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電子發(fā)燒友網(wǎng)>業(yè)界新聞>行業(yè)資訊>高超芯片負(fù)荷以及顯存砍掉了糾錯(cuò)機(jī)制 導(dǎo)致出現(xiàn)內(nèi)存存取錯(cuò)誤

高超芯片負(fù)荷以及顯存砍掉了糾錯(cuò)機(jī)制 導(dǎo)致出現(xiàn)內(nèi)存存取錯(cuò)誤

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變壓器過(guò)負(fù)荷如何處理,五個(gè)應(yīng)對(duì)措施讓你輕松應(yīng)對(duì)

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2025-08-15 15:10:501029

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2025-08-13 13:36:24

經(jīng)世智能檔案存取復(fù)合機(jī)器人:精準(zhǔn)存取 建設(shè)無(wú)人化檔案庫(kù)房!

精準(zhǔn)抓取檔案盒/卷宗,無(wú)需末端視覺(jué)相機(jī)二次定位,存取效率提升30%-50%。加密檔案庫(kù)房中精準(zhǔn)取出指定檔案,避免人工翻找導(dǎo)致的錯(cuò)漏。車身姿態(tài)動(dòng)態(tài)補(bǔ)償技術(shù)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)車
2025-08-12 16:21:291539

上海貝嶺新一代國(guó)網(wǎng)電表內(nèi)置負(fù)荷開關(guān)驅(qū)動(dòng)芯片布局解析

自 2023 年《智能物聯(lián)電能表內(nèi)置負(fù)荷開關(guān)技術(shù)指標(biāo)》正式發(fā)布以來(lái),其中一項(xiàng)重要變化尤為關(guān)鍵: “內(nèi)置開關(guān)的動(dòng)觸點(diǎn)與靜觸點(diǎn)之間的電氣間隙不小于 5.5mm?!??這一標(biāo)準(zhǔn)的提升雖增強(qiáng)了智能電表
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一種抗輻射加固檢錯(cuò)糾錯(cuò)電路的設(shè)計(jì)

電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《一種抗輻射加固檢錯(cuò)糾錯(cuò)電路的設(shè)計(jì).pdf》資料免費(fèi)下載
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靈活高效雙引擎驅(qū)動(dòng):ZBUFF讓C語(yǔ)言內(nèi)存操作更智能!

ZBUFF庫(kù)深度融合了智能內(nèi)存分配算法與實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)機(jī)制,能夠自動(dòng)適應(yīng)不同場(chǎng)景下的內(nèi)存需求。其自適應(yīng)碎片整理功能和錯(cuò)誤檢測(cè)模塊,不僅保障了內(nèi)存使用的高效性,更大幅降低了調(diào)試難度,助力開發(fā)者快速構(gòu)建穩(wěn)定
2025-08-11 13:27:48487

沒(méi)有強(qiáng)大糾錯(cuò)的工業(yè)硬盤,敢叫工業(yè)級(jí)SSD固態(tài)硬盤嗎?

。那么,沒(méi)有強(qiáng)大糾錯(cuò)機(jī)制支撐的固態(tài)硬盤,真的配得上“工業(yè)級(jí)SSD固態(tài)硬盤”的稱號(hào)嗎? ? 天碩工業(yè)級(jí)SSD固態(tài)硬盤:憑何宣稱“碾壓級(jí)糾錯(cuò)”? 在琳瑯滿目的工業(yè)級(jí)固態(tài)硬盤產(chǎn)品中,天碩(TOPSSD)G55 Pro M.2 NVMe SSD宛如一顆璀璨的明星,
2025-08-02 10:32:31791

基于米爾瑞芯微RK3576開發(fā)板部署運(yùn)行TinyMaix:超輕量級(jí)推理框架

內(nèi)存消耗 支持 INT8/FP32/FP16 模型,實(shí)驗(yàn)性地支持 FP8 模型,支持 keras h5 或 tflite 模型轉(zhuǎn)換 支持多種芯片架構(gòu)的專用指令優(yōu)化: ARM SIMD/NEON
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MBIST測(cè)試期間的總線錯(cuò)誤怎么解決?

我在測(cè)試 MBIST 時(shí)觀察到 總線錯(cuò)誤 。為了測(cè)試所有SRAM,我使用 ECCMAP 寄存器觸發(fā)故障,但這導(dǎo)致了帶有陷阱4 和 2類的 總線錯(cuò)誤 。我還觀察到,訪問(wèn)損壞的內(nèi)存時(shí)會(huì)報(bào)告 ALM7
2025-07-25 06:49:15

