一、讀寫(xiě)均衡失效引發(fā)的核心問(wèn)題 讀寫(xiě)均衡(磨損均衡,Wear Leveling)是SD卡固件通過(guò)算法將數(shù)據(jù)均勻分配到閃存芯片各單元,避免局部單元過(guò)度擦寫(xiě)的關(guān)鍵機(jī)制。瀚海微SD卡出現(xiàn)讀寫(xiě)均衡失效后,會(huì)
2025-12-29 15:08:07
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今天結(jié)合電子整流器的核心原理,帶大家拆解整流器內(nèi)部器件,從結(jié)構(gòu)、失效原因到檢測(cè)方法逐一講透,文末還附上實(shí)操修復(fù)案例,新手也能看懂。
2025-12-28 15:24:43
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在智能制造快速發(fā)展的今天,機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)技術(shù)正成為工業(yè)質(zhì)量控制的重要支柱。作為視覺(jué)系統(tǒng)的核心組件,條形視覺(jué)光源以其獨(dú)特的光學(xué)特性和靈活的應(yīng)用優(yōu)勢(shì),在眾多工業(yè)場(chǎng)景中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。 思奧特智能條形視覺(jué)
2025-12-24 15:35:41
104 具體問(wèn)題,更能為制造工藝的改進(jìn)提供直接依據(jù),從而從源頭上提升產(chǎn)品的可靠性與穩(wěn)定性。LED失效分析方法詳解1.減薄樹(shù)脂光學(xué)透視法目視檢查是最基礎(chǔ)、最便捷的非破壞性分析方
2025-12-24 11:59:35
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CW32時(shí)鐘運(yùn)行中失效檢測(cè)的流程是什么?CW32時(shí)鐘運(yùn)行中失效檢測(cè)注意事項(xiàng)有哪些?
2025-12-10 07:22:58
聚焦離子束技術(shù)聚焦離子束(FocusedIonBeam,FIB)技術(shù)作為現(xiàn)代半導(dǎo)體失效分析的核心手段之一,通常與掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,SEM)集成
2025-12-04 14:09:25
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2025年11月,水晶光電失效分析與材料研究實(shí)驗(yàn)室憑硬核實(shí)力,順利通過(guò)中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)(CNAS)嚴(yán)苛審核,正式獲頒CNAS認(rèn)可證書(shū)。這標(biāo)志著實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)能力與服務(wù)質(zhì)量已接軌國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),彰顯了企業(yè)核心技術(shù)創(chuàng)新力與綜合競(jìng)爭(zhēng)力,為深耕國(guó)際市場(chǎng)筑牢品質(zhì)根基”。
2025-11-28 15:18:30
591 CW32x030 支持外部時(shí)鐘(HSE 和LSE)運(yùn)行中失效檢測(cè)功能。在外部時(shí)鐘穩(wěn)定運(yùn)行過(guò)程中,時(shí)鐘檢測(cè)邏輯持續(xù)
以一定的檢測(cè)周期對(duì)HSE 和LSE 時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行計(jì)數(shù):在檢測(cè)周期內(nèi)檢測(cè)到設(shè)定個(gè)數(shù)
2025-11-27 06:37:44
電子元器件封裝中的引線鍵合工藝,是實(shí)現(xiàn)芯片與外部世界連接的關(guān)鍵技術(shù)。其中,金鋁鍵合因其應(yīng)用廣泛、工藝簡(jiǎn)單和成本低廉等優(yōu)勢(shì),成為集成電路產(chǎn)品中常見(jiàn)的鍵合形式。金鋁鍵合失效這種現(xiàn)象雖不為人所熟知,卻是
2025-10-24 12:20:57
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個(gè)微小的鍵合點(diǎn)失效,就可能導(dǎo)致整個(gè)模塊功能異常甚至徹底報(bào)廢。因此,對(duì)鍵合點(diǎn)進(jìn)行精準(zhǔn)的強(qiáng)度測(cè)試,是半導(dǎo)體封裝與失效分析領(lǐng)域中不可或缺的一環(huán)。 本文科準(zhǔn)測(cè)控小編將圍繞Alpha W260推拉力測(cè)試機(jī)這一核心設(shè)備,深入淺出地
2025-10-21 17:52:43
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電子元器件失效可能導(dǎo)致電路功能異常,甚至整機(jī)損毀,耗費(fèi)大量調(diào)試時(shí)間。部分半導(dǎo)體器件存在外表完好但性能劣化的“軟失效”,進(jìn)一步增加了問(wèn)題定位的難度。電阻器失效1.開(kāi)路失效:最常見(jiàn)故障。由過(guò)電流沖擊導(dǎo)致
2025-10-17 17:38:52
