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電子發(fā)燒友網(wǎng)>測(cè)量?jī)x表>通用測(cè)試儀器>一種通用自動(dòng)測(cè)試軟件平臺(tái)設(shè)計(jì)

一種通用自動(dòng)測(cè)試軟件平臺(tái)設(shè)計(jì)

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介紹一種印制電路板自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn),給出了該自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的整體結(jié)構(gòu),同時(shí)對(duì)該系統(tǒng)的硬件組成和軟件實(shí)現(xiàn)作了詳細(xì)說(shuō)明,實(shí)際應(yīng)用表明,該系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單可靠,
2009-08-03 11:18:5612

基于PXI總線的某型導(dǎo)彈裝備自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

導(dǎo)彈裝備的自動(dòng)測(cè)試可以提高部隊(duì)現(xiàn)有裝備的支援技術(shù)水平。為了測(cè)試導(dǎo)彈裝備的工作穩(wěn)定性,提出了一種基于PXI 總線和虛擬儀器技術(shù)的國(guó)產(chǎn)某型導(dǎo)彈裝備自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)了對(duì)
2009-08-07 09:29:4217

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的通用性研究

通用性是當(dāng)前ATS(自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng))的發(fā)展方向,文章分別從硬件及軟件兩個(gè)方面對(duì)ATS通用性的關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行了相應(yīng)的研究,特別是提出了功能接口的概念,為實(shí)現(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)的通
2009-08-14 10:02:163

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的通用性研究

通用性是當(dāng)前ATS(自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng))的發(fā)展方向,文章分別從硬件及軟件兩個(gè)方面對(duì)ATS通用性的關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行了相應(yīng)的研究,特別是提出了功能接口的概念,為實(shí)現(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)的通
2009-08-14 10:04:2717

基于數(shù)據(jù)庫(kù)的通信設(shè)備自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

本文介紹了基于數(shù)據(jù)庫(kù)的通信設(shè)備自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)思路及方法,給出了此類自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的硬件平臺(tái),重點(diǎn)介紹了數(shù)據(jù)庫(kù)設(shè)計(jì)思想在自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中的應(yīng)用以及通信設(shè)備自動(dòng)測(cè)
2009-08-15 14:07:5020

基于網(wǎng)絡(luò)的電臺(tái)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

依據(jù)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展趨勢(shì),討論了網(wǎng)絡(luò)化的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)模型,論述了以此模型為基礎(chǔ)構(gòu)建的網(wǎng)絡(luò)化電臺(tái)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。系統(tǒng)的硬件以VXI 儀器為主,采用GPIB-VXI 方式構(gòu)建;通過(guò)
2009-08-29 09:04:3610

一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)軟件平臺(tái)的設(shè)計(jì)

針對(duì)當(dāng)前自動(dòng)測(cè)試領(lǐng)域儀器無(wú)關(guān)化、通用化、模塊化、TPSs可移植等要求,借鑒國(guó)外相應(yīng)的理論和技術(shù),以及國(guó)內(nèi)的工程實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),設(shè)計(jì)了一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)軟件平臺(tái),該平臺(tái)通過(guò)提
2010-03-02 14:25:5317

基于多MCU的自動(dòng)測(cè)試診斷系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

詳細(xì)介紹了基于多P89C668單片機(jī)的組合邏輯電路自動(dòng)測(cè)試診斷系統(tǒng)的設(shè)計(jì),包括硬件結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和軟件設(shè)計(jì)。該自動(dòng)測(cè)試診斷系統(tǒng)采用USB接口實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)與診斷平臺(tái)的通信,其移動(dòng)式結(jié)構(gòu)
2010-07-02 16:56:5018

一種通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

為了提高自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的通用性,本文將三層結(jié)構(gòu)的客戶/服務(wù)器模型引入到自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)中,提出了一種基于數(shù)據(jù)字典,通過(guò)數(shù)據(jù)映射對(duì)系統(tǒng)軟硬件進(jìn)行解耦的方法,并在實(shí)踐中發(fā)
2010-07-14 14:39:068

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的通用性研究

通用性是當(dāng)前ATS(自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng))的發(fā)展方向,文章分別從硬件及軟件兩個(gè)方面對(duì)ATS通用性的關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行了相應(yīng)的研究,特別是提出了功能接口的概念,為實(shí)現(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)的通用
2010-07-20 17:16:2023

運(yùn)算放大器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與應(yīng)用

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)滿足現(xiàn)代科研生產(chǎn)中對(duì)測(cè)試高速度和高精度的要求,其發(fā)展方向是標(biāo)準(zhǔn)化、模塊化和系列化。介紹了一種針對(duì)集成運(yùn)算放大器的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備,系統(tǒng)采用輔助放大器測(cè)試
2010-07-29 16:01:2757