CAN總線傳播延遲過(guò)大導(dǎo)致通信異?,F(xiàn)象解析

應(yīng)答信號(hào),影響數(shù)據(jù)傳輸確認(rèn)機(jī)制;也可能會(huì)引發(fā)數(shù)據(jù)采樣錯(cuò)誤,導(dǎo)致發(fā)送與接收位不一致,產(chǎn)生位錯(cuò)誤。本文將在不考慮其它影響下,對(duì)傳播延遲過(guò)大造成的應(yīng)答錯(cuò)誤現(xiàn)象進(jìn)行詳細(xì)解析。相
2025-07-15 11:47:51688

NCS放大器DAD3350常見(jiàn)錯(cuò)誤碼及解決方案

NCS放大器DAD3350在工業(yè)應(yīng)用中可能出現(xiàn)錯(cuò)誤碼及解決方案如下: ? 一、常見(jiàn)錯(cuò)誤碼及原因 ? ? 過(guò)載報(bào)警(如LV低電壓報(bào)警、OVC過(guò)電流報(bào)警) ? ? 原因 ?: 電源電壓異常(如過(guò)低或
2025-07-12 09:41:04763

電商API常見(jiàn)錯(cuò)誤排查指南:避免集成陷阱

? 在電商平臺(tái)開發(fā)中,API集成是連接系統(tǒng)、實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)交換的核心環(huán)節(jié)。然而,許多開發(fā)者在集成過(guò)程中常遇到錯(cuò)誤導(dǎo)致項(xiàng)目延遲、數(shù)據(jù)丟失或用戶體驗(yàn)下降。本文將逐步介紹常見(jiàn)錯(cuò)誤類型、排查方法以及預(yù)防策略
2025-07-11 14:21:491873

大模型推理顯存和計(jì)算量估計(jì)方法研究

過(guò)程中需要占用大量顯存,導(dǎo)致推理速度變慢,甚至無(wú)法進(jìn)行。 計(jì)算量過(guò)大:大模型的計(jì)算量較大,導(dǎo)致推理速度慢,難以滿足實(shí)時(shí)性要求。 為了解決這些問(wèn)題,本文將針對(duì)大模型推理顯存和計(jì)算量的估計(jì)方法進(jìn)行研究。 二
2025-07-03 19:43:59

半導(dǎo)體存儲(chǔ)芯片核心解析

Flash、ROM (只讀存儲(chǔ)器)、新興存儲(chǔ)器 (如 MRAM, PCM, ReRAM/FeRAM)。 3. 主流存儲(chǔ)芯片技術(shù)詳解 3.1 DRAM - 電腦/手機(jī)的內(nèi)存條/運(yùn)行內(nèi)存 原理:利用
2025-06-24 09:09:39

RTsmart源碼編譯錯(cuò)誤,提醒我缺少文件導(dǎo)致make失敗,為什么?

menuconfig后,編譯出現(xiàn)錯(cuò)誤,提醒我缺少文件導(dǎo)致make失敗 編譯項(xiàng)目示例正常(比如YOLO),但是編譯MPP里面的示例出現(xiàn)問(wèn)題 這里的Enable userapps samples 退出后編譯出現(xiàn)
2025-06-20 06:25:33

STM32CubeProgrammer總是校驗(yàn)錯(cuò)誤的原因?

芯片以及串口線也是同樣的問(wèn)題。更改波特率至9600也時(shí)校驗(yàn)錯(cuò)誤,Programmer換成2.8版本的也是一樣的校驗(yàn)錯(cuò)誤問(wèn)題 同樣的MCU在其他電腦上就沒(méi)問(wèn)題,就只有在我的電腦上會(huì)出現(xiàn)這樣的錯(cuò)誤
2025-06-16 06:09:26

STM32CubeProgrammer總是校驗(yàn)錯(cuò)誤的原因?

芯片以及串口線也是同樣的問(wèn)題。更改波特率至9600也時(shí)校驗(yàn)錯(cuò)誤,Programmer換成2.8版本的也是一樣的校驗(yàn)錯(cuò)誤問(wèn)題 同樣的MCU在其他電腦上就沒(méi)問(wèn)題,就只有在我的電腦上會(huì)出現(xiàn)這樣的錯(cuò)誤
2025-06-11 07:29:51

高溫電阻率測(cè)試中的5個(gè)常見(jiàn)錯(cuò)誤及規(guī)避方法

測(cè)試結(jié)果出現(xiàn)偏差。下面為你詳細(xì)剖析高溫電阻率測(cè)試中的 5 個(gè)常見(jiàn)錯(cuò)誤,并提供有效的規(guī)避方法。? 一、樣品制備不當(dāng)? 常見(jiàn)錯(cuò)誤? 樣品的形狀、尺寸和表面狀態(tài)對(duì)高溫電阻率測(cè)試結(jié)果影響顯著。部分檢測(cè)人員在制備樣品時(shí),未
2025-06-09 13:07:42739

cubeIDE在run后出現(xiàn)錯(cuò)誤怎么解決?