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于LED產(chǎn)業(yè)的科研檢測(cè)機(jī)構(gòu),能夠?qū)?b class="flag-6" style="color: red">LED進(jìn)行嚴(yán)格的檢測(cè),致力于為客戶(hù)提供高質(zhì)量的測(cè)試服務(wù),為LED在各個(gè)領(lǐng)域的可靠應(yīng)用提供堅(jiān)實(shí)的質(zhì)量保障。以金鑒接觸的失效分析大數(shù)據(jù)顯示,LED死燈的原因可能過(guò)百種
2025-10-16 14:56:40
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失效和封裝失效的原因,并分析其背后的物理機(jī)制。金鑒實(shí)驗(yàn)室作為一家專(zhuān)注于LED產(chǎn)業(yè)的科研檢測(cè)機(jī)構(gòu),致力于改善LED品質(zhì),服務(wù)LED產(chǎn)業(yè)鏈中各個(gè)環(huán)節(jié),使LED產(chǎn)業(yè)健康
2025-10-14 12:09:44
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實(shí)際應(yīng)用環(huán)境中,LED器件常常面臨高溫、高濕、電壓波動(dòng)等復(fù)雜工況,這些因素會(huì)放大材料缺陷,加速器件老化,導(dǎo)致實(shí)際使用壽命遠(yuǎn)低于理論值。本文通過(guò)系統(tǒng)分析LED器件的
2025-09-29 22:23:35
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分享一個(gè)在熱發(fā)射顯微鏡下(Thermal EMMI) 芯片失效分析案例,展示我們?nèi)绾瓮ㄟ^(guò) IV測(cè)試 與 紅外熱點(diǎn)成像,快速鎖定 IGBT 模組的失效點(diǎn)。
2025-09-19 14:33:02
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在現(xiàn)代科研和工業(yè)檢測(cè)中,光學(xué)技術(shù)扮演著不可替代的角色,而光纖光譜儀正是其中的“小巨人”。它體型小巧,卻具備強(qiáng)大的檢測(cè)能力,被廣泛應(yīng)用于材料分析、環(huán)境監(jiān)測(cè)、食品安全、半導(dǎo)體檢測(cè)等領(lǐng)域。 首先,光纖
2025-09-18 13:38:48
288 近年來(lái),隨著LED照明市場(chǎng)的快速擴(kuò)張,越來(lái)越多的企業(yè)加入LED研發(fā)制造行列。然而行業(yè)繁榮的背后,卻隱藏著一個(gè)令人擔(dān)憂(yōu)的現(xiàn)象:由于從業(yè)企業(yè)技術(shù)實(shí)力參差不齊,LED驅(qū)動(dòng)電路質(zhì)量差異巨大,導(dǎo)致燈具失效事故
2025-09-16 16:14:52
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LED壽命雖被標(biāo)稱(chēng)5萬(wàn)小時(shí),但那只是25℃下的理論值。高溫、高濕、粉塵、電流沖擊等現(xiàn)場(chǎng)條件會(huì)迅速放大缺陷,使產(chǎn)品提前失效。統(tǒng)計(jì)表明,現(xiàn)場(chǎng)失效多集中在投運(yùn)前三年,且呈批次性,直接推高售后成本。把常見(jiàn)
2025-09-12 14:36:55
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AM1.5匹配光譜,聚光鏡用拋物面鏡減損耗,光學(xué)積分器靠反射勻光,準(zhǔn)直反射鏡出平行光斑。紫創(chuàng)測(cè)控Luminbox依托集團(tuán)近20年高端檢測(cè)裝備研發(fā)經(jīng)驗(yàn),已實(shí)現(xiàn)LED、鹵
2025-09-03 18:08:42
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從實(shí)驗(yàn)室的光譜分析設(shè)備到工業(yè)檢測(cè)的激光干涉儀,微型導(dǎo)軌通過(guò)實(shí)現(xiàn)光路組件的精準(zhǔn)位移與穩(wěn)定定位.
2025-09-03 17:58:30
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橢偏儀是一種基于橢圓偏振分析的光學(xué)測(cè)量?jī)x器,通過(guò)探測(cè)偏振光與樣品相互作用后偏振態(tài)的變化,獲取材料的光學(xué)常數(shù)和結(jié)構(gòu)信息。Flexfilm全光譜橢偏儀可以非接觸對(duì)薄膜的厚度與折射率的高精度表征,廣泛應(yīng)用
2025-08-27 18:04:52
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,系統(tǒng)分析風(fēng)華貼片電感的典型失效模式,并提出針對(duì)性預(yù)防措施。 ?一、典型失效模式分析 1.? 磁路破損類(lèi)失效 磁路破損是貼片電感的核心失效模式之一,具體表現(xiàn)為磁芯裂紋、磁導(dǎo)率偏差及結(jié)構(gòu)斷裂。此類(lèi)失效通常源于以下原
2025-08-27 16:38:26
658 在如今的照明領(lǐng)域,LED燈以其節(jié)能、環(huán)保、長(zhǎng)壽命等優(yōu)勢(shì)被廣泛應(yīng)用。然而,只有經(jīng)過(guò)嚴(yán)格檢測(cè)的LED燈才能在眾多產(chǎn)品中脫穎而出,為消費(fèi)者帶來(lái)真正的優(yōu)質(zhì)體驗(yàn)。LED燈具檢測(cè)涉及眾多關(guān)鍵項(xiàng)目,涵蓋力學(xué)測(cè)試
2025-08-25 15:28:30
