0 引言

近年來(lái)，電動(dòng)汽車、高鐵和航空航天領(lǐng)域不斷發(fā)展，對(duì)功率器件/模塊在高頻、高溫和高壓下工作的需求不斷增加。傳統(tǒng)的 Si 基功率器件/模塊達(dá)到其自身的材料性能極限，氮化鎵(GaN)作為第三代寬禁帶半導(dǎo)體材料具有高耐溫、高耐壓及高開關(guān)速率的優(yōu)點(diǎn)逐漸成為研究熱點(diǎn)。圖 1所示是三代半導(dǎo)體材料性能對(duì)比圖。然而封裝技術(shù)為充分發(fā)揮 GaN 的材料優(yōu)勢(shì)帶來(lái)了挑戰(zhàn)。

首先，GaN 器件的開關(guān)速度極高，如果使用傳統(tǒng)引線鍵合封裝型式會(huì)帶來(lái)較大的封裝雜散電感，繼而產(chǎn)生顯著的開關(guān)損耗、電壓過(guò)沖等問(wèn)題。這無(wú)法滿足 GaN 器件的高頻應(yīng)用需求。為此，國(guó)內(nèi)如北京工業(yè)大學(xué)(Beijing University of Technology, China)，國(guó)外如韓國(guó)電子通信研究院 (Electronic Technology Research Institute, Korean)、美國(guó)弗吉尼亞理工大學(xué)(Virginia Tech, USA)等高校和研究機(jī)構(gòu)相繼提出了調(diào)整引線級(jí)聯(lián)的方式降低雜散電感的研究思路，但效果有限。隨后為進(jìn)一步解決這一突出難題，美國(guó)弗吉尼亞理工大學(xué)、德國(guó)埃爾朗根-紐約堡大學(xué)(Erlangen Nurnberg University, German)和韓國(guó)漢陽(yáng)大學(xué)(Hanyang University, Korean)等相繼提出了二維平面型無(wú)引線封裝型式。為進(jìn)一步縮短電流環(huán)路面積，德國(guó)弗勞恩霍夫可靠性與微集成研 究 所 (Fraunhofer Institute for Reliability and Microintegration IZM, German)、美國(guó)東哈特福德聯(lián)合技術(shù)研究中心(Systems Department United Technologies Research Center East Hartford, USA)、 丹 麥 奧 爾 堡 大 學(xué) (Aalborg University, Denmark)和美國(guó)弗吉尼亞理工大學(xué)等進(jìn)一步探索了三維集成型無(wú)引線封裝型式。此外，美國(guó)弗 吉尼亞 理工大 學(xué) 、美 國(guó) EPC(Efficient Power Conversion)公司、韓國(guó)漢陽(yáng)大學(xué)等公司和高校基于磁相消設(shè)計(jì)的理念提出降低雜散電感的優(yōu)化方案。

其次，隨著 GaN 功率器件/模塊朝著高功率密度化、高集成化方向發(fā)展，其熱流密度越來(lái)越大。而且加之 GaN 材料本身熱導(dǎo)率低，由此引發(fā)的封裝引線熱燒損和 GaN 芯片熱擊穿等問(wèn)題突出。因此，GaN 功率器件/模塊封裝需要具備快速、高效散熱能力。欲加入三代半交流群，加微信：tuoke08。國(guó)內(nèi)如西安交通大學(xué)(Xi’an Jiaotong University, China)，國(guó)外如法國(guó)巴 黎 第 十 一 大 學(xué) (University Paris-Sud, France)、 美 國(guó) 威 斯 康 星 大 學(xué) 麥 迪 遜 分 校(University of Wisconsin-Madison, USA)、德國(guó)英飛凌公司(Infineon, German)等高校和公司分別對(duì)傳統(tǒng)遠(yuǎn)結(jié)被動(dòng)冷卻封裝形式改進(jìn)設(shè)計(jì)優(yōu)化GaN 功率器件/模塊的散熱，但是依然不能滿足其更高熱流密度的工作需求。為此，美國(guó)休斯研究室(Hughes Research Laboratories, USA)和德國(guó)弗勞恩霍夫可靠性與微集成研究所相繼提出以扇出式晶圓級(jí)封裝結(jié)構(gòu)為主的近結(jié)被動(dòng)冷卻封裝形式，已經(jīng)引起廣泛的關(guān)注。此外，日本松下電氣公司(Panasonic, Japan)和美國(guó)洛克希德·馬丁任務(wù)系統(tǒng)與訓(xùn)練分公司(Lockheed Martin Mission System and Training, USA)還提出將散熱系統(tǒng)與 GaN 功率器件集成的改良型近結(jié)主動(dòng)冷卻封裝形式，散熱效率大幅提升。

最后，芯片封裝互連材料是保證 GaN 功率器件/模塊高溫下可靠使用的關(guān)鍵。然而功率器件/模塊中常用的釬料合金在高溫工作條件下存在抗蠕變疲勞性能和抗機(jī)械疲勞性能差等問(wèn)題。為了解決這些問(wèn)題，德國(guó)弗萊堡大學(xué)(UniversityFreiburg, German)講錫銀合金的瞬時(shí)液相連接應(yīng)用在 GaN 芯片封裝中，并獲得高連接質(zhì)量的接頭，但是工藝復(fù)雜，成本高。近年來(lái)，低溫?zé)Y(jié)銀互連由于具有低燒結(jié)工藝溫度、高允許工作溫度的優(yōu)勢(shì)而被廣泛關(guān)注。日本大阪大學(xué)(Osaka University, Japan)將燒結(jié)銀作為連接材料，應(yīng)用在 GaN 芯片的封裝中，并分別針對(duì)芯片連接層結(jié)構(gòu)和基板表面鍍層做了相關(guān)研究。

綜上，本文以 GaN 芯片的封裝技術(shù)為核心，基于現(xiàn)有文獻(xiàn)資料，總結(jié)分析 GaN 功率器件/模塊在雜散電感、散熱設(shè)計(jì)以及可靠性方面遇到的問(wèn)題及解決方案，同時(shí)分析并指出未來(lái)GaN 功率器件/模塊封裝技術(shù)的熱點(diǎn)研究方向。期望通過(guò)提出該領(lǐng)域亟待解決的問(wèn)題以及研究展望，為今后研究提供思路。