求助,第一次運(yùn)行程序,提示“region `FLASH' overflowed by 14736 bytes”,修改了Optimization level后,又出現(xiàn)下列錯(cuò)誤
2025-06-09 08:18:27

HarmonyOS優(yōu)化應(yīng)用內(nèi)存占用問(wèn)題性能優(yōu)化四

一、使用purgeable優(yōu)化C++內(nèi)存 Purgeable Memory是HarmonyOS中native層常用的內(nèi)存管理機(jī)制,可用于圖像處理的Bitmap、流媒體應(yīng)用的一次性數(shù)據(jù)、圖片等
2025-05-24 17:20:00

HarmonyOS優(yōu)化應(yīng)用內(nèi)存占用問(wèn)題性能優(yōu)化一

一、 概述 用戶功能的不斷增強(qiáng),應(yīng)用越來(lái)越復(fù)雜,占用的內(nèi)存也在不斷膨脹,而內(nèi)存作為系統(tǒng)的稀缺資源比較有限,當(dāng)應(yīng)用程序占用過(guò)多內(nèi)存時(shí),系統(tǒng)可能會(huì)頻繁進(jìn)行內(nèi)存回收和重新分配,導(dǎo)致應(yīng)用程序的性能下降,甚至
2025-05-21 11:27:08

使用STM32捕獲PWM時(shí)同時(shí)捕獲2個(gè)通道時(shí)會(huì)出現(xiàn)捕獲的頻率值不準(zhǔn)確,是什么原因導(dǎo)致的?

在使用STM32F103芯片的2個(gè)定時(shí)器捕獲2路PWM波時(shí),當(dāng)2路信號(hào)同時(shí)輸入時(shí),會(huì)出現(xiàn)捕獲的頻率不準(zhǔn)確,但是分開一路一路的輸入捕獲時(shí),捕獲的PWM頻率是正確的,這是什么原因導(dǎo)致的呢?
2025-05-14 06:24:00

使用SDK 1.3.5構(gòu)建的固件上出現(xiàn)-2 kV ESD導(dǎo)致USB傳輸失敗怎么解決?

通道、USB 端點(diǎn)和傳感器。 重置后,控制器從傳感器接收幀,但 USB 傳輸仍然無(wú)法從 EP0 獲取 UVC 探測(cè)器并提交控制數(shù)據(jù)。 在某些時(shí)候,它會(huì)導(dǎo)致超時(shí)錯(cuò)誤。 即使我們多次執(zhí)行重置,此問(wèn)題仍然
2025-05-07 07:09:18

如何驗(yàn)證CAN控制器的錯(cuò)誤響應(yīng)機(jī)制?

CAN節(jié)點(diǎn)的穩(wěn)定性、可靠性和安全性得益于其強(qiáng)大的錯(cuò)誤管理機(jī)制。上一篇文章我們介紹了CAN控制器的錯(cuò)誤管理機(jī)制的工作原理。本文將基于其工作原理及ISO16845-1:2016標(biāo)準(zhǔn),為大家介紹
2025-04-30 18:24:15702

基于 IAR Embedded Workbench 的自研 MCU 芯片軟件函數(shù)與變量內(nèi)存布局優(yōu)化精控方法

在嵌入式軟件開發(fā)領(lǐng)域,MCU芯片軟件的架構(gòu)設(shè)計(jì)與內(nèi)存布局的精細(xì)規(guī)劃對(duì)系統(tǒng)性能和穩(wěn)定性起著關(guān)鍵作用。本文檔聚焦于IAR Embedded Workbench環(huán)境下,為自研MCU芯片軟件提供了一套詳盡
2025-04-30 16:38:27652

芯片錯(cuò)誤概率探究:基于汽車芯片安全設(shè)計(jì)視角

摘要: 本文深入剖析了芯片錯(cuò)誤概率問(wèn)題,結(jié)合 AEC-Q100 與 IEC61508 標(biāo)準(zhǔn),以 130 納米工藝 1Mbit RAM 芯片為例闡述其軟錯(cuò)誤概率,探討汽車芯片安全等級(jí)劃分及軟錯(cuò)誤
2025-04-30 16:35:11751

氮化鎵快充芯片U8608的保護(hù)機(jī)制

深圳銀聯(lián)寶氮化鎵快充芯片U8608具有多重故障保護(hù)機(jī)制,通過(guò)集成多維度安全防護(hù),防止設(shè)備出現(xiàn)過(guò)充電、過(guò)放電、過(guò)電流等問(wèn)題?,在電子設(shè)備中構(gòu)建起全方位的安全屏障,今天具體分析一下!
2025-04-29 18:17:541107

使用STM32捕獲PWM時(shí)同時(shí)捕獲2個(gè)通道時(shí)會(huì)出現(xiàn)捕獲的頻率值不準(zhǔn)確是什么原因導(dǎo)致的?