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電子元器件失效是指其在規(guī)定工作條件下,喪失預(yù)期功能或性能參數(shù)超出允許范圍的現(xiàn)象。失效可能發(fā)生于生命周期中的任一階段,不僅影響設(shè)備正常運(yùn)行,還可能引發(fā)系統(tǒng)級(jí)故障。導(dǎo)致失效的因素復(fù)雜多樣,可系統(tǒng)性地歸納
2025-08-21 14:09:32
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短路失效網(wǎng)上已經(jīng)有很多很詳細(xì)的解釋和分類(lèi)了,但就具體工作中而言,我經(jīng)常遇到的失效情況主要還是發(fā)生在脈沖階段和關(guān)斷階段以及關(guān)斷完畢之后的,失效的模式主要為熱失效和動(dòng)態(tài)雪崩失效以及電場(chǎng)尖峰過(guò)高失效(電流分布不均勻)。理論上還有其他的一些失效情況,但我工作中基本不怎么遇到了。
2025-08-21 11:08:54
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,對(duì)工業(yè)化生產(chǎn)至關(guān)重要。光學(xué)輪廓儀以高分辨率、三維成像及精準(zhǔn)表征微觀結(jié)構(gòu)的特性,在彈性印章制程參數(shù)研究中不可替代。光子灣科技的光學(xué)輪廓儀,能精準(zhǔn)檢測(cè)彈性印章表面形貌、微觀
2025-08-19 18:10:57
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隨著半導(dǎo)體器件向更精密的封裝方案持續(xù)演進(jìn),傳統(tǒng)光學(xué)檢測(cè)技術(shù)正逐漸觸及物理與計(jì)算的雙重邊界。對(duì)2.5D/3D集成、混合鍵合及晶圓級(jí)工藝的依賴(lài)日益加深,使得缺陷檢測(cè)的一致性與時(shí)效性面臨嚴(yán)峻挑戰(zhàn)——若無(wú)
2025-08-19 13:47:10
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有限元仿真技術(shù),建立了CBGA焊點(diǎn)失效分析的完整方法體系。通過(guò)系統(tǒng)的力學(xué)性能測(cè)試與多物理場(chǎng)耦合仿真,揭示了溫度循環(huán)載荷下CBGA焊點(diǎn)的失效演化規(guī)律,為高可靠性電子封裝設(shè)計(jì)與工藝優(yōu)化提供了理論依據(jù)和技術(shù)支持。 一、CBGA焊點(diǎn)失效原理 1、 失效機(jī)理 CBGA焊
2025-08-15 15:14:14
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在半導(dǎo)體器件研發(fā)與制造領(lǐng)域,失效分析已成為不可或缺的環(huán)節(jié),F(xiàn)IB(聚焦離子束)截面分析,作為失效分析的利器,在微觀世界里大顯身手。它運(yùn)用離子束精準(zhǔn)切割樣品,巧妙結(jié)合電子束成像技術(shù),實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)
2025-08-15 14:03:37
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限制,PCB在生產(chǎn)和應(yīng)用中常出現(xiàn)失效,引發(fā)質(zhì)量糾紛。為查明原因、解決問(wèn)題并明確責(zé)任,失效分析成為必不可少的環(huán)節(jié)。失效分析流程1.失效定位失效分析的首要任務(wù)是基于失效
2025-08-15 13:59:15
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降低失效成本,高精度CT檢測(cè)新能源汽車(chē)功率模塊
2025-08-08 15:56:09
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光學(xué)分辨率,配合2000萬(wàn)像素高清相機(jī),實(shí)現(xiàn)微觀結(jié)構(gòu)精確定位與測(cè)量。 強(qiáng)大參數(shù)覆蓋與智能軟件:超寬電氣范圍: IV/CV儀表支持±10kV高壓、±1500A大電流,多頻CV測(cè)量范圍1kHz-5MHz
2025-07-29 16:21:17
LED技術(shù)因其高效率和長(zhǎng)壽命在現(xiàn)代照明領(lǐng)域扮演著關(guān)鍵角色。然而,LED封裝的失效問(wèn)題可能影響其性能,甚至導(dǎo)致整個(gè)照明系統(tǒng)的故障。以下是一些常見(jiàn)的問(wèn)題原因及其預(yù)防措施:1.固晶膠老化和芯片脫落:LED
2025-07-29 15:31:37
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分析儀可檢測(cè)的問(wèn)題覆蓋從信號(hào)干擾到應(yīng)用邏輯的全鏈路,關(guān)鍵在于結(jié)合協(xié)議層級(jí)逐步排查。例如:
連接不穩(wěn)定:先檢查物理層RSSI/SNR,再分析鏈路層連接參數(shù),最后驗(yàn)證HCI命令處理。
數(shù)據(jù)丟失:從L2CAP
2025-07-15 15:52:07
芯片失效分析的主要步驟芯片開(kāi)封:去除IC封膠,同時(shí)保持芯片功能的完整無(wú)損,保持die,bondpads,bondwires乃至lead-frame不受損傷,為下一步芯片失效分析實(shí)驗(yàn)做準(zhǔn)備。SEM
2025-07-11 10:01:15