1 GaN 基功率器件/模塊封裝需求

雖然 GaN 基功率器件/模塊的封裝研究剛起步，但 Si 基、SiC 基功率器件/模塊的封裝研究趨于成熟。三者之間存在顯著差異，亦有相互借鑒之處。

首先在減小封裝雜散電感方面，SiC 和 GaN基功率器件/模塊相比于 Si 基，其開關(guān)速度更快，同時(shí)伴隨著更高的 dv/dt 和 di/dt。此外，兩者的開關(guān)頻率也更高。因此，SiC 和 GaN 更易產(chǎn)生電壓過(guò)沖和電磁干擾等問(wèn)題。以 GaN 器件為例，其 dv/dt 一般可以超過(guò) 100V/ns。例如，2016 年，美國(guó)弗吉尼亞理工大學(xué)制作的無(wú)引線封裝 Cascode GaN HEMT 器件具有極高的開關(guān)速度，關(guān)斷時(shí)的 dv/dt 和 di/dt 分別可達(dá) 100V/ns和 3A/ns。由于該器件是分立 GaN 器件，其開關(guān)速度依然有提升的潛力。2021 年，美國(guó)紐約州立大學(xué)石溪分校(The State University of NewYork at Stony Brook, USA)將柵極驅(qū)動(dòng)集成到模塊中去，縮短驅(qū)動(dòng)環(huán)路和功率環(huán)路，進(jìn)一步提高開關(guān)速度。該成果是目前開關(guān)速度最快的 GaN功率模塊：關(guān)斷時(shí)間小于 15ns，關(guān)斷時(shí) dv/dt 達(dá)192V/ns，電壓過(guò)沖僅為 58V，低于直流母線電壓的 15%。引線鍵合封裝型式雖然可以滿足 Si基器件/模塊的使用要求，但不能滿足 SiC 基和GaN 基器件/模塊。而且，在 Cascode GaNHEMT 中，由于涉及到 GaN HEMT 與 MOSFET的級(jí)聯(lián)，雜散電感會(huì)更大。因此，GaN 基功率器件/模塊對(duì)低雜散電感封裝需求更加迫切。其次在封裝散熱管理方面，GaN 材料熱導(dǎo)率在三者之中最低，而且同功率等級(jí)下 GaN 器件的面積往往更小。雖然當(dāng)前 GaN 功率器件/模塊的功率等級(jí)低于 SiC 基功率器件/模塊，但為降低封裝雜散電感，GaN 功率器件/模塊通常要求將其驅(qū)動(dòng)電路部分甚至完全與 GaN 功率器件/模塊一體化集成，并且隨著 GaN 功率器件/模塊不斷發(fā)展，功率等級(jí)不斷提升，因此其熱流密度非常高。而且加之目前 GaN 芯片多為平面型結(jié)構(gòu)，其散熱形式主要為單面散熱，散熱效率低，當(dāng)前封裝無(wú)法滿足高熱流密度下快速、高效的散熱要求。因此，不難看出 GaN 功率器件/模塊對(duì)快速、高效封裝散熱技術(shù)的需求甚至要高于 SiC 基功率器件/模塊。此外，商用的 GaN 芯片在使用過(guò)程中通常將源極與芯片襯底相連，以降低動(dòng)態(tài)導(dǎo)通電阻，獲得最好的電性能。因此，在多芯片功率模塊的散熱設(shè)計(jì)中，既要保證 GaN 芯片位置合理分布而減小芯片間溫差，又要保證基板的線路布局合理降低阻抗，這不同于垂直型Si 基和 SiC 基 MOSFET 器件。最后在封裝可靠性方面，雖然 GaN 芯片與封裝互連材料間的熱膨脹系數(shù)(CTE)失配相比于 Si 和 SiC 芯片更小，且 GaN 芯片彈性模量比 SiC 低，與 Si 近似，相對(duì)不易產(chǎn)生封裝互連失效，但以往研究發(fā)現(xiàn)在功率循環(huán)和溫度循環(huán)等老化條件下，熱失配造成封裝互連失效問(wèn)題依然嚴(yán)重。如表 1 所示為Si、SiC 和 GaN 熱導(dǎo)率、楊氏模量和熱膨脹系數(shù)的對(duì)比。這可能是由于 GaN 功率器件/模塊的高熱流密度帶來(lái)的大溫度梯度加劇了封裝連接層產(chǎn)生顯著的熱機(jī)械應(yīng)力和應(yīng)變，因此，針對(duì)GaN 功率器件/模塊的封裝可靠性研究仍然非常迫切。

2 封裝雜散電感

2.1 雜散電感的來(lái)源與影響

雜散電感是由于不同線路之間存在自感和互感現(xiàn)象而呈現(xiàn)出來(lái)的等效電感。如圖 2 所示，在閉合的電流環(huán)路中，變化的電流會(huì)產(chǎn)生感應(yīng)磁場(chǎng)，繼而產(chǎn)生感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)阻礙原始電流的變化，這就是自感現(xiàn)象。雜散電感是閉合環(huán)路的固有屬性，有電流通過(guò)的地方就有雜散電感，所以只能通過(guò)封裝技術(shù)將其減小而不能完全消除。

雜散電感對(duì) GaN 功率器件/模塊產(chǎn)生的影響：降低開關(guān)速度，產(chǎn)生開關(guān)延時(shí)，增加開關(guān)損耗。此外，在關(guān)斷過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生 VGS尖峰電壓導(dǎo)致誤觸發(fā)。以 Cascode GaN HEMT 的導(dǎo)通和關(guān)斷過(guò)程為例，分析雜散電感產(chǎn)生的影響。雜散電感使得 Cascode GaN HEMT 在導(dǎo)通過(guò)程中，產(chǎn)生導(dǎo)通延時(shí)，導(dǎo)通損耗增加。圖 3(a)是 CascodeGaN HEMT 電路導(dǎo)通過(guò)程示意圖。在 Cascode結(jié)構(gòu)中，D 型 GaN HEMT 由 MOSFET 驅(qū)動(dòng)控制，MOSFET 導(dǎo)通，Cascode 結(jié)構(gòu)導(dǎo)通。隨著IDS的增大，雜散電感 Lint1和 Lint3會(huì)產(chǎn)生與 IDS方向相反的感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)，從而導(dǎo)致 VGS_GaN 的變化滯后于 VSD_Si。以 Cascode GaN HEMT 制作的降壓變化器為例，在 400V/4.5A 工作條件下導(dǎo)通時(shí)，雜散電感使導(dǎo)通時(shí)間從 3.5ns 增加到 7ns，導(dǎo)通損耗從 8W 增加到 16W。

雜散電感使 Cascode GaN HEMT 關(guān)斷過(guò)程中，產(chǎn)生 VGS尖峰電壓而導(dǎo)致誤觸發(fā)。圖 3(b)是Cascode GaN HEMT 電路關(guān)斷過(guò)程示意圖。隨著IDS的減小，雜散電感 Lint1和 Lint3會(huì)產(chǎn)生與 IDS方向相同的感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)。由基爾霍夫電壓定律得：

VGS_GaN=VSD_Si+VLint1+VLint2+VLint3 (1)

式中 VGS_GaN 是 GaN 的柵-源電壓，VSD_Si 是Si MOSFET 的源-漏電壓，VLint1、VLint2、VLint3分別是雜散電感產(chǎn)生的感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)。以 CascodeGaN HEMT 制作的降壓變化器為例，在 400V/12A 工作條件下關(guān)斷時(shí)，雖然 VSD_Si因?yàn)殂Q位作用被限制-30V，但是 VGS_GaN 卻產(chǎn)生-5V 的尖峰電壓，不僅會(huì)造成誤觸發(fā)，還有使柵極被擊穿的危險(xiǎn)，影響 Cascode GaN HEMT 的可靠使用。因此，要通過(guò)合理的封裝方法減小雜散電感。

2.2 如何減小封裝雜散電感

2.2.1 調(diào)整引線級(jí)聯(lián)方式

這種方法主要適用于Cascode GaN HEMT，因?yàn)槠涞湫偷募?jí)聯(lián)方式是使用引線將MOSFET的漏極、源極分別與D型GaN HEMT的源極、柵極連接。而E型GaN HEMT功率器件/模塊不涉及晶體管之間的級(jí)聯(lián)，只有串聯(lián)或并聯(lián)的形式，所以無(wú)法進(jìn)一步調(diào)整。在功率模塊的拓?fù)潆娐分?，一般將同時(shí)存在于功率環(huán)路和驅(qū)動(dòng)環(huán)路的雜散電感定義為共源極電感(CSI)，不同的共源電感對(duì)開關(guān)速度和開關(guān)過(guò)程損耗的影響程度是不同的。將共源極電感的概念應(yīng)用到Cascode GaN HEMT中同樣適用。以Cascode GaN HEMT 結(jié)構(gòu)的TO型封裝為例，圖4是其導(dǎo)通過(guò)程的電流流向。從MOSFET的角 度 看 ， Lint3和 LS是 共 源 極 電 感 ;從D 型 GaN HEMT的角度看Lint3和Lint1是共源極電感。因此，從整個(gè)Cascode GaN HEMT結(jié)構(gòu)來(lái)看，Lint3同時(shí)是MOSFET和D型GaN HEMT的共源極電感，所以它的影響最大。其次是Lint2，因?yàn)樗挥贒型GaNHEMT的驅(qū)動(dòng)環(huán)路中，會(huì)影響GaN HEMT的導(dǎo)通速度 。所 以共 源極 雜 散電 感的 影響 程 度依 次為L(zhǎng)int3?Lint1?LS。這就為我們提供了解決問(wèn)題的思路：通過(guò)調(diào)整引線的連接方式，優(yōu)先并依次減小共源極電感Lint3、Lint1、LS。