在使用STM32F103芯片的2個(gè)定時(shí)器捕獲2路PWM波時(shí),當(dāng)2路信號(hào)同時(shí)輸入時(shí),會(huì)出現(xiàn)捕獲的頻率不準(zhǔn)確,但是分開一路一路的輸入捕獲時(shí),捕獲的PWM頻率是正確的,這是什么原因導(dǎo)致的呢?
2025-04-27 08:39:28

使用STM32捕獲PWM時(shí)同時(shí)捕獲2個(gè)通道時(shí)會(huì)出現(xiàn)捕獲的頻率值不準(zhǔn)確的問(wèn)題,是什么原因導(dǎo)致的?

在使用STM32F103芯片的2個(gè)定時(shí)器捕獲2路PWM波時(shí),當(dāng)2路信號(hào)同時(shí)輸入時(shí),會(huì)出現(xiàn)捕獲的頻率不準(zhǔn)確,但是分開一路一路的輸入捕獲時(shí),捕獲的PWM頻率是正確的,這是什么原因導(dǎo)致的呢?
2025-04-25 08:29:21

KT6368A藍(lán)牙芯片應(yīng)該自帶數(shù)據(jù)校驗(yàn)機(jī)制嗎?

KT6368A藍(lán)牙芯片應(yīng)該自帶數(shù)據(jù)校驗(yàn)機(jī)制嗎?
2025-04-19 16:34:28907

采用雙時(shí)鐘機(jī)制下的XL2407P芯片

網(wǎng)和帶ACK的通信模式。發(fā)射輸出功率、工作頻道以及通信數(shù)據(jù)率均可配置。 XL2407P內(nèi)含以EPROM作為內(nèi)存的8位微控制器,專為多組PWM的應(yīng)用設(shè)計(jì)。例如燈控, 遙控車應(yīng)用。采用CMOS制程并同時(shí)提供客戶低成本、高性能、及高性價(jià)比等顯著優(yōu)勢(shì)。 XL2407P采用雙時(shí)鐘機(jī)制,高速振蕩或者低
2025-04-07 10:43:57486

CAN節(jié)點(diǎn)錯(cuò)誤管理機(jī)制工作原理解析

CAN節(jié)點(diǎn)的穩(wěn)定性、可靠性和安全性得益于其強(qiáng)大的錯(cuò)誤管理機(jī)制。那么,CAN節(jié)點(diǎn)為什么能感知錯(cuò)誤?又是如何響應(yīng)錯(cuò)誤?您是否能清晰地想象出這一過(guò)程?本文將為大家詳細(xì)分析CAN節(jié)點(diǎn)錯(cuò)誤管理的工作過(guò)程。節(jié)點(diǎn)
2025-03-25 11:44:33767

HBM新技術(shù),橫空出世:引領(lǐng)內(nèi)存芯片創(chuàng)新的新篇章

隨著人工智能、高性能計(jì)算(HPC)以及數(shù)據(jù)中心等領(lǐng)域的快速發(fā)展,對(duì)內(nèi)存帶寬和容量的需求日益增長(zhǎng)。傳統(tǒng)的內(nèi)存技術(shù),如DDR和GDDR,已逐漸難以滿足這些新興應(yīng)用對(duì)高性能、低延遲和高能效的嚴(yán)苛要求。正是
2025-03-22 10:14:143658

雙核鎖步技術(shù)在汽車芯片錯(cuò)誤防護(hù)中的應(yīng)用詳解

摘要 本文深入探討了雙核鎖步技術(shù)在保障汽車芯片安全性中的應(yīng)用。文章首先分析了國(guó)產(chǎn)車規(guī)芯片在高安全可靠領(lǐng)域面臨的軟錯(cuò)誤難點(diǎn)及攻克方向,然后詳細(xì)介紹了雙核鎖步技術(shù)的基本原理及其在汽車芯片防軟錯(cuò)誤的重要性
2025-03-21 22:58:28939

多板 PCB 組裝中最常見(jiàn)的邏輯錯(cuò)誤

許多電子系統(tǒng)和產(chǎn)品并不只使用1個(gè)PCB,而是可能包含多個(gè)電路板、單個(gè)電路板和多個(gè)外部模塊,或者通過(guò)電纜與外部設(shè)備連接。在多板系統(tǒng)中,兩個(gè)電路板之間可能會(huì)出現(xiàn)邏輯錯(cuò)誤,但如果沒(méi)有全面審查設(shè)計(jì),可能
2025-03-14 18:15:04768

快速搞懂C語(yǔ)言程序內(nèi)存分區(qū)!