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,為了弄清楚各類(lèi)異常所導(dǎo)致的失效根本原因,IC失效分析也同樣在行業(yè)內(nèi)扮演著越來(lái)越重要的角色。一塊芯片上集成的器件可達(dá)幾千萬(wàn),因此進(jìn)行集成電路失效分析必須具備先進(jìn)、準(zhǔn)確的技術(shù)和設(shè)備,并由具有相關(guān)專(zhuān)業(yè)知識(shí)的半導(dǎo)體分析人員開(kāi)展分析工作。
2025-07-10 11:14:34
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在電子封裝領(lǐng)域,各類(lèi)材料因特性與應(yīng)用場(chǎng)景不同,失效模式和分析檢測(cè)方法也各有差異。
2025-07-09 09:40:52
999 一、芯片缺陷在LED器件的失效案例中,芯片缺陷是一個(gè)不容忽視的因素。失效的LED器件表現(xiàn)出正向壓降(Vf)增大的現(xiàn)象,在電測(cè)過(guò)程中,隨著正向電壓的增加,樣品仍能發(fā)光,這暗示著LED內(nèi)部可能存在電連接
2025-07-08 15:29:13
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芯片失效和封裝失效的原因,并分析其背后的物理機(jī)制。金鑒實(shí)驗(yàn)室是一家專(zhuān)注于LED產(chǎn)業(yè)的科研檢測(cè)機(jī)構(gòu),致力于改善LED品質(zhì),服務(wù)LED產(chǎn)業(yè)鏈中各個(gè)環(huán)節(jié),使LED產(chǎn)業(yè)健康
2025-07-07 15:53:25
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連接器失效可能由電氣、機(jī)械、環(huán)境、材料、設(shè)計(jì)、使用不當(dāng)或壽命到期等多種原因引起。通過(guò)電氣、機(jī)械、外觀和功能測(cè)試,可以判斷連接器是否失效。如遇到失效的情況需要及時(shí)更新,保證工序的正常進(jìn)行。
2025-06-27 17:00:56
654 引言 深凹槽結(jié)構(gòu)在航空發(fā)動(dòng)機(jī)葉片榫槽、模具型腔等關(guān)鍵零部件中廣泛應(yīng)用,其幾何參數(shù)精度直接影響裝備的可靠性與壽命。光學(xué)檢測(cè)技術(shù)憑借非接觸、高精度等優(yōu)勢(shì),成為深凹槽質(zhì)量控制的核心手段。隨著飛秒激光
2025-06-24 14:43:24
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中圖儀器SEM掃描電鏡斷裂失效分析采用鎢燈絲電子槍?zhuān)潆娮訕尠l(fā)射電流大、穩(wěn)定性好,以及對(duì)真空度要求不高,使得鎢燈絲臺(tái)式掃描電鏡能夠在較短的時(shí)間內(nèi)達(dá)到穩(wěn)定的工作狀態(tài)并獲得清晰的圖像,從而提高了檢測(cè)效率
2025-06-17 15:02:09
在光學(xué)精密加工領(lǐng)域,微納結(jié)構(gòu)元件的三維形貌檢測(cè)是保障器件性能的重要環(huán)節(jié)。以微透鏡陣列、衍射光學(xué)元件為代表的精密光學(xué)元件,其特征尺寸已突破亞微米量級(jí),對(duì)表面輪廓精度與結(jié)構(gòu)面形誤差的檢測(cè)要求達(dá)到納米級(jí)
2025-06-05 10:09:26
0 隨著LED業(yè)內(nèi)競(jìng)爭(zhēng)的不斷加劇,LED品質(zhì)受到了前所未有的重視。LED在制造、運(yùn)輸、裝配及使用過(guò)程中,生產(chǎn)設(shè)備、材料和操作者都有可能給LED帶來(lái)靜電(ESD)損傷,導(dǎo)致LED過(guò)早出現(xiàn)漏電流增大,光衰
2025-05-28 18:08:32
608 
摘要
斐索干涉儀是工業(yè)上常見(jiàn)的光學(xué)計(jì)量設(shè)備,通常用于高精度測(cè)試光學(xué)表面的質(zhì)量。在VirtualLab Fusion中通道配置的幫助下,我們建立了一個(gè)Fizeau干涉儀,并將其用于測(cè)試不同的光學(xué)表面
2025-05-28 08:48:10
摘要
在半導(dǎo)體工業(yè)中,晶片檢測(cè)系統(tǒng)被用來(lái)檢測(cè)晶片上的缺陷并找到它們的位置。為了確保微結(jié)構(gòu)所需的圖像分辨率,檢測(cè)系統(tǒng)通常使用高NA物鏡,并且工作在UV波長(zhǎng)范圍內(nèi)。作為例子,我們建立了包括高NA聚焦
2025-05-28 08:45:08
從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。 SuperViewW3D光學(xué)表面輪廓檢測(cè)儀器具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)
2025-05-26 16:17:36
光柵是光學(xué)工程師使用的最基本的工具。為了設(shè)計(jì)和分析這類(lèi)組件,快速物理光學(xué)建模和設(shè)計(jì)軟件VirtualLab Fusion為用戶(hù)提供了許多有用的工具。其中包括參數(shù)優(yōu)化,以輕松優(yōu)化系統(tǒng),以及參數(shù)運(yùn)行,它
2025-05-23 08:49:17
對(duì)于大多數(shù)應(yīng)用,發(fā)光二極管,或者LED,近幾年已經(jīng)超越了白熾燈光源。LED的優(yōu)勢(shì)包括體積小巧、發(fā)光效率高和使用壽命長(zhǎng)。LED也有光學(xué)工程師必須處理的不良特性,比如混色和準(zhǔn)直的需要。在這個(gè)例子中,我們
2025-05-21 09:13:44
