在EMI/EMC測試中，我們通常使用遠場測量的天線，我們將遠場的電場水平與法定限制進行比較，然后使用近場探頭對電路進行故障排除。

　　遠近的含義是什么？與EMI/EMC領域一樣，這取決于：

　　第一個重要的想法是記住任何電磁波都有阻抗，即波阻抗。波阻抗Zw是該波的電場（V/m）和磁場（A/m）之比，所以Zw=E/H，注意V/m除以A/m是歐姆。

　　所以，如果測量的信號在電場中是10V/m，在磁場中是0.04A/m，那么波的阻抗是250歐姆的Zw波。

　　高E值和低H值的信號是高阻抗波，低E值和高H值的信號是低阻抗波（使用電路理論方法時注意等效點：高電壓和低電流的電路是高阻抗電路，低電壓和高電流的電路是低阻抗電路電路）。

　　第二個想法是記住，當增加到源的距離時，電場和磁場會衰減。所以，對于圖1中的電路，當遠離電路時，電場（E）和磁場（H）的振幅都會減小。

　　靠近信號的原點，E和H較大。當遠離電路時，E和H衰減為1/x、1/x2或1/x3，其中x是到源的距離。

　　請注意，只有輻射的信號才能到達遠離電路的地方（當電路具有所需或不需要的天線時）。其他信號將圍繞在電路中的元件周圍，不可能被輻射。

　　當離信號源遠或近時，E和H（波阻抗）的比值是多少？

　　假設電路位于圖2中的位置X=0，該圖繪制的是波阻抗Zw=E/H。當離電路很遠（即d》λ）時，你將測量的E和H之間的比率將恰好為Zo=377Ω，這是ar場中的波阻抗。

　　所以，在遠場中，如果你知道電場的水平，可以很容易地計算出磁場的振幅。隨著距離的增加，比值是恒定的，因為在遠場中，E和H都以1/x衰減。

　　在這種情況下，您將無法知道信號的來源是低阻抗電路（即環(huán)路）還是高阻抗電路（即開路）。你在遠場接收一個平面波，我們用天線接收這些信號。

　　現在，考慮一下你離賽道近一點。你會看到E/H約為377歐姆，但當距離接近λ/6（d/λ=0.16）時，比值E/H將從Zo值開始增大或減小。

　　你將看到的是波阻抗將取接近我們產生信號的電路阻抗的值，例如，如果信號是由一個低阻抗電路作為一個回路（高電流-低電壓）產生的，那么隨著你靠近電路，Zw將從377歐姆減小。如果信號是由高阻抗電路作為開路（高電壓-低電流）產生的，則隨著您靠近電路，Zw將從377歐姆增加。

　　這是因為在近場我們不使用天線，我們使用近場磁或電探針。

　　例如，假設有一個電路在250MHz下產生輻射問題。對于該頻率，λ/6為20cm。所以，如果你在5米處測量/接收到信號，你將處于遠場。如果您在5厘米處測量/接收信號，您將處于近場（圖3）。

　　了解遠場值與近場值相關是很重要的，但是，如果在近場中測量信號，也許你不會在遠場探測到這些信號，僅僅是因為它們不能被輻射（它們存儲在你測量的區(qū)域，但是沒有某種天線將信號發(fā)送到遠場）。

　　近場和遠場在EMI/EMC中是非常重要的，因為要知道需要測量什么樣的探頭，在某一特定頻率下屏蔽的效果如何，輻射信號的來源如何等等，這一點至關重要。

　　我的最后一個建議是：在你的應用程序中嘗試計算近場到遠場的距離，以便更好地理解你的問題。