首先，應(yīng)考慮消除影響最大的共源電感Lint3。例如，2014年，北京工業(yè)大學(xué)通過(guò)改變Lint2的連接方式成功消除了共源電感 Lint3。如圖 5(a)所示，引線 Lint2的作用是連接 D 型 GaN HEMT 的柵極與 MOSFET 的源極，使 MOSFET 為 GaNHEMT 提供驅(qū)動(dòng)電壓。如圖 5(b)所示，現(xiàn)將 D型 GaN HEMT 的柵極與 MOSFET 的源極直接用引線相連，再由 MOSFET 的源極引線連接到源極 的 端 子 處 。這 樣 Lint3 被 剔 除 到 D 型 GaN HEMT 驅(qū)動(dòng)環(huán)路之外，共源極電感只剩 Lint1。此外，2016 年，韓國(guó)電子通信研究院通過(guò)在 D 型GaN HEMT 柵極和 MOSFET 的源極之間增加單根引線(Lint4)，成功減小了共源電感 Lint3。如圖 5(d)所示，增加單根引線 Lint4以后圖中的藍(lán)色虛框線內(nèi)是一個(gè)?型網(wǎng)絡(luò)?；诖骶S南定理，π型網(wǎng)絡(luò)和圖 5(e)中綠色虛框線內(nèi)的 T 型網(wǎng)絡(luò)等效。綠色框線內(nèi)的等效電感 Lint3’小于 Lint3。結(jié)果表明，改變 Lint2的連接方式這種方法簡(jiǎn)單有效，完全消除了共源極電感 Lint3的影響，而增加單根引線 Lint4只是減小了共源極電感 Lint3的電感值，其影響仍然存在。

其次，按順序消除共源極電感 Lint1。Lint1的作用是連接 D 型 GaN HEMT 的源極和 MOSFET的漏極。如圖 5(c)所示，2016 年，美國(guó)弗吉尼亞理工大學(xué)將 MOSFET 的漏極直接焊接到 D 型GaN HEMT 的源極上，制作堆疊芯片結(jié)構(gòu)可將Lint1消除。

最后，Cascode GaN HEMT 結(jié)構(gòu) TO 型封裝中共源極電感只剩下 LS。LS是柵極引腳產(chǎn)生的雜散電感，使用 PQFN 型封裝可以將 LS消除。此外，如圖 5(f)所示，在 PQFN 封裝中引入開爾文(Kelvin)電極，可以將 MOSFET 的驅(qū)動(dòng)環(huán)路和功率環(huán)路解耦，共源極電感只有 Lint3、Lint1，其消除方法同 TO 型封裝一致。調(diào)整引線級(jí)聯(lián)方式仍然屬于有引線封裝結(jié)構(gòu)的范疇，要想進(jìn)一步降低雜散電感，勢(shì)必要開發(fā)無(wú)引線封裝型式。

2.2.2 無(wú)引線封裝型式代替引線互連

無(wú)引線封裝型式對(duì) Cascode GaN HEMT、E型 GaN HEMT 功率器件/模塊都適用。鍵合線產(chǎn)生的雜散電感通常在納亨(nH)級(jí)別。以引線鍵合封裝型式的 TO-220 封裝為例，雜散電感?10nH，這嚴(yán)重限制了 GaN HEMT 在高頻下的開關(guān)性能。因此，許多研究人員考慮采用無(wú)引線封裝型式。無(wú)引線封裝型式能降低雜散電感的原因有二。其一，消除引線，增大了電流流過(guò)導(dǎo)體的橫截面積，電感減小。其二，減小整個(gè)電流環(huán)路的面積，電感減小。感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的計(jì)算公式如式(2):

式中 Δ? 為磁通量的變化量， Δt 為時(shí)間的變化量。由此可知，環(huán)路面積越小，單位時(shí)間內(nèi)通過(guò)的磁感線越少，產(chǎn)生的感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)越小，電感越小。

無(wú)引線封裝型式分為兩大類：二維平面結(jié)構(gòu)和三維集成結(jié)構(gòu)。二維平面結(jié)構(gòu)通過(guò)增大電流流過(guò)導(dǎo)體截面積來(lái)降低雜散電感。例如，2016年，美國(guó)弗吉尼亞理工大學(xué)提出使用薄銅片代替引線的研究設(shè)想。2018 年，德國(guó)埃爾朗根-紐約堡大學(xué)成功使用銅引線框架封裝 GaN 功率模塊。2020 年，韓國(guó)漢陽(yáng)大學(xué)針對(duì)平面型 GaN芯片提出全覆蓋互連的新概念。其中，薄銅片的橫截面積最小，對(duì)雜散電感減小的效果最差。銅引線框架在薄片狀的基礎(chǔ)之上增加了厚度，在降低雜散電感的同時(shí)，提升了電極處的散熱效率。全覆蓋互連結(jié)構(gòu)在銅引線框架的基礎(chǔ)之上制作與電極形狀相近的圖形，以最大的面積覆蓋電極，增大電極處導(dǎo)體的截面積，進(jìn)一步降低雜散電感。圖 6 為二維平面結(jié)構(gòu)的發(fā)展歷程。

由E型GaN HEMT組成的功率模塊電流環(huán)路中會(huì)存在集成電容等分立器件，它們會(huì)占據(jù)一定空間，要想實(shí)現(xiàn)更小的電流環(huán)路面積，就要考慮三維集成結(jié)構(gòu)，形成垂直電流環(huán)路。圖7為三維集成結(jié)構(gòu)的發(fā)展歷程。例如，2016年，德國(guó)弗勞恩霍夫可靠性與微集成研究所開展了GaN芯片嵌入式PCB/DBC混合結(jié)構(gòu)的研究，極大減小了電流環(huán)路面積，環(huán)路雜散電感可低至0.43nH。2018年，美國(guó)東哈特福德聯(lián)合技術(shù)研究中心也開展了將E型GaN HEMT嵌入到多層PCB基板中的研究。但是芯片嵌入式結(jié)構(gòu)的熱阻以及制造工藝復(fù)雜程度都較高。為了降低熱阻以及降低制造工藝的復(fù)雜程度，2018年，丹麥奧爾堡大學(xué)和2020年，弗吉尼亞理工大學(xué)分別針對(duì)兩種不同的三維集成的芯片非嵌入式結(jié)構(gòu)展開了研究。相比于芯片嵌入式結(jié)構(gòu)，其電流環(huán)路的路徑以及面積都增大，雜散電感雖然有所增大，但增幅并不明顯。目前，美國(guó)弗吉尼亞理工大學(xué)在2020年提出的PCB插入器式結(jié)構(gòu)是GaN功率器件較為先進(jìn)的封裝結(jié)構(gòu)，能最大限度同時(shí)保證低熱阻和低雜散電感。

2.2.3 拓?fù)潆娐反畔嘞O(shè)計(jì)

這種方法同時(shí)適用于傳統(tǒng)的引線鍵合封裝型式和無(wú)引線鍵合封裝型式。前文介紹到雜散電感分為自感和互感。互感是指當(dāng)一個(gè)電流回路中電流發(fā)生變化時(shí)，其產(chǎn)生的磁場(chǎng)會(huì)在臨近的電流回路中產(chǎn)生感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)，影響其電流的變化。如圖8(a), (b)所示是線路 1 產(chǎn)生的磁場(chǎng)對(duì)線路 2 的影響。當(dāng)線路 1 和線路 2 電流方向相同時(shí)，線路 2雜散電感為式(3):

L總 = L自 + M 互

當(dāng)線路 1 和線路 2 電流方向相反時(shí)，線路 2雜散電感為式(4):