芯片失效分析中對(duì)芯片的截面進(jìn)行觀察,需要對(duì)樣品進(jìn)行截面研磨達(dá)到要觀察的位置,而后再采用光學(xué)顯微鏡(OM Optical Microscopy)或者掃描電子顯微(SEM Scanning Electron Microscopy)進(jìn)行形貌觀察。
2025-05-15 13:59:00
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摘要 . 本文介紹了一款名為“PanDao”的新軟件工具,專(zhuān)為光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員打造。該工具能夠在設(shè)計(jì)階段模擬出最佳的制造流程和所需技術(shù),并對(duì)設(shè)計(jì)參數(shù)和公差的制造成本影響進(jìn)行分析。
在光學(xué)系統(tǒng)的生成
2025-05-12 08:55:43
摘要 :本文描述了對(duì)給定的光學(xué)設(shè)計(jì)進(jìn)行調(diào)控和仿真的策略,以及沿制造鏈應(yīng)用的最佳光學(xué)制造技術(shù)集(OFT)。這樣,就可以在光學(xué)設(shè)計(jì)階段進(jìn)行成本影響分析,從而優(yōu)化設(shè)計(jì),降低制造成本和風(fēng)險(xiǎn)。
1.簡(jiǎn)介
在
2025-05-12 08:53:48
了一種新型的軟件工具,可以將可生產(chǎn)性分析和制造鏈優(yōu)化集成到光學(xué)設(shè)計(jì)過(guò)程中(見(jiàn)圖2b)。PanDao通過(guò)讀取ISO 10110標(biāo)準(zhǔn)中描述的透鏡參數(shù)和公差,并考慮360多種光學(xué)制造技術(shù),以最低成本生成輸出
2025-05-12 08:51:43
LED是一種直接將電能轉(zhuǎn)換為可見(jiàn)光和輻射能的發(fā)光器件,具有耗電量小、發(fā)光效率高、體積小等優(yōu)點(diǎn),目前已經(jīng)逐漸成為了一種新型高效節(jié)能產(chǎn)品,并且被廣泛應(yīng)用于顯示、照明、背光等諸多領(lǐng)域。近年來(lái),隨著LED
2025-05-09 16:51:23
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。這樣,光學(xué)設(shè)計(jì)師就可以測(cè)試他們的項(xiàng)目的可生產(chǎn)性,并找出生產(chǎn)所需的基本光學(xué)制造技術(shù)。此外,光學(xué)設(shè)計(jì)參數(shù)的制造成本影響分析是可能的,設(shè)計(jì)參數(shù)可以?xún)?yōu)化為最小的制造成本。因此,PanDao描述了整個(gè)制造鏈
2025-05-09 08:51:45
簡(jiǎn)介
盡管光學(xué)設(shè)計(jì)能夠?qū)?b class="flag-6" style="color: red">光學(xué)系統(tǒng)的應(yīng)用參數(shù)(如調(diào)制傳遞函數(shù)MTF、圖像分辨率等)轉(zhuǎn)化為定義明確的技術(shù)圖紙,但其可生產(chǎn)性評(píng)估往往只能事后進(jìn)行,例如通過(guò)人工分析,或者使用近年來(lái)出現(xiàn)的PanDao軟件
2025-05-09 08:49:35
失效分析的定義與目標(biāo)失效分析是對(duì)失效電子元器件進(jìn)行診斷的過(guò)程。其核心目標(biāo)是確定失效模式和失效機(jī)理。失效模式指的是我們觀察到的失效現(xiàn)象和形式,例如開(kāi)路、短路、參數(shù)漂移、功能失效等;而失效機(jī)理則是指導(dǎo)
2025-05-08 14:30:23
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始于終端用戶(hù)對(duì)應(yīng)用場(chǎng)景的描述。他們與光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)師溝通,后者借助Zemax、Code V等專(zhuān)業(yè)軟件,將光作為工具的應(yīng)用需求轉(zhuǎn)化為光學(xué)系統(tǒng)的具體架構(gòu)。
系統(tǒng)設(shè)計(jì)師產(chǎn)出技術(shù)圖紙并定義多項(xiàng)關(guān)鍵參數(shù),包括所需
2025-05-08 08:46:08
是通過(guò)對(duì)其加工參數(shù)進(jìn)行系統(tǒng)分析確定的。
1.簡(jiǎn)介
在光學(xué)制造技術(shù)中,可預(yù)測(cè)且穩(wěn)定的制造工藝對(duì)成本與質(zhì)量進(jìn)行可靠管理至關(guān)重要。本文闡述了針對(duì)特定光學(xué)元件與系統(tǒng),如何來(lái)確定光學(xué)制造鏈中應(yīng)采用的最佳光學(xué)制造技術(shù)
2025-05-07 09:01:47
:始于 (a)終端客戶(hù)(以光為工具的應(yīng)用需求方,定義MTF、圖像分辨率、信噪比等應(yīng)用參數(shù)),繼由 (b)光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)師將應(yīng)用參數(shù)轉(zhuǎn)化為光學(xué)系統(tǒng)架構(gòu),并依據(jù)ISO10110標(biāo)準(zhǔn)明確光學(xué)元件參數(shù)(如玻璃類(lèi)型
2025-05-07 08:54:01
若要在PanDao官網(wǎng)上進(jìn)行光學(xué)元件制造鏈優(yōu)化分析,就需在指定界面輸入元件的關(guān)鍵參數(shù)值及公差范圍。
在PanDao中輸入透鏡參數(shù)的五種方法如下:
a) 導(dǎo)入由光學(xué)設(shè)計(jì)軟件保存的透鏡數(shù)據(jù)
b) 導(dǎo)入
2025-05-06 08:47:41