基于PXI及GPIB總線的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

通過(guò)使用自動(dòng)測(cè)試設(shè)備來(lái)代替大量專用測(cè)試設(shè)備,不僅可以降低成本,而且可以有效的提高測(cè)試效率。介紹了基于PXI總線和GP IB總線的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì),從硬件和軟件兩個(gè)方面詳細(xì)
2010-08-25 15:25:2432

EMC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)及手機(jī)EMI測(cè)試實(shí)現(xiàn)

主要內(nèi)容、為什么需要做自動(dòng)測(cè)試?二、EMI自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)三、EMS自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)四、EMC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)集成實(shí)例五、手機(jī)EMI自動(dòng)測(cè)試實(shí)現(xiàn)
2010-09-21 11:29:2362

電纜損耗對(duì)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的影響

電纜損耗對(duì)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的影響
2010-12-24 17:57:170

IPM自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)的研究及實(shí)現(xiàn)

摘 要: IPM測(cè)試需要測(cè)試多個(gè)參數(shù),這些不同的參數(shù)需要不同的測(cè)試平臺(tái)。本文通過(guò)對(duì)各種不同參數(shù)的測(cè)試方法進(jìn)行研究,設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)。問(wèn)題的提出火車
2006-03-11 13:45:291145

基于信號(hào)接口的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)軟件的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

 摘要:實(shí)現(xiàn)儀器可互換性和TPS重用性、可移植性是通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)(ATS)的發(fā)展方向。論述了ATLAS 2K語(yǔ)言和IVI-Signal Interface標(biāo)準(zhǔn)的特點(diǎn)、結(jié)構(gòu)和技術(shù)實(shí)現(xiàn)。給出了一種
2006-03-24 13:15:26716

基于GPIB的車載音響自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

基于GPIB的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是計(jì)算機(jī)技術(shù)和自動(dòng)測(cè)試技術(shù)相結(jié)合的產(chǎn)物,目前廣泛應(yīng)用于眾多領(lǐng)域。本文在介紹基于GPIB的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)組成和GPIB技術(shù)原理和特點(diǎn)的基礎(chǔ)上,著重介紹
2009-05-16 09:04:261840

基于VEE的集成電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

介紹使用Agilent VEE軟件在IEEE4 88總線上對(duì)儀器進(jìn)行控制,進(jìn)而建立的以PC機(jī)為中心的集成電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。  關(guān)鍵詞:自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng);GP-IB總線;VEE Integrated Capacitance Automat
2009-10-15 21:44:141715

基于LabVIEW為平臺(tái)設(shè)計(jì)多參數(shù)病人監(jiān)護(hù)儀自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

基于LabVIEW為平臺(tái)設(shè)計(jì)多參數(shù)病人監(jiān)護(hù)儀自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)   以NI LabVIEW為軟件核心,集成了多種數(shù)據(jù)采集卡,通信板卡,各類通用儀器,醫(yī)療專用儀器
2010-05-13 10:08:252383

末制導(dǎo)雷達(dá)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)完成4不同體制末制導(dǎo)雷達(dá)自動(dòng)測(cè)試任務(wù),具有體積小、結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)化、測(cè)試準(zhǔn)確度高、速度快,提高了雷達(dá)系統(tǒng)的維修性和保障性,增加戰(zhàn)備完好率和任務(wù)成功率,降低系統(tǒng)的維修保障費(fèi)用。
2011-03-07 10:24:072410

電子裝備自動(dòng)測(cè)試關(guān)鍵技術(shù)

隨著現(xiàn)代電子測(cè)試技術(shù)、微電子技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展,自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)也隨著復(fù)雜電子裝備的需求而不斷發(fā)展,通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)今后發(fā)展的必然方向。簡(jiǎn)要介紹了自
2011-05-06 16:27:2148

基于OP7200的應(yīng)答機(jī)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

為了提高某型應(yīng)答機(jī)自動(dòng)測(cè)試效率,降低開(kāi)發(fā)成本,提出一種基于顯示控制模塊OP7200 的應(yīng)答機(jī)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。介紹了應(yīng)答機(jī)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的總體設(shè)計(jì)思路,詳細(xì)分析了電源模塊、電壓電
2011-05-12 17:13:2522