到動(dòng)態(tài)分配的數(shù)據(jù)等內(nèi)容。(內(nèi)存分區(qū)圖示)理解這些內(nèi)存分區(qū)的結(jié)構(gòu)和特性,不僅有助于編寫更高效的代碼,還能幫助排查和解決如段錯(cuò)誤、內(nèi)存泄漏、棧溢出等常見(jiàn)問(wèn)題。以下是常見(jiàn)的六
2025-03-14 17:37:151413

全面剖析倒裝芯片封裝技術(shù)的內(nèi)在機(jī)制、特性優(yōu)勢(shì)、面臨的挑戰(zhàn)及未來(lái)走向

半導(dǎo)體技術(shù)的日新月異,正引領(lǐng)著集成電路封裝工藝的不斷革新與進(jìn)步。其中,倒裝芯片(Flip Chip)封裝技術(shù)作為一種前沿的封裝工藝,正逐漸占據(jù)半導(dǎo)體行業(yè)的核心地位。本文旨在全面剖析倒裝芯片封裝技術(shù)的內(nèi)在機(jī)制、特性、優(yōu)勢(shì)、面臨的挑戰(zhàn)及其未來(lái)走向。
2025-03-14 10:50:221624

配置STM32H7S3L8芯片時(shí)出現(xiàn)沒(méi)有下載芯片包的報(bào)錯(cuò),怎么解決?

我在配置STM32H7S3L8芯片時(shí)出現(xiàn)報(bào)錯(cuò),大致意思是講我沒(méi)有下載芯片包,但是實(shí)際我已經(jīng)下載,我在公司使用了電腦卻沒(méi)有這個(gè)問(wèn)題,我的筆記本出現(xiàn)了這個(gè)報(bào)錯(cuò),我將附上筆記本配置圖片以及IDE的問(wèn)題圖片,重點(diǎn)我已經(jīng)重裝STM32CUBEIDE不止5次,一樣無(wú)效?。?!
2025-03-13 08:02:07

求助,關(guān)于STM32H7系列芯片下的ECC功能的疑問(wèn)求解

《rm0399-stm32h745755-and-stm32h747757-advanced-armbased-32bit-mcus-stmicroelectronics》和《an5342-STM32H7系列內(nèi)部存儲(chǔ)器保護(hù)的糾錯(cuò)碼(ECC)管理》均說(shuō)明了無(wú)法關(guān)閉RAM區(qū)的ECC,這就導(dǎo)致雖然可以按照例程那樣讀取非初始化的區(qū)域來(lái)觸發(fā)ECC中斷,但是
2025-03-11 07:43:43

RAM容量不足導(dǎo)致的數(shù)據(jù)溢出如何預(yù)防和處理?

在 STM32F411 中,RAM 容量是有限的,特別是在進(jìn)行復(fù)雜的數(shù)據(jù)處理和存儲(chǔ)時(shí),可能會(huì)遇到數(shù)據(jù)溢出問(wèn)題。數(shù)據(jù)溢出是指程序運(yùn)行時(shí),數(shù)據(jù)超出了 RAM 的分配區(qū)域,導(dǎo)致程序崩潰或數(shù)據(jù)丟失。STM32F411 的 RAM 容量為 128KB,在處理較大數(shù)據(jù)量時(shí),容易出現(xiàn)內(nèi)存溢出的情況。如何預(yù)防和處理
2025-03-07 16:09:23

使用OpenVINO?進(jìn)行推理時(shí)的內(nèi)存泄漏怎么解決?

使用 OpenVINO? 進(jìn)行推理時(shí),內(nèi)存會(huì)隨著時(shí)間的推移而增加,并導(dǎo)致程序崩潰。
2025-03-06 08:29:03

Java的SPI機(jī)制詳解

接口規(guī)范以及可以發(fā)現(xiàn)接口實(shí)現(xiàn)的機(jī)制,而不需要實(shí)現(xiàn)接口。 SPI機(jī)制在Java中應(yīng)用廣泛。例如:JDBC中的數(shù)據(jù)庫(kù)連接驅(qū)動(dòng)使用SPI機(jī)制,只定義了數(shù)據(jù)庫(kù)連接接口的規(guī)范,而具體實(shí)現(xiàn)由各大數(shù)據(jù)庫(kù)廠商實(shí)現(xiàn),不同數(shù)據(jù)庫(kù)的實(shí)現(xiàn)不同,我們常用的mysql的驅(qū)動(dòng)也實(shí)現(xiàn)了其接口規(guī)范,通過(guò)這種方式,JDBC數(shù)
2025-03-05 11:35:571202

vsan數(shù)據(jù)恢復(fù)—vsan緩存盤出現(xiàn)故障導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失的數(shù)據(jù)恢復(fù)案例

VMware vsan架構(gòu)采用2+1模式。每臺(tái)設(shè)備只有一個(gè)磁盤組(7+1),緩存盤的大小為240GB,容量盤的大小為1.2TB。 由于其中一臺(tái)主機(jī)(0號(hào)組設(shè)備)的緩存盤出現(xiàn)故障,導(dǎo)致VMware虛擬化環(huán)境中搭建的2臺(tái)虛擬機(jī)的磁盤文件(vmdk)丟失。
2025-02-23 17:05:54701