譜線)讀取形狀精度參數(shù)3/A(B)。546.1nm波長(zhǎng)的光是由汞蒸氣燈在電激發(fā)下產(chǎn)生的綠色發(fā)射譜線,在激光技術(shù)問(wèn)世前廣泛應(yīng)用于光學(xué)檢測(cè)、對(duì)準(zhǔn)及校準(zhǔn)。根據(jù)ISO10110標(biāo)準(zhǔn),用戶(hù)可通過(guò)修改3/@lambda中
2025-05-06 08:45:53
,不是確定性的,并且在很大程度上依賴(lài)于人的經(jīng)驗(yàn)和談判。
PanDao是一款能夠滿(mǎn)足光學(xué)設(shè)計(jì)和光學(xué)制造的仿真軟件,它能夠?qū)崿F(xiàn)在設(shè)計(jì)階段,整個(gè)光學(xué)元件的預(yù)覽,并且考慮了與鏡頭有關(guān)的參數(shù)和成本,例如在制造中
2025-05-06 08:43:51
的性能,但在高電流、高溫等極端環(huán)境下,它們可能引發(fā)功能失效,甚至導(dǎo)致整個(gè)LED系統(tǒng)損壞。因此,在LED芯片制造和應(yīng)用過(guò)程中,利用無(wú)損檢測(cè)技術(shù)對(duì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行詳細(xì)檢查
2025-04-28 20:18:47
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LED光源發(fā)黑現(xiàn)象LED光源以其高效、節(jié)能、環(huán)保的特性,在照明領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。然而,LED光源在使用過(guò)程中出現(xiàn)的發(fā)黑現(xiàn)象,卻成為了影響其性能和壽命的重要因素。LED光源黑化的多重原因分析LED
2025-04-27 15:47:07
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分析方面面臨諸多挑戰(zhàn),尤其是在化學(xué)開(kāi)封、X-Ray和聲掃等測(cè)試環(huán)節(jié),國(guó)內(nèi)技術(shù)尚不成熟?;诖?,廣電計(jì)量集成電路測(cè)試與分析研究所推出了先進(jìn)封裝SiC功率模組失效分析技
2025-04-25 13:41:41
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智能化生產(chǎn)。
多功能與適應(yīng)性
多參數(shù)測(cè)量:除直徑外,還能檢測(cè)橢圓度、平均直徑、極大/極小直徑等,可配置測(cè)控軟件進(jìn)行詳細(xì)分析存儲(chǔ)。
環(huán)境耐受性:部分型號(hào)(如八軸測(cè)徑儀、十六軸測(cè)徑儀等)抗高溫、灰塵、煙霧
2025-04-15 14:16:31
使用環(huán)境導(dǎo)致失效,常見(jiàn)的失效模式主要包括過(guò)熱失效和短路失效。1.過(guò)熱失效及其規(guī)避措施過(guò)熱失效通常是由于功率損耗過(guò)大、散熱不良或工作環(huán)境溫度過(guò)高導(dǎo)致的。主要成因包括:正向
2025-04-11 09:52:17
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本資料共分兩篇,第一篇為基礎(chǔ)篇,主要介紹了電子元器件失效分析基本概念、程序、技術(shù)及儀器設(shè)備;第二篇為案例篇,主要介紹了九類(lèi)元器件的失效特點(diǎn)、失效模式和失效機(jī)理以及有效的預(yù)防和控制措施,并給出九類(lèi)
2025-04-10 17:43:54
高密度互聯(lián)(HDI)板的激光盲孔技術(shù)是5G、AI芯片的關(guān)鍵工藝,但孔底開(kāi)路失效卻讓無(wú)數(shù)工程師頭疼!SGS微電子實(shí)驗(yàn)室憑借在失效分析領(lǐng)域的豐富經(jīng)驗(yàn),總結(jié)了一些失效分析經(jīng)典案例,旨在為工程師提供更優(yōu)
2025-03-24 10:45:39
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開(kāi)蓋檢測(cè)(DecapsulationTest),即Decap,是一種在電子元器件檢測(cè)領(lǐng)域中廣泛應(yīng)用的破壞性實(shí)驗(yàn)方法。這種檢測(cè)方式在芯片的失效分析、真?zhèn)舞b定等多個(gè)關(guān)鍵領(lǐng)域發(fā)揮著不可或缺的作用,為保障
2025-03-20 11:18:23
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問(wèn)題。為了確保PCB的質(zhì)量和可靠性,失效分析技術(shù)顯得尤為重要。外觀檢查外觀檢查是失效分析的第一步,通過(guò)目測(cè)或借助簡(jiǎn)單儀器(如立體顯微鏡、金相顯微鏡或放大鏡)對(duì)PC
2025-03-17 16:30:54
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作為VirtualLab Fusion的開(kāi)發(fā)者,我們認(rèn)為光線光學(xué)和物理光學(xué)并不是用戶(hù)必須選擇的兩種分離的建模技術(shù)。在我們的概念中,光線追跡形式的光線光學(xué)是物理光學(xué)建模的一個(gè)子集。而在
2025-03-14 08:54:35
的光學(xué)問(wèn)題,如色差和高遲滯性。為了解決這些問(wèn)題,我們使用Techwiz LCD 1D提供基于相差的顏色分析。
2025-03-14 08:47:25
本文首先介紹了器件失效的定義、分類(lèi)和失效機(jī)理的統(tǒng)計(jì),然后詳細(xì)介紹了封裝失效分析的流程、方法及設(shè)備。