毫米波天線自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

本文提出了一種 毫米波 天自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。通過(guò)自行設(shè)計(jì)關(guān)鍵部件,降低了天線自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的成本。本文對(duì)測(cè)試系統(tǒng)發(fā)射與接收系統(tǒng)進(jìn)行了詳細(xì)論述,并給出了軟件控制流程
2011-07-04 11:16:3540

雷達(dá)接收機(jī)靈敏度自動(dòng)測(cè)試方案設(shè)計(jì)

雷達(dá)接收機(jī)靈敏度自動(dòng)測(cè)試方案設(shè)計(jì)在GPTS軟件上對(duì) 雷達(dá)接收機(jī) 靈敏度的自動(dòng)測(cè)試進(jìn)行方案設(shè)計(jì),該方案包括測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)、測(cè)試流程設(shè)計(jì)、測(cè)試速度與測(cè)試精度的設(shè)計(jì)。給出實(shí)驗(yàn)結(jié)果對(duì)
2011-07-24 11:48:0189

一種SAR天線平臺(tái)測(cè)試模塊

本文介紹了一種基于PXI總線技術(shù)的SAR天線穩(wěn)定平臺(tái)測(cè)試模塊。該測(cè)試模塊是SAR天線平臺(tái)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的主要子系統(tǒng),主要完成仿真轉(zhuǎn)臺(tái)位置信號(hào)解碼及輸出、平臺(tái)跟蹤誤差信號(hào)采集以及
2011-08-01 17:04:061214

基于LabVIEW的EDFA自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

開(kāi)發(fā)了一種EDFA自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng):按照時(shí)域法測(cè)量原理設(shè)計(jì)了硬件系統(tǒng),利用GPI B接口對(duì)系統(tǒng)的各個(gè)器件進(jìn)行自動(dòng)控制,實(shí)現(xiàn)了全自動(dòng)測(cè)量,提高了測(cè)試效率,降低了測(cè)試難度,減少了人為
2011-11-23 16:06:5660

基于LabVIEW的增氧機(jī)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

系統(tǒng)采用基于LabVIEW的平臺(tái)軟件,結(jié)合多路數(shù)據(jù)采集儀對(duì)增氧機(jī)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行了設(shè)計(jì)。通過(guò)阻抗匹配和系統(tǒng)接地的方法解決了采集到數(shù)據(jù)值的漂移問(wèn)題;通過(guò)建立回歸方程的方式,濾
2013-07-25 11:46:1941

構(gòu)件技術(shù)的通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)

本文主要分析當(dāng)前常見(jiàn)的幾種構(gòu)建技術(shù)的自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)軟件,例如VISA、GPRS、LXI等。闡述技術(shù)在實(shí)踐中的應(yīng)用與開(kāi)發(fā)過(guò)程,介紹一種面向?qū)ο蟮腁TS軟件系統(tǒng)。針對(duì)該軟件系統(tǒng)的構(gòu)架進(jìn)行分析和自動(dòng)測(cè)試。以期通過(guò)文中的分析能實(shí)現(xiàn)構(gòu)件技術(shù)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)軟件的推廣和應(yīng)用。
2016-01-04 14:50:430

RF IC自動(dòng)測(cè)試方案設(shè)計(jì)

RF IC自動(dòng)測(cè)試方案設(shè)計(jì)
2017-01-12 22:02:4916

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)適配器通用開(kāi)關(guān)網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)適配器通用開(kāi)關(guān)網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)
2017-01-24 16:54:2414

模擬IC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的直流參數(shù)測(cè)試單元

集成電路(Integrated Circuit,IC)測(cè)試技術(shù)是集成電路產(chǎn)業(yè)中不可或缺的重要組成部分,而測(cè)試設(shè)備是IC測(cè)試技術(shù)的一種重要工具。模擬IC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是款針對(duì)模擬IC直流參數(shù)和交流參數(shù)
2017-11-15 16:27:5215

飛機(jī)飛行控制系統(tǒng)通用測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)

針對(duì)系列飛機(jī)飛行控制系統(tǒng)的通用測(cè)試需求,采用虛擬儀器、軟硬件動(dòng)態(tài)配置及數(shù)據(jù)庫(kù)技術(shù),設(shè)計(jì)了一種能兼容多型飛機(jī),能靈活手動(dòng)和自動(dòng)測(cè)試通用飛行控制系統(tǒng)的測(cè)試平臺(tái)。描述了系統(tǒng)的組成與工作原理,并對(duì)ICD
2017-11-16 11:23:1415

一種直流穩(wěn)壓電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

的變化引起的;另個(gè)是由輸出電流的變化(由于負(fù)載變化)引起的。本文提出一種基于FPGA、高速A/D、D/A以及上位機(jī)軟件組成的直流穩(wěn)壓電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案
2017-11-23 14:48:013340