高超聲速動(dòng)力能熱管理設(shè)計(jì)要點(diǎn) | 耐高溫絕緣陶瓷涂層材料

摘要:高超聲速飛行器因良好的高速突防和快速打擊能力成為重要的裝備發(fā)展方向,但高超聲速飛行工況的特殊性使其動(dòng)力系統(tǒng)對(duì)熱管理和能源供給提出了嚴(yán)苛的需求。通過(guò)分析對(duì)高超聲速動(dòng)力的熱防護(hù)、燃油熱管理和進(jìn)氣
2025-02-22 16:39:48833

DLPC3479投圖時(shí),光機(jī)偶爾出現(xiàn)不亮的情況,是什么原因導(dǎo)致的?

value默認(rèn)是1023,通過(guò)Rlim設(shè)定電流,請(qǐng)問(wèn)如下設(shè)計(jì)是否會(huì)導(dǎo)致LED偶爾不亮; 或者是否還有其他因素導(dǎo)致LED偶爾出現(xiàn)不亮的情況,謝謝!
2025-02-19 07:04:43

通過(guò)DLPDLCR4710EVM-G2的光機(jī)進(jìn)行測(cè)試,斷斷續(xù)續(xù)會(huì)出現(xiàn)啟動(dòng)失敗,最終徹底連接不上,是什么原因導(dǎo)致的?

您好,我們自制了4710-g2evm的控制板,通過(guò)4710-g2evm的光機(jī)進(jìn)行測(cè)試,斷斷續(xù)續(xù)會(huì)出現(xiàn)啟動(dòng)失敗,最終徹底連接不上。使用放大鏡查看發(fā)現(xiàn),DMD芯片損壞,請(qǐng)問(wèn)可能是什么原因導(dǎo)致的?
2025-02-18 06:36:28

聚焦離子束(FIB)技術(shù):芯片調(diào)試的利器

FIB技術(shù)在芯片調(diào)試中的關(guān)鍵應(yīng)用1.電路修改與修復(fù)在芯片設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中,由于種種原因可能會(huì)出現(xiàn)設(shè)計(jì)錯(cuò)誤或制造缺陷。FIB技術(shù)能夠?qū)?b class="flag-6" style="color: red">芯片電路進(jìn)行精細(xì)的修改和修復(fù)。通過(guò)切斷錯(cuò)誤的金屬連接線,并重
2025-02-17 17:19:531110

DLPC3479主芯片的IIC1是1.8V,與DLPC3479從芯片的IIC0 3.3V直接相連,會(huì)不會(huì)導(dǎo)致芯片IIC1引腳出現(xiàn)問(wèn)題?

在dlp4710evm-lc _sch參考原理圖里,DLPC3479主芯片的IIC1是1.8V,與DLPC3479從芯片的IIC03.3V直接相連,這個(gè)會(huì)不會(huì)導(dǎo)致芯片IIC1引腳出現(xiàn)問(wèn)題?比如
2025-02-17 06:27:03

HarmonyOS NEXT 原生應(yīng)用/元服務(wù)-DevEco Profiler性能調(diào)優(yōu)概述

對(duì)系統(tǒng)API的誤用、對(duì)ArkTS對(duì)象的不合理持有導(dǎo)致內(nèi)存泄露等,引起對(duì)系統(tǒng)資源不合理使用,包括對(duì)CPU、內(nèi)存、網(wǎng)絡(luò)、文件、GPU、以及其他外設(shè)等器件的冗余占用,進(jìn)而引發(fā)性能問(wèn)題。 通常,進(jìn)行性能優(yōu)化
2025-02-14 15:19:30

MT62F1G64D8EK-031 AAT:B內(nèi)存芯片

MT62F1G64D8EK-031 AAT:B是一款高性能的DDR3 SDRAM內(nèi)存芯片,由MICRON制造,專為滿足現(xiàn)代電子設(shè)備對(duì)高速內(nèi)存的需求而設(shè)計(jì)。該產(chǎn)品具備優(yōu)秀的存儲(chǔ)性能和能效,適用于多種
2025-02-14 07:41:56

MT53E512M32D1ZW-046 AAT:B內(nèi)存芯片

MT53E512M32D1ZW-046 AAT:B是一款高性能的DDR4 SDRAM內(nèi)存芯片,由MICRON制造,專為現(xiàn)代電子設(shè)備的高速內(nèi)存需求而設(shè)計(jì)。該產(chǎn)品具備卓越的存儲(chǔ)性能和能效,適用于多種
2025-02-14 07:41:19