L總 = L自-M 互 (4)

基于互感的原理，可通過(guò)設(shè)計(jì)使得相鄰的電流回路方向相反，這樣相鄰的兩個(gè)電流回路產(chǎn)生磁相消，達(dá)到降低電感的目的。

拓?fù)潆娐反畔嘞O(shè)計(jì)主要通過(guò)基板實(shí)現(xiàn)。在GaN功率器件/模塊中常用到以印制電路板(PCB)、直接覆銅基板(DBC)、絕緣金屬基板(IMS)三種基板。例如，2013年，美國(guó)弗吉尼亞理工大學(xué)基于磁相消設(shè)計(jì)原理，使用PCB基板制作了E型GaNHEMT功率模塊，環(huán)路電感低至0.2nH。如圖9(a)所示，E型GaN HEMT可以和輸入電容、驅(qū)動(dòng)芯片等器件放置在PCB基板的上下兩面，既能實(shí)現(xiàn)磁相消設(shè)計(jì)，又能縮小電流回路的面積。例如，2014年，美國(guó)EPC公司提出了將多層PCB基板的第一內(nèi)層作為電流的返回路徑的方案，可減小電流線路之間的距離，起到增大互感的作用，同時(shí)大幅縮短了電流回路的面積。如圖9(b)所示。改進(jìn)后雜散電感從1nH下降至0.4nH左右。同樣，2019年，韓國(guó)漢陽(yáng)大學(xué)提出了在PCB基板上制作過(guò)孔，形成垂直的電流環(huán)路的新思路，并在此基礎(chǔ)上改進(jìn)電路布局進(jìn)一步降低了雜散電感。值得注意的是，PCB基板雖然易于實(shí)現(xiàn)磁相消設(shè)計(jì)，但是熱導(dǎo)率低的缺點(diǎn)是限制其在GaN功率器件/模塊中應(yīng)用的主要障礙。IMS基板與PCB基板有類似的地方，它是在金屬基板上層壓絕緣材料，繼而層壓銅箔，通過(guò)特定工藝在銅箔上刻蝕出一定走線形狀。IMS基板根據(jù)自身的特點(diǎn)可利用其底部的金屬基板進(jìn)行電磁屏蔽，降低雜散電感的影響。IMS基板不需要復(fù)雜的布局和結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)就能達(dá)到低雜散電感的要求，這是其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)[39]。此外，DBC基板也可以通過(guò)多層制作實(shí)現(xiàn)垂直環(huán)路的磁相消設(shè)計(jì)。例如，2015年，日本富士電機(jī)公司(Fuji Electric Company)就利用了垂直環(huán)路磁相消的設(shè)計(jì)原理，已經(jīng)開展了采用多層DBC封裝硅基功率模塊的研究。但目前該方法在GaN功率器件/模塊中的研究尚未見報(bào)道。

2.3 小結(jié)與展望

雜散電感嚴(yán)重限制了 GaN 發(fā)揮其高開關(guān)速度的優(yōu)勢(shì)。為了減小雜散電感帶來(lái)的影響，在GaN 功率器件/模塊中減小雜散電感主要有三個(gè)思路，分別是調(diào)整引線的級(jí)聯(lián)方式、開發(fā)無(wú)引線封裝型式以及通過(guò)優(yōu)化拓?fù)潆娐返慕Y(jié)構(gòu)，利用互感的作用降低雜散電感。調(diào)整引線的級(jí)聯(lián)方式這種思路只適用于 Cascode GaN HEMT，而且對(duì)雜散電感的減小有限，其效果也遠(yuǎn)低于無(wú)引線封裝型式。同時(shí)，降低雜散電感影響的整個(gè)研究歷程也是從傳統(tǒng)的引線鍵合封裝型式發(fā)展到無(wú)引線封裝型式，在未來(lái)無(wú)引線封裝型式將代替?zhèn)鹘y(tǒng)的引線鍵合封裝型式。目前 Cascode GaN HEMT 的無(wú)引線封裝型式只有一種：使用薄銅片代替引線。這種方式對(duì)雜散電感的降低效果有限，有待進(jìn)一步開發(fā)更多的針對(duì) Cascode GaN HEMT 的無(wú)引線封裝型式。E 型 GaN HEMT 功率器件/模塊的無(wú)引線封裝型式目前有很多種，為進(jìn)一步縮短電流環(huán)路的面積，封裝結(jié)構(gòu)從二維平面型結(jié)構(gòu)發(fā)展到三維集成結(jié)構(gòu)。三維集成結(jié)構(gòu)在降低雜散電感的同時(shí)也極大減小了模塊的尺寸，具有發(fā)展?jié)摿?。調(diào)整引線級(jí)聯(lián)方式和無(wú)引線封裝型式這兩種方法的思路都是從結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)上出發(fā)，而拓?fù)潆娐反畔嘞O(shè)計(jì)則是從自感和互感的機(jī)理出發(fā)降低雜散電感，方法簡(jiǎn)單、有效。在未來(lái)，設(shè)計(jì)制作三維集成結(jié)構(gòu)，同時(shí)對(duì)拓?fù)潆娐愤M(jìn)行合理布局使其產(chǎn)生磁相消，是 GaN 功率器件/模塊降低雜散電感的主要研究方向。

3 封裝散熱設(shè)計(jì)

以往研究發(fā)現(xiàn)，GaN HEMT 的自熱效應(yīng)非常顯著。如圖 10(a)所示，在 GaN 晶體管中，具有高電子遷移率的二維電子氣(2DEG)被限制在AlGaN 和 GaN 的產(chǎn)生的異質(zhì)結(jié)接觸面內(nèi)，這使得其熱流密度非常大，尤其在柵極靠近漏極處的狹長(zhǎng)區(qū)域內(nèi)，會(huì)產(chǎn)生大量的焦耳熱。圖10(b)—(d)分別為自熱效應(yīng)造成引線的熱燒損以及 GaN HEMT 的熱擊穿現(xiàn)象，需要通過(guò)合理設(shè)計(jì)封裝結(jié)構(gòu)，及時(shí)將熱量從熱源位置傳遞出去。因此，GaN 器件/模塊的封裝散熱設(shè)計(jì)至關(guān)重要。目前針對(duì) GaN 功率器件/模塊的封裝散熱設(shè)計(jì)可以分為 3 大類：遠(yuǎn)結(jié)被動(dòng)冷卻封裝結(jié)構(gòu)、近結(jié)被動(dòng)冷卻封裝結(jié)構(gòu)、近結(jié)主動(dòng)冷卻封裝結(jié)構(gòu)。

3.1 遠(yuǎn)結(jié)被動(dòng)冷卻封裝結(jié)構(gòu)

被動(dòng)冷卻是通過(guò)熱傳導(dǎo)的方式，靠熱量自身從高溫物體傳遞到低溫物體，完成散熱。在傳統(tǒng)的封裝結(jié)構(gòu)中，熱量傳遞路徑一般經(jīng)過(guò)芯片連接材料、基板、導(dǎo)熱膠到熱沉，所以又叫遠(yuǎn)結(jié)被動(dòng)冷卻。因此，降低傳熱路徑上各介質(zhì)的熱阻可以增大熱量的傳遞效率。目前在 GaN 功率器件/模塊中都是針對(duì)封裝基板進(jìn)行改進(jìn)設(shè)計(jì)，降低熱阻，提升其散熱性能。前文介紹到在 GaN 功率器件/模塊中，最常用的是印制電路板(PCB)、直接覆銅基板(DBC)、絕緣金屬基板(IMS)三種基板。下面分別將三種基板在 GaN 功率器件/模塊中應(yīng)用時(shí)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)進(jìn)行介紹。