微波器件自動(dòng)測(cè)試方案介紹

為了提高微波元器件的測(cè)試效率,保證測(cè)試致性,研發(fā)了微波元器件入檢自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),使用計(jì)算機(jī)在外部執(zhí)行測(cè)試程序來(lái)控制矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,從而實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試。該自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀采用的是美國(guó)
2018-02-08 12:22:258928

一種分布式ATS控制結(jié)構(gòu)層次模型設(shè)計(jì)

、測(cè)試資源驅(qū)動(dòng)程序和總線接口驅(qū)動(dòng)等構(gòu)成系統(tǒng)的軟件平臺(tái)?,F(xiàn)代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)中,軟件和硬件之問(wèn)的關(guān)聯(lián)在度越來(lái)越低,硬件平臺(tái)的變化對(duì)軟件平臺(tái)來(lái)說(shuō),其影響越來(lái)越小。因此,針對(duì)將來(lái)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)南集中式變?yōu)榉植际?,可以重點(diǎn)關(guān)注硬件平臺(tái)的變
2018-04-10 14:12:421

LitePoint開(kāi)發(fā)了一種自動(dòng)測(cè)試解決方案IQfactATM

IQfactATM 是自動(dòng)測(cè)試管理器,可與 IQxel-MW、IQxstream-M 和 IQxstream-5G 等 LitePoint 射頻測(cè)試平臺(tái)配合使用。這套交鑰匙解決方案允許用戶構(gòu)建
2020-04-28 14:44:586281

基于總線技術(shù)和模塊化儀器實(shí)現(xiàn)通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

不同的測(cè)試系統(tǒng),在此期間,通過(guò)不斷引入國(guó)外先進(jìn)的測(cè)試理念和軟件開(kāi)發(fā)環(huán)境,自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)亦有極大發(fā)展。目前多個(gè)兵種等都在研究測(cè)試系統(tǒng)的通用性問(wèn)題,采用通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的技術(shù)正在成為軍用測(cè)試領(lǐng)域的熱點(diǎn)。目前在通用平臺(tái)技術(shù)方面,按照模塊化、系列化、標(biāo)準(zhǔn)化的要求,在定范圍通用的各類自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)正陸續(xù)應(yīng)用。
2020-08-11 14:27:532048

電學(xué)計(jì)量自動(dòng)測(cè)試軟件的功能特點(diǎn)及應(yīng)用范圍

電學(xué)計(jì)量自動(dòng)測(cè)試軟件整套可以獨(dú)立使用的校準(zhǔn)解決方案,操作極其簡(jiǎn)單。利用由菜單驅(qū)動(dòng)且基于向?qū)У膬?nèi)置設(shè)計(jì)工具可以快速開(kāi)發(fā)程序。軟件自動(dòng)化控制可加速校準(zhǔn)過(guò)程,其內(nèi)置的數(shù)據(jù)庫(kù)可跟蹤所有記錄。
2021-01-09 11:05:582849

GAT通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的特點(diǎn)是什么

GAT通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)平臺(tái)適用于軍用及民用電子產(chǎn)品生命周期的器件選型、研發(fā)測(cè)試、DVT (設(shè)計(jì)驗(yàn)證測(cè)試)、可靠性試驗(yàn)、生產(chǎn)過(guò)程控制等關(guān)鍵環(huán)節(jié)。通過(guò)系統(tǒng)平臺(tái)的導(dǎo)入,能夠快速為用戶搭建產(chǎn)品的測(cè)試驗(yàn)證系統(tǒng)
2021-12-20 11:40:101222

基于Cascade半自動(dòng)探針臺(tái)的簡(jiǎn)易自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)

實(shí)驗(yàn)箱、測(cè)試電路組成的簡(jiǎn)易自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)。自動(dòng)測(cè)試軟件在安捷倫IO 庫(kù)提供的程序范例基礎(chǔ)上開(kāi)發(fā),編程語(yǔ)言 為 VB.NET。最后對(duì)某公司的 RFID 晶圓進(jìn)行測(cè)試,結(jié)果表明系統(tǒng)運(yùn)行情況良好,測(cè)試效率高。
2022-06-02 10:04:415408

電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的特點(diǎn)介紹

源儀電子電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)一種適用于AC/DC輸入、DC輸出電源適配器、充電器電源、車充等產(chǎn)品綜合性能測(cè)試。
2022-07-23 15:04:481

電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是什么?高性價(jià)比電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)如何選擇?