2025-03-13 14:45:41
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太誘電容的失效分析,特別是針對(duì)裂紋與短路問(wèn)題,需要從多個(gè)角度進(jìn)行深入探討。以下是對(duì)這兩個(gè)問(wèn)題的詳細(xì)分析: 一、裂紋問(wèn)題 裂紋成因 : 熱膨脹系數(shù)差異 :電容器的各個(gè)組成部分(如陶瓷介質(zhì)、端電極
2025-03-12 15:40:02
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概述
激光在大氣湍流中傳輸時(shí)會(huì)拾取大氣湍流導(dǎo)致的相位畸變,特別是在長(zhǎng)距離傳輸?shù)募す馔ㄐ畔到y(tǒng)中。這種畸變會(huì)使傳輸激光的波前劣化。通過(guò)在系統(tǒng)中引入自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng),可以對(duì)激光傳輸時(shí)拾取的低頻畸變進(jìn)行校正
2025-03-10 08:55:14
能夠改變光學(xué)系統(tǒng)的參數(shù)是任何設(shè)置分析的關(guān)鍵部分,以便更好地了解系統(tǒng)在從制造錯(cuò)誤到組件潛在錯(cuò)位的任何情況下的行為。設(shè)計(jì)一個(gè)在面對(duì)這些不可避免的偏離理想化預(yù)期設(shè)計(jì)時(shí)表現(xiàn)出魯棒性的系統(tǒng),與找到一個(gè)完全滿(mǎn)足
2025-03-07 08:46:51
摘要
為了詳細(xì)分析光學(xué)系統(tǒng)的功能和能力,需要能夠改變光學(xué)系統(tǒng)的參數(shù)。為此,VirtualLab Fusion的參數(shù)運(yùn)行提供了多種選項(xiàng)和可以應(yīng)用不同的變化策略。不同迭代的結(jié)果以方便緊湊的方式提供在參數(shù)
2025-03-06 08:57:30
高密度封裝技術(shù)在近些年迅猛發(fā)展,同時(shí)也給失效分析過(guò)程帶來(lái)新的挑戰(zhàn)。常規(guī)的失效分析手段難以滿(mǎn)足結(jié)構(gòu)復(fù)雜、線寬微小的高密度封裝分析需求,需要針對(duì)具體分析對(duì)象對(duì)分析手法進(jìn)行調(diào)整和改進(jìn)。
2025-03-05 11:07:53
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的分析器來(lái)研究這種影響。
場(chǎng)曲
場(chǎng)曲,也稱(chēng)為“場(chǎng)的曲率”,是一種常見(jiàn)的光學(xué)效應(yīng),它會(huì)使平面物體在畫(huà)面的某些部分看起來(lái)很銳利,而不是在整個(gè)幀上均勻銳利。這是由于大多數(shù)光學(xué)元件的彎曲性質(zhì)造成的,它們將圖像投影到
2025-03-03 09:22:39
;新參數(shù)優(yōu)化
?快捷鍵“Ctrl+T”
?光學(xué)裝置編輯器的工具按鈕
參數(shù)選擇
檢測(cè)裝置規(guī)范
指定約束條件
在此頁(yè)面上,用戶(hù)可以指定約束類(lèi)型和關(guān)聯(lián)值
? 系統(tǒng)選定的自由參數(shù)
? 探測(cè)器或分析儀計(jì)算
2025-02-28 08:44:06
您好, 我把DLP 4500的LED和光學(xué)鏡頭拆除了,現(xiàn)在想讓激光從LED的位置進(jìn)入,利用DMD進(jìn)行空間調(diào)制。按照TI官網(wǎng)上的視頻加載的圖片,但是在出射方向觀察的激光圖樣沒(méi)有發(fā)生變化,請(qǐng)問(wèn)
2025-02-28 07:05:12
近期北京某院校送修一臺(tái)是德科技的B1500A半導(dǎo)體參數(shù)分析儀。報(bào)修故障為:儀器開(kāi)機(jī)后自診斷報(bào)錯(cuò)。 下面是是德科技B1500A半導(dǎo)體參數(shù)分析儀的維修情況: 儀器名稱(chēng) 是德科技B1500A半導(dǎo)體參數(shù)分析
2025-02-20 17:42:15
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? 本文介紹了芯片失效分析的方法和流程,舉例了典型失效案例流程,總結(jié)了芯片失效分析關(guān)鍵技術(shù)面臨的挑戰(zhàn)和對(duì)策,并總結(jié)了芯片失效分析的注意事項(xiàng)。 ? ? 芯片失效分析是一個(gè)系統(tǒng)性工程,需要結(jié)合電學(xué)測(cè)試
2025-02-19 09:44:16
2908 [使用案例] -通過(guò)使用界面配置光柵結(jié)構(gòu)[用例]
-通過(guò)使用接口配置光柵結(jié)構(gòu)[用例]
-分析耦合光柵的衍射效率
-用于評(píng)估光導(dǎo)耦合光柵的定制檢測(cè)器[用例]
-通過(guò)對(duì)特定參數(shù)的掃描來(lái)檢查效率
-利用參數(shù)運(yùn)行[用例] -利用參數(shù)運(yùn)行[用例]
VirtualLab Fusion技術(shù)
2025-02-12 08:58:09
的性能。
用于AR/MR應(yīng)用的光導(dǎo)足跡分析
足跡和光柵分析工具允許光學(xué)設(shè)計(jì)師確定光將如何與光導(dǎo)的各種光柵區(qū)域相互作用。
光導(dǎo)的光柵分析與光柵參數(shù)的平滑調(diào)制
在本案例中,通過(guò)使用VirtualLab
2025-02-11 09:45:11
:光柵調(diào)制是為單個(gè)光柵區(qū)域定義的。
4.打開(kāi)足跡和光柵分析工具并設(shè)置光學(xué)裝置
5.足跡和光柵分析工具
