容($C_{oss}$) | 162pF |
2. 產(chǎn)品特性
低導(dǎo)通電阻
典型的$R{DS(on)}$在$V{GS}=18V$時(shí)為33mΩ,在$V_{GS}=15V$時(shí)為45mΩ。低導(dǎo)通電阻可以降低導(dǎo)通損耗,提高電源效率。大家在實(shí)際應(yīng)用中,有沒(méi)有感受到低導(dǎo)通電阻帶來(lái)的效率提升呢?
超低柵極電荷
$Q_{G(tot)} = 105nC$,這意味著在開(kāi)關(guān)過(guò)程中,驅(qū)動(dòng)該MOSFET所需的能量較少,從而降低了驅(qū)動(dòng)損耗,提高了開(kāi)關(guān)速度。
低有效輸出電容
$C_{oss}=162pF$,低輸出電容有助于減少開(kāi)關(guān)損耗,特別是在高頻應(yīng)用中。
雪崩測(cè)試
該器件經(jīng)過(guò)100%雪崩測(cè)試,具有良好的可靠性和抗雪崩能力,能夠在惡劣的工作環(huán)境下穩(wěn)定工作。
寬溫度范圍
工作結(jié)溫和存儲(chǔ)溫度范圍為 -55°C 至 +175°C,適用于各種工業(yè)和汽車(chē)應(yīng)用。
3. 最大額定值
| 參數(shù) | 條件 | 數(shù)值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 漏源電壓($V_{DSS}$) | - | 650 | V |
| 柵源電壓($V_{GS}$) | - | -8/+22 | V |
| 推薦柵源電壓($V_{GSop}$) | $T_c < 175°C$ | -5/+18 | V |
| 連續(xù)漏極電流($I_D$) | $T_c = 25°C$,穩(wěn)態(tài) | 55 | A |
| $T_c = 100°C$,穩(wěn)態(tài) | 39 | A | |
| 脈沖漏極電流($I_{DM}$) | $T_c = 25°C$ | 197 | A |
| 功率耗散($P_D$) | $T_c = 25°C$ | 187 | W |
| $T_c = 100°C$ | 94 | W |
在設(shè)計(jì)電路時(shí),一定要注意這些最大額定值,避免器件因過(guò)壓、過(guò)流等情況而損壞。大家在實(shí)際設(shè)計(jì)中,有沒(méi)有遇到過(guò)因?yàn)槌^(guò)額定值而導(dǎo)致器件損壞的情況呢?
4. 電氣特性
關(guān)斷特性
包括漏源擊穿電壓、漏源擊穿電壓溫度系數(shù)、零柵壓漏極電流和柵源泄漏電流等參數(shù)。這些參數(shù)反映了器件在關(guān)斷狀態(tài)下的性能。
導(dǎo)通特性
$R{DS(on)}$會(huì)隨著柵源電壓和溫度的變化而變化。在$V{GS}=15V$,$I_D = 25A$,$TJ = 25°C$時(shí),$R{DS(on)}$為45mΩ;在$V_{GS}=18V$,$I_D = 25A$,$TJ = 25°C$時(shí),$R{DS(on)}$為33mΩ。大家在選擇柵源電壓時(shí),是如何考慮$R_{DS(on)}$的變化的呢?
電荷、電容和柵極電阻
輸入電容$C{Iss}$、輸出電容$C{oss}$、反向傳輸電容$C{Rss}$、總柵極電荷$Q{G(tot)}$等參數(shù)對(duì)于開(kāi)關(guān)特性和驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)非常重要。
開(kāi)關(guān)特性
包括開(kāi)通延遲時(shí)間、上升時(shí)間、關(guān)斷延遲時(shí)間、下降時(shí)間、開(kāi)通開(kāi)關(guān)損耗和關(guān)斷開(kāi)關(guān)損耗等。這些參數(shù)決定了器件的開(kāi)關(guān)速度和開(kāi)關(guān)損耗。
源 - 漏二極管特性
包括連續(xù)源 - 漏二極管正向電流、脈沖源 - 漏二極管正向電流、正向二極管電壓、反向恢復(fù)時(shí)間、反向恢復(fù)電荷等參數(shù)。
5. 典型特性曲線(xiàn)
文檔中提供了多個(gè)典型特性曲線(xiàn),如導(dǎo)通區(qū)域特性、歸一化導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓的關(guān)系、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻與柵源電壓的關(guān)系等。這些曲線(xiàn)可以幫助工程師更好地理解器件的性能,優(yōu)化電路設(shè)計(jì)。大家在設(shè)計(jì)電路時(shí),會(huì)經(jīng)常參考這些典型特性曲線(xiàn)嗎?