制作 PCB 基板的常用材料 FR4 的熱導(dǎo)率極低(0.2W/m?K)，這是其在 GaN 功率器件/模塊中應(yīng)用的主要障礙。因此，許多研究人員考慮從結(jié)構(gòu)上進(jìn)行設(shè)計(jì)，降低 PCB 基板的熱阻。例如，2017 年，法國(guó)巴黎第十一大學(xué)開展了改善GaN 芯片散熱性能的優(yōu)化研究。如圖 11(a)所示，增厚 PCB 基板頂部刻蝕電路銅層的厚度可以降低 PCB 基板的熱阻。由于 Cu 和 FR4 的熱導(dǎo)率差很大，隨著銅層厚度的增厚，熱量在垂直穿過(guò) FR4 之前，在橫向上更加均勻的鋪展開，這種結(jié)構(gòu)的橫向熱擴(kuò)散效應(yīng)使得熱阻下降。但是當(dāng)上銅層的厚度超過(guò) 300μm 時(shí)，熱阻降幅將不明顯，而且與 DBC 相比，熱阻差異仍較大。

如前述，通過(guò)增厚 PCB 基板頂部刻蝕電路銅層，可提升熱量在 PCB 基板表面的橫向傳遞效 率 。在 此 基 礎(chǔ) 之 上 ， 在 PCB 基 板 與 GaN HEMT 直接接觸的地方制作導(dǎo)熱通孔，可以提升熱量的縱向傳遞效率。該設(shè)計(jì)思路目前主要有兩種形式，分別如圖 11(b)、圖 11(c)所示：PCB基板熱通孔設(shè)計(jì)和嵌入式銅塊設(shè)計(jì)。兩種設(shè)計(jì)的散熱性能相差不大，嵌入式銅塊設(shè)計(jì)熱阻略低一些。但是嵌入式銅塊設(shè)計(jì)的制作工藝偏復(fù)雜，銅塊與芯片、銅塊與熱沉之間的連接界面要保證平坦，孔隙和裂縫的存在都會(huì)阻礙熱量的傳遞。相比之下 PCB 基板熱通孔技術(shù)制造工藝簡(jiǎn)單，目前應(yīng)用最為廣泛。例如，2011 年，比利時(shí) 魯 汶 大 學(xué) (Catholic University of Leuven, Belgium)提出了在 PCB 基板熱通孔中鍍金的改良方案，與以往僅使用 LTCC 基板封裝相比，GaN 功率放大器的最大輸出功率提高近 5 倍。2018 年，威斯康星大學(xué)麥迪遜分校的研究團(tuán)隊(duì)通過(guò)仿真分析研究，發(fā)現(xiàn)當(dāng) PCB 基板上銅層厚度大于 0.07mm，銅面積大于 4032.25mm2，即使在不使用散熱器的條件下，也能保證使用特定BGA 或 LGA 封裝的 GaN 集成電機(jī)驅(qū)動(dòng)部件在2W 的芯片發(fā)熱功耗工作時(shí)，其殼溫不超過(guò)150℃，保證模塊的可靠使用。2019 年，德國(guó)英飛凌公司又基于 PCB 基板易實(shí)現(xiàn)多層加工的特點(diǎn)，在熱通孔設(shè)計(jì)的基礎(chǔ)上，增加了 PCB 基板中的橫向散熱路徑，進(jìn)一步提升了 PCB 基板的散熱性能，其設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)如圖 11(d)所示。

在 GaN 功率器件/模塊封裝技術(shù)中，DBC 基板因?yàn)榫哂休^高的熱導(dǎo)率(AlN 陶瓷基板：200W/m?K)而應(yīng)用最多。在相同試驗(yàn)條件下，GaN 功率模塊使用 DBC 基板比使用 PCB 基板可使 GaN 芯片的最大結(jié)溫下降 136℃。但是在多芯片的 GaN 功率模塊中，單面 DBC 結(jié)構(gòu)不能及時(shí)將多芯片產(chǎn)生的熱量傳遞出去，熱量的疊加使 得 E 型 GaN HEMT 的 最 大 結(jié) 溫 達(dá) 到155℃。長(zhǎng)時(shí)間的高溫工作會(huì)加速芯片失效、芯片連接層以及引線的可靠性問(wèn)題。因此，例如在 2020 年，西安交通大學(xué)提出了雙面 DBC 的散熱結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)(如圖 12(b)所示)，該方案可實(shí)現(xiàn)上下兩部分熱阻并聯(lián)，降低整體封裝結(jié)構(gòu)的熱阻。雙面散熱和單面散熱的結(jié)殼熱阻(junctionto-case)分別如式(5)、式(6)所示:

由式(5)、式(6)可知，雙面散熱模塊比單面散熱模塊芯片結(jié)溫下降的比率為式(9):

由式(9)可知， (Rth- Σ上部) / (Rth-Σ下部) 越小，結(jié)溫的下降幅度越大。而對(duì)于平面型 GaN 芯片，電極全部分布在芯片的上表面，散熱面積小，所以熱量大部分向下傳遞， Rth-Σ下部 小于Rth- Σ上部 。因此，可以通過(guò)調(diào)整熱模塊上下兩部分的散熱條件，來(lái)提升芯片結(jié)溫的下降幅度。

IMS基板在GaN功率器件/模塊中使用時(shí)，目前未見有獨(dú)特的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。IMS基板是通過(guò)底部金屬基板進(jìn)行散熱，表面電路層和底部金屬基板之間的絕緣層是熱量傳遞的主要障礙。IMS基板熱阻略高于DBC基板，是其熱阻的1.5倍;但遠(yuǎn)低于PCB基板的熱阻。值得注意的是，即使使用PCB嵌入式銅塊設(shè)計(jì)，其熱阻依然在IMS基板熱阻的2倍以上。

將上述 PCB、DBC、IMS 三種基板進(jìn)行綜合比較，不難發(fā)現(xiàn)，對(duì)于 PCB 來(lái)講，熱通孔設(shè)計(jì)、嵌入式銅塊設(shè)計(jì)與垂直環(huán)路磁相消設(shè)計(jì)很難做到同時(shí)兼顧。多層 DBC 的結(jié)構(gòu)雖然能同時(shí)保證散熱和低雜散電感的要求，但設(shè)計(jì)復(fù)雜且制作難度大。相比于 PCB 基板和 DBC 基板，IMS 基板顯示出其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。它不需要復(fù)雜的布局和設(shè)計(jì)，就能同時(shí)實(shí)現(xiàn)較低的熱阻和較小的雜散電感。這也是目前 IMS 基板并沒(méi)有獨(dú)特結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的原因。此外，IMS 基板還有較低的制作加工成本以及較高設(shè)計(jì)靈活性的優(yōu)勢(shì)。圖 13 從設(shè)計(jì)靈活性、抗電寄生性能、散熱性能、系統(tǒng)成本四個(gè)方面，將 GaN 功率器件/模塊中常用的三種基板進(jìn)行了綜合比較。

3.2 近結(jié)被動(dòng)冷卻封裝結(jié)構(gòu)

在前文介紹到的遠(yuǎn)結(jié)被動(dòng)冷卻封裝結(jié)構(gòu)中，熱量從芯片產(chǎn)生，經(jīng)過(guò)封裝基體傳遞到外界環(huán)境。然而對(duì)于整個(gè)封裝體結(jié)構(gòu)，有 67%的熱阻來(lái)自于芯片以外的封裝基體(焊料、灌封材料、基板、導(dǎo)熱膠等)。因此，區(qū)別于遠(yuǎn)結(jié)被動(dòng)冷卻，許多研究人員考慮近結(jié)被動(dòng)冷卻，即通過(guò)封裝的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，使得熱量的傳遞路徑不經(jīng)過(guò)封裝基體，一經(jīng)產(chǎn)生就被熱沉傳遞出去。近結(jié)被動(dòng)冷卻主要是通過(guò)增加芯片的散熱面積達(dá)到降低熱阻的目的。例如，2012 年，中國(guó)臺(tái)灣交通大學(xué)(National Chiao Tung University, China)開展了直接在熱沉上連接芯片的研究[49]。如圖 14(b)所示，在熱沉結(jié)構(gòu)上制作 V 型凹槽，將 E 型 GaNHEMT 置入其中并使用導(dǎo)熱銀膠填充，通過(guò)增加芯片的橫向散熱路徑，增大芯片整體的散熱面積。然而通常 GaN 芯片的厚度較小(GaN System公司 GS-065-150-1-D 款 E 型 GaN HEMT 厚度264.5μm)，增加的芯片側(cè)面散熱面積并不大，同時(shí)芯片與熱沉結(jié)構(gòu)之間的導(dǎo)熱界面材料依然是熱量傳遞過(guò)程中的阻礙。所以這種結(jié)構(gòu)的散熱效果并不顯著。