6.光柵參數(shù)和相關(guān)范圍的選擇
?可以同時(shí)改變一個(gè)或兩個(gè)光柵參數(shù)。
?參數(shù)空間的采樣可以相對(duì)粗略
2025-02-10 08:50:54
光學(xué)儀器是利用光的特性來(lái)觀察、測(cè)量和分析物體的性質(zhì)的設(shè)備,它們?cè)诳蒲小⒐I(yè)生產(chǎn)、醫(yī)療診斷、天文觀測(cè)等領(lǐng)域發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。以下是對(duì)光學(xué)儀器的工作原理、種類(lèi)及功能的詳細(xì)介紹。 一、光學(xué)
2025-01-31 10:00:00
2405 功率
分析儀的
參數(shù)及其含義對(duì)于正確測(cè)量和
分析電力
參數(shù)至關(guān)重要。以下是一些主要
參數(shù)及其詳細(xì)解釋?zhuān)?/div>
2025-01-28 15:04:00
2221 單腔雙光梳技術(shù)是近年來(lái)光學(xué)領(lǐng)域備受矚目的研究方向之一。這項(xiàng)技術(shù)不僅在光譜分析、激光測(cè)距、厚膜檢測(cè)、泵浦探測(cè)等領(lǐng)域具有重要應(yīng)用前景,還為研究精密光譜學(xué)、量子光學(xué)、光子學(xué)等提供了全新的研究平臺(tái)。
2025-01-23 13:56:45
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PCB失效分析:步驟與技術(shù)作為各種元器件的載體與電路信號(hào)傳輸?shù)臉屑~PCB(PrintedCircuitBoard,印刷電路板)已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關(guān)鍵的部分,其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定
2025-01-20 17:47:01
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回流焊時(shí)光學(xué)檢測(cè)方法主要依賴(lài)于自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(AOI)技術(shù)。以下是對(duì)回流焊時(shí)光學(xué)檢測(cè)方法的介紹: 一、AOI技術(shù)概述 AOI(Automated Optical Inspection)即自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)
2025-01-20 09:33:46
1451 | | 本應(yīng)用說(shuō)明介紹了兩種模擬LED的方法,強(qiáng)調(diào)了一些有用的分析工具。 FRED用于LED建模?CAD導(dǎo)入?FRED可以導(dǎo)入IGES和STEP格式CAD模型,允許光學(xué)和機(jī)械元件的快速集成。?一些
2025-01-17 09:59:17
整流二極管失效分析方法主要包括對(duì)失效原因的分析以及具體的檢測(cè)方法。 一、失效原因分析 防雷、過(guò)電壓保護(hù)措施不力 : 整流裝置未設(shè)置防雷、過(guò)電壓保護(hù)裝置,或保護(hù)裝置工作不可靠,可能因雷擊或過(guò)電壓而損壞
2025-01-15 09:16:58
1589 光熱分布檢測(cè)意義在LED失效分析領(lǐng)域,光熱分布檢測(cè)技術(shù)扮演著至關(guān)重要的角色。LED作為一種高效的照明技術(shù),其性能和壽命受到多種因素的影響,其中光和熱的分布情況尤為關(guān)鍵。光熱分布不均可能導(dǎo)致芯片界面
2025-01-14 12:01:24
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。
-通過(guò)激活相應(yīng)的復(fù)選框(同樣,對(duì)于最小、最大和均勻性誤差),將產(chǎn)生相應(yīng)的附加輸出。
內(nèi)置的參數(shù)運(yùn)行功能
入射角定義的注意事項(xiàng):
如果您在光學(xué)設(shè)置中創(chuàng)建一個(gè)新的偏振分析器,偏振分析器中的角度定義類(lèi)型將
2025-01-13 08:59:04
5252,174-182(2003)]中報(bào)道的概念,我們展示了如何嚴(yán)格分析光柵的偏振相關(guān)特性,以及如何使用參數(shù)優(yōu)化設(shè)計(jì)具有高衍射效率的偏振無(wú)關(guān)光柵。
設(shè)計(jì)任務(wù)
光柵光學(xué)裝置
偏振分析器
優(yōu)化
2025-01-10 08:57:52
失效分析的重要性失效分析其核心任務(wù)是探究產(chǎn)品或構(gòu)件在服役過(guò)程中出現(xiàn)的各種失效形式。這些失效形式涵蓋了疲勞斷裂、應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂、環(huán)境應(yīng)力開(kāi)裂引發(fā)的脆性斷裂等諸多類(lèi)型。深入剖析失效機(jī)理,有助于工程師
2025-01-09 11:01:46
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LED顯示屏作為現(xiàn)代顯示技術(shù)的核心組件,其穩(wěn)定性和耐用性至關(guān)重要。氣密性檢測(cè)儀作為一種專(zhuān)業(yè)的檢測(cè)設(shè)備,在確保LED顯示屏質(zhì)量方面發(fā)揮著重要作用。本文將詳細(xì)介紹如何正確使用LED顯示屏氣密性檢測(cè)
2025-01-08 13:36:03
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評(píng)論