MT53E256M16D1DS-046 AAT:B內(nèi)存芯片

MT53E256M16D1DS-046 AAT:B是一款高性能的DDR4 SDRAM內(nèi)存芯片,由MICRON制造,專為滿足現(xiàn)代電子設(shè)備對(duì)高速內(nèi)存的需求而設(shè)計(jì)。該產(chǎn)品具備出色的存儲(chǔ)性能和能效,適用于
2025-02-14 07:40:35

MT53E1G32D2FW-046 AAT:B內(nèi)存芯片

MT53E1G32D2FW-046 AAT:B是一款高性能的DDR4 SDRAM內(nèi)存芯片,由MICRON制造,專為滿足現(xiàn)代電子設(shè)備對(duì)高速內(nèi)存的需求而設(shè)計(jì)。該產(chǎn)品具備出色的存儲(chǔ)性能和能效,適用于多種
2025-02-14 07:39:58

MT53E1536M32D4DE-046 AAT:C內(nèi)存芯片

MT53E1536M32D4DE-046 AAT:C是一款高性能的DDR4 SDRAM內(nèi)存芯片,由MICRON制造,專為滿足現(xiàn)代電子設(shè)備對(duì)高速內(nèi)存的需求而設(shè)計(jì)。該產(chǎn)品具備出色的存儲(chǔ)性能和能效,適用于
2025-02-14 07:39:11

MT53D512M16D1DS-046 AAT:D內(nèi)存芯片

MT53D512M16D1DS-046 AAT:D是一款高性能的DDR4 SDRAM內(nèi)存芯片,由MICRON制造,專為滿足現(xiàn)代電子設(shè)備對(duì)高速內(nèi)存的需求而設(shè)計(jì)。該產(chǎn)品具備出色的存儲(chǔ)性能和能效,適用于
2025-02-14 07:38:28

MT41K64M16TW-107 AUT:J內(nèi)存芯片

MT41K64M16TW-107 AUT:J是一款高性能的DDR3 SDRAM內(nèi)存芯片,由MICRON制造,專為滿足現(xiàn)代電子設(shè)備對(duì)高速內(nèi)存的需求而設(shè)計(jì)。該產(chǎn)品具備出色的存儲(chǔ)性能和能效,適用于多種
2025-02-14 07:37:41

HMCG88AEBRA內(nèi)存

HMCG88AEBRA和M321R4GA3BB6-CQK是兩款高性能的32GB DDR5 4800 EC8 RDIMM內(nèi)存條,專為需要高可靠性和高性能的應(yīng)用而設(shè)計(jì)。這些內(nèi)存條采用288-Pin
2025-02-14 07:02:20

ADS1298輸出0x7FFFFF出現(xiàn)數(shù)據(jù)漂移的情況,怎么解決?

數(shù)據(jù)漂移的情況:就是IN2或者IN3采樣出來(lái)的數(shù)據(jù)剛開始就大于中間值,然后慢慢往0x7FFFFF(正值最大)漂移,最后出現(xiàn)0x7FFFFF(正值最大),從而導(dǎo)致采樣的波形被0x7FFFFF淹沒(méi)掉了,沒(méi)有數(shù)據(jù)了。而且IN3出現(xiàn)的幾率很大,還望能得到解決。在線等
2025-02-11 06:48:58

負(fù)荷開關(guān)和隔離開關(guān)有著什么區(qū)別

在電力系統(tǒng)的開關(guān)設(shè)備大家族中,負(fù)荷開關(guān)和隔離開關(guān)都有著各自的重要職責(zé),但它們?cè)诠δ?、結(jié)構(gòu)等諸多方面存在明顯的區(qū)別。 一、功能特性 負(fù)荷開關(guān) 負(fù)荷開關(guān)主要用于正常情況下接通和斷開負(fù)荷電流。它能夠在額定
2025-02-05 15:50:005053

hyper 內(nèi)存,Hyper內(nèi)存:如何監(jiān)控與優(yōu)化hyper-v虛擬機(jī)的內(nèi)存使用

在日常工作中,我們常常需要處理大量的文件和數(shù)據(jù),這些重復(fù)性任務(wù)不僅耗時(shí)耗力,還容易因疲勞而導(dǎo)致錯(cuò)誤。幸運(yùn)的是,批量管理工具的出現(xiàn)為這一問(wèn)題提供了高效的解決方案。今天就為大家介紹Hyper內(nèi)存
2025-01-24 14:15:321767

使用DevEco Studio高效解決鴻蒙原生應(yīng)用內(nèi)存問(wèn)題

在鴻蒙原生應(yīng)用開發(fā)過(guò)程中,可能由于種種原因導(dǎo)致應(yīng)用內(nèi)存未被正常地使用或者歸還至操作系統(tǒng),從而引發(fā)內(nèi)存異常占用、內(nèi)存泄漏等問(wèn)題,最終導(dǎo)致應(yīng)用卡頓甚至崩潰,嚴(yán)重影響用戶體驗(yàn)。
2025-01-16 14:44:021285