值得注意的是，近來(lái)，扇出式(fan-out)晶圓級(jí)封裝由于具有更低的熱阻，更高的功率密度而備受關(guān)注。因此，許多研究人員考慮將 fan-out晶圓級(jí)封裝的理念引入到 GaN 模塊封裝中。例如，2012 年，美國(guó)休斯研究室直接在 E 型 GaN HEMT 背面電鍍金屬形成熱沉結(jié)構(gòu)。如圖14(c)所示，這種結(jié)構(gòu)可以節(jié)省導(dǎo)熱界面材料的使用，進(jìn)一步降低熱阻，最大可以使芯片結(jié)溫下降 100℃。2018 年，德國(guó)弗勞恩霍夫可靠性與微集成研究所使用扇出型封裝形式制作了650V GaN 半橋功率模塊。但目前尚未見到對(duì)高壓氮化鎵 fan-out 晶圓級(jí)封裝的報(bào)道。這可能是因?yàn)闃O小的引腳間距尚無(wú)法滿足高電壓下安全爬電距離的設(shè)計(jì)要求。此外，氮化鎵 fan-out 晶圓級(jí)封裝目前也僅用在低功率場(chǎng)合。雖然在 2020年，德國(guó)弗勞恩霍夫可靠性與微集成研究所提出了 GaN 射頻功率器件的 fan-out 晶圓級(jí)封裝設(shè)計(jì)，并成功研制出實(shí)驗(yàn)室樣品，但其晶圓級(jí)封裝器件抗功率循環(huán)、抗溫度循環(huán)的可靠性有待進(jìn)一步驗(yàn)證。

3.3 近結(jié)主動(dòng)冷卻封裝結(jié)構(gòu)

首先區(qū)分主動(dòng)冷卻與被動(dòng)冷卻：主動(dòng)冷卻通常安裝散熱部件，借助外力增加熱傳遞的效率。接下來(lái)介紹的近結(jié)主動(dòng)冷卻是在消除封裝基體的基礎(chǔ)之上(即近結(jié)冷卻)，增加主動(dòng)散熱的方式。例如，2011 年，日本松下電氣公司就已開展了在 GaN 功率器件中使用冷卻循環(huán)系統(tǒng)的散熱研究。2016 年，美國(guó)洛克希德·馬丁任務(wù)系統(tǒng)與訓(xùn)練分公司也開展了 GaN 功率模塊中制作嵌入式微流道結(jié)構(gòu)的研究。如圖 15(a)所示，嵌入式微流道結(jié)構(gòu)完全消除了金屬熱沉。通過(guò)冷卻液直接接觸金屬襯底將熱量帶走，可以使芯片結(jié)溫最大下降 55%。但是微流體對(duì)芯片背部的沖擊作用不可忽視，它會(huì)造成芯片的損傷。如圖15(b)所示，將 GaN 芯片封裝到一個(gè)冷卻循環(huán)系統(tǒng)框架中可以消除微流體對(duì)芯片的沖擊。冷卻循環(huán)系統(tǒng)分為三個(gè)部分：蒸發(fā)段、冷凝段、回流段。在蒸發(fā)段，空腔內(nèi)部的乙醇液體直接接觸芯片的背部，吸收芯片產(chǎn)生的熱量蒸發(fā)成汽態(tài)并揮發(fā)到殼體上部。在冷凝段，由于風(fēng)扇不斷向散熱片吹入空氣進(jìn)行強(qiáng)制熱對(duì)流，汽態(tài)乙醇受冷重新凝結(jié)為小液滴。在回流段，冷凝后的乙醇小液滴受殼體內(nèi)部針狀結(jié)構(gòu)毛細(xì)吸引力作用，匯聚到回流通道，形成大的乙醇液滴并流回蒸發(fā)段，這樣形成一個(gè)循環(huán)。如此不斷重復(fù)，完成冷卻循環(huán)系統(tǒng)的導(dǎo)熱過(guò)程。該結(jié)構(gòu)與傳統(tǒng)的封裝結(jié)構(gòu)相比，熱阻下降 32%。近結(jié)主動(dòng)冷卻封裝結(jié)構(gòu)能極大降低封裝結(jié)構(gòu)的熱阻，但往往尺寸較大，且設(shè)計(jì)制造復(fù)雜。

3.4 小結(jié)與展望

遠(yuǎn)結(jié)冷卻結(jié)構(gòu)與近結(jié)冷卻結(jié)構(gòu)的本質(zhì)區(qū)別是：熱量經(jīng)芯片產(chǎn)生傳遞到熱沉的過(guò)程中是否通過(guò)封裝基體。近結(jié)冷卻相比于遠(yuǎn)結(jié)冷卻，消除了封裝基體，極大降低整體結(jié)構(gòu)的熱阻。主動(dòng)冷卻相比于被動(dòng)冷卻，使用液冷的方式提升了熱量的傳遞效率。遠(yuǎn)結(jié)被動(dòng)冷卻結(jié)構(gòu)主要著重于對(duì)基板的改進(jìn)設(shè)計(jì)。PCB 基板遵循著從增強(qiáng)表面橫向散熱、增強(qiáng)縱向散熱到橫向散熱和縱向散熱混合使用的設(shè)計(jì)思路。DBC 基板則主要著重于開發(fā)雙面散熱結(jié)構(gòu)。近結(jié)被動(dòng)冷卻結(jié)構(gòu)遵循增加芯片散熱面積的思路，從基板上制作 V 型凹槽到在芯片背部直接電鍍熱沉結(jié)構(gòu)的 fan-out 晶圓級(jí)封裝，都通過(guò)增加芯片的側(cè)向散熱路徑來(lái)增大芯片的散熱面積。制作 V 型凹槽這種方法由于芯片厚度小，且芯片與熱沉之間的導(dǎo)熱膠阻礙熱量傳遞，對(duì)散熱性能提升的效果并不顯著。近結(jié)主動(dòng)冷卻結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)了嵌入式微流道和冷卻循環(huán)系統(tǒng)兩種結(jié)構(gòu)，雖然極大降低了結(jié)溫，但是這兩種結(jié)構(gòu)尺寸大、制作復(fù)雜，抗機(jī)械沖擊可靠性低。

綜上所述，遠(yuǎn)結(jié)被動(dòng)冷卻仍然是 GaN 功率器件/模塊主要使用的封裝結(jié)構(gòu)。其中雙面 DBC散熱結(jié)構(gòu)因具有更低的熱阻，將會(huì)成為主流的封裝結(jié)構(gòu)。