隨著科技的發(fā)展,電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)已經(jīng)成為電子行業(yè)的重要組成部分。電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是一種用于測(cè)試電源性能的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),它可以自動(dòng)檢測(cè)電源的輸入電壓、輸出電壓、輸出電流、輸出功率、輸出頻率等參數(shù),以
2023-03-28 16:24:512351

通用自動(dòng)測(cè)試軟件 — TAE

概述INTEWORK-TAE(TestAutomationExecutor)是通用自動(dòng)測(cè)試軟件,可以兼容不同的仿真系統(tǒng),同時(shí)具備了故障注入、標(biāo)定、測(cè)量、診斷、模型在回路測(cè)試(MIL)等
2022-01-07 16:21:212833

什么是自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)?如何進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試?

自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)可以是利用少量設(shè)備的簡(jiǎn)單測(cè)試,也可以是大型復(fù)雜測(cè)試,包括探測(cè)站、氣動(dòng)自動(dòng)化、以及機(jī)器人自動(dòng)化等。,而現(xiàn)在,測(cè)試工程師可以體驗(yàn)虹科可連接常用軟件平臺(tái)API的編程組件的靈活性。
2022-05-09 16:46:353620

led電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)如何提高測(cè)試效率?

led電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)如何提高測(cè)試效率? LED電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是一種用于測(cè)試LED電源的設(shè)備,其作用是通過(guò)自動(dòng)化的方式對(duì)LED電源進(jìn)行各項(xiàng)功能和性能的測(cè)試。使用LED電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)可以提高測(cè)試
2023-11-09 09:12:041475

ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備怎么測(cè)試逆變器輸出電壓?

納米軟件ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備包含軟件ATE測(cè)試系統(tǒng)以及測(cè)試中需要的硬件設(shè)備,軟硬件會(huì)集成在個(gè)機(jī)柜中,方便測(cè)試。ATE測(cè)試系統(tǒng)采取B/S架構(gòu),無(wú)代碼開(kāi)發(fā),對(duì)操作人員沒(méi)有高技術(shù)要求,可快速上手測(cè)試自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)在測(cè)試過(guò)程中實(shí)時(shí)自動(dòng)采集記錄數(shù)據(jù),并對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行多維度分析,快速定位問(wèn)題。
2023-12-28 15:55:301935

ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備原理及特點(diǎn)介紹

電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、研發(fā)和制造過(guò)程中,ATE的作用不可或缺,通過(guò)自動(dòng)測(cè)試,ATE能夠快速、準(zhǔn)確地將實(shí)際測(cè)試結(jié)果與設(shè)計(jì)規(guī)格進(jìn)行比較,幫助企業(yè)提高產(chǎn)品的性能和質(zhì)量,同時(shí)降低測(cè)試成本。 ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的原理 ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備,是一種綜合軟
2024-07-09 16:47:393674

FLEXBENCH通用測(cè)試軟件平臺(tái)

1.簡(jiǎn)介 FlexBench是锘華儀器針對(duì)航空航天等領(lǐng)域的測(cè)試需求研制開(kāi)發(fā)的通用測(cè)試軟件平臺(tái)。 FlexBench為用戶提供海量接口,支持用戶自主定制測(cè)試任務(wù),自動(dòng)化執(zhí)行測(cè)試流程,鍵生成
2024-08-06 14:04:22935

納米軟件電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)與傳統(tǒng)系統(tǒng)修改方案相比有哪些優(yōu)勢(shì)?

納米軟件電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)與傳統(tǒng)電源測(cè)試系統(tǒng)在功能方面有著很大的不同和差異。
2024-09-13 11:57:39881

吉事勵(lì)繼電器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng):提升測(cè)試效率與精度

應(yīng)用前景。 、SYS2000系列繼電器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)概述 繼電器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)(ATS)是一種能夠在最少人工干預(yù)下,自動(dòng)完成繼電器各項(xiàng)性能測(cè)試、數(shù)據(jù)處理與分析的系統(tǒng)。該系統(tǒng)通常由自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)、測(cè)試程序集(TPSs)和測(cè)試環(huán)境(
2024-12-09 16:06:44827

什么是電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)?有什么作用?

在現(xiàn)代電子制造業(yè),高效的測(cè)試流程對(duì)于確保產(chǎn)品質(zhì)量至關(guān)重要。電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)作為一種先進(jìn)的電源測(cè)試解決方案,正逐漸成為眾多電子制造企業(yè)的選擇。源儀電子在電源自動(dòng)測(cè)試領(lǐng)域已經(jīng)二十余年,經(jīng)驗(yàn)豐富。源儀電子
2025-06-05 11:30:36729

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