如何使用DevEco Studio性能調(diào)優(yōu)工具Profiler定位應(yīng)用內(nèi)存問(wèn)題

鴻蒙應(yīng)用開發(fā)過(guò)程中,可能由于種種原因導(dǎo)致應(yīng)用內(nèi)存未被正的使用或者歸還至操作系統(tǒng),從而引發(fā)內(nèi)存異常占用、內(nèi)存泄漏等問(wèn)題,最終導(dǎo)致應(yīng)用卡頓甚至崩潰,嚴(yán)重影響用戶體驗(yàn)。
2025-01-16 14:40:552707

基于Vector工具進(jìn)行CAN協(xié)議錯(cuò)誤幀的分析實(shí)踐

廣播發(fā)送的短幀結(jié)構(gòu),還體現(xiàn)在其錯(cuò)誤檢測(cè)機(jī)制上。通過(guò)總線數(shù)據(jù)以及總線波形來(lái)分析總線故障時(shí),CAN協(xié)議錯(cuò)誤檢測(cè)機(jī)制中豐富的錯(cuò)誤幀類型能讓定位問(wèn)題的效率更高。錯(cuò)誤幀是CA
2025-01-15 10:03:491070

英偉達(dá)Blackwell芯片機(jī)架出現(xiàn)故障 訂單下滑

據(jù)外媒報(bào)道,英偉達(dá)首批搭載Blackwell芯片的機(jī)架出現(xiàn)過(guò)熱問(wèn)題,芯片之間的連接方式也存在故障。主要客戶微軟、亞馬遜云部門、谷歌母公司Alphabet和Meta等公司已經(jīng)減少了英偉達(dá)
2025-01-14 15:39:18699

新加坡云服務(wù)器網(wǎng)絡(luò)中斷的常見(jiàn)原因有哪些

新加坡云服務(wù)器網(wǎng)絡(luò)中斷的常見(jiàn)原因包括以下幾方面: 硬件故障,網(wǎng)絡(luò)設(shè)備故障:數(shù)據(jù)中心內(nèi)部的路由器、交換機(jī)等網(wǎng)絡(luò)設(shè)備出現(xiàn)故障,會(huì)導(dǎo)致云服務(wù)器無(wú)法正常連接網(wǎng)絡(luò)。例如,設(shè)備老化、損壞或配置錯(cuò)誤等都可能引發(fā)
2025-01-13 17:03:001322

電橋電路的常見(jiàn)錯(cuò)誤分析

電橋電路的常見(jiàn)錯(cuò)誤分析主要包括以下幾個(gè)方面: 一、電阻值不準(zhǔn)確 電阻值不準(zhǔn)確是電橋電路常見(jiàn)的錯(cuò)誤之一。這可能是由于電阻本身的誤差,如電阻的標(biāo)稱值與實(shí)際值存在偏差,或者電阻老化、溫度變化等因素導(dǎo)致
2025-01-09 10:08:432060

GPIO錯(cuò)誤排查與解決

在嵌入式系統(tǒng)和微控制器編程中,通用輸入輸出(GPIO)是最常見(jiàn)的接口之一。然而,在使用GPIO時(shí),我們可能會(huì)遇到各種錯(cuò)誤。 1. 理解GPIO GPIO是微控制器上的一組引腳,可以被配置為輸入或輸出
2025-01-09 09:46:563897

電源 PCB 布局中的常見(jiàn)錯(cuò)誤及避免方式

的異?,F(xiàn)象、根本原因以及優(yōu)化布局的方法和相關(guān)技巧。 1. 常見(jiàn)錯(cuò)誤一:功率器件散熱不良 異?,F(xiàn)象 功率器件溫度過(guò)高,可能導(dǎo)致器件性能下降,甚至損壞。例如,MOSFET 的導(dǎo)通電阻會(huì)隨溫度升高而增大,進(jìn)一步增加功耗,形成惡性循環(huán)。長(zhǎng)期高溫還可能影響器件的壽命,
2025-01-08 15:28:101933

使用ADS1293以及CC2541設(shè)計(jì)一款個(gè)人心電監(jiān)護(hù)儀,設(shè)成320Hz時(shí)出現(xiàn)明顯的波形失真,為什么?

大家好,我正在使用ADS1293以及CC2541設(shè)計(jì)一款個(gè)人心電監(jiān)護(hù)儀。當(dāng)我將ODR設(shè)置成160Hz時(shí),一切正常;當(dāng)我設(shè)成320Hz時(shí)出現(xiàn)明顯的波形失真, 以下是我的測(cè)試數(shù)據(jù): 我估計(jì)有數(shù)據(jù)漏掉了,但我測(cè)試了藍(lán)牙計(jì)數(shù)是連續(xù)的沒(méi)有少掉,不知是怎么回事。希望專家給予指導(dǎo)! 謝謝!
2025-01-06 06:27:40

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