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TDK SmartMotion Platform Ver. I硬件用戶指南解讀

h1654155282.3538 ? 2025-12-25 16:40 ? 次閱讀
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TDK SmartMotion Platform Ver. I硬件用戶指南解讀

在當今的電子設(shè)計領(lǐng)域,高效且功能強大的開發(fā)平臺對于傳感器算法軟件的開發(fā)至關(guān)重要。TDK的SmartMotion Platform Ver. I就是這樣一個值得關(guān)注的平臺,下面將詳細介紹其相關(guān)特性和使用要點。

文件下載:TDK InvenSense 用于ICM-45686 IMU的EV_ICM-45686評估板.pdf

一、平臺概述

TDK SmartMotion Platform Ver. I是一個針對TDK InvenSense運動傳感器設(shè)備的綜合開發(fā)系統(tǒng)。它圍繞Microchip SAMG55 MCU進行設(shè)計,用戶可以利用該平臺快速評估和開發(fā)基于InvenSense傳感器的解決方案。其一大亮點是集成了板載嵌入式調(diào)試器(EDBG),這意味著在對SAMG55 MCU進行編程或調(diào)試時無需外部工具。

此外,該平臺還配備了必要的軟件,如InvenSense MotionLink和嵌入式運動驅(qū)動程序(eMD)。MotionLink是一個基于GUI的開發(fā)工具,可用于捕獲和可視化運動傳感器的數(shù)據(jù);eMD則包含了一組API,用于配置平臺的各個方面,包括運動傳感器的參數(shù),如滿量程范圍(FSR)、輸出數(shù)據(jù)速率(ODR)、信號重定向到專用引腳、傳感器低通濾波器截止或報警位檢查等。同時,平臺支持Atmel Studio,并與Microchip Xplained Pro擴展板兼容,Xplained Pro擴展系列評估套件可提供額外的外設(shè),以擴展板卡的功能,簡化客戶設(shè)計的開發(fā)。

二、平臺特點與概述

2.1 特點概述

  • 集成傳感器:集成了TDK InvenSense運動傳感器,還支持通過插入子板(DB)連接磁傳感器。
  • 強大的微控制器:采用Microchip SAMG55微控制器,擁有512 KB Flash。
  • 調(diào)試與數(shù)據(jù)傳輸便利:板載嵌入式調(diào)試器(EDBG)可用于編程和調(diào)試,內(nèi)置FTDI USBUART接口,實現(xiàn)快速的運動傳感器數(shù)據(jù)傳輸。
  • 多種接口與供電方式:配備USB連接器,用于主機與軟件調(diào)試和數(shù)據(jù)記錄的接口,同時可通過USB為板卡供電。

2.2 平臺概述

TDK SmartMotion Platform Ver. I是一個用于TDK傳感器產(chǎn)品評估和算法軟件開發(fā)的硬件單元,可支持多種不同的應(yīng)用開發(fā)。

2.3 硬件用戶指南

該平臺與Microchip的SAM G55 Xplained Pro兼容,Atmel Xplained Pro用戶指南的鏈接為:http://www.atmel.com/Images/Atmel - 42389 - SAM - G55 - Xplained - Pro_User - Guide.pdf

三、傳感器與開發(fā)套件

平臺支持多種類型的TDK IMU和壓力傳感器,基于該平臺的開發(fā)套件(DK)如下: # DK PART NUMBER SUPPORTED SENSOR SMT IN
1 DK - 45605 ICM - 45605 U1
2 DK - 45686 ICM - 45686 U1

3.1 DK - 45605

DK - 45605是TDK IMU ICM - 45605的開發(fā)套件。ICM - 45605是一款高性能的6軸MEMS MotionTracking設(shè)備,具有可配置的主機接口,支持I3C、I2C和SPI串行通信,以及用于連接外部傳感器的I2C主模式接口,還具備高達8Kbytes的FIFO和2個可編程中斷。詳細的傳感器信息可參考ICM - 45605數(shù)據(jù)手冊。

3.2 DK - 45686

DK - 45686是TDK IMU ICM - 45686的開發(fā)套件。ICM - 45686是一款高性能的雙接口(UI + AUX)6軸MEMS MotionTracking設(shè)備,其可配置的主機接口支持I3C、I3CSM、I2C和SPI串行通信,AUX接口支持SPI從模式用于連接OIS控制器或I2C主模式用于連接外部傳感器,同樣具備高達8Kbytes的FIFO和2個可編程中斷。詳細信息可參考ICM - 45686數(shù)據(jù)手冊。

四、SmartMotion系統(tǒng)設(shè)計

4.1 系統(tǒng)框圖

板載的EDBG MCU AT32UC3A4256HHB - C1UR允許用戶在不使用外部工具的情況下對主MCU SAMG55進行調(diào)試、跟蹤和編程。系統(tǒng)框圖如下: System Block Diagram