4 封裝連接可靠性

GaN 功率器件/模塊的封裝連接可靠性風(fēng)險(xiǎn)主要集中封裝連接層。包括連接層材料的開裂，引線鍵合脫落或斷裂等。失效產(chǎn)生的原因是連接層材料和引線鍵合界面的熱機(jī)械疲勞損傷。此外，考慮到 GaN 的耐高溫應(yīng)用特性，隨著工作時(shí)間的增加，連接層材料會(huì)產(chǎn)生熱蠕變疲勞損傷。而在實(shí)際的工作過(guò)程中，熱機(jī)械疲勞損傷和熱蠕變疲勞損傷會(huì)產(chǎn)生耦合作用。熱蠕變促進(jìn)了連接層材料微裂紋的萌生和擴(kuò)展，熱機(jī)械應(yīng)力又提高了熱蠕變的程度。這種耦合作用會(huì)加劇連接層材料失效的風(fēng)險(xiǎn)。因此，本文接下來(lái)將主要介紹如何提高 GaN 功率器件/模塊封裝連接層的熱機(jī)械疲勞失效與熱蠕變疲勞失效抗性。目前未見對(duì) GaN 功率器件/模塊中引線失效以及增強(qiáng)引線失效抗性的相關(guān)報(bào)道。

4.1 熱蠕變疲勞失效

對(duì)于大多數(shù)連接材料來(lái)講，在長(zhǎng)時(shí)間的高溫工作過(guò)程中會(huì)有蠕變疲勞失效的風(fēng)險(xiǎn)。工作溫度為0.6Tm是連接材料蠕變變形的臨界狀態(tài)(Tm：焊料熔點(diǎn))，當(dāng)溫度超過(guò)0.6Tm，蠕變變形機(jī)制開始起作用，并逐漸占據(jù)主導(dǎo)地位;當(dāng)工作溫度超過(guò)0.8Tm，連接材料會(huì)因?yàn)槿渥冊(cè)斐删Ы缁?，產(chǎn)生塑性變形而快速開裂失效。目前，在低溫段工作的GaN功率器件/模塊中常用的高溫焊料是金基焊料和高鉛焊料。然而隨著研究的不斷進(jìn)展，最新研制的GaN HEMT可以在325℃下穩(wěn)定工作，所以要求芯片連接材料的熔點(diǎn)至少在400℃以上。如圖16所示，在功率器件/模塊中常用的金基焊料都不能滿足更高的工作溫度要求。同時(shí)，合金焊料在長(zhǎng)時(shí)間的高溫工作條件下，連接 界 面 處 脆 性 金 屬 間 化 合 物 生 長(zhǎng) 嚴(yán) 重 。以Au80Sn20為例，在240℃條件下保存72h，脆性金屬間化合物Au-Ni-Sn生長(zhǎng)大約1.6?m，造成連接層抗剪強(qiáng)度的下降，進(jìn)一步增加了連接層熱蠕變疲勞失效的風(fēng)險(xiǎn)。此外，由于ROHS指令對(duì)焊料無(wú)鉛化的要求，高鉛焊料也會(huì)被逐漸替代。因此，目前迫切需要開發(fā)熔點(diǎn)更高，同時(shí)在高溫下保證高可靠性的焊料，以充分保證GaN器件/模塊的工作可靠性。

在 GaN 功率器件/模塊中，目前流行的兩種芯片連接技術(shù)是瞬時(shí)液相 (Transient liquid phase, TLP) 連 接 和 低 溫 連 接 技 術(shù) (Low temperature joining technique, LTJT)。其中瞬時(shí)液相連接技術(shù)以錫銀的瞬時(shí)液相 (簡(jiǎn)稱 Sn Ag TLP)連接應(yīng)用最多，低溫連接技術(shù)以燒結(jié)銀應(yīng)用最多。

TLP 連接技術(shù)通常是指在連接金屬表面鍍覆低熔點(diǎn)金屬作為中間層材料，在適當(dāng)壓力下加熱至熔點(diǎn)。低熔點(diǎn)中間層材料和高熔點(diǎn)金屬發(fā)生固-液互擴(kuò)散現(xiàn)象，生成高熔點(diǎn)的連接層，實(shí)現(xiàn)低溫連接、耐高溫工作的應(yīng)用條件。當(dāng)使用Sn、Ag 作為中間層材料時(shí)，Sn 在熔點(diǎn) 232℃下熔化并擴(kuò)散到 Ag 中與 Ag 生成高熔點(diǎn)的二元合金ζ相 Ag85Sn15(Tm?600℃)，連接界面完整、無(wú)孔洞，而且不需要助焊劑。例如，2015 年，德國(guó)弗萊堡大學(xué)最先開展了 Sn Ag TLP 連接在GaN 芯片封裝中的應(yīng)用研究。然而該方法成本高、時(shí)間長(zhǎng)，不利于商業(yè)化應(yīng)用。對(duì)于 Sn Ag TLP 連接在 GaN 功率器件/模塊中的應(yīng)用研究尚處于起步階段，目前未見對(duì)其高溫蠕變疲勞失效的研究報(bào)道。這可能與生成的金屬間化合物具有較明顯脆性，疲勞失效的風(fēng)險(xiǎn)仍然顯著有關(guān)。

近年來(lái)，LTJT 技術(shù)，尤其是低溫?zé)Y(jié)銀連接技術(shù)受到廣泛關(guān)注。燒結(jié)銀以其 961℃的高熔點(diǎn)，低焊接溫度的優(yōu)勢(shì)，成為替代 Au80Sn20 和高鉛焊料、應(yīng)用在 Cascode GaN HEMT、E 型GaN HEMT 功率器件/模塊中芯片連接的主要候選 材 料 。早 在 2013 年 ， 天 津 大 學(xué) (Tianjin University, China)就開展了燒結(jié)銀在高溫下的蠕變疲勞行為研究。研究證實(shí)燒結(jié)銀具有較高的熱蠕變疲勞失效抗性，適合在 GaN 功率器件/模塊中使用。

4.2 熱機(jī)械疲勞失效

如圖 17(a)、(b)所示，由于不同材料的熱膨脹系數(shù)不同，在溫度的變化過(guò)程中，材料的收縮程度就會(huì)不同，在界面處會(huì)產(chǎn)生交變的熱機(jī)械應(yīng)力。熱機(jī)械應(yīng)力的表現(xiàn)形式是平行于連接界面的剪切力。剪切力又會(huì)使不同材料產(chǎn)生不同程度的塑性變形。隨著循環(huán)次數(shù)的增多，連接層界面材料塑性變形不斷累積，產(chǎn)生熱機(jī)械疲勞失效。在 GaN 功率器件/模塊中，由于 CTE 不匹配造成界面開裂失效的位置有兩處，芯片與基板連接層以及 DBC 基板的銅與陶瓷連接層。對(duì)于芯片與基板連接層如圖 17(c)所示，其應(yīng)力和塑性功密度的最大值位于芯片連接層靠近 DBC 的邊角處。因此，此處最易萌生裂紋，造成分層開裂現(xiàn)象。對(duì)于 DBC 基板，如圖 17(d)所示，其在高溫使用的過(guò)程中，高溫工作條件下易發(fā)生銅層脫落的現(xiàn)象。此外，從圖中可以看出 DBC基板的氧化現(xiàn)象十分嚴(yán)重。

值得一提的是，前文提到的燒結(jié)銀和Sn AgTLP都具有非常高的熱機(jī)械疲勞抗性，可以有效的抑制芯片連接層發(fā)生分層斷裂。在溫度循環(huán)老化條件下，燒結(jié)銀的可靠性都要優(yōu)于Au80Sn20和Pb5Sn焊料，因?yàn)闇囟妊h(huán)次數(shù)的增加，燒結(jié)銀接頭的燒結(jié)頸不斷變粗，使得接頭的連接強(qiáng)度變大。如圖18(a)—(c)所示為燒結(jié)銀接頭在溫度循環(huán)作 老 化 條 件 下 燒 結(jié) 頸 不 斷 粗 化 的 現(xiàn) 象 。而Au80Sn20、Pb5Sn接頭在溫度循環(huán)的過(guò)程中，脆性金屬間化合物生長(zhǎng)加厚，從而造成接頭的抗剪強(qiáng)度的下降。如圖18(d)—(f)所示為Pb5Sn接頭在溫度循環(huán)老化條件下界面金屬間化合物增厚同時(shí)出現(xiàn)孔洞的現(xiàn)象。2015年，德國(guó)弗萊堡大學(xué)將低溫?zé)Y(jié)銀連接和Sn Ag TLP連接在可靠性方面進(jìn)行了比較，兩者在功率循環(huán)和溫度循環(huán)作用下都表現(xiàn)出優(yōu)異的可靠性，且優(yōu)于金基焊料和錫鉛焊料。