6. 機(jī)械尺寸和封裝
該器件采用TDFN4 8.00x8.00x1.00, 2.00P CASE 520AB封裝,文檔中提供了詳細(xì)的封裝尺寸和推薦焊盤(pán)圖案。在進(jìn)行PCB布局時(shí),一定要注意封裝尺寸和引腳間距,確保焊接質(zhì)量和電氣性能。
7. 應(yīng)用領(lǐng)域
NTMT045N065SC1適用于多種電源應(yīng)用,如開(kāi)關(guān)模式電源(SMPS)、太陽(yáng)能逆變器、不間斷電源(UPS)和能量存儲(chǔ)等。這些應(yīng)用對(duì)電源效率、功率密度和可靠性要求較高,而該器件的特性正好滿(mǎn)足這些需求。
8. 總結(jié)
NTMT045N065SC1碳化硅MOSFET具有低導(dǎo)通電阻、超低柵極電荷、低有效輸出電容和寬溫度范圍等優(yōu)點(diǎn),適用于多種電源應(yīng)用。在設(shè)計(jì)電路時(shí),工程師需要根據(jù)具體的應(yīng)用需求,合理選擇器件參數(shù),注意最大額定值,參考典型特性曲線(xiàn),優(yōu)化PCB布局,以確保電路的性能和可靠性。大家在使用這款器件時(shí),有沒(méi)有什么獨(dú)特的設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)可以分享呢?
希望這篇文章對(duì)大家了解和使用NTMT045N065SC1碳化硅MOSFET有所幫助。如果大家有任何問(wèn)題或建議,歡迎在評(píng)論區(qū)留言交流。
-
MOSFET
+關(guān)注
關(guān)注
151文章
10654瀏覽量
234795 -
SiC
+關(guān)注
關(guān)注
32文章
3846瀏覽量
70049 -
碳化硅
+關(guān)注
關(guān)注
26文章
3537瀏覽量
52641
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
淺談硅IGBT與碳化硅MOSFET驅(qū)動(dòng)的區(qū)別
Onsemi碳化硅MOSFET NTH4L018N075SC1:高效能與可靠性的完美結(jié)合
探索 onsemi NVHL015N065SC1 SiC MOSFET:高效能與可靠性的完美結(jié)合
探索 onsemi NVHL025N065SC1:碳化硅 MOSFET 的卓越之選
onsemi碳化硅MOSFET NVHL045N065SC1:高性能與可靠性的完美結(jié)合
onsemi NVH4L095N065SC1碳化硅MOSFET:汽車(chē)電子應(yīng)用的理想之選
探索 onsemi NTHL075N065SC1 SiC MOSFET 的卓越性能
安森美NTH4L028N170M1碳化硅MOSFET深度解析
onsemi NVH4L060N065SC1碳化硅功率MOSFET的性能剖析與應(yīng)用指南
探索 onsemi NTH4L020N090SC1:高性能碳化硅 MOSFET 的卓越特性與應(yīng)用潛力
安森美650V碳化硅MOSFET:NTH4L075N065SC1的技術(shù)剖析
onsemi碳化硅MOSFET NTH4L075N065SC1:高效功率轉(zhuǎn)換的理想之選
onsemi碳化硅MOSFET NTBG060N065SC1:性能與應(yīng)用全解析
Onsemi碳化硅MOSFET NTHL060N065SC1的性能剖析與應(yīng)用指南
深入解析 onsemi NTHL045N065SC1 SiC MOSFET
onsemi NTMT045N065SC1碳化硅MOSFET深度解析
評(píng)論