2．覆蓋測(cè)試

　　功能測(cè)試的缺點(diǎn)是其很少執(zhí)行全部程式碼。覆蓋測(cè)試則試圖規(guī)避這個(gè)缺點(diǎn)，它採(cǎi)用的方法是（理想地）確保每一條程式碼語(yǔ)句、判定點(diǎn)或者判定路徑都至少被測(cè)試一次。覆蓋測(cè)試還可以顯示已經(jīng)存取的數(shù)據(jù)空間大小。

　　覆蓋測(cè)試也稱為白盒子測(cè)試或玻璃盒子測(cè)試，這類(lèi)測(cè)試的設(shè)計(jì)需要全面了解軟體的實(shí)現(xiàn)方式，也就是說(shuō)，它要‘看到盒子裡面’。白盒子測(cè)試?yán)昧塑汲淌酱a所能提供的方便。

　　白盒子測(cè)試充分借力了程式員對(duì)程式API、內(nèi)部控制結(jié)構(gòu)的知識(shí)，分享了程式員的異常處理能力。由于白盒子測(cè)試取決于具體的實(shí)現(xiàn)決策，因此要到應(yīng)用程式碼完成后，才能動(dòng)手設(shè)計(jì)這類(lèi)測(cè)試。

　　從嵌入式系統(tǒng)的角度來(lái)看，覆蓋測(cè)試是最重要的測(cè)試，這是因?yàn)橹灰惆盐找言诙啻蟪潭壬蠈?duì)程式碼進(jìn)行了測(cè)試，你就可很好地預(yù)警出現(xiàn)未發(fā)現(xiàn)缺陷的風(fēng)險(xiǎn)。白盒子測(cè)試的示例包括：

　　語(yǔ)句覆蓋：選擇的測(cè)試案例可以至少將程式中的每一條語(yǔ)句執(zhí)行一次。

　　判定或分支覆蓋：選擇的測(cè)試?yán)炭梢允姑恳粋€(gè)分支（條件為真和假的路徑）至少執(zhí)行一次。

　　條件覆蓋：選擇的測(cè)試?yán)炭梢詮?qiáng)制判定中的每一個(gè)條件（項(xiàng)）都包含所有可能的邏輯值。

　　理論上，白盒子測(cè)試可以利用或控制所需的任何對(duì)象來(lái)執(zhí)行其測(cè)試。因此，白盒子測(cè)試可能使用JTAG介面強(qiáng)制設(shè)定特定的記憶體值作為測(cè)試的一部份。實(shí)踐上，白盒子測(cè)試可以分析邏輯分析儀報(bào)告的執(zhí)行路徑。

　　3．灰盒子測(cè)試

　　由于白盒子測(cè)試可以深入程式碼內(nèi)部，因此與黑盒子測(cè)試相較，這類(lèi)測(cè)試的維護(hù)成本更高。只要要求和I/O關(guān)係保持穩(wěn)定，黑盒子測(cè)試就會(huì)一直有效；但每次修改程式碼后，可能都需要重新進(jìn)行白盒子測(cè)試。因此成本效益最高的白盒子測(cè)試一般是那些在不深入編程細(xì)節(jié)的情況下利用實(shí)現(xiàn)知識(shí)進(jìn)行的測(cè)試。

　　較少涉及程式碼細(xì)節(jié)的測(cè)試有時(shí)也稱為灰盒子測(cè)試。當(dāng)與‘錯(cuò)誤推測(cè)’配合使用時(shí)，灰盒子測(cè)試非常有效。如果你知道（或者至少猜到）程式碼中的弱點(diǎn)在哪裡，那么你就可以設(shè)計(jì)出對(duì)這些弱點(diǎn)‘施壓’的測(cè)試案例。

　　因?yàn)檫@些測(cè)試覆蓋了程式碼的特定部份，因此這些測(cè)試是灰盒子測(cè)試；因?yàn)檫@些測(cè)試是根據(jù)可能會(huì)出現(xiàn)哪些錯(cuò)誤的猜測(cè)而選擇的，因此這些測(cè)試是錯(cuò)誤推測(cè)測(cè)試。

　　在整合新功能與穩(wěn)定的舊程式碼庫(kù)時(shí)，這種測(cè)試策略非常有用。由于程式碼庫(kù)已經(jīng)過(guò)全面的測(cè)試，因此將測(cè)試重點(diǎn)集中在新、舊程式碼交集處可以起到事半功倍的效果。