為了抑制芯片連接層的斷裂，2018年，日本大阪大學(xué)從芯片連接層的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行改進(jìn)，提出了燒結(jié)銀-W-燒結(jié)銀的三明治式結(jié)構(gòu)[28]。圖19是芯片連接層從高溫冷卻至室溫時(shí)的應(yīng)力變化行為，利用W薄膜高彈性的特點(diǎn)，使其分擔(dān)芯片連接層和基板界面處的界面應(yīng)力，同時(shí)使得燒結(jié)銀和基板連接界面處的應(yīng)力方向重合，界面處材料的塑性應(yīng)變下降大約50%。

為了抑制 DBC 基板在使用過(guò)程中發(fā)生銅層脫落的現(xiàn)象，2018 年，日本大阪大學(xué)開展了GaN 模塊中 DBA 基板表面鍍 Ni 的應(yīng)用研究。如圖 20(a)、(b)所示，將 GaN 芯片連接到DBA 基板上后，發(fā)現(xiàn)在溫度循環(huán)老化條件下DBA 基板開裂。這是因?yàn)?Al 晶粒在高溫作用下會(huì)粗化長(zhǎng)大，而且鋁的楊氏模量低，容易發(fā)生塑性變形。這使得燒結(jié)銀和 DBA 基板的連接界面在工作中會(huì)有裂紋萌生并擴(kuò)展，從而造成界面開裂現(xiàn)象。為此，作者在 DBA 基板表面鍍厚Ni 層(7μm)。如圖 20(c)、(d)所示，Ni 在高溫作用下，晶粒長(zhǎng)大的不明顯，可以抑制 Al 晶粒的粗化。在 GaN 功率器件/模塊中使用 DBA 基板表面鍍 Ni 代替 DBC 基板，避免了基板銅層脫落的風(fēng)險(xiǎn)，同時(shí)提高了連接界面的可靠性。

4.3 小結(jié)與展望

為了解決熱蠕變疲勞失效的問(wèn)題，研究人員已提出了采用低溫?zé)Y(jié)銀連接材料技術(shù)和 Sn AgTLP 連接材料技術(shù)。這兩種材料同時(shí)具有較高的熱蠕變疲勞以及熱機(jī)械疲勞失效抗性，應(yīng)是未來(lái)研究的熱點(diǎn)。為了解決熱機(jī)械疲勞失效的問(wèn)題，研究人員還提出改變芯片連接層的結(jié)構(gòu)以及在基板表面鍍 Ni 兩種方法?！癆g-W-Ag”三明治式結(jié)構(gòu)雖然能大幅降低界面處連接材料的塑性應(yīng)變，但結(jié)構(gòu)復(fù)雜，實(shí)際操作困難。DBA 基板表面鍍Ni 這種方法簡(jiǎn)單有效，明顯降低了基板表面附層脫落的風(fēng)險(xiǎn)。

5 GaN 功率器件/模塊封裝技術(shù)的思考

盡管 GaN 功率器件/模塊的封裝技術(shù)是當(dāng)前研究熱點(diǎn)，在降低雜散電感、封裝散熱結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和提升封裝連接可靠性等方面也已引起廣泛關(guān)注 。2018 年 ， 美 國(guó) 阿 肯 色 大 學(xué) (Uniersity ofArkansas, USA)研究團(tuán)隊(duì)[65]最先發(fā)表了先進(jìn) GaN器件封裝與集成研究綜述，從芯片級(jí)封裝、模塊級(jí)封裝與集成和封裝熱管理三個(gè)方面提出 GaN封裝技術(shù)面臨的挑戰(zhàn)，并指出當(dāng)下需要重點(diǎn)研究的三大問(wèn)題：(1)降低 GaN 器件功率環(huán)路和驅(qū)動(dòng)環(huán)路的雜散電感;(2)優(yōu)化 GaN 集成模塊開關(guān)性能;(3)提出更有效的熱管理方案。目前，針對(duì)這三個(gè)問(wèn)題都有許多效果顯著的解決方案，已經(jīng)在文中進(jìn)行闡述。然而仍存在大量亟待解決的問(wèn)題以及研究空白，處于剛起步階段。

1)雙面 DBC 散熱結(jié)構(gòu)、芯片嵌入式結(jié)構(gòu)和帶有 PCB 插入器的 GaN 功率器件/模塊存在可靠性瓶頸。這是因?yàn)檫@三種結(jié)構(gòu)都是目前較為先進(jìn)的封裝結(jié)構(gòu)，同時(shí)具有較低熱阻、低電感的優(yōu)良特性，但由于結(jié)構(gòu)復(fù)雜，會(huì)增大整個(gè)封裝體的內(nèi)應(yīng)力，降低其可靠性。使用 CTE 相匹配的封裝材料或使用合適的灌封材料做緩沖層也許是有效的解決方案。

2)亟待開展 Cascode GaN HEMT 的雙面散熱結(jié)構(gòu)的開發(fā)與封裝可靠性研究。其中 E 型GaN HEMT 表面復(fù)雜的電極形狀是其實(shí)現(xiàn)雙面散熱結(jié)構(gòu)的最大阻礙。采用芯片嵌入式封裝的方法實(shí)現(xiàn)雙面散熱或許是可行的方案。

3)亟待揭示 GaN 功率器件/模塊中連接層材料與引線在熱蠕變疲勞和熱機(jī)械疲勞耦合作用下的失效模式、失效機(jī)理以及顯微組織變化等。但是由于熱蠕變和熱機(jī)械應(yīng)力耦合的試驗(yàn)條件難以實(shí)現(xiàn)，目前對(duì)于這一部分的研究仍是空白。可以考慮先從仿真研究入手，提供物理模型和仿真數(shù)據(jù)，為以后的試驗(yàn)研究打下基礎(chǔ)。

4)亟需探索 GaN 功率器件/模塊中引線失效形式以及提升其可靠性的方法。尤其值得注意的是，GaN 功率器件/模塊的耐高溫應(yīng)用特性會(huì)增大引線產(chǎn)生熱蠕變損傷的風(fēng)險(xiǎn)，聚焦其在高溫下的蠕變疲勞行為開展研究更有研究?jī)r(jià)值。具體研究可以沿著溫度梯度對(duì)引線與基板連接界面上晶粒塑性變形程度影響的路徑去探索。

不難發(fā)現(xiàn)，問(wèn)題(1)、(2)、(3)都是有關(guān) GaN基功率器件/模塊無(wú)引線封裝型式可靠性方面的問(wèn)題，是這一領(lǐng)域亟待解決的最關(guān)鍵問(wèn)題。因?yàn)槟壳把芯咳藛T在追求 GaN 功率器件/模塊的低雜散電感封裝、低熱阻封裝型式的時(shí)候，往往并不能同時(shí)兼顧其在可靠性方面的性能，導(dǎo)致這些研究成果并不能很好的商業(yè)化應(yīng)用。因此，解決新型 GaN 功率器件/模塊封裝型式的可靠性問(wèn)題對(duì)于推進(jìn)科研成果產(chǎn)業(yè)化具有重要意義。相比之下，問(wèn)題(4)屬于次要關(guān)鍵問(wèn)題，因?yàn)樵搯?wèn)題是關(guān)于引線鍵合封裝型式的 GaN 功率器件/模塊中引線的可靠性問(wèn)題，然而目前引線在 GaN 器件/模塊中使用頻率越來(lái)越少，將來(lái)勢(shì)必會(huì)被無(wú)引線封裝型式取代。

審核編輯：湯梓紅