動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2026-04-17 10:03

  芯片的“第一道體檢”：一文讀懂CP測試，半導(dǎo)體人必看！

  

  在芯片從晶圓到成品的漫長旅程里，有一道看不見卻至關(guān)重要的關(guān)卡——CP測試。它被稱為芯片良率的“守門員”、封裝成本的“節(jié)流閥”，更是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈里前端制造與后端封測之間的關(guān)鍵樞紐。今天這篇，用通俗、好懂、能直接拿去用的方式，把CP測試講透一、先搞懂：CP測試到底是什么？CP=ChipProbing，也叫晶圓測試/中測/WaferSort。一句話定義：在晶圓完成

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• 發(fā)布了文章 2026-04-10 10:02

  未來測試圈新范式：不懂Skills的測試人，正在被AI悄悄淘汰

  

  最近，在測試圈和AI圈，"Skills"這個概念的熱度高居不下，成為行業(yè)熱議的焦點話題。不少測試工程師和AI愛好者都在詢問我：Skills到底是什么？它和剛推出的MCP（ModelControlPlatform）有什么關(guān)系？作為測試人員有必要學習這項技術(shù)嗎？如果是零基礎(chǔ)該如何快速上手？其實，作為測試從業(yè)者，我們學習Skills的核心目的極其樸素且實用：用最低

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• 發(fā)布了文章 2026-04-03 10:01

  芯片測試設(shè)備市場持續(xù)高速增長--Handler市場2033年將達29.7億美元 | CAGR 6.8%

  

  據(jù)SiliconSemiconductorMagazine2026年3月12日報道，全球半導(dǎo)體芯片測試Handler市場規(guī)模預(yù)計到2033年將達到29.7億美元，復(fù)合年增長率（CAGR）為6.8%。汽車電子和AI芯片的爆發(fā)式需求正成為推動這一市場持續(xù)擴張的核心引擎。市場全景：從16億到30億的倍增之路根據(jù)GrowthMarketReports的最新研究數(shù)據(jù)，

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• 發(fā)布了文章 2026-03-27 10:02

  FT 測試：芯片出貨前的最后一道閘門

  

  在封裝流程里FT是個挺微妙的工序。它排在最后，卻經(jīng)常最先被懷疑：良率掉了→是不是FT卡嚴了？客訴來了→終測有沒有漏檢？批量異?！遣皇菧y試程序問題？但在產(chǎn)線待久了會慢慢明白一句話：FT通常不是問題的起點，而是問題的出口。一、FT測試到底在干嘛？FT，全稱FinalTest一句直白點的解釋：在芯片完成封裝后，確認功能與關(guān)鍵參數(shù)是否滿足出貨要求。FT和CP最大的

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• 發(fā)布了文章 2026-03-20 10:05

  【微納談芯】芯片測試越來越難的背后

  

  芯片測試的本質(zhì)是“在原子級精度下，驗證每一個晶體管的可靠性”。早年28nm及以上成熟制程，測試核心是“篩選壞片”，流程相對簡單；但隨著制程進入14nm及以下，尤其是3nm、2nm節(jié)點，測試早已不是“篩選”那么簡單，而是要應(yīng)對工藝復(fù)雜度、工具一致性、公差極限等多重挑戰(zhàn)，難度呈指數(shù)級攀升。工藝復(fù)雜度的飆升，是測試難度增加的核心根源。正如OntoInnovatio

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• 發(fā)布了文章 2026-03-13 10:02

  “養(yǎng)龍蝦”的第一批“受害者”出現(xiàn)了，有人專門花錢卸載...

  

  近日，互聯(lián)網(wǎng)上掀起一股“養(yǎng)龍蝦”熱潮。由于開源AI智能體工具OpenClaw圖標是一只紅色龍蝦，被大家稱為“龍蝦”。它通過整合調(diào)用通信軟件和大語言模型，在用戶電腦上自主執(zhí)行文件管理、郵件收發(fā)、數(shù)據(jù)處理等復(fù)雜任務(wù)。隨著“養(yǎng)龍蝦”風潮擴散，多家企業(yè)官宣“龍蝦”模型，還有部分地區(qū)已將其應(yīng)用到政務(wù)服務(wù)場景中。然而，“養(yǎng)龍蝦”也存在不少風險和隱患。3月11日，相關(guān)話題

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• 發(fā)布了文章 2026-03-06 10:03

  揭秘芯片測試：如何驗證數(shù)十億個晶體管

  

  微觀世界的“體檢”難題在一枚比指甲蓋還小的芯片中，集成了數(shù)十億甚至上百億個晶體管，例如NVIDIA的H100GPU包含800億個晶體管。要如何確定每一個晶體管都在正常工作？這是一個超乎想象的復(fù)雜工程。如果讓人類拿著顯微鏡一個接一個地檢查，測試一顆芯片可能需要數(shù)百年。然而在現(xiàn)代工廠中，這必須在幾秒鐘內(nèi)完成。這就是可測性設(shè)計（DFT,DesignforTesta

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• 發(fā)布了文章 2026-02-27 10:05

  芯片DFT Scan測試原理

  

  在芯片制造過程中，可能會引入物理缺陷，這些缺陷在電氣層面的表現(xiàn)稱為故障。常見的故障模型包括固定型故障（例如引腳固定連接到電源或地）、跳變故障、路徑延時故障（如門級端口信號上升下降過慢）、以及靜態(tài)電流型故障（表現(xiàn)為異常高電流泄漏）。若某個故障能在電路中向后傳播并導(dǎo)致芯片輸出與預(yù)期不符，則稱為失效。值得注意的是，并非所有故障都會引發(fā)失效，只有那些最終影響到功能正

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• 發(fā)布了文章 2026-02-13 10:01

  超全的芯片測試原理講解

  

  做芯片測試的同學經(jīng)常會涉及到Continuity測試、Leakage測試、GPIOdrivecapability測試、GPIOpullup/pulldownresistor測試、standbyidd、runidd、IDDQ、MBIST、SCAN等測試，小編在此帶大家總結(jié)一下這些測試的基本原理。Continuity測試（即OS測試）該測試主要是測試芯片的ope

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• 發(fā)布了文章 2026-02-06 10:02

  半導(dǎo)體通用測試文件標準STDF介紹

  

  對于半導(dǎo)體測試特別是集成了復(fù)雜IP的芯片，要完整記錄各項DC,AC,功能性測試等等生成的龐大數(shù)據(jù)，還要和芯片的生產(chǎn)批次，生成時間，測試機臺等信息組合起來，那不能無序簡單地堆砌成一個文件了事。這樣會造成后期解析分析非常困難。同時考慮到各個EDA大廠生成的測試pattern的格式不同，ATE的解析和測試結(jié)果的生成格式不同。那在生產(chǎn)環(huán)境可能就有多種組合產(chǎn)生，如果你

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