4.2 主MCU SAMG55資源分配

SAMG55 RESOURCE USAGE
UART 0 (PA9/10/25/26) 默認情況下,UARTO連接到FTDI輸入。在J200上使用Extension - 1的情況下,可通過跳線J3斷開UARTO到FTDI的連接。
TW6(12C) (PB8/9) 用于通過CN2連接外部傳感器的主I2C線路。
SPI5 (PA11/12/13/14) SPI5主設(shè)備連接到TDK IMU傳感器,板載IMU傳感器/CS = PNCSO。
GPIO (INTs) PA17/18/20/30和PB15 用于傳感器中斷輸入和其他智能功能,具體可參考圖3中的表格。
TW4(12C) 主I2C與EDBG MCU從I2C通信。
UART6 用于EDBG DGI - UART接口。
UART7 用于EDBG CDC - UART接口。

4.3 連接器

CONNECTOR NAME CONNECTOR REF# CONNECTOR FUNCTION DESCRIPTIONS
Other Sensor DB CN2/CN3 用于磁傳感器的子板連接器,僅用于PC接口。
FTDI USB CN6 用于FTDI USB到串行UART接口的USB連接器。
EDBG LEDS D500/D501 EDBG指示燈,D500為綠色,D501為黃色。
Sensor I2C Selection J1 選擇主機PC連接,用于IM傳感器和其他傳感器。
PWR Source Select J2 板卡電源源選擇。
VDDIO Voltage Select J3 為VDDIO選擇3.3V、1.8V和1.2V之間的電壓電平。
Test pins J4 數(shù)字信號測試引腳。
SAMG55 USB J301 MCU SAM G55 USB連接器。
EDBG USB J500 EDBG MCU USB連接器。
User Button SW300 用戶按鈕連接到MCU GPIO,功能由用戶定義。
Reset Button SW301 復(fù)位按鈕:用于目標MCU和EDBG MCU的硬件復(fù)位。

4.4 跳線設(shè)置

JUMPER DESCRIPTION
J1 用于選擇哪個傳感器將連接到SAMG55主I2C,僅允許兩個跳線短路。引腳1/2和3/4上的跳線短路:IMU傳感器主I2C連接到SAMG55 I2C主設(shè)備;引腳5/6和7/8上的跳線短路:其他傳感器I2C連接到SAMG55 I2C主設(shè)備,在此配置下,TDK IMU傳感器連接到SAMG55 SPI主設(shè)備。
J2 用于板卡電源源選擇,僅允許一個跳線短路。引腳1/2上的跳線短路:板卡電源來自J500上的EDBG USB;引腳3/4上的跳線短路:板卡電源來自CN6上的FTDI USB;引腳5/6上的跳線短路:板卡電源來自J301上的SAMG55 USB。
J3 用于系統(tǒng)VDDIO電平選擇。引腳 - 1/2上的跳線短路:VDDIO = 3V3;引腳 - 3/2上的跳線短路:VDDIO = 1V8;引腳 - 4/2上的跳線短路:VDDIO = 1V2。
J4 J4具有作為測試點的數(shù)字信號。引腳 - 1:SPI/CS;引腳 - 2:SPI SCLK,I2C SCL;引腳 - 3:SPI MOSI,I2C SDA;引腳 - 4:SPI MISO,I2C AD0;引腳 - 5:INT1;引腳 - 6:INT2;引腳 - 7:GND。

五、原理圖與板卡PCB

5.1 原理圖

文檔中提供了系統(tǒng)的原理圖相關(guān)圖片,包括系統(tǒng)框圖、主MCU、嵌入式調(diào)試器以及傳感器、子板和評估板連接器等部分。

5.2 板卡PCB

展示了Ver. I PCB的頂視圖和底視圖。 Ver. I PCB Top view (left) and Bottom view (right)

六、總結(jié)

TDK SmartMotion Platform Ver. I為開發(fā)者提供了一個功能豐富、易于使用的開發(fā)平臺,可用于快速評估和開發(fā)基于TDK InvenSense傳感器的解決方案。通過對平臺的特點、支持的傳感器和開發(fā)套件、系統(tǒng)設(shè)計以及原理圖和PCB等方面的了解,開發(fā)者可以更好地利用該平臺進行相關(guān)項目的開發(fā)。在使用過程中,需要注意DK板卡僅適用于室溫下的基本傳感器產(chǎn)品評估和軟件開發(fā),若需要在產(chǎn)品數(shù)據(jù)手冊規(guī)定的溫度范圍內(nèi)進行傳感器評估或特性測試,需向TDK FAE或銷售聯(lián)系人獲取評估板(EVB)。

大家在使用這個平臺的過程中,有沒有遇到過什么特別的問題呢?或者對于某些功能有更好的應(yīng)用思路,歡迎在評論區(qū)分享交流。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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